技術特征：

1.一種用于電子產(chǎn)品的可靠性鑒定方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1、根據(jù)置信度，計算與不同故障數(shù)對應的可靠性試驗時間；

S2、根據(jù)故障數(shù)和與故障數(shù)對應的可靠性試驗時間，計算使用方風險和生產(chǎn)方風險；

S3、根據(jù)故障數(shù)、與故障數(shù)對應的可靠性試驗時間和生產(chǎn)方風險，計算最小故障數(shù)和最短試驗時間；

S4、根據(jù)使用方風險、生產(chǎn)方風險和鑒別比，計算最大故障數(shù)和最長試驗時間；

S5、根據(jù)最小故障數(shù)、最短試驗時間、最大故障數(shù)和最長試驗時間畫出試驗截尾判決圖，并基于試驗截尾判決圖對電子產(chǎn)品的可靠性進行判決。

2.根據(jù)權利要求1所述的用于電子產(chǎn)品的可靠性鑒定方法，其特征在于，步驟S1中計算與不同故障數(shù)對應的可靠性試驗時間的公式為：

公式中，T為電子產(chǎn)品的可靠性試驗時間，單位h；Z為電子產(chǎn)品的故障數(shù)；γ為置信度；為自由度為2Z+2的卡方分布分位數(shù)；θ₁為平均故障間隔時間檢驗下限。

3.根據(jù)權利要求1所述的用于電子產(chǎn)品的可靠性鑒定方法，其特征在于，步驟S2中計算使用方風險和生產(chǎn)方風險的公式為：

$\mathrm{\α}=\mathrm{\β}=\underset{k=0}{\overset{Z}{\Σ}}\frac{{(T/{\mathrm{\θ}}_1)}^k{e}^{-T/{\mathrm{\θ}}_1}}{k!}$

公式中，α為生產(chǎn)方風險；β為使用方風險；T為電子產(chǎn)品的可靠性試驗時間，單位h；Z為電子產(chǎn)品的故障數(shù)；θ₁為平均故障間隔時間檢驗下限。

4.根據(jù)權利要求1所述的用于電子產(chǎn)品的可靠性鑒定方法，其特征在于，步驟S3進一步包括如下子步驟：

S3.1、將各故障數(shù)和與故障數(shù)對應的可靠性試驗時間代入生產(chǎn)方風險與試驗時間、故障數(shù)的關系式，計算得到各故障數(shù)和與故障數(shù)對應的可靠性試驗時間所對應的多個生產(chǎn)方風險，所述生產(chǎn)方風險與試驗時間、故障數(shù)的關系式如下：

$1-{\mathrm{\α}}^{\′}=\underset{k=0}{\overset{Z}{\Σ}}\frac{{\left(\frac{T}{{\mathrm{d\θ}}_1}\right)}^k{e}^{-\frac{T}{{\mathrm{d\θ}}_1}}}{k!}$

公式中，α′為生產(chǎn)方風險；T為電子產(chǎn)品的可靠性試驗時間，單位h；d為鑒別比；Z為電子產(chǎn)品的故障數(shù)；θ₁為平均故障間隔時間檢驗下限；

S3.2、將與步驟S2得到的生產(chǎn)方風險最接近的通過步驟S3.1計算出的生產(chǎn)方風險所對應的故障數(shù)和與故障數(shù)對應的試驗時間作為最小故障數(shù)和最短試驗時間。

5.根據(jù)權利要求1所述的用于電子產(chǎn)品的可靠性鑒定方法，其特征在于，步驟S4進一步包括如下子步驟：

S4.1、令故障數(shù)由取最小故障數(shù)起逐漸以1為單位增大，根據(jù)使用方風險β和生產(chǎn)方風險α，通過查卡方分布表得到最大故障數(shù)計算公式中的兩個卡方分布分位數(shù)，統(tǒng)計各故障數(shù)所對應的兩個卡方分布分位數(shù)的比值，若兩個卡方分布分位數(shù)的比值不小于1/d，則此時對應的故障數(shù)為最大故障數(shù)，所述最大故障數(shù)計算公式為：

$\frac{{\mathrm{\χ}}_{2Z_{max},\mathrm{\α}}^2}{{\mathrm{\χ}}_{2Z_{max},(1-\mathrm{\β})}^2}\≥\frac{1}{d}$

公式中，α為步驟S2得到的生產(chǎn)方風險；β為使用方風險；d為鑒別比；Z_max為最大故障數(shù)；為自由度為2Z_max的卡方分布分位數(shù)；

S4.2、計算截尾時間，若與最大故障數(shù)所對應的試驗時間大于截尾時間，則將與最大故障數(shù)所對應的試驗時間作為最長試驗時間，若與最大故障數(shù)所對應的試驗時間小于等于截尾時間，則將截尾時間作為最長試驗時間，計算截尾時間的公式如下：

${T_0}^{\′}=\frac{{\mathrm{\θ}}_0\·{\mathrm{\χ}}_{2Z_{max},\mathrm{\α}}^2}{2}$

公式中，T₀′為截尾時間，θ₀為平均故障間隔時間檢驗上限。

6.根據(jù)權利要求1所述的用于電子產(chǎn)品的可靠性鑒定方法，其特征在于，步驟S5中根據(jù)最小故障數(shù)、最短試驗時間、最大故障數(shù)和最長試驗時間畫出試驗截尾判決圖的方法如下：

以試驗時間為橫坐標，以故障數(shù)為縱坐標，建立坐標系；

將故障數(shù)和與故障數(shù)對應的試驗時間確定的各點連接形成判定線；

判定線的起點為最短試驗時間和最小故障數(shù)確定的點，終點為最長試驗時間和最大故障數(shù)確定的點；

由起點和終點分別向兩個坐標軸做垂線，形成試驗截尾判決圖。