一種tr組件調(diào)試儀的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種TR組件調(diào)試儀，包括電源控制模塊、主控模塊、時序控制模塊、人機交互模塊和檢測與保護模塊，其中主控模塊分別與電源控制模塊、時序控制模塊、人機交互模塊和檢測與保護模塊相連，本發(fā)明為T/R組件提供測試電源，解決了T/R組件調(diào)試儀無自帶電源的問題，設有人機交互模塊，可通過該模塊輸入不同T/R組件測試需要的參數(shù)，用戶通過該模塊也可觀測到T/R組件的工作情況，時序控制模塊可產(chǎn)生T/R組件測試所需要的時序信號和組合脈沖信號，主控模塊對上述各個模塊的工作進行控制和檢測，保證整個儀器的正常工作和安全運行。
【專利說明】—種TR組件調(diào)試儀
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及TR組件測試技術，具體涉及一種TR組件調(diào)試儀。
【背景技術】
[0002]在現(xiàn)代雷達技術中，相控陣雷達，特別是有源相控陣雷達占有十分重要的地位，其中T/R組件是整個雷達的關鍵部件之一，T/R組件的研制成本、穩(wěn)定性和可靠性決定了整個雷達研制的周期、造價和可靠性指標，有源相控陣雷達自20世紀50年代問世以來，在地、海、空、天的雷達中都得到廣泛應用。有源相控陣的每個天線陣元連接具有完整收發(fā)功能的T/R組件，完成獨立的移相和幅度控制。
[0003]T/R組件的涉及和制造是有源相控陣雷達的關鍵技術之一。其性能指標的好壞將影響相控陣雷達系統(tǒng)的發(fā)現(xiàn)能力、收發(fā)波束副瓣大小、指向精度和作用距離等技術指標，在整個雷達系統(tǒng)的組成成本中，T/R組件占三分之一以上的比例，是整機系統(tǒng)成本高低的決定性因素；組件穩(wěn)定性、可靠性和可維修性能指標的優(yōu)劣，很大程度上決定了雷達整機系統(tǒng)的日常使用和維護費用。這些因素都是系統(tǒng)設計師在整機體制取舍時重要的考慮因素。
[0004]由于T/R組件在雷達天線中的重要作用，決定了 T/R組件性能的重要性，因此T/R組件在投入使用之前都要進行嚴格的調(diào)試或測試等工作，保證應用在雷達天線上的T/R組件有足夠優(yōu)異的性能，所以T/R組件的調(diào)試工作一直都是T/R組件生產(chǎn)所必不可少的環(huán)節(jié)之一 O
[0005]T/R組件在測試時往往需要用到網(wǎng)絡分析儀、頻譜分析儀、信號源、噪聲分析儀、穩(wěn)壓源等儀器，穩(wěn)壓源為T/R組件提供測試所需要的電壓，網(wǎng)絡分析儀或者信號源為T/R組件提供測試信號，T/R組件在進行調(diào)試時，同時需要很多測試儀器的配合，在T/R組件測試的過程中，首先首要使用穩(wěn)壓源為T/R組件進行供電，以保證T/R組件內(nèi)的各元器件正常工作，同時需要使用信號源為T/R組件提供信號，以測試T/R組件的接收信號和發(fā)射信號的性能，這就使得幾個儀器同時需要協(xié)調(diào)的工作，才能保證T/R組件調(diào)試的正常進行，一旦有儀器出了問題，就需要對所有的儀器進行排查，過程十分繁瑣，比如，T/R組件輸出端的波形異常，首先需要測試穩(wěn)壓源提供的電壓是否是正常工作需要的電壓，電壓源無問題，則需要使用頻譜分析儀對信號源發(fā)出的信號進行測試，查看信號源發(fā)出的信號是否正常，如果輸入到T/R組件中的信號正常，則才能確定是T/R組件本身的問題，當T/R組件測試需要的儀器更多時，則需要一一進行排查的儀器就更多，不但給整個測試流程帶來了很多繁瑣，同時也不利于測試的準確性。
[0006]現(xiàn)有的T/R組件調(diào)試儀本身并不提供T/R組件調(diào)試所需要的測試電壓，同時現(xiàn)有的T/R組件調(diào)試儀只能針對固定型號的T/R組件進行測試，如果T/R組件的型號不同，則同一個儀器無法進行測試，那是因為現(xiàn)有的T/R組件調(diào)試儀的結構決定了其無法對其內(nèi)部的頻率和產(chǎn)生的測試脈沖進行調(diào)節(jié)，只能進行產(chǎn)生固定頻率的測試脈沖，無法通過人工輸入?yún)?shù)指標生成相對應的測試脈沖，從而不利于T/R組件測試的發(fā)展和進步，更不利于對T/R組件進行全方位的測試。
【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明所要解決的技術問題是:針對現(xiàn)有技術的缺陷，提供一種TR組件調(diào)試儀，設有電源控制模塊，為T/R組件提供測試電源，解決了 T/R組件調(diào)試儀無自帶電源的問題，設有人機交互模塊，可通過該模塊輸入不同T/R組件測試需要的參數(shù)，用戶通過該模塊也可觀測到T/R組件的工作情況，時序控制模塊可產(chǎn)生T/R組件測試所需要的時序信號和組合脈沖信號，主控模塊對上述各個模塊的工作進行控制和檢測，保證整個儀器的正常工作和安全運行。
[0008]本發(fā)明為解決上述技術問題采用以下技術方案:
一種TR組件調(diào)試儀,包括電源控制模塊、主控模塊、時序控制模塊、人機交互模塊和檢測與保護模塊，其中主控模塊分別與電源控制模塊、時序控制模塊、人機交互模塊和檢測與保護模塊相連；
主控模塊:包括單片機模塊，單片機模塊根據(jù)用戶通過人機交互模塊的設定，控制T/R組件調(diào)試儀內(nèi)部的時序和電源，同時采集數(shù)據(jù)并進行存儲，通過軟件對T/R組件調(diào)試儀進行內(nèi)部保護。
[0009]人機交互模塊:包含儀器屏幕、外殼以及PC界面，外殼上設有輸入按鍵、本機按鍵、組件按鍵和功放按鍵，儀器屏幕和PC界面均與單片機模塊相連，用戶可通過PC界面和外殼上的各部件進行參數(shù)設置；
電源控制模塊:包括AD轉(zhuǎn)DC模塊，第一 MOS開關、第二 MOS開關、DA控制和穩(wěn)壓芯片模塊，AD轉(zhuǎn)DC模塊通過第一 MOS開關與穩(wěn)壓芯片模塊相連,穩(wěn)壓芯片模塊通過第二 MOS開關輸出三路電壓，三路輸出電壓中一路輸出電壓接功放按鍵，另外兩路輸出電壓接組件按鍵，單片機模塊通過DA控制與穩(wěn)壓芯片模塊相連，AD轉(zhuǎn)DC模塊與第一 MOS開關之間設有AD采樣點，穩(wěn)壓芯片模塊與第二 MOS開關之間也設有AD采樣點，兩個AD采樣點與單片機模塊相連；
時序控制模塊:包括FPGA模塊、晶振和緩存驅(qū)動芯片，F(xiàn)PGA模塊分別與晶振、單片機模塊和緩存驅(qū)動芯片相連，晶振為FPGA模塊產(chǎn)生基準時鐘，單片機模塊接收人機交互模塊輸入的參數(shù)，根據(jù)所得的參數(shù)發(fā)送相應的指令給FPGA模塊，F(xiàn)PGA模塊根據(jù)基準時鐘和單片機模塊發(fā)送的指令產(chǎn)生T/R組件測試所需要的時序信號和組合脈沖；
檢測與保護模塊:包括單片機模塊和異常報警電路，所述異常報警電路包括運算放大器、AC轉(zhuǎn)DC模塊、與非門和報警器，運算放大器的兩個輸入端與兩個AD采樣點相連，運算放大器的輸出端與比較器的一個輸入端相連，比較器的另一個輸入端設置基準電壓，比較器的輸出端、與非門和報警器依次相連。
[0010]AD轉(zhuǎn)DC模塊輸入端與外接電源相連，通過電源控制模塊為整個T/R組件調(diào)試儀進行供電，穩(wěn)壓芯片模塊產(chǎn)生T/R組件測試所需要的電壓，并通過單片機模塊的控制功放按鍵和組件按鍵進行輸出；
儀器屏幕顯示T/R組件測試需要的參數(shù)和電壓控制模塊輸出的電壓和電流數(shù)值，用戶通過外殼的輸入按鍵和PC界面輸入T/R測試需要的參數(shù)，單片機模塊收到輸入的參數(shù)后，發(fā)送給電源控制模塊產(chǎn)生相應的電壓，同時發(fā)送給時序控制模塊產(chǎn)生相應的測試脈沖；單片機模塊通過對各處的電流和電壓進行采樣，與其內(nèi)部的標準值進行比較，時刻判斷電路是否發(fā)生故障，若電路的電壓值和電流值出現(xiàn)異常，單片機模塊控制面板上的報警燈點亮，提示用戶；單片機模塊所的兩個AD采樣點采集的電流值經(jīng)過運算放大器后得出該點的電壓值，該點的電壓值與比較器中預先輸入的比較電壓進行比較，比較結果經(jīng)過與非門的判斷后，超出設定的最大異常值，從而觸發(fā)報警器，單片機模塊切斷整個電源輸入，為T/R組件調(diào)試儀斷電。
[0011]作為本發(fā)明的進一步優(yōu)化方案，所述的時序控制模塊產(chǎn)生的時序信號包括CLK信號、DATA信號、SEL信號、DARY信號、IR信號。
[0012]作為本發(fā)明的進一步優(yōu)化方案，所述的時序信號在高頻測試時經(jīng)過低壓差分信號處理。
[0013]作為本發(fā)明的進一步優(yōu)化方案，所述的穩(wěn)壓芯片模塊采用的穩(wěn)壓芯片型號為LT1963。
[0014]作為本發(fā)明的進一步優(yōu)化方案，:所述的檢測與保護模塊中，所述的兩個AD采樣點采集的電流值經(jīng)過運算放大器后得出該點的電壓值，該點的電壓值與AC轉(zhuǎn)DC模塊中預先輸入的比較電壓進行比較，比較結果經(jīng)過與非門的判斷后，觸發(fā)報警器。
[0015]本發(fā)明采用以上技術方案與現(xiàn)有技術相比，具有以下技術效果:
第一、本發(fā)明設有電源控制模塊，采用穩(wěn)壓芯片進行分壓輸出T/R組件測試所需要的電壓，為T/R組件提供測試電源，解決了 T/R組件調(diào)試儀無自帶電源的問題；
第二、本發(fā)明設有人機交互模塊，使用者可通過T/R組件調(diào)試儀的面板，輸入不同T/R組件測試需要的參數(shù)，使用者通過該模塊也可觀測到T/R組件的工作情況；
第三、本發(fā)明設有時序控制模塊可產(chǎn)生T/R組件測試所需要的時序信號和組合脈沖信號，主控模塊對上述各個模塊的工作進行控制和檢測，保證整個儀器的正常工作和安全運行。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]圖1、本發(fā)明的系統(tǒng)結構示意圖；
圖2、本發(fā)明的電源控制模塊電路示意圖；
圖3、本發(fā)明的故障檢測流程示意圖。
【具體實施方式】
[0017]下面結合附圖對本發(fā)明的技術方案做進一步的詳細說明:
本發(fā)明公開一種TR組件調(diào)試儀，如圖1所示，包括電源控制模塊、主控模塊、時序控制模塊、人機交互模塊和檢測與保護模塊，其中主控模塊通過串口總線分別與人機交互模塊和時序控制模塊相連，主控模塊通過控制總線分別與電源控制模塊和檢測與保護模塊相連；
主控模塊:包括單片機模塊，單片機模塊通過串口總線與人機交互模塊相連，單片機模塊根據(jù)用戶通過人機交互模塊的設定，控制T/R組件調(diào)試儀內(nèi)部的時序和電源，同時采集數(shù)據(jù)并進行存儲，通過軟件對T/R組件調(diào)試儀進行內(nèi)部保護。
[0018]人機交互模塊:包含儀器屏幕、外殼以及PC界面，外殼上設有數(shù)字鍵盤、輸入按鍵、本機按鍵、組件按鍵和功放按鍵，儀器屏幕和PC界面均與單片機模塊相連，用戶可通過PC界面和外殼上的各部件進行參數(shù)設置；
電源控制模塊:如圖2所示，電源控制模塊包括AD轉(zhuǎn)DC模塊，第一 MOS開關、第二 MOS開關、DA控制和穩(wěn)壓芯片模塊，AD轉(zhuǎn)DC模塊通過第一 MOS開關與穩(wěn)壓芯片模塊相連,穩(wěn)壓芯片模塊通過第二 MOS開關輸出三路電壓，三路輸出電壓中一路輸出電壓接功放按鍵，另外兩路輸出電壓接組件按鍵，單片機模塊通過DA控制與穩(wěn)壓芯片模塊相連，AD轉(zhuǎn)DC模塊與第一 MOS開關之間設有AD采樣點，穩(wěn)壓芯片模塊與第二 MOS開關之間也設有AD采樣點，兩個AD采樣點與單片機模塊相連；
時序控制模塊:包括FPGA模塊、晶振和緩存驅(qū)動芯片，F(xiàn)PGA模塊分別與晶振、單片機模塊和緩存驅(qū)動芯片相連，晶振為FPGA模塊產(chǎn)生基準時鐘，單片機模塊接收人機交互模塊輸入的參數(shù)，根據(jù)所得的參數(shù)發(fā)送相應的指令給FPGA模塊，F(xiàn)PGA模塊根據(jù)基準時鐘和單片機模塊發(fā)送的指令產(chǎn)生T/R組件測試所需要的時序信號和組合脈沖，時序信號和組合脈沖經(jīng)過緩存驅(qū)動芯片后輸出；
檢測與保護模塊:包括單片機模塊和異常報警電路，所述異常報警電路包括運算放大器、AC轉(zhuǎn)DC模塊、與非門和報警器，運算放大器的兩個輸入端與兩個AD采樣點相連，運算放大器的輸出端與比較器的一個輸入端相連，比較器的另一個輸入端設置基準電壓，比較器的輸出端、與非門和報警器依次相連。
[0019]AD轉(zhuǎn)DC模塊輸入端與外接電源相連，通過電源控制模塊為整個T/R組件調(diào)試儀進行供電，穩(wěn)壓芯片模塊產(chǎn)生T/R組件測試所需要的電壓，并通過單片機模塊的控制功放按鍵和組件按鍵進行輸出；
AC轉(zhuǎn)DC模塊通電后單片機模塊通過第一 AD采樣點對AC轉(zhuǎn)DC模塊輸出端的源電壓進行檢測，并判斷AC轉(zhuǎn)DC模塊輸出端的源電壓數(shù)值，確保AC轉(zhuǎn)DC模塊正常工作，防止AC轉(zhuǎn)DC模塊出現(xiàn)故障，導致源電壓過大燒毀儀器，源電壓數(shù)值超出誤差范圍時，單片機模塊發(fā)送報警信號，提示用戶電路出現(xiàn)故障，無法正常使用，第一 MOS開關不導通，阻斷異常電壓的傳輸，電源控制電路無電壓輸出，保護電路安全，源電壓數(shù)值位于誤差范圍內(nèi)，第一 MOS開關導通，源電壓輸入穩(wěn)壓芯片模塊進行分壓處理；
單片機模塊通過DA控制中的基準電壓來控制穩(wěn)壓芯片模塊，從而輸出需要的電壓，通過DA控制后，穩(wěn)壓芯片模塊產(chǎn)生的分壓不易產(chǎn)生大的誤差，不會給電路造成欠壓或者過壓的現(xiàn)象，不但有利于T/R組件的測試，同時也能有效的保護電路的安全，穩(wěn)壓芯片模塊輸出三路電壓，單片機模塊通過第二 AD采樣點、第三AD采樣點和第四AD采樣點分別對穩(wěn)壓芯片模塊的三路輸出電壓進行采樣，采樣后與標準值進行比較判斷，如果采樣值在誤差范圍內(nèi)，與該采樣值相對應的MOS開關則進行導通進行電壓輸出，如果該采樣值超出誤差范圍，該對應的MOS開關不導通，則電源控制電路無電壓輸出，有效的保護輸出電壓接口端待測試的T/R組件的安全，第二 AD采樣點、第三AD采樣點和第四AD采樣點的采樣數(shù)值均在誤差范圍內(nèi)，則第二 MOS開關、第三MOS開關、第四MOS開關均導通并輸出相應的電壓；
單片機模塊檢測各個采樣點的電壓值均正常后，單片機模塊向本機按鍵、組件按鍵和功放按鍵發(fā)送使能信號，使用者按下本機按鍵后，電壓輸出到組件按鍵端和功放按鍵端，使用者按下功放按鍵后，第二 MOS開關輸出的電壓經(jīng)過功放按鍵輸出，使用者按下組件按鍵后,第三MOS開關輸出的電壓和第四MOS開關輸出的電壓經(jīng)過組件按鍵輸出，在電壓輸出過程中，一旦某個采樣點的電壓值發(fā)生異常，單片機模塊則發(fā)送報警信號，并切斷電壓輸出。[0020]儀器屏幕顯示T/R組件測試需要的參數(shù)和電壓控制模塊輸出的電壓和電流數(shù)值，用戶通過外殼的輸入按鍵和PC界面輸入T/R測試需要的參數(shù)，單片機模塊收到輸入的參數(shù)后，發(fā)送給電源控制模塊產(chǎn)生相應的電壓，同時發(fā)送給時序控制模塊產(chǎn)生相應的測試脈沖；
具體過程如下:晶振產(chǎn)生固定頻率的周期信號，F(xiàn)PGA對周期頻率信號的高低電平計數(shù)，通過人機交互模塊輸入的計算脈沖信號所需要的頻率、占空比以及tl、t2、t3和t4的值，主控模塊接收輸入的計算脈沖信號所需要的頻率、占空比以及tl、t2、t3和t4的值，并將計算脈沖信號所需要的頻率、占空比以及tl、t2、t3和t4的值發(fā)送給FPGA，F(xiàn)PGA根據(jù)得至IJ的頻率和占空比和對晶振信號高低電平的計數(shù)，得出T_R信號的波形，F(xiàn)GPA根據(jù)所得乙R信號波形的的上升沿和下降沿，并根據(jù)tl、t2、t3和t4的值計算出T信號和R信號。
[0021]單片機模塊通過對各處的電流和電壓進行采樣，與其內(nèi)部的標準值進行比較，時刻判斷電路是否發(fā)生故障，若電路的電壓值和電流值出現(xiàn)異常，單片機模塊控制面板上的報警燈點亮，提示用戶；單片機模塊所的兩個AD采樣點采集的電流值經(jīng)過運算放大器后得出該點的電壓值，該點的電壓值與比較器中預先輸入的比較電壓進行比較，比較結果經(jīng)過與非門的判斷后，超出設定的最大異常值，從而觸發(fā)報警器，單片機模塊切斷整個電源輸入，為T/R組件調(diào)試儀斷電。
[0022]T/R組件調(diào)試儀內(nèi)部的故障檢測過程如圖3所示:
步驟一:插電后，首先單片機對其各個輸入輸出端口和T/R組件調(diào)試儀的儀器屏幕進行初始化設置，清空儀器屏幕上的顯示內(nèi)容。
[0023]步驟二:單片機內(nèi)部設有設定寄存器，存儲T/R組件調(diào)試儀正常工作時的電流和電壓數(shù)據(jù)存儲，正常測試時，單片機將AD采樣的電流或電壓值與設寄存器的標準值進行對t匕，用來判斷T/R組件調(diào)試儀電路是否正常工作，以便隨時發(fā)現(xiàn)T/R組件調(diào)試儀內(nèi)部故障或異常，在進行T/R組件測試時，一旦出現(xiàn)不可排查的故障，無法繼續(xù)進行正常測試時，可停機暫停使用，此時單片機內(nèi)的EEPROM，EEPROM即電可擦可編程只讀存儲器，將發(fā)生故障時電路的各個節(jié)點的電流和電壓值進行記錄并存儲。
[0024]單片機對其輸入輸出端口和儀器屏幕進行初始化后，單片機讀取EEPROM的采樣寄存器中存儲的T/R組件調(diào)試儀斷電或故障時的采樣數(shù)據(jù)，并將該數(shù)據(jù)與設定寄存器中存儲的數(shù)據(jù)進行比較，判斷采樣數(shù)據(jù)是否有異常，如果采樣數(shù)據(jù)異常，則說明電壓模塊供電電路出現(xiàn)問題，應從電源硬件電路查找；
步驟三:數(shù)據(jù)正常，單片機判斷電路是否能正常供電，電路如果正常供電，輸出電壓正常輸出時，確定功放和組件均未供電，單片機向本機按鍵發(fā)送使能控制，本機按鍵可按下，本機按鍵可按下，說明整個電路的供電可正常輸出，電源電路處于正常工作狀態(tài)，然后，單片機判斷采樣電路是否正常，如果采樣電路出了問題，那么單片機收到的采樣信號的電流和電壓數(shù)據(jù)就不是實際電路工作時的電流和電壓值，由此導致單片機判斷電路出現(xiàn)了故障，實為采樣電路出現(xiàn)問題引起的采樣數(shù)據(jù)有誤導致的，故需要判斷采樣電路是否正常，采用電路如果不正常，仍然需要從硬件電路上進行故障查找；
步驟四:采樣電路無異常，將本機按鍵按下，T/R組件調(diào)試儀有正常電壓輸出，判斷功放按鍵是否已按下，如果功放按鍵已按下，應將功放按鍵關閉，功放按鍵未按下，且采樣電路正常，單片機對組件按鍵進行使能，電壓會接通至對應的組件電壓的輸入端口，將組件的電壓輸出端口的電壓和電流值均與標準值進行比較判斷組件的電壓輸出端口的數(shù)據(jù)是否正常，如果數(shù)據(jù)異常，說明組件的輸出端口的電路發(fā)生故障，可針對此問題進行電路問題查找；
步驟五:本機按鍵和組件按鍵已按下，單片機對功放按鍵進行使能，功放需要的電壓會接通至功放電壓的輸出端口，單片機將功放電壓的輸出端口的電壓值與標準值進行比較，判斷功放電路是否正常，如果電壓值有異常，則說明功放的電壓輸出電路有故障，需要從硬件電路進行查找。
[0025]作為本發(fā)明的進一步優(yōu)化方案，所述的時序控制模塊產(chǎn)生的時序信號包括CLK信號、DATA信號、SEL信號、DARY信號、IR信號。所述的時序信號在高頻測試時經(jīng)過低壓差分信號處理?，F(xiàn)有的T/R組件調(diào)試儀都只能在低頻率下對T/R組件進行調(diào)試，因為當測試頻率過高時，時序控制信號容易出現(xiàn)失真的情況，不能對T/R組件的性能進行準確的測試，在該T/R組件調(diào)試儀中加入了低壓差分信號處理電路，對時序控制信號進行低壓差分信號處理，將時序控制信號經(jīng)過低壓差分處理后得出較為平滑的時序控制信號，該方法不但為T/R組件提供了高頻率下的調(diào)試功能，也保證了高頻率調(diào)試下時序控制信號的穩(wěn)定，使得T/R組件的調(diào)試更加準確，各個工作頻段的性能都能得到檢測，已保證T/R組件應用在雷達天線上時性能更加穩(wěn)定，更加可靠。
[0026]作為本發(fā)明的進一步優(yōu)化方案，所述的穩(wěn)壓芯片模塊采用的穩(wěn)壓芯片型號為LT1963。采用穩(wěn)壓芯片不但可以得到穩(wěn)定的電壓，而且還可以降低整個電路的功耗，并且可以升壓，可以溫流；采用穩(wěn)壓芯片可以降低發(fā)熱，穩(wěn)壓芯片的體積小，重量輕，可以減少整個電路的體積，有利于集成化，小型化的實現(xiàn)
作為本發(fā)明的進一步優(yōu)化方案，:所述的檢測與保護模塊中，所述的兩個AD采樣點采集的電流值經(jīng)過運算放大器后得出該點的電壓值，該點的電壓值與AC轉(zhuǎn)DC模塊中預先輸入的比較電壓進行比較，比較結果經(jīng)過與非門的判斷后，觸發(fā)報警器。
[0027]上面結合附圖對本發(fā)明的實施方式作了詳細說明，但是本發(fā)明并不限于上述實施方式，在本領域普通技術人員所具備的知識范圍內(nèi)，還可以在不脫離本發(fā)明宗旨的前提下做出各種變化。
[0028]以上實施例僅為說明本發(fā)明的技術思想，不能以此限定本發(fā)明的保護范圍。凡是按照本發(fā)明提出的技術思想，以及在技術方案基礎上所做的任何改動，均落入本發(fā)明保護范圍之內(nèi)。
【權利要求】
1.一種TR組件調(diào)試儀，其特征在于:包括電源控制模塊、主控模塊、時序控制模塊、人機交互模塊和檢測與保護模塊，其中主控模塊分別與電源控制模塊、時序控制模塊、人機交互模塊和檢測與保護模塊相連； 主控模塊:包括單片機模塊，單片機模塊根據(jù)用戶通過人機交互模塊的設定，控制T/R組件調(diào)試儀內(nèi)部的時序和電源，同時采集數(shù)據(jù)并進行存儲，通過軟件對T/R組件調(diào)試儀進行內(nèi)部保護； 人機交互模塊:包含儀器屏幕、外殼以及PC界面，外殼上設有輸入按鍵、本機按鍵、組件按鍵和功放按鍵，儀器屏幕和PC界面均與單片機模塊相連，用戶可通過PC界面和外殼上的各部件進行參數(shù)設置； 電源控制模塊:包括AD轉(zhuǎn)DC模塊，第一 MOS開關、第二 MOS開關、DA控制和穩(wěn)壓芯片模塊，AD轉(zhuǎn)DC模塊通過第一 MOS開關與穩(wěn)壓芯片模塊相連,穩(wěn)壓芯片模塊通過第二 MOS開關輸出三路電壓，三路輸出電壓中一路輸出電壓接功放按鍵，另外兩路輸出電壓接組件按鍵，單片機模塊通過DA控制與穩(wěn)壓芯片模塊相連，AD轉(zhuǎn)DC模塊與第一 MOS開關之間設有AD采樣點，穩(wěn)壓芯片模塊與第二 MOS開關之間也設有AD采樣點，兩個AD采樣點與單片機模塊相連； 時序控制模塊:包括FPGA模塊、晶振和緩存驅(qū)動芯片，F(xiàn)PGA模塊分別與晶振、單片機模塊和緩存驅(qū)動芯片相連，晶振為FPGA模塊產(chǎn)生基準時鐘，單片機模塊接收人機交互模塊輸入的參數(shù)，根據(jù)所得的參數(shù)發(fā)送相應的指令給FPGA模塊，F(xiàn)PGA模塊根據(jù)基準時鐘和單片機模塊發(fā)送的指令產(chǎn)生T/R組件測試所需要的時序信號和組合脈沖； 檢測與保護模塊:包 括單片機模塊和異常報警電路，所述異常報警電路包括運算放大器、AC轉(zhuǎn)DC模塊、與非門和報警器，運算放大器的兩個輸入端與兩個AD采樣點相連，運算放大器的輸出端與比較器的一個輸入端相連，比較器的另一個輸入端設置基準電壓，比較器的輸出端、與非門和報警器依次相連； AD轉(zhuǎn)DC模塊輸入端與外接電源相連，通過電源控制模塊為整個T/R組件調(diào)試儀進行供電，穩(wěn)壓芯片模塊產(chǎn)生T/R組件測試所需要的電壓，并通過單片機模塊的控制功放按鍵和組件按鍵進行輸出； 儀器屏幕顯示T/R組件測試需要的參數(shù)和電壓控制模塊輸出的電壓和電流數(shù)值，用戶通過外殼的輸入按鍵和PC界面輸入T/R測試需要的參數(shù)，單片機模塊收到輸入的參數(shù)后，發(fā)送給電源控制模塊產(chǎn)生相應的電壓，同時發(fā)送給時序控制模塊產(chǎn)生相應的測試脈沖； 單片機模塊通過對各處的電流和電壓進行采樣，與其內(nèi)部的標準值進行比較，時刻判斷電路是否發(fā)生故障，若電路的電壓值和電流值出現(xiàn)異常，單片機模塊控制面板上的報警燈點亮，提示用戶；單片機模塊所的兩個AD采樣點采集的電流值經(jīng)過運算放大器后得出該點的電壓值，該點的電壓值與比較器中預先輸入的比較電壓進行比較，比較結果經(jīng)過與非門的判斷后，超出設定的最大異常值，從而觸發(fā)報警器，單片機模塊切斷整個電源輸入，為T/R組件調(diào)試儀斷電。
2.如權利要求1所述的一種TR組件調(diào)試儀，其特征在于:所述的時序控制模塊產(chǎn)生的時序信號包括CLK信號、DATA信號、SEL信號、DARY信號、IR信號。
3.如權利要求2所述的一種TR組件調(diào)試儀，其特征在于:所述的時序信號在高頻測試時經(jīng)過低壓差分信號處理。
4.如權利要求1所述的一種TR組件調(diào)試儀，其特征在于:所述的穩(wěn)壓芯片模塊采用的穩(wěn)壓芯片型號為。
5.如權利要求1所述的一種TR組件調(diào)試儀，其特征在于:所述的檢測與保護模塊中，所述的兩個AD采樣點采集的電流值經(jīng)過運算放大器后得出該點的電壓值，該點的電壓值與AC轉(zhuǎn)DC模塊中預先輸入的比較電壓進行比較，比較結果經(jīng)過與非門的判斷后，觸發(fā)報警器。
【文檔編號】G01S7/40GK103954946SQ201410210439
【公開日】2014年7月30日 申請日期:2014年5月19日 優(yōu)先權日:2014年5月19日
【發(fā)明者】朱勤輝, 張 林, 竇延軍 申請人:江蘇萬邦微電子有限公司