一種用于多路led光衰老化測試的夾具的制作方法
【專利摘要】一種用于多路LED光衰老化測試的夾具，涉及夾具。設(shè)有采樣套筒、采樣套筒固定架、光纖支架。所述采樣套筒上部設(shè)有固定裝置，固定裝置上安裝光纖-余弦校正器；采樣套筒內(nèi)設(shè)有與采樣套筒連為一體的環(huán)形光闌，采樣套筒下部為中空圓管；采樣套筒固定架與采樣套筒相連成一體，采樣套筒固定架左右兩端各有一個支柱和金屬固定螺栓；光纖支架固定于采樣套筒固定架上，光纖支架設(shè)有圓環(huán)，供光纖穿過，并避免光纖因超過彎曲半徑導(dǎo)致的損壞。所述支柱可為長方形支柱。所述固定裝置分為兩部分，分別固定余弦校正器和光纖，在固定裝置下方可設(shè)有擋環(huán)，用于余弦校正器頂端的定位；所述光纖支架上設(shè)有圓形孔，圓形孔用于固定光纖，防止光纖彎曲。
【專利說明】—種用于多路LED光衰老化測試的夾具

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及夾具，尤其涉及一種用于多路LED光衰老化測試的夾具。

【背景技術(shù)】
[0002]LED的光衰老化測試是LED產(chǎn)品測試中的一個重要環(huán)節(jié)，通過光衰老化測試監(jiān)測LED的光電色熱等參數(shù)變化，可以有效地分析LED的光衰和失效機理。目前，常用的LED老化儀和老化夾具通常只能配用光度探頭，種類單一，無法配用如光纖-余弦校正器的采集探頭，所獲取參數(shù)無法全面地分析LED的性能。若采取光纖-余弦校正器采集探頭，可以方便地與光譜儀結(jié)合，從而獲取LED的光電色熱等性能參數(shù)。針對這一情況，設(shè)計適用于光纖-余弦校正器的夾具非常緊迫且必要。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實用新型的目的在于提供一種用于多路LED光衰老化測試的夾具。
[0004]本實用新型設(shè)有采樣套筒、采樣套筒固定架、光纖支架。
[0005]所述采樣套筒上部設(shè)有固定裝置，固定裝置上安裝光纖-余弦校正器；采樣套筒內(nèi)設(shè)有與采樣套筒連為一體的環(huán)形光闌，采樣套筒下部為中空圓管；采樣套筒固定架與采樣套筒相連成一體，采樣套筒固定架左右兩端各有一個支柱和金屬固定螺栓；光纖支架固定于采樣套筒固定架上，光纖支架設(shè)有圓環(huán)，供光纖穿過，并避免光纖因超過彎曲半徑導(dǎo)致的損壞。
[0006]所述支柱可為長方形支柱。
[0007]所述固定裝置分為兩部分，分別固定余弦校正器和光纖，在固定裝置下方可設(shè)有擋環(huán)，用于余弦校正器頂端的定位；所述光纖支架上設(shè)有圓形孔，圓形孔用于固定光纖，防止光纖彎曲。
[0008]與現(xiàn)有技術(shù)比較，本實用新型的工作原理及優(yōu)點如下:
[0009]1.能很好地與光纖-余弦校正器配合，方便測試樣品的多種參數(shù)。
[0010]2.能與多路LED老化夾具良好地配套，用于LED老化測試中。
[0011]3.光纖支架可以有效地避免光纖因超過彎曲半徑導(dǎo)致的損壞。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]圖1為本實用新型實施例的主視結(jié)構(gòu)示意圖。
[0013]圖2為本實用新型所述的采樣套筒的剖面結(jié)構(gòu)示意圖。
[0014]圖3為本實用新型所述的光纖支架的俯視結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實施方式】
[0015]參見圖1?3，本實用新型實施例設(shè)有10個采樣套筒1、采樣套筒固定架2、光纖支架3。
[0016]所述采樣套筒I上部設(shè)有固定裝置11，固定裝置11上安裝光纖-余弦校正器；采樣套筒I內(nèi)設(shè)有與采樣套筒連為一體的環(huán)形光闌12，采樣套筒I下部為中空圓管；采樣套筒固定架2與采樣套筒I相連成一體，采樣套筒固定架2左右兩端各有一個支柱22和金屬固定螺栓23 ;光纖支架3固定于采樣套筒固定架2上，光纖支架3設(shè)有10個圓環(huán)31，供光纖穿過，并避免光纖因超過彎曲半徑導(dǎo)致的損壞。
[0017]所述支柱22可為長方形支柱。
[0018]所述固定裝置11分為兩部分，分別固定余弦校正器41和光纖42，在固定裝置11下方可設(shè)有擋環(huán)，用于余弦校正器41頂端的定位；所述光纖支架3上設(shè)有圓形孔，圓形孔用于固定光纖42，防止光纖42彎曲。
[0019]采樣套筒I采用耐溫低反射率的黑色工程塑料。
[0020]當(dāng)本實用新型作為LED老化測試采樣夾具時，將10路光纖42和余弦校正器41組裝好后，分別通過光纖支架3的10個圓環(huán)31，插入采樣套筒I上部的固定裝置11中。在老化夾具上安裝好10個LED樣品，將本實用新型與老化夾具固定好，10路采樣套筒I正好對準(zhǔn)10個待測LED樣品。
【權(quán)利要求】
1.一種用于多路LED光衰老化測試的夾具，其特征在于設(shè)有采樣套筒、采樣套筒固定架、光纖支架； 所述采樣套筒上部設(shè)有固定裝置，固定裝置上安裝光纖-余弦校正器；采樣套筒內(nèi)設(shè)有與采樣套筒連為一體的環(huán)形光闌，采樣套筒下部為中空圓管；采樣套筒固定架與采樣套筒相連成一體，采樣套筒固定架左右兩端各有一個支柱和金屬固定螺栓；光纖支架固定于采樣套筒固定架上，光纖支架設(shè)有供光纖穿過的圓環(huán)。
2.如權(quán)利要求1所述一種用于多路LED光衰老化測試的夾具，其特征在于所述支柱為長方形支柱。
【文檔編號】G01R1/04GK204086326SQ201420651816
【公開日】2015年1月7日 申請日期:2014年11月3日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月3日
【發(fā)明者】高玉琳, 肖菁菁, 黃偉林, 呂毅軍, 陳國龍, 陳忠 申請人:廈門大學(xué)