一種pe超聲檢測校準(zhǔn)試塊的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，包括：本體，本體為截面呈矩形的立方體，本體一端延伸形成半徑為2R、厚度小于本體厚度的第一圓弧面，第一圓弧面表面上設(shè)置有半徑為R、厚度小于或等于本體厚度的第二圓弧面，第一圓弧面和第二圓弧面的圓心均位于本體的上端面；本體正面鄰近第二圓弧面的一端設(shè)置有至少兩個(gè)半徑不同的橫通孔，本體正面遠(yuǎn)離第二圓弧面的一端形成有一個(gè)半圓凹槽，其中，沿半圓凹槽的中心線設(shè)置有至少兩個(gè)半徑相同的短橫孔。通過上述方式，能夠?qū)Τ晝x器和探頭的前沿值和K值進(jìn)行校準(zhǔn)，并對(duì)工件的缺陷當(dāng)量進(jìn)行比對(duì)，進(jìn)而能夠?qū)SK-ⅠA和CSK-ⅢA的基本功能合二為一，制作成本低、且攜帶方便。
【專利說明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型涉及超聲波探傷試塊【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊。 一種PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊

【背景技術(shù)】
[0002] 現(xiàn)有技術(shù)中，進(jìn)行超聲檢測通常需要使用CSK- I A試塊和CSK- III A試塊對(duì)超聲 儀器和探頭進(jìn)行校準(zhǔn)，具體的，主要利用CSK- I A試塊對(duì)超聲儀器和探頭的K值和前沿值 進(jìn)行校準(zhǔn)、利用CSK- III A試塊對(duì)缺陷對(duì)當(dāng)量進(jìn)行對(duì)比。
[0003] 然而，在實(shí)際應(yīng)用中，尤其是在檢測工件自身厚度較薄時(shí)，如PE(p〇ly ethylene，聚 乙烯)材質(zhì)的工件，仍需要采用上述的CSK- I A試塊和CSK-III A試塊，其具有成本較高、且 攜帶不方便的問題。 實(shí)用新型內(nèi)容
[0004] 本實(shí)用新型為解決上述技術(shù)問題提供一種PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，能夠?qū)Τ晝x 器和探頭的前沿值和K值進(jìn)行校準(zhǔn)，并對(duì)工件的缺陷當(dāng)量進(jìn)行比對(duì)，進(jìn)而能夠?qū)SK- I A 和CSK- III A的基本功能合二為一，制作成本低、且攜帶方便。
[0005] 為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供一種PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，包括：所述PE 超聲檢測校準(zhǔn)試塊包括：本體，所述本體為截面呈矩形的立方體，所述本體一端延伸形成半 徑為2R、厚度小于所述本體厚度的第一圓弧面，所述第一圓弧面表面上進(jìn)一步設(shè)置有半徑 為R、厚度小于或等于所述本體厚度的第二圓弧面，所述第一圓弧面和所述第二圓弧面的圓 心均位于所述本體的上端面；進(jìn)一步地，所述本體正面鄰近所述第二圓弧面的一端設(shè)置有 至少兩個(gè)半徑不同的橫通孔，所述本體正面遠(yuǎn)離所述第二圓弧面的一端形成有一個(gè)半圓凹 槽，其中，沿所述半圓凹槽的中心線設(shè)置有至少兩個(gè)半徑相同的短橫孔。
[0006] 其中，含有所述第一圓弧面的本體的上端面長度為150mm，高度為50mm，厚度為 30mm〇
[0007] 其中，所述第一圓弧面的半徑為50mm、厚度為5mm，所述第二圓弧面的半徑為 25mm、厚度等于所述本體的厚度。
[0008] 其中，所述橫通孔一個(gè)為直徑為2mm的第一橫通孔、一個(gè)直徑為1. 5mm的第二橫通 孔。
[0009] 其中，所述第一橫通孔距離所述本體上端面20mm，所述第二橫通孔距離所述本體 下端面15mm，并且，所述第一橫通孔和所述第二橫通孔均距離所述第一圓弧面最遠(yuǎn)端在垂 直方向上的投影60mm。
[0010] 其中，所述半圓凹槽半徑為l〇mm、并距離所述本體遠(yuǎn)離所述第一圓弧面的一端 10mm，所述短橫孔均為Φ2Χ6短橫孔。
[0011] 其中，其中一所述短橫孔距離所述本體上表面l〇mm、另一所述短橫孔距離所述本 體上表面30mm。
[0012] 本實(shí)用新型實(shí)施方式的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，通過在試塊本體上設(shè)置第一圓弧 面、及在第一圓弧面上設(shè)置第二圓弧面，能夠?qū)Τ晝x器和探頭的前沿值進(jìn)行校準(zhǔn)；通過在 試塊本體上設(shè)置設(shè)置兩個(gè)半徑不同的橫通孔，能夠能夠?qū)Τ晝x器和探頭的前沿值進(jìn)行校 準(zhǔn)；同時(shí)，通過在試塊本體上設(shè)置半圓凹槽、且在半圓凹槽中心線上設(shè)置兩個(gè)短橫孔，能夠 對(duì)所測量工件的缺陷當(dāng)量進(jìn)行對(duì)比，將CSK- I A和CSK- III A的基本功能合二為一，制作成 本低、且攜帶方便。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0013] 圖1是本實(shí)用新型PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊是實(shí)施方式的主視圖。
[0014] 圖2是圖1所示PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊的側(cè)視圖。

【具體實(shí)施方式】
[0015] 下面結(jié)合附圖和實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0016] 結(jié)合圖1和圖2進(jìn)行參閱，本實(shí)用新型實(shí)施方式的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，包括：本 體1，本體1為截面呈矩形的立方體，本體1 一端延伸形成半徑為2R、厚度小于本體1厚度 的第一圓弧面2,第一圓弧面2表面上進(jìn)一步設(shè)置有半徑為R、厚度小于或等于本體1厚度 的第二圓弧面3,第一圓弧面2和第二圓弧面3的圓心均位于本體1的上端面；進(jìn)一步地， 本體1正面鄰近第二圓弧面3的一端設(shè)置有至少兩個(gè)半徑不同的橫通孔，本體1正面遠(yuǎn)離 第二圓弧面3的一端形成有一個(gè)半圓凹槽5,其中，沿半圓凹槽5的中心線設(shè)置有至少兩個(gè) 半徑相同的短橫孔。
[0017] 具體而言，如圖1和2所示，本實(shí)用新型的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊在外形上與通用 的CSK- I A標(biāo)準(zhǔn)試塊在形狀上基本相似，并呈1:2的等比例縮小。其中，含有第一圓弧面 2的本體1的上端面長度L為150mm (即該超聲檢測校準(zhǔn)試塊的最大長度為150mm)，高度Η 為50mm，厚度Τ為30mm。進(jìn)一步地，第一圓弧面2的半徑2R為50mm、厚度T1為5mm，第二 圓弧面3的半徑R為25mm、厚度等于所述本體1的厚度，即第二圓弧面3的厚度為25mm，其 表面與本體1的表面平齊。具體使用時(shí)，利用該半徑為50mm的第一圓弧面2和半徑為25mm 的第二圓弧面3可以對(duì)超聲儀器和探頭的前沿值進(jìn)行校準(zhǔn)。
[0018] 更進(jìn)一步地，橫通孔一個(gè)為直徑為2mm的第一橫通孔41、一個(gè)直徑為1. 5mm的第二 橫通孔42。其中，第一橫通孔41距本體1上端面的距離H1為20mm，第二橫通孔42距本體 1下端面的距離H2為15mm，并且，第一橫通孔41和第二橫通孔42均距離第一圓弧面2最 遠(yuǎn)端在垂直方向上的投影L1為60mm。具體使用時(shí)，利用該直徑為2mm的第一橫通孔41和 直徑為1. 5mm的第二橫通孔42可以對(duì)超聲儀器和探頭的K值進(jìn)行校準(zhǔn)。
[0019] 上述對(duì)超聲儀器和探頭的前沿值和K值進(jìn)行校準(zhǔn)的原理和步驟與利用CSK- I A 標(biāo)準(zhǔn)試塊的原理和步驟相同，此處不一一贅述。
[0020] 更進(jìn)一步地，上述實(shí)施方式中，本體1上的半圓凹槽5直徑D為20mm(即半圓凹槽 5的半徑為10mm)、并距本體1遠(yuǎn)離第一圓弧面2的一端的距離L2為10mm，短橫孔51、52均 為Φ2Χ6短橫孔，具體即短橫孔51、52的直徑為2mm、孔深H5為6mm。其中，其中一短橫孔 51距本體1上表面的距離H3為10mm、另一短橫孔52距本體1上表面的距離H4為30mm。 具體使用時(shí)，利用該兩個(gè)直徑為2mm短橫孔51、52可以對(duì)工件缺陷的當(dāng)量進(jìn)行對(duì)比，代替現(xiàn) 有技術(shù)中需要額外采用CSK- III A標(biāo)準(zhǔn)試塊對(duì)工件缺陷的當(dāng)量進(jìn)行對(duì)比，其操作也更簡單， 只需攜帶該一個(gè)PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊即可，攜帶方便，也能極大節(jié)省成本。另外，本實(shí)施方 式PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊的本體1上設(shè)置的短橫孔，對(duì)于厚度較小的工件，比如PE材質(zhì)工件 但不僅限于PE材質(zhì)工件，因?yàn)镻E材質(zhì)工件厚度通常在30mm以內(nèi)，足夠檢測該厚度范圍內(nèi) 的工件。當(dāng)然，按照本實(shí)施方式制作而成的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，對(duì)工件缺陷當(dāng)量進(jìn)行對(duì) 比時(shí)，利用短橫孔在本體1正反兩面的不同路徑進(jìn)行測量時(shí)，最大可滿足厚度為45mm的工 件進(jìn)行測量。其測量原理和步驟與CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)試塊的原理和步驟相同，此處亦不做一一 贅述。
[0021] 本實(shí)用新型實(shí)施方式的ΡΕ超聲檢測校準(zhǔn)試塊，通過在試塊本體1上設(shè)置第一圓弧 面2、及在第一圓弧面2上設(shè)置第二圓弧面3,能夠?qū)Τ晝x器和探頭的前沿值進(jìn)行校準(zhǔn)；通 過在試塊本體1上設(shè)置設(shè)置兩個(gè)半徑不同的橫通孔41、42,能夠能夠?qū)Τ晝x器和探頭的 前沿值進(jìn)行校準(zhǔn)；同時(shí)，通過在試塊本體1上設(shè)置半圓凹槽5、且在半圓凹槽5中心線上設(shè) 置兩個(gè)短橫孔51、52,能夠?qū)λ鶞y量工件的缺陷當(dāng)量進(jìn)行對(duì)比。即本實(shí)用新型的ΡΕ超聲檢 測校準(zhǔn)試塊能夠?qū)F(xiàn)有技術(shù)的CSK- I Α對(duì)于超聲儀器、探頭的前沿值和Κ值的校準(zhǔn)，以及 CSK- III A對(duì)于工件缺陷的對(duì)比功能合二為一，能夠滿足實(shí)際工作中對(duì)厚度較薄的工件進(jìn)行 測量的各步驟環(huán)節(jié)的基本要求，其制作成本較低，試塊體積較小、重量較輕，攜帶極其方便。
[0022] 以上僅為本實(shí)用新型的實(shí)施方式，并非因此限制本實(shí)用新型的專利范圍，凡是利 用本實(shí)用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其 他相關(guān)的【技術(shù)領(lǐng)域】，均同理包括在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1. 一種PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，其特征在于，所述PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊包括： 本體，所述本體為截面呈矩形的立方體，所述本體一端延伸形成半徑為2R、厚度小于所 述本體厚度的第一圓弧面，所述第一圓弧面表面上進(jìn)一步設(shè)置有半徑為R、厚度小于或等于 所述本體厚度的第二圓弧面，所述第一圓弧面和所述第二圓弧面的圓心均位于所述本體的 上端面； 進(jìn)一步地，所述本體正面鄰近所述第二圓弧面的一端設(shè)置有至少兩個(gè)半徑不同的橫通 孔，所述本體正面遠(yuǎn)離所述第二圓弧面的一端形成有一個(gè)半圓凹槽，其中，沿所述半圓凹槽 的中心線設(shè)置有至少兩個(gè)半徑相同的短橫孔。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，其特征在于： 含有所述第一圓弧面的本體的上端面長度為150mm，高度為50mm，厚度為30mm。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，其特征在于： 所述第一圓弧面的半徑為50mm、厚度為5mm，所述第二圓弧面的半徑為25mm、厚度等于 所述本體的厚度。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，其特征在于： 所述橫通孔一個(gè)為直徑為2mm的第一橫通孔、一個(gè)直徑為1. 5mm的第二橫通孔。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，其特征在于： 所述第一橫通孔距離所述本體上端面20mm，所述第二橫通孔距離所述本體下端面 15mm，并且，所述第一橫通孔和所述第二橫通孔均距離所述第一圓弧面最遠(yuǎn)端在垂直方向 上的投影60mm。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，其特征在于： 所述半圓凹槽半徑為l〇mm、并距離所述本體遠(yuǎn)離所述第一圓弧面的一端10mm，所述短 橫孔均為Φ2Χ6短橫孔。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，其特征在于： 其中一所述短橫孔距離所述本體上表面l〇mm、另一所述短橫孔距離所述本體上表面 30mm〇
【文檔編號(hào)】G01N29/30GK203894199SQ201420159221
【公開日】2014年10月22日 申請(qǐng)日期:2014年4月2日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月2日
【發(fā)明者】葉龍, 冷小琪, 李興華, 唐興軍, 魏鵬, 王堯, 羅仁安 申請(qǐng)人:深圳市泰克尼林科技發(fā)展有限公司