技術(shù)總結(jié)
在一個方面，提供了基于電化學(xué)循環(huán)伏安法峰曲線的改變來檢測樣品中靶標(biāo)的方法。該方法可以涉及至少兩種或更多種電活性部分(EAM)，所述電活性部分包含過渡金屬絡(luò)合物和錨定基團(tuán)。所述過渡金屬絡(luò)合物可以能夠可逆地或半可逆地轉(zhuǎn)移一個或更多個電子。所述錨定基團(tuán)可以允許所述EAM共價連接到固體支持物上，在表面上形成自組裝單層(SAM)。至少一種EAM還可以包含能被靶標(biāo)或替代靶標(biāo)識別并結(jié)合的捕獲配體。當(dāng)將樣品引入EAM時，所述捕獲配體與所述靶標(biāo)或替代靶標(biāo)之間的相互作用可導(dǎo)致含有所有相關(guān)EAM的SAM之性質(zhì)的改變。所述改變可以通過電化學(xué)檢測系統(tǒng)檢測。

技術(shù)研發(fā)人員：鮑奕佳;亞當(dāng)·G·蓋于斯塔;迪米特拉·喬治亞諾普盧;來芳;麗貝卡·樸
受保護(hù)的技術(shù)使用者：OHMX公司
文檔號碼：201580028569
技術(shù)研發(fā)日：2015.04.29
技術(shù)公布日：2017.05.10