本發(fā)明涉及光伏技術(shù)，尤其涉及一種太陽能電池用正面銀漿性能的測試評(píng)估方法。

背景技術(shù)：

在光伏產(chǎn)業(yè)中，太陽能電池正面用銀漿的電性能與產(chǎn)品密切相關(guān)。但是電性能的評(píng)測成本高，數(shù)據(jù)的反映周期長，與新品研發(fā)的速度嚴(yán)重不符，有些新品實(shí)驗(yàn)必須等到之前的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)反饋以后才能進(jìn)行，嚴(yán)重影響實(shí)驗(yàn)的開發(fā)。

目前電性能測試的方法主要有：

A、添購整套太陽能電池生產(chǎn)設(shè)備進(jìn)行電性能評(píng)估，此種方法缺點(diǎn)在于整套設(shè)備成本高昂，且設(shè)備利用率低，漿料評(píng)測成本高，樣品起碼制作500g。優(yōu)點(diǎn)在于電性能數(shù)據(jù)反饋快，實(shí)驗(yàn)進(jìn)度快。

B、與太陽能電池片生產(chǎn)廠家合作進(jìn)行電性能評(píng)估，此種方法缺點(diǎn)在于實(shí)驗(yàn)次數(shù)有限，實(shí)驗(yàn)量少，且實(shí)驗(yàn)周期較長，漿料評(píng)測成本高，樣品起碼制作500g。優(yōu)點(diǎn)在于節(jié)省整套太陽能電池生產(chǎn)設(shè)備的投入成本。

C、送樣至太陽能電池片生產(chǎn)廠家進(jìn)行電性能評(píng)測，此種方法的缺點(diǎn)在于實(shí)驗(yàn)次數(shù)有限，實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)參考價(jià)值受損，實(shí)驗(yàn)周期較長，實(shí)驗(yàn)環(huán)境不穩(wěn)定，漿料評(píng)測成本高，樣品起碼制作500g。優(yōu)點(diǎn)在于節(jié)省整套太陽能電池生產(chǎn)設(shè)備的投入成本。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的，就是為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，提供一種新的太陽能電池用正面銀漿性能的測試評(píng)估方法。

為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用了以下技術(shù)方案：一種太陽能電池用正面銀漿性能的測試評(píng)估方法，包括以下步驟：

一、自制一個(gè)測試印刷圖案網(wǎng)板，使其具有與產(chǎn)線匹配的設(shè)計(jì)線寬和變距的測試線排布；

二、將太陽能電池正面用銀漿涂布在自制測試印刷圖案網(wǎng)板上；

三、使用印刷機(jī)將太陽能電池正面用銀漿印刷在1/4鍍有PE膜的單晶硅片上；

四、將印刷銀漿后的單晶硅片進(jìn)行燒結(jié)；

五、用電阻測試儀對燒結(jié)后的單晶硅片上的印刷圖案的線電阻進(jìn)行測試，并記錄線電阻測試數(shù)值；

六、將步驟五所得線電阻測試數(shù)值與基樣的線電阻測試數(shù)值進(jìn)行比較，完成對太陽能電池用正面銀漿性能的評(píng)估。

所述的印刷機(jī)為半自動(dòng)印刷機(jī)。

所述的燒結(jié)采用與太陽能電池片生產(chǎn)線相同的燒結(jié)爐。

所述的電阻測試儀為微Ω計(jì)。

將測試完的單晶硅片放在顯微鏡下觀察印刷圖案的線寬與線高，通過測量線寬與線高計(jì)算出測試漿料的高寬比，評(píng)測印刷性能。

所述的顯微鏡為電子顯微鏡或3D顯微鏡。

本發(fā)明太陽能電池用正面銀漿性能的測試評(píng)估方法由于采用了以上技術(shù)方案，使其與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下的優(yōu)點(diǎn)和特點(diǎn)：

1、漿料制樣量只須50克，是其他測試方法的10％。

2、測試設(shè)備投入成本小。

3、適用于大量樣品實(shí)驗(yàn)。

4、實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)反饋周期短，且實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)參考價(jià)值高。

5、評(píng)測全面，測試值可靠性高，可間接替代電性能值，且可評(píng)價(jià)印刷性能。

6、測試人工成本小，1～2人即可全套實(shí)驗(yàn)。

具體實(shí)施方式

本發(fā)明太陽能電池用正面銀漿性能的測試評(píng)估方法是，首先自制一個(gè)測試印刷圖案網(wǎng)板，使其具有與產(chǎn)線匹配的設(shè)計(jì)線寬和變距的測試線排布；然后將 太陽能電池用正面銀漿涂布在自制測試印刷圖案網(wǎng)板上，通過印刷機(jī)將漿料印刷到1/4鍍過PE膜的單晶硅片上，經(jīng)過燒結(jié)后使用電阻測試儀測試硅片上印刷圖案的線電阻，與基樣線電阻測試數(shù)據(jù)對比進(jìn)行對漿料電性能的評(píng)估。本發(fā)明的操作手法簡單，測試成本低廉，數(shù)據(jù)反映周期短。評(píng)測準(zhǔn)確度高。還可模擬電池生產(chǎn)線印刷線型。

本發(fā)明中的測試印刷圖案網(wǎng)板線間距不同，測得數(shù)據(jù)不同。

本發(fā)明中的測試方法適用于任何同類產(chǎn)品測試。

本發(fā)明中使用的印刷機(jī)最低要求為半自動(dòng)印刷機(jī)。

本發(fā)明中所使用的測量線電阻的設(shè)備為微歐計(jì)。

本發(fā)明中所使用的硅片為擴(kuò)散后鍍PE膜單晶硅片。

本發(fā)明中所使用的燒結(jié)爐與太陽能電池片生產(chǎn)線的相同。

本發(fā)明每次測試都必須有基樣線電阻測試數(shù)據(jù)進(jìn)行對比。