一種閃電接口sd讀卡器的測試夾具的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種閃電接口SD讀卡器的測試夾具，其替代現(xiàn)有SD卡不斷地在蘋果設(shè)備上插拔，以測試蘋果設(shè)備能否正常讀寫SD卡。其中SD卡插入本發(fā)明的SD卡座內(nèi)，不必多次插拔SD卡，而使用本發(fā)明去插拔蘋果設(shè)備上的閃電接口。這樣SD卡不會損壞，降低了測試成本。同時為了避免蘋果設(shè)備上的閃電接口被劃傷，本發(fā)明測試夾具上的閃電接口厚度設(shè)計在13.8-14.6mm之間，既能夠保證良好的電連接，又不會劃傷蘋果設(shè)備閃電接口的金手指。
【專利說明】—種閃電接口 SD讀卡器的測試夾具

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種閃電接口 SD讀卡器的測試夾具，屬于電子測試領(lǐng)域。

【背景技術(shù)】
[0002]蘋果公司的Lightning Dock接口，中文翻譯為閃電接口，廣泛用于其新一代的1卩1101^5及1?0(1、1?&(1產(chǎn)品。為了方便用戶通過閃電接口讀取或?qū)懭雮鹘y(tǒng)的SD卡，蘋果公司還推出了閃電接口 SD讀卡器，該轉(zhuǎn)換器一端為SD卡座，另一端為閃電接口。
[0003]為了檢測蘋果設(shè)備讀寫SD卡的功能是否正常，現(xiàn)有閃電接口 SD讀卡器的測試，是使用真實的SD卡直接插入閃電接口 SD讀卡器的SD卡座，然后閃電接口 SD讀卡器的閃電接口端再連接到蘋果設(shè)備上。通過不斷的插拔SD卡來測試設(shè)備能否正確讀寫?，F(xiàn)代化生產(chǎn)大量使用自動化測試設(shè)備，多次的插拔會損壞SD卡，使得測試成本較高。當(dāng)然也可以不斷的插拔SD讀卡器的閃電接口，但這樣會在蘋果設(shè)備的閃電接口上留下劃痕。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]發(fā)明目的:本發(fā)明提出一種閃電接口 SD讀卡器的測試夾具，在不損壞SD卡的情況下低成本地測試蘋果設(shè)備讀寫SD卡的性能。
[0005]技術(shù)方案:本發(fā)明提出一種閃電接口 SD讀卡器的測試夾具，包括PCB板，在PCB板一邊設(shè)有閃電接口的金手指，PCB板上還設(shè)置有SD卡座，金手指與SD卡座之間由PCB板上的布線連接。
[0006]優(yōu)選地，所述PCB板的厚度在13.8-14.6mm之間。
[0007]優(yōu)選地，所述金手指一側(cè)還設(shè)有寫保護(hù)開關(guān)。
[0008]有益效果:本發(fā)明替代現(xiàn)有SD卡不斷地在蘋果設(shè)備上插拔，以測試蘋果設(shè)備能否正常讀寫SD卡。其中SD卡插入本發(fā)明的SD卡座內(nèi)，不必多次插拔SD卡,而使用本發(fā)明去插拔蘋果設(shè)備上的閃電接口。這樣SD卡不會損壞，降低了測試成本。同時為了避免蘋果設(shè)備上的閃電接口被劃傷，本發(fā)明測試夾具上的閃電接口厚度設(shè)計在13.8-14.6mm之間，既能夠保證良好的電連接，又不會劃傷蘋果設(shè)備閃電接口的金手指。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]圖1為本發(fā)明一種閃電接口 SD讀卡器的測試夾具的使用原理圖；
[0010]圖2為本發(fā)明一種閃電接口 SD讀卡器的測試夾具的俯視圖；
[0011]圖3為本發(fā)明一種閃電接口 SD讀卡器的測試夾具的截面圖。

【具體實施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖和具體實施例，進(jìn)一步闡明本發(fā)明，應(yīng)理解這些實施例僅用于說明本發(fā)明而不用于限制本發(fā)明的范圍，在閱讀了本發(fā)明之后，本領(lǐng)域技術(shù)人員對本發(fā)明的各種等價形式的修改均落于本申請所附權(quán)利要求所限定的范圍。
[0013]如圖1所示，被測的閃電接口 SD讀卡器的測試夾具通過安裝孔4固定在測試儀器上，與測試儀器機械連接，SD卡插入測試夾具的SD卡槽3內(nèi)。
[0014]如圖2至圖3所示，PCB板I呈T字形。PCB板I較窄的一邊設(shè)有閃電接口的金手指2。與金手指2相對的PCB板I的另一邊設(shè)置有SD卡座3，該SD卡座3與金手指2安裝在PCB板I的同一側(cè)表面。SD卡座3開口背向金手指2。
[0015]測試夾具需要固定在測試儀器上，測試時SD卡插入SD卡座3內(nèi)，測試夾具在測試儀器的驅(qū)動下，金手指2被不斷地插入到被測蘋果設(shè)備的閃電接口內(nèi)以測試蘋果設(shè)備能否正常讀寫SD卡，以及讀寫速率。這樣SD卡就不需要多次插拔，也就不容易損壞。即使損壞，也是測試夾具損壞，而測試夾具的成本遠(yuǎn)低于SD卡。
[0016]為了固定測試夾具，在金手指2和SD卡座3之間設(shè)有安裝孔4，這些安裝孔4對稱地分布在PCB板I的兩側(cè)，以方便測試儀器更好的固定本測試夾具作用。
[0017]除此之外，為了防止測試夾具的閃電接口在與蘋果設(shè)備連接時，劃傷蘋果設(shè)備的閃電接口，需要選擇一個合適的PCB板I厚度，使得測試夾具不斷插入蘋果設(shè)備的時候，既能夠保證接觸良好，又不會劃傷蘋果設(shè)備的閃電接口。經(jīng)過如表1所示的大量測試:
[0018]

【權(quán)利要求】
1.一種閃電接口 SD讀卡器的測試夾具，其特征在于，包括PCB板，在PCB板一邊設(shè)有閃電接口的金手指，PCB板上還設(shè)置有SD卡座，金手指與SD卡座之間由PCB板上的布線連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的閃電接口SD讀卡器的測試夾具，其特征在于，所述PCB板的厚度在13.8-14.6mm之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的閃電接口SD讀卡器的測試夾具，其特征在于，所述金手指一側(cè)還設(shè)有寫保護(hù)開關(guān)。
【文檔編號】G01R1/04GK104166030SQ201410458681
【公開日】2014年11月26日 申請日期:2014年9月10日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月10日
【發(fā)明者】薛蕙心 申請人:無錫藍(lán)晶電子科技有限公司