Ptc測(cè)試板的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種PTC測(cè)試板，其特征在于：它包括測(cè)試板主體(1)；所述測(cè)試板測(cè)試板主體(1)上設(shè)置有多個(gè)可放置PTC元件的凹槽(2)；所述凹槽(2)中間設(shè)置有供測(cè)針測(cè)試的測(cè)試孔(3)。本實(shí)用新型的PTC測(cè)試板，它能夠方便快捷地測(cè)試PTC，一次性測(cè)試多個(gè)，大大提高了測(cè)試速度與效率，且提高了安全性。
【專利說明】PTC測(cè)試板

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種PTC測(cè)試板。

【背景技術(shù)】
[0002]在PTC的加工工藝中，PTC測(cè)試時(shí)，往往是通過手工夾子夾取PTC片進(jìn)行測(cè)試。在目前的工藝中，還沒有能夠一次性測(cè)取多個(gè)PTC元件的工具。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]本實(shí)用新型的目的是:提供一種PTC測(cè)試板，它通過將PTC放置于一塊測(cè)試版中，配合特定的測(cè)試機(jī)能夠一次性測(cè)取多個(gè)PTC元件，大大提高的工作效率。
[0004]本實(shí)用新型的技術(shù)方案是:一種PTC測(cè)試板，它包括測(cè)試板主體；所述測(cè)試板測(cè)試板主體上設(shè)置有多個(gè)可放置PTC元件的凹槽；所述凹槽中間設(shè)置有供測(cè)針測(cè)試的測(cè)試孔。
[0005]下面對(duì)上述技術(shù)方案進(jìn)行進(jìn)一步解釋:
[0006]所述凹槽為陣列排列。
[0007]所述凹槽的個(gè)數(shù)為42個(gè)。
[0008]所述試板主體背面的一組相鄰的邊設(shè)置有作為位置基準(zhǔn)的鐵條。
[0009]所述測(cè)試板主體為方形。
[0010]所述測(cè)試孔的形狀大小與PTC元件相匹配。
[0011]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)是:本實(shí)用新型的PTC測(cè)試板，它能夠方便快捷地測(cè)試PTC，一次性測(cè)試多個(gè)，大大提高了測(cè)試速度與效率，且提高了安全性。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的描述:
[0013]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例的正面示意圖；
[0014]圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例的反面示意圖；
[0015]其中:1測(cè)試板主體；2凹槽；3測(cè)試孔；4鐵條。

【具體實(shí)施方式】
[0016]實(shí)施例:如圖1所示，一種PTC測(cè)試板，它包括測(cè)試板主體I。測(cè)試板主體I為方形。
[0017]測(cè)試板主體I上設(shè)置有多個(gè)可放置PTC元件的凹槽2 ;凹槽2為個(gè)數(shù)為42個(gè)、凹槽2成陣列排列。凹槽2中間設(shè)置有供測(cè)針測(cè)試的測(cè)試孔3。
[0018]如圖2所示測(cè)試板主體I背面的一組相鄰的邊設(shè)置有作為位置基準(zhǔn)的鐵條4。
[0019]使用時(shí)，將多個(gè)PTC元件置于測(cè)試板主體I面上，不斷水平晃動(dòng)測(cè)試板主體1，使得PTC元件落入凹槽2內(nèi)，布滿所有的凹槽2。
[0020]測(cè)試時(shí)，檢查測(cè)試板主體I背面的鐵條4，鐵條4為直角形，以鐵條4為基準(zhǔn)，將測(cè)試板放置于測(cè)試指定位置。
[0021]應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于經(jīng)充分說明的本實(shí)用新型來說，還可具有多種變換及改型的實(shí)施方案，并不局限于上述實(shí)施方式的具體實(shí)施例。上述實(shí)施例僅僅作為本實(shí)用新型的說明，而不是對(duì)本實(shí)用新型的限制?？傊?，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍應(yīng)包括那些對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說顯而易見的變換或替代以及改型。
【權(quán)利要求】
1.一種PTC測(cè)試板，其特征在于:它包括測(cè)試板主體(I);所述測(cè)試板測(cè)試板主體(I)上設(shè)置有多個(gè)可放置PTC元件的凹槽(2);所述凹槽(2)中間設(shè)置有供測(cè)針測(cè)試的測(cè)試孔⑶。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PTC測(cè)試板，其特征在于:所述凹槽(2)為陣列排列。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的PTC測(cè)試板，其特征在于:所述凹槽(2)的個(gè)數(shù)為42個(gè)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PTC測(cè)試板，其特征在于:所述測(cè)試板主體(I)背面的一組相鄰的邊設(shè)置有作為位置基準(zhǔn)的鐵條(4)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PTC測(cè)試板，其特征在于:所述測(cè)試板主體(I)為方形。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PTC測(cè)試板，其特征在于:所述測(cè)試孔(3)的形狀大小與PTC元件相匹配。
【文檔編號(hào)】G01R31/01GK204008930SQ201420317364
【公開日】2014年12月10日 申請(qǐng)日期:2014年6月10日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月10日
【發(fā)明者】張力, 金建德, 何勵(lì)湧, 林孝杰, 杜國(guó)鋒 申請(qǐng)人:海寧永力電子陶瓷有限公司