Led電源老化測(cè)試治具的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型揭示一種LED電源老化測(cè)試治具，包括：若干個(gè)連接器，各連接器之間串聯(lián)連接，各連接器具有正極端和負(fù)極端，各所述連接器的正極端和負(fù)極端間可通過(guò)跳線短接，首個(gè)連接器的正極端和負(fù)極端間以跳線短接并接地，末個(gè)連接器的正極端和負(fù)極端間以跳線短接；若干個(gè)模擬負(fù)載組，每?jī)蓚€(gè)所述連接器間串接有一個(gè)所述模擬負(fù)載組。只需一套治具即可達(dá)成不同規(guī)格的LED電源老化測(cè)試，設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單、操作簡(jiǎn)單；且不需要使用到水泥電阻，治具體積小，重量輕；發(fā)光二極管的使用更可以檢測(cè)出LED電源是否正常輸出。
【專利說(shuō)明】LED電源老化測(cè)試治具
【【技術(shù)領(lǐng)域】】
[0001]本實(shí)用新型涉及老化測(cè)試治具，特別是涉及一種LED電源老化測(cè)試治具。
【【背景技術(shù)】】
[0002]針對(duì)不同的Power LED (LED電源)產(chǎn)品，例如3W、5W、10W、15W等，在對(duì)LED電源產(chǎn)品做burn in(老化)測(cè)試時(shí)，通常會(huì)使用不同的等效阻值的模擬負(fù)載來(lái)完成。
[0003]因?yàn)槊總€(gè)產(chǎn)品的輸出電壓，輸出電流都不同，負(fù)載也都不一樣。目前產(chǎn)線針對(duì)不同的LED電源進(jìn)行測(cè)試時(shí)，采用不同的水泥電阻來(lái)作為模擬負(fù)載，相應(yīng)地設(shè)計(jì)出適應(yīng)不同LED電源的老化測(cè)試治具。
[0004]然而，上述老化測(cè)試治具，由于不同的LED電源產(chǎn)品就需要設(shè)計(jì)不同的治具，因此治具繁多；此外，由于水泥電阻的體積很大、重量很重，因此，治具占用空間大、操作起來(lái)麻煩。
[0005]有鑒于此，實(shí)有必要開(kāi)發(fā)一種LED電源老化測(cè)試治具，以解決上述問(wèn)題。
【
【發(fā)明內(nèi)容】
】
[0006]因此，本實(shí)用新型的目的是提供一種LED電源老化測(cè)試治具，以解決對(duì)于不同電壓規(guī)格的LED電源產(chǎn)品做老化測(cè)試時(shí)需要使用不同治具，設(shè)計(jì)麻煩，操作繁瑣且現(xiàn)有治具體積大、重量大的問(wèn)題。
[0007]為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型提供的LED電源老化測(cè)試治具，包括:
[0008]若干個(gè)連接器，各連接器之間串聯(lián)連接，各連接器具有正極端和負(fù)極端，各所述連接器的正極端和負(fù)極端間可通過(guò)跳線短接，首個(gè)連接器的正極端和負(fù)極端間以跳線短接并接地，末個(gè)連接器的正極端和負(fù)極端間以跳線短接；
[0009]若干個(gè)模擬負(fù)載組，每?jī)蓚€(gè)所述連接器間串接有一個(gè)所述模擬負(fù)載組。
[0010]可選地，所述各模擬負(fù)載組包括若干個(gè)串聯(lián)連接的橋堆(bridge d1de)。
[0011]可選地，所述橋堆采用型號(hào)為US8KB80R的電子元件。
[0012]可選地，首個(gè)所述模擬負(fù)載組包括五個(gè)串聯(lián)連接的橋堆，其余各模擬負(fù)載組包括兩個(gè)串聯(lián)連接的橋堆。
[0013]可選地，各所述橋堆的壓降為1.4V。
[0014]可選地，所述連接器個(gè)數(shù)為17個(gè)，所述模擬負(fù)載組的個(gè)數(shù)為16個(gè)。
[0015]可選地，除首個(gè)連接器外，其余所述各連接器的正極端與地之間串聯(lián)連接有發(fā)光二極管及電阻。
[0016]相較于現(xiàn)有技術(shù)，利用本實(shí)用新型的LED電源老化測(cè)試治具，于使用時(shí)，將需要進(jìn)行老化測(cè)試的LED電源負(fù)極連接首個(gè)連接器，LED電源正極連接選中的連接器，所述選中的連接器與所述首個(gè)連接器之間的各所述連接器的正極端與負(fù)極端之間分別以跳線短接，使得所述選中的連接器與所述首個(gè)連接器之間的各模擬負(fù)載組串聯(lián)后的總壓降大于待測(cè)試LED電源輸出電壓的80%且小于或等于其輸出電壓。由于對(duì)應(yīng)不同輸出電壓的LED電源進(jìn)行老化測(cè)試，只需要選擇相應(yīng)的連接器正極端與LED電源正極連接，而將選中的連接器與所述首個(gè)連接器之間的各所述連接器的正極端與負(fù)極端之間分別以跳線短接，即可達(dá)成。因此，只需一套治具即可達(dá)成不同規(guī)格的LED電源老化測(cè)試，設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單、操作簡(jiǎn)單；且不需要使用到水泥電阻，治具體積小，重量輕；發(fā)光二極管的使用更可以檢測(cè)出LED電源是否正常輸出。
【【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】】
[0017]圖1繪示為本實(shí)用新型LED電源老化測(cè)試治具一較佳實(shí)施例的電路結(jié)構(gòu)示意圖。
[0018]圖2繪示為本實(shí)用新型一較佳實(shí)施例中橋堆的電路結(jié)構(gòu)示意圖。
【【具體實(shí)施方式】】
[0019]請(qǐng)參閱圖1，圖1繪示為本實(shí)用新型LED電源老化測(cè)試治具的電路結(jié)構(gòu)示意圖。
[0020]為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型提供的LED電源老化測(cè)試治具，包括:
[0021]若干個(gè)連接器100，各連接器100之間串聯(lián)連接，各連接器100具有正極端101和負(fù)極端102，各所述連接器100的正極端101和負(fù)極端102間可通過(guò)跳線短接，首個(gè)連接器100的正極端101和負(fù)極端102間以跳線短接并接地，末個(gè)連接器100的正極端101和負(fù)極端102間以跳線短接；
[0022]若干個(gè)模擬負(fù)載組，每?jī)蓚€(gè)所述連接器100間串接有一個(gè)所述模擬負(fù)載組，其中，各所述各模擬負(fù)載組可以為包括若干個(gè)串聯(lián)連接的橋堆200 (請(qǐng)?jiān)俳Y(jié)合參閱圖2，圖2繪示為本實(shí)用新型一較佳實(shí)施例中橋堆的電路結(jié)構(gòu)示意圖)，所述橋堆200例如為型號(hào)US8KB80R的電子元件，各所述橋堆200的壓降為1.4V。
[0023]于本實(shí)施例，首個(gè)所述模擬負(fù)載組包括五個(gè)串聯(lián)連接的橋堆200，其余各模擬負(fù)載組包括兩個(gè)串聯(lián)連接的橋堆200。所述連接器100個(gè)數(shù)為17個(gè)，所述模擬負(fù)載組的個(gè)數(shù)為16個(gè)。
[0024]利用本實(shí)用新型的LED電源老化測(cè)試治具，于使用時(shí)，將需要進(jìn)行老化測(cè)試的LED電源負(fù)極連接首個(gè)連接器100，LED電源正極連接選中的連接器100，所述選中的連接器100與所述首個(gè)連接器100之間的各所述連接器100的正極端101與負(fù)極端102之間分別以跳線短接，使得所述選中的連接器100與所述首個(gè)連接器100之間的各模擬負(fù)載組串聯(lián)后的總壓降大于待測(cè)試LED電源輸出電壓的80%且小于或等于其輸出電壓，以確保所述LED電源進(jìn)行老化測(cè)試時(shí)具有較高的負(fù)載率且不會(huì)超出其輸出電壓。
[0025]由于對(duì)應(yīng)不同輸出電壓的LED電源進(jìn)行老化測(cè)試，只需要選擇相應(yīng)的連接器100正極端101與LED電源正極連接，而將選中的連接器100與所述首個(gè)連接器100之間的各所述連接器100的正極端101與負(fù)極端102之間分別以跳線短接，即可達(dá)成。通過(guò)這種方式，以如下情形為例:所述模擬負(fù)載組的個(gè)數(shù)為16個(gè)，首個(gè)所述模擬負(fù)載組包括五個(gè)串聯(lián)連接的橋堆200，其余各模擬負(fù)載組包括兩個(gè)串聯(lián)連接的橋堆200，各所述橋堆200的壓降為1.4Vo則可以達(dá)成如下16個(gè)串聯(lián)后的壓降:7V，9.8V，12.6V，15.4V，18.2V，21V，23.8V，26.6V，29.4V，32.2V，35V，37.8V，40.6V，43.4V，46.2V，49V。因此，只需一套治具即可達(dá)成不同規(guī)格的LED電源老化測(cè)試，設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單、操作簡(jiǎn)單；且不需要使用到水泥電阻，治具體積小，重量輕。
[0026]可選地，除首個(gè)連接器100外，其余所述各連接器100的正極端101與地之間串聯(lián)連接有發(fā)光二極管300及電阻400，所述電阻400用于分壓來(lái)確保發(fā)光二極管300兩端工作電壓(所述電阻400的阻值依此可以選擇為500歐姆、700歐姆、900歐姆、1.1K歐姆、1.3K歐姆、1.5K歐姆、1.7K歐姆、1.9K歐姆、2.1K歐姆、2.3K歐姆、2.5K歐姆、2.7K歐姆、2.9K歐姆、3.1K歐姆、3.3K歐姆、3.5K歐姆)。發(fā)光二極管300的使用更可以檢測(cè)出LED電源是否正常輸出。
[0027]需指出的是，本實(shí)用新型不限于上述實(shí)施方式，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員基于本實(shí)用新型技術(shù)方案對(duì)上述實(shí)施例所作的任何簡(jiǎn)單修改、等同變化與修飾，都落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種120電源老化測(cè)試治具，其特征在于，其包括: 若干個(gè)連接器，各連接器之間串聯(lián)連接，各連接器具有正極端和負(fù)極端，各所述連接器的正極端和負(fù)極端間可通過(guò)跳線短接，首個(gè)連接器的正極端和負(fù)極端間以跳線短接并接地，末個(gè)連接器的正極端和負(fù)極端間以跳線短接； 若干個(gè)模擬負(fù)載組，每?jī)蓚€(gè)所述連接器間串接有一個(gè)所述模擬負(fù)載組。
2.如權(quán)利要求1所述的[￡0電源老化測(cè)試治具，其特征在于，所述各模擬負(fù)載組包括若干個(gè)串聯(lián)連接的橋堆。
3.如權(quán)利要求2所述的[￡0電源老化測(cè)試治具，其特征在于，所述橋堆采用型號(hào)為^88X8801？的電子元件。
4.如權(quán)利要求2所述的[￡0電源老化測(cè)試治具，其特征在于，首個(gè)所述模擬負(fù)載組包括五個(gè)串聯(lián)連接的橋堆，其余各模擬負(fù)載組包括兩個(gè)串聯(lián)連接的橋堆。
5.如權(quán)利要求2所述的[￡0電源老化測(cè)試治具，其特征在于，各所述橋堆的壓降為1.禮
6.如權(quán)利要求1中任一項(xiàng)所述的120電源老化測(cè)試治具，其特征在于，所述連接器個(gè)數(shù)為17個(gè)，所述模擬負(fù)載組的個(gè)數(shù)為16個(gè)。
7.如權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的[￡0電源老化測(cè)試治具，其特征在于，除首個(gè)連接器夕卜，其余所述各連接器的正極端與地之間串聯(lián)連接有發(fā)光二極管及電阻。
【文檔編號(hào)】G01R31/40GK204228930SQ201420516279
【公開(kāi)日】2015年3月25日 申請(qǐng)日期:2014年9月10日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月10日
【發(fā)明者】許晶, 陳隆海 申請(qǐng)人:神訊電腦(昆山)有限公司