結(jié)合熱成像磷光體的物品以及用于對此類物品進行認(rèn)證的方法和裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明包括用于識別結(jié)合在物品上或內(nèi)部的熱成像磷光體（例如，Er:YIG）的方法和裝置。該方法和裝置實施例包括將物品選擇性地暴露于在熱成像磷光體的吸收譜帶中的激發(fā)能的激發(fā)能發(fā)生器。發(fā)射輻射檢測器當(dāng)物品具有第一溫度時在熱成像磷光體的發(fā)射譜帶內(nèi)檢測來自物品的第一發(fā)射輻射的第一發(fā)射特性，并且當(dāng)物品具有不同于第一溫度的第二溫度時在發(fā)射譜帶內(nèi)檢測來自物品的第二發(fā)射輻射的第二發(fā)射特性。溫度調(diào)整元件被配置成調(diào)整物品的溫度。實施例還包括確定第一發(fā)射特性是否充分地不同于第二發(fā)射特性的處理系統(tǒng)。
【專利說明】結(jié)合熱成像磷光體的物品以及用于對此類物品進行認(rèn)證的 方法和裝置
[0001] 優(yōu)先權(quán)要求 本申請要求2012年1月17日提交的美國臨時申請?zhí)?1/587, 427的權(quán)益。

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0002] 本發(fā)明一般地涉及輻射發(fā)射化合物和用于其用作安全材料的方法和裝置。

【背景技術(shù)】
[0003] 發(fā)光磷光體化合物是能夠在由外部能源激發(fā)化合物時在紅外、可見和/或紫外光 譜中發(fā)射可檢測量的輻射的化合物。典型發(fā)光磷光體化合物包括至少主材料(例如，晶格)、 (例如，稀土金屬的）發(fā)射離子、以及在某些情況下(例如，能夠吸收并轉(zhuǎn)移能量至發(fā)射稀土 金屬離子的過渡金屬或不同稀土金屬的）"敏化"離子。由磷光體化合物的輻射的產(chǎn)生是通 過由（多個）發(fā)射離子或者由主材料和(多個）敏化離子中的一者或兩者吸收入射輻射、后面 是從主材料/(多個）敏化離子到（多個）發(fā)射離子的能量傳遞以及由（多個）發(fā)射離子進行 的已傳遞能量的輻射而實現(xiàn)的。
[0004] 磷光體化合物的所選組分可引起化合物具有特定發(fā)射性質(zhì)，包括用于其激發(fā)能的 特定波長以及用于由磷光體化合物的發(fā)射離子("發(fā)射物"）發(fā)射的較高譜能量輸出的（多 個）特定譜部分。然而，并不是每個離子都將在所有主材料中產(chǎn)生發(fā)射物。存在許多示例， 其中具有用于發(fā)射的電位的輻射被抑制，或者從吸收離子或主材料到發(fā)射離子的能量傳遞 是如此差，以致于輻射效果僅僅是可觀察的。在其它主材料中，輻射效果可能是非常大的且 具有接近于一（unity)的量子效率。
[0005] 針對確實產(chǎn)生可觀察發(fā)射物的特定磷光體化合物而言，可使用其發(fā)射物中的較高 譜能量含量(或發(fā)光輸出）的(多個)譜位置（即，其"譜特征")來從其它化合物中唯一地識別 磷光體化合物。該譜特征主要是歸因于(多個）稀土離子。然而，譜擾動可以是由于主材料 對各種發(fā)射離子的影響而出現(xiàn)的，通常是通過晶體場強度和分裂。這也適用于發(fā)射物的時 間性能。
[0006] 某些磷光體化合物的獨有譜性質(zhì)使得其非常適合于在對特殊價值或重要性的物 品(例如，鈔票、護照、生物樣本等)進行認(rèn)證或識別中使用。相應(yīng)地，具有已知譜特征的發(fā)光 磷光體化合物已被結(jié)合在各種類型的物品上面或內(nèi)部以增強檢測此類物品的偽造或假冒 拷貝或識別并跟蹤物品的能力。例如，發(fā)光磷光體化合物已經(jīng)以添加劑、涂層以及可在對物 品進行認(rèn)證或跟蹤的過程中分析的打印或另外施加的特征的形式被結(jié)合在各種類型的物 品上面或內(nèi)部。
[0007] 可使用特殊設(shè)計的認(rèn)證設(shè)備對包括發(fā)光磷光體化合物的物品進行認(rèn)證。更特別 地，制造商可將已知磷光體化合物(例如，"認(rèn)證"磷光體化合物）結(jié)合到其"真實"物品中。 被配置成檢測此類物品的真實性的認(rèn)證設(shè)備將具有可吸收激發(fā)能的波長和與認(rèn)證磷光體 化合物相關(guān)聯(lián)的發(fā)射物的譜性質(zhì)的知識(例如，存儲信息和/或各種譜濾波器)。當(dāng)提供有 用于認(rèn)證的樣本物品時，認(rèn)證設(shè)備將物品暴露于具有與直接地或間接地導(dǎo)致期望發(fā)射物的 發(fā)光磷光體化合物的吸收特征的已知波長相對應(yīng)的波長的激發(fā)能。認(rèn)證設(shè)備感測并表征用 于可由物品產(chǎn)生的任何發(fā)射物的譜參數(shù)。當(dāng)所檢測發(fā)射的譜信號在與認(rèn)證磷光體化合物相 對應(yīng)的檢測裝置的認(rèn)證參數(shù)范圍(稱為"檢測參數(shù)空間"）內(nèi)時，可認(rèn)為物品是真實的。相反 地，當(dāng)認(rèn)證設(shè)備未能在檢測參數(shù)空間內(nèi)感測到預(yù)期信號時，可認(rèn)為物品是不真實的(例如， 偽造或假冒物品）。
[0008] 上述技術(shù)在檢測和挫敗相對簡單的偽造和假冒活動方面是高度有效的。然而，具 有適當(dāng)資源和設(shè)備的個體可以能夠采用能譜測量技術(shù)以便確定某些磷光體化合物的組分。 然后可用不真實物品來再現(xiàn)和使用磷光體化合物，因此損害否則可由特定磷光體化合物提 供的認(rèn)證益處。相應(yīng)地，雖然已經(jīng)開發(fā)了多個磷光體化合物以促進以上述方式的物品認(rèn)證， 但是期望開發(fā)附加化合物、將此類化合物與物品一起使用的獨有方式、以及用于對物品進 行認(rèn)證的技術(shù)，其可使得偽造和假冒活動更加困難，和/或其可證明對識別和跟蹤特定興 趣的物品有益。此外，根據(jù)結(jié)合附圖和本發(fā)明的背景進行的本發(fā)明的后續(xù)詳細(xì)描述和所附 權(quán)利要求，本發(fā)明的其它期望特征和特性將變得顯而易見。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0009] 用于識別結(jié)合在物品上或內(nèi)部的發(fā)光材料的方法的實施例包括選擇性地使物品 暴露于發(fā)光材料的吸收譜帶中的激發(fā)能，當(dāng)物品具有第一溫度時在發(fā)光材料的發(fā)射譜帶內(nèi) 檢測來自物品的第一發(fā)射輻射的第一發(fā)射特性，并且當(dāng)物品具有不同于第一溫度的第二溫 度時在發(fā)射譜帶內(nèi)檢測來自物品的第二發(fā)射輻射的第二發(fā)射特性。該方法的實施例還包括 確定第一發(fā)射特性是否充分地不同于第二發(fā)射特性。
[0010] 一種裝置的實施例包括溫度調(diào)整元件、激發(fā)能發(fā)生器、發(fā)射輻射檢測器、以及處理 系統(tǒng)。溫度調(diào)整元件被配置成調(diào)整接近于溫度調(diào)整元件的物品的溫度。激發(fā)能發(fā)生器被配 置成向物品提供激發(fā)能，其中，該激發(fā)能對應(yīng)于當(dāng)物品是真實的時預(yù)期存在的發(fā)光材料的 吸收譜帶。發(fā)射輻射檢測器被配置成當(dāng)物品具有第一溫度時在發(fā)光材料的發(fā)射譜帶內(nèi)檢測 第一發(fā)射輻射的第一發(fā)射特性，并且當(dāng)物品具有不同于第一溫度的第二溫度時在發(fā)射譜帶 內(nèi)檢測第二發(fā)射輻射的第二發(fā)射特性。處理系統(tǒng)被配置成確定第一發(fā)射特性是否充分地不 同于第二發(fā)射特性。
[0011] 物品的實施例包括安全特征，其包括分散在介質(zhì)中的熱成像磷光體的介質(zhì)和顆 粒。熱成像磷光體包括至少一個發(fā)射離子的原子已被代入其中的主晶格。在實施例中，主 晶格是具有化學(xué)組成Y3Fe5012的釔鐵石榴石（YIG)，其中，Y是釔，F(xiàn)e是鐵，并且0是氧，并且 所述至少一個發(fā)射離子包括被以取代百分比而代入到主晶格中的鉺離子。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012] 下面將結(jié)合以下附圖來描述本發(fā)明的實施例，其中，相似的數(shù)字表示相似元件，并 且在所述附圖中： 圖1是根據(jù)示例性實施例的包括基板和包括熱成像磷光體的認(rèn)證特征的物品的截面 側(cè)視圖； 圖2是根據(jù)示例性實施例的用于產(chǎn)生包括熱成像磷光體的物品的方法的流程圖； 圖3是根據(jù)示例性實施例的用于對物品進行認(rèn)證的系統(tǒng)的簡化圖； 圖4是根據(jù)示例性實施例的用于執(zhí)行物品的認(rèn)證的方法的流程圖； 圖5是圖示出根據(jù)幾個示例性實施例的相對于溫度的多個熱成像磷光體樣本的發(fā)射 強度的圖表； 圖6圖示出根據(jù)示例性實施例的相對于溫度的熱成像磷光體樣本的譜發(fā)射特性；以及 圖7是圖示出根據(jù)幾個示例性實施例的相對于溫度的多個熱成像磷光體樣本的衰變 時間常數(shù)的圖表。

【具體實施方式】
[0013] 本發(fā)明的各種實施例的以下詳細(xì)描述本質(zhì)上僅僅是示例性的，并且并不意圖限制 發(fā)明主題或發(fā)明主題的應(yīng)用和使用。此外，并不意圖被在先前的【背景技術(shù)】或以下詳細(xì)描述 中提出的任何理論束縛。
[0014] 下面詳細(xì)討論的實施例包括包含熱成像磷光體的物品、用于生產(chǎn)此類物品的方法 以及用于在物品認(rèn)證背景下檢測和識別熱成像磷光體的方法。用于對包括下述熱成像磷光 體的物品進行認(rèn)證的方法和裝置增加了可用于認(rèn)證的可用材料的多樣性?？沙鲇谡J(rèn)證目的 使用表征來自本文所討論的熱成像磷光體實施例的發(fā)射的譜特征和衰變時間常數(shù)作為可 測量量。
[0015] 如本文所使用的，術(shù)語"熱成像磷光體"意指具有明顯熱相關(guān)發(fā)射強度和/或明顯 熱相關(guān)衰變時間常數(shù)的發(fā)光材料。"明顯熱相關(guān)"，由于其涉及發(fā)光材料的發(fā)射強度和/或 衰變時間常數(shù)，意指發(fā)光材料相對于熱成像磷光體的溫度而言展現(xiàn)發(fā)射強度和/或衰變時 間常數(shù)的可檢測差異(例如，其中，改變被認(rèn)證裝置可檢測，諸如在本文中結(jié)合圖3所描述 的認(rèn)證裝置)。
[0016] 圖1描述了根據(jù)示例性實施例的包括基板102和一個或多個熱成像磷光體的物品 100的截面圖。例如，物品100的實施例可包括表面施加和/或嵌入的認(rèn)證特征110、120， 其包括熱成像磷光體顆粒(在認(rèn)證特征110、120中未示出），和/或物品100可包括均勻地或 不均勻地分散在物品100的一個或多個部件內(nèi)（例如，在物品的基板102和/或一個或多個 層或其它部件內(nèi)）的熱成像磷光體顆粒130。雖然物品100被示為包括表面施加和/或嵌 入的認(rèn)證特征110、120和顆粒130兩者，但另一物品可包括嵌入的認(rèn)證特征、表面施加認(rèn)證 特征、基板分散熱成像磷光體顆粒和/或分散在物品100的一個或多個層(未示出）內(nèi)的熱 成像磷光體顆粒中的一個或組合。最后，雖然在圖1中示出了僅一個表面施加認(rèn)證特征110 和一個嵌入的認(rèn)證特征120,但物品可包括任一類型的認(rèn)證特征110、120中的超過一個。認(rèn) 證特征110U20和顆粒130的不同相對尺寸在圖1中未按比例。
[0017] 在各種實施例中，物品100可以是選自包括但不限于以下各項的群組的任何類型 的物品：身份證、駕照、護照、身份證明書、價值文件(例如，鈔票、支票、單據(jù)、票據(jù)、股票等)、 封裝部件、信用卡、銀行卡、標(biāo)簽、密封、令牌(例如供在賭博中和/或與博弈或自動售貨機 使用)、郵票、液體、人、動物以及生物樣本。基板102可以是各種類型的基板中的任何一個， 并且包括選自包括但不限于以下各項的群組中的一個或多個材料：紙張、聚合物、玻璃、金 屬、織物以及纖維。雖然在本文中討論了無生命的固體物品，但應(yīng)理解的是"物品"可包括 可在其中或其上面包括實施例的熱成像磷光體的實際上任何其它對象或材料。
[0018] 在各種實施例中，可以是剛性或柔性的基板102可由一個或多個層或部件形成。 基板102的各種配置太多而不能在本文中描述，因為可結(jié)合大量的不同類型物品來使用各 種實施例的熱成像磷光體。因此，雖然在圖1中圖示出簡單的單式基板102,但應(yīng)理解的是 基板102可具有各種不同配置中的任何一個。例如，基板可以是"復(fù)合"基板，其包括相同 或不同材料的多個層或區(qū)段。例如但并非作為限制，基板可包括被層壓或另外耦合在一起 以形成復(fù)合基板(例如，紙層/塑料層/紙層或塑料層/紙層/塑料層復(fù)合基板）的一個或 多個紙層或區(qū)段和一個或多個塑料層或區(qū)段。
[0019] 例如但并非作為限制，表面施加認(rèn)證特征110可以是打印認(rèn)證特征或包括在其中 或在其上包括實施例的熱成像磷光體的一個或多個剛性或柔性材料的認(rèn)證特征。例如，但 并非作為限制，表面施加認(rèn)證特征110可包括墨、顏料、涂層或涂料，其包括實施例的熱成 像磷光體的顆粒。取代地，表面施加認(rèn)證特征110可包括在其中或在其上面包括實施例的 熱成像磷光體的顆粒的一個或多個剛性或柔性材料，其中，然后將基板粘附于或另外附著 于物品基板102的表面。根據(jù)各種實施例，表面施加認(rèn)證特征110可具有約一微米或以上 的厚度112,并且表面施加認(rèn)證特征110可具有小于或等于基板102的寬度和長度的寬度和 長度。
[0020] 嵌入的認(rèn)證特征120包括在其中或到其上面包括實施例的熱成像磷光體的一個 或多個剛性或柔性材料。例如，但并非作為限制，可以以離散、剛性或柔性基板、安全線或另 一類型的結(jié)構(gòu)的形式來配置嵌入式認(rèn)證特征120。根據(jù)各種實施例，嵌入式認(rèn)證特征120可 具有在約一微米直至基板102的厚度104的范圍內(nèi)的厚度122,并且嵌入式認(rèn)證特征120可 具有小于或等于基板102的寬度和長度的寬度和長度。
[0021] 如上所述，熱成像磷光體顆粒130可均勻地或不均勻地分散在基板102 (或基板 102的一部分）內(nèi)，如圖1中所示，或者在其它實施例中，在物品100的一個或多個其它部件 內(nèi)（例如，在物品的一個或多個層或其它部件內(nèi)）?？蓪岢上窳坠怏w顆粒130分散在基板 102或另一部件內(nèi)，例如但并非作為限制，通過將顆粒130混合到用于基板102或其它部件 的基礎(chǔ)材料中和/或通過用顆粒130的膠態(tài)分散體來浸漬基板102或其它部件，如先前所 討論的。
[0022] 根據(jù)實施例，由其形成熱成像磷光體顆粒130的熱成像磷光體包括主晶格和被代 入到主晶格的晶格位置中的一個或多個發(fā)射離子。（多個)發(fā)射離子能夠在接收(多個)發(fā)射 離子的(多個)吸收譜帶內(nèi)的激發(fā)能時產(chǎn)生可檢測輻射。（多個)發(fā)射離子可通過多個機制中 的一個或多個來接收用于后續(xù)輻射的能量。例如，發(fā)射離子可以能夠直接地吸收在發(fā)射離 子的吸收譜帶內(nèi)的激發(fā)能，并且然后發(fā)射離子可輻射該吸收能中的至少某些(通常處于與 激發(fā)能不同且更長的波長)。替代地，如下所述，發(fā)射離子可以能夠間接地從主晶格和/或 從被代入主晶格的晶格位置中的一個或多個其它離子吸收激發(fā)能。
[0023] 例如，在某些實施例中，主晶格可吸收激發(fā)能并將該能量中的某些轉(zhuǎn)移至(多個） 發(fā)射離子(和/或一個或多個敏化或級聯(lián)離子)。另外，在不同的實施例中，熱成像磷光體 還可包括被代入到主晶格的晶格位置中的一個或多個敏化離子和/或級聯(lián)離子。當(dāng)被包 括時，每個敏化離子可吸收在敏化離子的吸收譜帶內(nèi)的激發(fā)能，并且可將該能量中的至少 某些轉(zhuǎn)移至(多個）發(fā)射離子和/或(多個）級聯(lián)離子。當(dāng)被包括時，每個級聯(lián)離子可從(多 個）敏化離子吸收激發(fā)能，并且可將該能量中的至少某些轉(zhuǎn)移至(多個）發(fā)射離子。"吸收離 子"指的是能夠吸收適當(dāng)激發(fā)能且然后輻射吸收能中的某些和/或?qū)⑵滢D(zhuǎn)移至另一離子(例 如，最終至發(fā)射離子)的熱成像磷光體的離子。在各種實施例中，可認(rèn)為發(fā)射離子、敏化離子 和/或級聯(lián)離子是吸收離子。如本文所使用的，"適當(dāng)激發(fā)能"指的是具有與熱成像磷光體 的吸收離子的吸收譜帶相對應(yīng)的波長范圍的激發(fā)能。
[0024] 如上文所指示的，主晶格包括向其中結(jié)合(多個）發(fā)射離子(和（多個）敏化和級聯(lián) 離子，如果被包括的話)的材料（即，代替主晶格的一個或多個可取代元素)。更特別地，主晶 格是不同的化學(xué)成分可在晶格內(nèi)的不同晶格位置或地點處代入其中的晶格。本文所使用的 術(shù)語"可取代元素"指的是占用晶體結(jié)構(gòu)內(nèi)的某些地點的主晶格的元素，其中，可在熱成像 磷光體的形成期間將另一元素(例如，發(fā)射、敏化和/或級聯(lián)離子)代入那些地點。允許用發(fā) 射、敏化或級聯(lián)離子取代的主晶格的每個原子具有與其將替換的離子類似的大小、類似的 加載以及類似的配位偏好（coordination preference)。在熱成像磷光體的形成期間，將用 原子百分?jǐn)?shù)來說明主晶格內(nèi)的每個位置上的原子。
[0025] 根據(jù)實施例，主晶格是鉺（Er)離子已被代入到其中的釔鐵石榴石（YIG)。此組合 在本文中稱為Er:YIG。YIG具有化學(xué)組成Y 3Fe5012，其中，Y是釔，F(xiàn)e是鐵，并且0是氧。釔 用作可取代元素，并且以一定的取代百分比(在本文中按原子百分?jǐn)?shù)來描述）將鉺代入釔地 點（yttrium site)的某些中。根據(jù)實施例，熱成像磷光體包括其中鉺被以在約0.5原子百 分?jǐn)?shù)至約50原子百分?jǐn)?shù)的范圍內(nèi)的取代百分比被取代的HG，但是也可以以大于或小于此 范圍的取代百分比來取代鉺。本質(zhì)上，可以以高到足以產(chǎn)生可檢測發(fā)射物且低到足以避免 發(fā)射物的完全濃縮猝滅的任何百分比來取代鉺。
[0026] 雖然以下描述主要使用YIG作為主晶格的示例并使用鉺作為適合于與各種熱成 像磷光體實施例使用的發(fā)射離子的示例，但將理解的是還可以使用除YIG之外的主晶格和 /或除鉺之外的發(fā)射離子，并且認(rèn)為此類替換實施例在發(fā)明主題的范圍內(nèi)。例如，具有被取 代鉺的YIG/YAG主晶格(例如，其中YAG組分小于材料的約百分之三十）可以是適當(dāng)?shù)臒岢?像磷光體，連同各種其它主晶格和/或發(fā)射離子。更特別地，相對于溫度展現(xiàn)發(fā)射強度和/ 或衰變時間常數(shù)方面的可檢測變化的任何熱成像磷光體可適合于與各種實施例一起使用。
[0027] 當(dāng)適當(dāng)?shù)募ぐl(fā)能指向?qū)嵤├臒岢上窳坠怏w時，該激發(fā)能被熱成像磷光體內(nèi)的一 個或多個"吸收體"吸收，并且熱成像磷光體內(nèi)的發(fā)射離子可產(chǎn)生可檢測發(fā)射物。發(fā)射離子 可以是吸收體，和/或除發(fā)射離子之外的原子可用作吸收體。例如，在其中熱成像磷光體是 Er:HG的實施例中，鐵可用作適當(dāng)激發(fā)能的主要吸收體(例如，鐵吸收譜帶中的激發(fā)能)，并 且鐵可將吸收能中某些轉(zhuǎn)移至鉺。另外，鉺可用作吸收離子，其可直接地吸收適當(dāng)?shù)募ぐl(fā)能 (例如，鉺吸收譜帶中的激發(fā)能)?？傊s然后可在一個或多個鉺發(fā)射譜帶內(nèi)發(fā)射可檢測輻 射。如稍后將更詳細(xì)地討論的，鉺產(chǎn)生處于在約1460納米（nm)至約1660 nm范圍內(nèi)的波 長的相對強的發(fā)射物，并且在此范圍內(nèi)存在多個發(fā)射峰值。如本文所使用的，"發(fā)射譜帶"意 指電磁譜的連續(xù)波長范圍，在其內(nèi)部從熱成像磷光體的一個或多個發(fā)射離子發(fā)生集中的、 不可忽略(例如，可檢測）的發(fā)射。對于任何特定的發(fā)射離子而言，"發(fā)射譜帶"以下波長和 上波長為界，在所述下波長以下對于該離子而言發(fā)射物是可忽略的，在所述上波長以上對 于該離子而言發(fā)射物是可忽略的。
[0028] 圖2是根據(jù)示例性實施例的用于產(chǎn)生熱成像磷光體(例如，在物品100中使用的磷 光體，圖1)、包括熱成像磷光體的介質(zhì)、以及包括該包含熱成像磷光體介質(zhì)的物品(例如，物 品100,圖1)的方法的流程圖。該方法在方框202中通過制備初步熱成像磷光體而開始，其 根據(jù)實施例包括Er:YIG。一般地，可使用本領(lǐng)域的技術(shù)人員已知的多個常規(guī)過程中的任何 一個來創(chuàng)建發(fā)光材料(例如,熱成像磷光體)。例如，可如下所述使用固態(tài)化學(xué)來實現(xiàn)各種實 施例的初步熱成像磷光體的形成。更具體地，根據(jù)實施例，通過使用包括熱成像磷光體的所 有元素的組分(通常為氧化物形式）來生長晶體而制備初步熱成像磷光體。
[0029] 例如，可使用固態(tài)化學(xué)來制備具有公式Y(jié)3Fe50 12的熱成像磷光體。更特別地，為了 在該初步熱成像磷光體中結(jié)合釔和鐵，氧化釔（Y2〇 3)和氧化鐵（Fe203)是用來生長初步熱成 像磷光體的組分中的兩個。另外，可通過包括氧化鉺（Er 203)作為用來生長初步熱成像磷光 體的附加組分而實現(xiàn)晶格中的釔的原子對原子替換。為了將鉺代入初步熱成像磷光體的釔 地點中，用期望量的氧化鉺來替換氧化釔中的某些或全部，其中，根據(jù)原子數(shù)來定義替換量 (即，指示用鉺原子替換的釔原子的百分比)。例如，如果期望在初步熱成像磷光體的釔地點 中具有鉺的百分之十二取代，則將用氧化鉺來替換百分之十二的氧化釔。
[0030] 一旦以適當(dāng)?shù)牧拷M合(例如，以石英舟和/或礬土坩堝)，則在方框204中通過在一 個或多個規(guī)定溫度下(例如，在約500-1200攝氏度范圍，或者不同范圍內(nèi)的溫度）將組合 的組分燒制一次或多次達(dá)到一個或多個規(guī)定時間（例如，一個或多個小時）來激活熱成像磷 光體。在某些實施例中，可在燒制步驟的某些或全部之后執(zhí)行粉末化過程。另外，在其中使 用助熔劑的實施例中，可在最后燒制步驟之后從初步熱成像磷光體沖掉助溶劑。所得到的 粉末化晶體因此形成初步熱成像磷光體。最后，根據(jù)實施例，鉺具有+3價態(tài)。
[0031] 雖然可使用固態(tài)化學(xué)來創(chuàng)建初步熱成像磷光體，但如上文所討論的，在其它情況 下，可使用溶液化學(xué)技術(shù)。通過使用溶液化學(xué)，將各種材料溶解、沉淀以及燒制。根據(jù)用來 創(chuàng)建熱成像磷光體的特定過程，可在形成初步熱成像磷光體中包括其它材料。例如，可在初 步熱成像磷光體內(nèi)包括各種助溶劑及其它前體。
[0032] 在方框206中，還可對初步熱成像磷光體進行銑削和/或濾波以從由較大的行程 產(chǎn)生的顆粒產(chǎn)生期望大小的晶粒。例如，已經(jīng)發(fā)現(xiàn)本文所述的熱成像磷光體的各種實施例 的效率可保持相對高，即使是在熱成像磷光體粉末包括具有小于約10微米的顆粒大小的 顆粒以及在某些情況下具有低到約1微米或以下的大小的顆粒時。如本文所使用的，術(shù)語 "顆粒大小"被定義為顆粒平均直徑(例如，如由激光衍射類型的測量設(shè)備測量的，質(zhì)量體積 50百分點（D50)顆粒大小平均直徑，諸如由巴拿馬州Montgomeryville的Microtrac公司 生產(chǎn)的設(shè)備)。
[0033] 在方框208中，將及熱成像磷光體顆粒結(jié)合到介質(zhì)中。例如，但并非作為限制，介 質(zhì)可對應(yīng)于物品的基板(例如，塑料、塑料基質(zhì)樹脂、玻璃、陶瓷、金屬、織物、木材、纖維、紙 漿、紙張以及其混合物)，或者介質(zhì)可對應(yīng)于可施加于(例如，打印在上面、涂敷在上面、噴涂 在上面、或者另外粘附到或結(jié)合到）物品基板的表面的材料(例如，墨、墨添加物、膠合劑、 液體、凝膠、塑料、以及塑料基質(zhì)樹脂)、或者嵌入基板內(nèi)的特征(例如，嵌入式特征、安全線 等)。在前面情況下，可將熱成像磷光體顆粒結(jié)合到基板材料中，例如通過將熱成像磷光體 顆粒與用于基板的基質(zhì)材料(例如，紙張、紙漿、聚合物、塑料、塑料基質(zhì)樹脂、玻璃、金屬、織 物、纖維、陶瓷、木材、漿料、其混合物等）組合，和/或通過用熱成像磷光體顆粒的膠態(tài)分散 體來浸漬基板?？衫缤ㄟ^打印、滴涂、涂敷或噴涂過程來執(zhí)行浸漬。
[0034] 在其中將熱成像磷光體顆粒結(jié)合到可施加在基板的表面上的材料中的實施例中， 將熱成像磷光體顆粒與組合物(例如，墨、墨添加物或其它載體)混合。在其中將熱成像磷光 體顆粒結(jié)合到嵌入基板內(nèi)的特征中的實施例中，可以以與熱成像磷光體到基板中的結(jié)合類 似的方式執(zhí)行熱成像磷光體顆粒到特征中的結(jié)合，如上文所討論的。更特別地，可將熱成像 磷光體顆粒與基質(zhì)材料混合，嵌入特征由該基質(zhì)材料形成。在又一實施例中，可將熱成像磷 光體顆粒與其它介質(zhì)(例如，膠合劑、各種液體、凝膠等）結(jié)合或組合。
[0035] 在方框210中，產(chǎn)生包括熱成像磷光體的物品。例如，這可通過在物品(例如，物品 100,圖1)中或上面結(jié)合包含熱成像磷光體的介質(zhì)或特征來實現(xiàn)。在其中包含熱成像磷光 體介質(zhì)是用于基板的基質(zhì)材料的實施例中，可繞過此步驟。相反地，在其中包含熱成像磷光 體的材料適用于基板表面的實施例中，可將包含熱成像磷光體的材料在預(yù)定位置上打印到 基板的一個或多個表面上。相反地，當(dāng)包含熱成像磷光體的材料對應(yīng)于嵌入特征時，在基板 材料采用可鍛形式時(例如，當(dāng)材料是漿料、熔融或非固化形式時）將該嵌入特征與基板材 料整合。在上述方式中的任何一個時，可在物品內(nèi)結(jié)合熱成像磷光體的實施例。
[0036] 本文所述熱成像磷光體的實施例尤其非常適合于與物品的安全或認(rèn)證特征(例 如，可被分析以確定物品的真實性的物品特征）相結(jié)合地使用，然而也可以將其用于其它目 的。更特別地，本文所討論的熱成像磷光體的實施例的吸收和發(fā)射性質(zhì)適合于熱成像磷光 體與安全和認(rèn)證特征相結(jié)合的使用。
[0037] 例如，使用諸如下面結(jié)合圖3所述的認(rèn)證設(shè)備，可將物品呈現(xiàn)給認(rèn)證設(shè)備，并且可 將熱成像磷光體被結(jié)合在其上面或內(nèi)部的物品的一部分可選地加熱或冷卻至第一溫度。替 換地，物品的該部分可保持在環(huán)境第一溫度，其可被認(rèn)證設(shè)備感測。
[0038] 為了產(chǎn)生第一結(jié)果，然后可將物品的該部分暴露于適當(dāng)?shù)募ぐl(fā)能。例如，在其中在 物品上面或內(nèi)部結(jié)合Er:YIG熱成像磷光體的實施例中，可用鐵和/或鉺吸收譜帶中的激發(fā) 能來激發(fā)物品的暴露部分中的熱成像磷光體。在此類實施例中，鉺可產(chǎn)生在一個或多個鉺 發(fā)射譜帶(例如，從約1460nm變動至約1660nm的發(fā)射譜帶）中的可檢測發(fā)射物。在停止激 發(fā)能的提供時，認(rèn)證設(shè)備在第一溫度下檢測鉺發(fā)射物的發(fā)射強度和/或衰變時間常數(shù)(在 該譜范圍的全部或一部分中），并存儲此第一結(jié)果。
[0039] 根據(jù)實施例，為了產(chǎn)生第二結(jié)果，認(rèn)證設(shè)備然后將物品的該部分加熱或冷卻至第 二溫度(或者通過停止物品的該部分的主動加熱或冷卻而被動地允許物品的該部分適應(yīng)于 第二溫度)。可再次地將物品的該部分暴露于適當(dāng)?shù)募ぐl(fā)能。在停止激發(fā)能的提供時，認(rèn)證 設(shè)備再次地在第二溫度下檢測鉺發(fā)射物的發(fā)射強度和/或衰變時間常數(shù)(在與產(chǎn)生第一結(jié) 果的檢測相同的譜范圍內(nèi)），并存儲該結(jié)果。根據(jù)實施例，認(rèn)證設(shè)備然后確定與第一和第二 結(jié)果相關(guān)聯(lián)的發(fā)射強度的變化和/或衰變時間常數(shù)的變化是否顯著到足以落在檢測參數(shù) 空間內(nèi)。
[0040] 圖3是根據(jù)示例性實施例的用于對物品350進行認(rèn)證的系統(tǒng)300。根據(jù)實施例，系 統(tǒng)300包括處理系統(tǒng)302、至少一個激發(fā)能發(fā)生器304、具有關(guān)聯(lián)濾光器308的至少一個發(fā) 射輻射檢測器(或光檢測器）306、溫度控制器312、至少一個溫度調(diào)整元件314、至少一個溫 度傳感器316、數(shù)據(jù)儲存器318、以及用戶接口 320。應(yīng)理解的是在圖3中系統(tǒng)300的各種部 件可不按比例繪制。
[0041] 根據(jù)實施例，結(jié)合認(rèn)證物品(例如，物品350)，并且如下面將更詳細(xì)地描述的，處理 系統(tǒng)302可控制由激發(fā)能發(fā)生器304的激發(fā)能342的提供、發(fā)射輻射檢測器306所檢測的 發(fā)射輻射344的分析、以及由溫度控制器312協(xié)調(diào)的溫度調(diào)整和感測操作的計時。處理系 統(tǒng)302可包括一個或多個處理器和關(guān)聯(lián)電路，其被配置成根據(jù)各種實施例且如下面將更詳 細(xì)地描述的那樣實施此類控制和分析過程(例如，采用可執(zhí)行軟件算法的形式)。類似地，溫 度控制器312可包括一個或多個處理器和關(guān)聯(lián)電路，其被配置成實施具體地與由溫度調(diào)整 元件314和溫度傳感器316分別地基于來自處理系統(tǒng)302的輸入而執(zhí)行的控制溫度調(diào)整和 感測操作相關(guān)聯(lián)的控制和分析過程(例如，采用可執(zhí)行軟件算法的形式)。根據(jù)實施例，處理 系統(tǒng)302向溫度控制器312傳達(dá)控制命令(例如，計時命令，溫度設(shè)置等)，并且溫度控制器 312向處理系統(tǒng)302傳達(dá)操作數(shù)據(jù)(例如，感測溫度等)。在替換實施例中，可使用公共硬件 來實施處理系統(tǒng)302和溫度控制器312。然而，出于明了的目的，將其描述為單獨元件。
[0042] 系統(tǒng)300被配置成通過將激發(fā)能朝著物品350指引、在多個溫度下檢測來自物品 350的發(fā)射物(如果有的話)、并分析在多個溫度下的發(fā)射物的特性之間的差異(如果有的 話）來對物品（例如，物品350)進行認(rèn)證。雖然可將系統(tǒng)(例如，系統(tǒng)300)的各種實施例配 置成對各種不同形狀和配置的基本上二維和/或三維物品（包括結(jié)合圖1所述的物品的實 施例）中的任何一個進行認(rèn)證，但在本文中提供了被配置成對基本上二維物品(例如，物品 350,圖3)進行認(rèn)證的系統(tǒng)300的示例。
[0043] 在本示例中，物品350包括基板356以及可選地表面施加或嵌入式認(rèn)證特征358。 基板356、表面施加或嵌入式認(rèn)證特征358、物品350的層或其它部件、或其任何組合可包括 熱成像磷光體，如上文結(jié)合圖1所述。出于解釋認(rèn)證系統(tǒng)300的實施例的目的，以下描述使 用其中表面施加認(rèn)證特征358包括熱成像磷光體的示例。應(yīng)理解的是不應(yīng)將所提供的示例 解釋為限制。另外，雖然本文所述的示例性方法和物品實施例討論了包括使用結(jié)合圖4所 述的方法的單次迭代檢測的單個熱成像磷光體的物品，但應(yīng)理解的是物品可包括使用結(jié)合 圖4所述的方法的多次迭代檢測的多個不同熱成像磷光體(例如，每個具有不同的發(fā)射物 特性)。
[0044] 除先前所述的部件之外，系統(tǒng)300還可包括外殼330以便為系統(tǒng)300的各種部件 提供結(jié)構(gòu)支撐，并且在其內(nèi)部可基本上容納系統(tǒng)300的各種部件中的某些或全部。雖然在 圖3中示出且在本文中描述了具有某個配置的外殼330,但應(yīng)理解的是在其它實施例中可 以明顯不同地配置外殼330,同時仍提供外殼330的期望功能。例如，作為單式外殼330的 替代，如所示，其它實施例可包括具有多個部分(例如，上和下外殼部分）的結(jié)構(gòu)，所述多個 部分被鉸接或另外可配置成提供系統(tǒng)部件相對于物品的所需并置(例如，溫度調(diào)整元件314 和窗口 340相對于物品350的并置)。
[0045] 根據(jù)實施例，外殼330包括到內(nèi)室334的開口 332。開口 332和室334被配置成容 納被呈現(xiàn)用于認(rèn)證(例如，手動地或自動地）的物品（例如，物品350)。例如，室334可至少 部分地由室下表面336和室上表面338限定?？蓪⑹蚁卤砻?36配置成使得物品350的底 面352的至少一部分接近于室下表面336的一部分，溫度調(diào)整元件314和溫度傳感器316 位于該處?？蓪囟日{(diào)整元件314定向成使得溫度調(diào)整元件314直接地接觸物品350的底 面352,因此提供溫度調(diào)整元件314與物品350之間的良好熱傳遞。
[0046] 在溫度控制器312的控制下，溫度調(diào)整元件314被配置成將物品350的一部分(例 如，部分360)加熱和/或冷卻至溫度控制器312所知的目標(biāo)溫度。如稍后將更詳細(xì)地描述 的，可由處理系統(tǒng)302基于存儲在數(shù)據(jù)儲存器318中的溫度設(shè)置和/或基于由系統(tǒng)300的 用戶經(jīng)由用戶接口 320指定的溫度設(shè)置來向溫度控制器312指定目標(biāo)溫度。另外，處理系 統(tǒng)302可向溫度控制器312提供控制信號，其影響由溫度調(diào)整元件314進行的溫度調(diào)整的 計時(例如，開始時間、停止時間和/或持續(xù)時間）。
[0047] 根據(jù)各種實施例，溫度調(diào)整元件314可包括不同的加熱元件和/或不同的冷卻元 件。例如，溫度調(diào)整元件314可包括電阻式加熱器，在實施例中，其包括與至少一個電容器 耦合的至少一個電阻元件。在操作期間，用對應(yīng)于用于物品350的期望溫度增加的能量的 量來對(多個）電容器充電，并且當(dāng)儲存在(多個）電容器中的能量通過(多個）電阻元件而被 釋放時，在(多個）電阻元件中生成的熱量可傳遞至物品350。在替換實施例中，作為通過電 阻元件來轉(zhuǎn)儲（dump)在電容器中儲存的能量替代，系統(tǒng)可通過(多個）電阻元件施加電流達(dá) 預(yù)定時間量(針對給定供應(yīng)電壓)，以便提供對應(yīng)于用于物品350的期望溫度增加的一些能 量。
[0048] 替換地，溫度調(diào)整元件314可包括熱泵。例如，溫度調(diào)整元件314可包括熱電加熱 器/冷卻器（TEC)，其從設(shè)備的一側(cè)向另一側(cè)傳遞熱量，其中，熱傳遞的方向取決于施加于 TEC的電流流動的極性。相應(yīng)地，TEC能夠進行將物品(例如，物品350)的一部分(例如，部 分360)加熱和冷卻兩者。更特別地，通過TEC的第一方向上的電流流動可引起TEC的面對 物品側(cè)加熱至大于物品的該部分的溫度的溫度。這引起熱量從TEC傳遞至物品的該部分， 其可導(dǎo)致物品的該部分的溫度增加（即，物品的該部分的加熱)。相反地，通過TEC的相反方 向上的電流流動可引起TEC的面對物品側(cè)冷卻至小于物品的該部分的溫度的溫度。這引起 熱量從物品的該部分傳遞至TEC，其可導(dǎo)致物品的該部分的溫度的降低（S卩，物品的該部分 的冷卻)。
[0049] 根據(jù)實施例，溫度傳感器316被配置成感測物品的該部分的溫度。溫度傳感器316 可向溫度控制器312提供所感測溫度測量結(jié)果作為反饋信號，并且溫度控制器312可分析 所感測溫度測量結(jié)果以確定例如物品的該部分的溫度是否已達(dá)到目標(biāo)溫度。溫度控制器 312可向處理系統(tǒng)302提供信號，其指示物品350的該部分360已達(dá)到目標(biāo)溫度，和/或溫 度控制器312可向處理系統(tǒng)302提供信號，其指示在各種時間的物品350的部分360的所 感測溫度。溫度調(diào)整元件314和溫度傳感器316可相互成一整體，或者其可相互接觸地定 位(例如，在溫度調(diào)整元件314和溫度傳感器316兩者都與物品350進行熱接觸的情況下并 排地)。在替換實施例中，系統(tǒng)300不包括溫度傳感器316。
[0050] 室上表面338可包括一個或多個窗口 340,通過該窗口 340,可由激發(fā)能發(fā)生器304 向物品的上表面(例如，上表面354)的一部分提供激發(fā)能342,并且通過窗口 340,從物品 的上表面的該部分發(fā)出的發(fā)射輻射344可被發(fā)射輻射檢測器306及其關(guān)聯(lián)濾光器308接 收到，如下面將更詳細(xì)地討論的。根據(jù)實施例，窗口 340從溫度調(diào)整元件314和溫度傳感器 316直接地跨室334定位，使得可向被溫度調(diào)整元件314加熱和/或冷卻的物品的相同部 分(例如，部分360)提供激發(fā)能342,并且使得來自物品350的任何發(fā)射輻射344從被溫度 調(diào)整元件314加熱和/或冷卻的物品的相同部分(例如，部分360)發(fā)出。根據(jù)實施例，窗口 340和溫度調(diào)整元件314分別地相對于室上表面338和室下表面336定向，使得出于提供絕 緣的目的而在窗口 340與物品350的頂面354之間保持相對小的氣隙(未示出）。
[0051] 在替換實施例中，溫度調(diào)整元件314和/或溫度傳感器316中的任一者或兩者可 位于與窗口 340相同的室334的側(cè)面上(例如，在室上表面338上)，只要溫度調(diào)整元件314 和/或溫度傳感器316被定位成使得其可將從其發(fā)出發(fā)射輻射344的物品350的相同部分 360加熱和/或冷卻（并感測物品350的該部分360的溫度)，并且使得溫度調(diào)整元件314和 /或溫度傳感器316不阻擋或干擾通過窗口 340行進的發(fā)射輻射344即可。
[0052] 根據(jù)實施例，處理系統(tǒng)302還被配置成向激發(fā)能發(fā)生器304提供控制信號，其引起 激發(fā)能發(fā)生器304通過窗口 340將激發(fā)能342朝著物品350指引。更具體地，處理系統(tǒng)302 向激發(fā)能發(fā)生器304提供控制信號以將激發(fā)能342朝著物品350指引達(dá)到足夠的時間段以 激發(fā)真實熱成像磷光體中的發(fā)射離子，如果有的話，其在窗口 340下面被結(jié)合在物品350的 部分360中（例如，基板356和/或認(rèn)證特征358中的發(fā)射離子)。處理系統(tǒng)302然后控制 激發(fā)能發(fā)生器304以停止激發(fā)能342的提供，并且使用濾波器308和發(fā)射物檢測器306來 檢測通過窗口 340行進的來自物品350的該部分360的發(fā)射輻射344。
[0053] 在到激發(fā)能發(fā)生器304的控制信號中，處理系統(tǒng)302可指定激發(fā)能342提供的計 時(例如，開始時間、停止時間和/或持續(xù)時間)和/或要生成的與特定激發(fā)能342相關(guān)聯(lián)的 其它參數(shù)(例如，強度和/或其它參數(shù))。通常，激發(fā)能342的帶寬是基于作為激發(fā)能發(fā)生器 304的一部分而包括的激勵源而預(yù)定的(例如，由所選發(fā)光二極管或激光二極管產(chǎn)生的激發(fā) 能的帶寬)。如前面討論的，在各種實施例中，用于實施例的熱成像磷光體的適當(dāng)激發(fā)能可 在鐵和/或鉺吸收譜帶中。例如，可從數(shù)據(jù)儲存器318取回各種計時和/或輻射生成參數(shù)。 激發(fā)能發(fā)生器304可包括例如一個或多個激光器、激光二極管、發(fā)光二極管（LED)、白熾燈 絲、燈或其它激勵源。
[0054] 除控制激發(fā)能發(fā)生器304之外，處理系統(tǒng)302被配置成向發(fā)射物檢測器306提供 控制輸入，其引起發(fā)射物檢測器306響應(yīng)于熱成像磷光體的發(fā)射離子已(直接地或間接地） 吸收了激發(fā)能342中的至少某些而嘗試檢測從物品350的一部分360發(fā)出的發(fā)射輻射344。 例如，在實施例中，物品350的部分360可產(chǎn)生對應(yīng)于鉺發(fā)射物的發(fā)射物。在其它實施例中， 物品350的部分360可產(chǎn)生對應(yīng)于來自其它發(fā)射離子的發(fā)射物的發(fā)射物。
[0055] 發(fā)射物檢測器306可包括例如光譜過濾器308、一個或多個電光傳感器、光電倍增 管、雪崩光電二極管、光電二極管、電荷耦合器件、電荷注入器件、照相膠片、或其它檢測器 件。在特定實施例中，發(fā)射物檢測器306包括位于窗口 340與光電檢測器之間的光譜過濾 器308。光譜過濾器308被配置成在發(fā)射輻射344被提供給檢測器306之前對其進行濾波， 使得只有在發(fā)射譜帶（即，整個光譜的子集）內(nèi)的發(fā)射實際上撞擊在檢測器306的活性區(qū)域 上。光譜過濾器308可包括例如長通、帶通、或被配置成使僅在感興趣譜帶內(nèi)的光通過并拒 絕所有其它光的其它類型的濾波器。
[0056] 檢測器306在感興趣譜帶內(nèi)具有靈敏度，并且相應(yīng)地可檢測在該譜帶內(nèi)的通過光 譜過濾器308的光。根據(jù)實施例，檢測器306被配置成檢測對應(yīng)于鉺發(fā)射譜帶的通道內(nèi)發(fā)射 物。根據(jù)實施例，檢測器306包括砷化銦鎵（InGaAs)檢測器（例如，電信型或擴展InGaAs)。 根據(jù)期望檢測的發(fā)射物的波長，在其它實施例中可使用能夠檢測感興趣譜帶內(nèi)的發(fā)射物的 其它類型的檢測器(例如，硅、硫化鉛、硒化鉛、鍺、銻化銦、砷化銦、硅化鉬、銻化銦等)。
[0057] 檢測器306產(chǎn)生電子信號，其與撞擊在檢測器306的活性區(qū)域上的所收集輻射的 強度成比例。更特別地，檢測器306向處理系統(tǒng)302提供信號（例如，一個或多個數(shù)字化強 度值)，其表示由檢測器306接收的發(fā)射輻射344的部分的積分強度。如本文所使用的，術(shù) 語"強度"可意指在一定波長范圍內(nèi)所檢測的積分強度，然而還可以將術(shù)語"強度"解釋為 在特定波長下所檢測的強度(例如，峰值強度)。
[0058] 根據(jù)實施例，在激發(fā)能342停止時，發(fā)射物檢測器306將一個或多個積分強度值 數(shù)字化。例如，發(fā)射物檢測器306可產(chǎn)生第一值，其表示在約t = 0時所檢測的積分強度， 并且然后可產(chǎn)生一個或多個附加值，其表示然后以一個或多個預(yù)選間隔所檢測的積分強度 (例如，在對應(yīng)于用于真實熱成像磷光體的衰變時間常數(shù)的時間下和/或在一個或多個附加 時間下)。由發(fā)射物檢測器306提供給處理系統(tǒng)302的強度值使得處理系統(tǒng)302能夠確定 一個或多個發(fā)射特性(例如，發(fā)射輻射344的一個或多個時間和/或光譜特性)。例如，在對 物品350進行認(rèn)證的背景下，發(fā)射物檢測器306可產(chǎn)生對應(yīng)于鉺發(fā)射譜帶中的發(fā)射輻射的 單個積分強度的一個值，或者可產(chǎn)生對應(yīng)于鉺發(fā)射譜帶中的發(fā)射輻射的多個、時間間隔積 分強度的一系列值(例如，兩個或更多值)。可標(biāo)記來自檢測器306的每個值或值的集合或 另外使其與指示檢測發(fā)射物的時間(例如，自停止提供相應(yīng)激發(fā)能342的時間）的信息相關(guān) 聯(lián)。
[0059] 如上所述且如下面將更詳細(xì)地解釋的，認(rèn)證方法的實施例包括嘗試引起物品（例 如，物品350)在兩個或更多不同溫度下產(chǎn)生可檢測發(fā)射物，并且然后，如果有的話，分析兩 個或更多不同溫度下的發(fā)射物的特性之間的差異。在下面描述和在圖4中描繪的實施例 中，該方法包括嘗試引起物品在通過對溫度調(diào)整元件(例如，溫度調(diào)整元件314)的主動控制 而實現(xiàn)的第一和第二溫度下產(chǎn)生可檢測發(fā)射物。在另一實施例中，第一溫度或第二溫度可 以是環(huán)境溫度，并且因此通過對溫度調(diào)整元件的主動控制而產(chǎn)生第一或第二溫度中的僅一 個。在又一實施例中，該方法可包括嘗試引起物品在超過兩個溫度下產(chǎn)生可檢測發(fā)射物，并 分析所述超過兩個溫度下的發(fā)射物的特性之間的差異。在此類實施例中，溫度中的任何一 個可以是環(huán)境溫度。在本文中并未詳細(xì)地描述此后一個實施例，然而其意圖被包括在所述 實施例的范圍內(nèi)。
[0060] 現(xiàn)在將結(jié)合圖4來描述用于使用認(rèn)證系統(tǒng)(例如，系統(tǒng)300,圖3)來執(zhí)行物品認(rèn)證 的方法的各種實施例。將通過繼續(xù)參考圖3來促進對認(rèn)證方法實施例的理解。然而，應(yīng)理 解的是可使用與結(jié)合圖3所述的認(rèn)證系統(tǒng)實施例不同配置的系統(tǒng)來執(zhí)行認(rèn)證方法實施例。 類似地，結(jié)合圖3所述的認(rèn)證系統(tǒng)實施例可執(zhí)行不同于結(jié)合圖4所述的認(rèn)證方法實施例的 認(rèn)證方法。
[0061] 現(xiàn)在參考圖4且繼續(xù)參考圖3,根據(jù)示例性實施例來描述用于執(zhí)行物品(例如，物 品100、350,圖1、3)的認(rèn)證的方法的流程圖。該方法可在方框402中通過建立用于與認(rèn)證 過程相關(guān)聯(lián)的一個或多個溫度的設(shè)置而開始。如本文所使用的，與認(rèn)證過程相關(guān)聯(lián)的"溫 度"可以是(例如，由溫度傳感器316)所感測的實際溫度。例如，溫度可對應(yīng)于與溫度傳感 器(例如，溫度傳感器316)接觸的物品（例如，物品350)的一部分(例如，部分360)的感測 溫度。在替換實施例中，"溫度"可以是基于設(shè)置而定義的溫度而不是實際、感測溫度。在后 一個實施例中，認(rèn)證系統(tǒng)(例如，系統(tǒng)300)可排除溫度傳感器(例如，溫度傳感器316)。如本 文所使用的，術(shù)語"環(huán)境溫度"意指并非溫度調(diào)整(例如，由溫度調(diào)整元件314)的結(jié)果的穩(wěn) 態(tài)溫度。
[0062] 在方框402中，可首先通過建立將在認(rèn)證過程期間使用的用于認(rèn)證溫度的一個或 多個設(shè)置來配置系統(tǒng)。根據(jù)實施例，可由系統(tǒng)的用戶通過用戶接口（例如，用戶接口 320)的 操縱來建立(多個）認(rèn)證溫度設(shè)置。該用戶接口可包括一個或多個鍵、撥號盤、顯示器、以及 其它用戶接口部件，其使得用戶能夠指定(多個）溫度。一旦已指定，就將(多個）溫度存儲 在數(shù)據(jù)儲存器(例如，數(shù)據(jù)儲存器318)中。在實施例中，可就絕對溫度(例如，以攝氏度或華 氏度為單位的溫度值）來指定(多個）溫度。在替換實施例中，可就溫度差來指定（多個）溫 度。例如，在各種實施例中，可將溫度指定為與另一預(yù)定義或用戶指定溫度的溫度差或者作 為與環(huán)境溫度的溫度差(例如，在執(zhí)行認(rèn)證過程的時間下所感測的環(huán)境溫度)。
[0063] 根據(jù)實施例，無論是由用戶指定還是預(yù)定義，第一溫度和第二溫度彼此相差在約 +/_5攝氏度至約+/-15攝氏度范圍內(nèi)的溫度差。在更具體的實施例中，第一和第二溫度相 差約+/-10攝氏度的溫度差。例如，在實施例中，第一溫度可為約33攝氏度，并且第二溫 度可約為23攝氏度或43攝氏度，然而第一和第二溫度也可不同。在其中溫度為用戶指定 的實施例中，在方框402的執(zhí)行期間，系統(tǒng)可將用戶限制于選擇每個相差在可容許范圍（例 如，約+/-5至約+/-15攝氏度的范圍）內(nèi)的溫度差的第一和第二溫度。根據(jù)另一實施例，無 論是由用戶指定還是預(yù)定義，第一溫度是在約15攝氏度至約35攝氏度范圍內(nèi)的溫度，并且 第二溫度是在約10攝氏度至約20攝氏度范圍內(nèi)。也可使用大于或小于以上給定示例值和 范圍的絕對溫度和/或溫度差。
[0064] 除使得用戶能夠指定溫度之外，在實施例中，用戶接口可使得用戶能夠指定可由 系統(tǒng)支持的多個測試模式中的一個。例如，該系統(tǒng)可支持其中認(rèn)證溫度中的一個是環(huán)境溫 度(例如，下面描述的"第一溫度"或"第二溫度"是環(huán)境溫度）的第一測試模式。替換地，系 統(tǒng)可支持其中所有認(rèn)證溫度對應(yīng)于由系統(tǒng)通過對溫度調(diào)整元件(例如，溫度調(diào)整元件314) 的主動控制而實現(xiàn)的溫度的第二測試模式。在又一實施例中，系統(tǒng)可支持變化準(zhǔn)確度的測 試模式。例如，相對低準(zhǔn)確度測試模式可使認(rèn)證確定基于在兩個溫度下檢測的發(fā)射物，而相 對高準(zhǔn)確度測試模式可使認(rèn)證確定基于在超過兩個溫度下檢測的發(fā)射物。根據(jù)實施例，用 戶可指定此類測試模式。
[0065] 在又一實施例中，用戶接口可使得用戶能夠指定與認(rèn)證過程有關(guān)的其它參數(shù)(例 如，溫度調(diào)整持續(xù)時間、激發(fā)提供持續(xù)時間、激發(fā)能波長和/或強度、激發(fā)差認(rèn)證閾值等)，其 中，用于可配置參數(shù)中的每個的指定值被存儲在數(shù)據(jù)儲存器(例如，數(shù)據(jù)儲存器318)中。在 替換實施例中，系統(tǒng)可不支持認(rèn)證溫度和/或其它參數(shù)的用戶配置和/或測試模式選擇。在 此類實施例中，認(rèn)證參數(shù)及其它參數(shù)可以是預(yù)定義的并存儲在數(shù)據(jù)儲存器(例如，數(shù)據(jù)儲存 器318)中，和/或可在系統(tǒng)中實施單個測試模式。
[0066] 出于解釋的目的，下面討論的實施例描述了其中基于在兩個溫度(例如，下述"第 一溫度"和"第二溫度"）下所檢測的發(fā)射物進行認(rèn)證確定的測試模式。此外，下面所討論 的實施例描述了其中第一和第二溫度是非環(huán)境、絕對溫度且其中系統(tǒng)通過對溫度調(diào)整元件 (例如，溫度調(diào)整元件314)的主動控制來實現(xiàn)第一和第二溫度的認(rèn)證過程。導(dǎo)致認(rèn)證過程 的其它實施例的執(zhí)行的下述實施例的變化意圖在本公開的范圍內(nèi)。
[0067] 為了發(fā)起對物品（例如，物品350)的認(rèn)證，在方框404中，物品被系統(tǒng)"接收"。例 如，該系統(tǒng)可在用戶將物品插入系統(tǒng)的室(例如，室334)時或者當(dāng)用戶另外使物品的一部分 (例如，部分360和/或認(rèn)證特征358)((在真實的物品中)在該處應(yīng)該存在實施例的熱成像 磷光體）與系統(tǒng)的溫度調(diào)整元件(例如，溫度調(diào)整元件314)進行熱接觸且在物品與激發(fā)窗 口之間所具有氣隙的激發(fā)窗口（例如，窗口 340)附近時接收要認(rèn)證的物品。在替換實施例 中，系統(tǒng)可包括自動地將物品路由到其中其接近于溫度調(diào)整元件和激發(fā)窗口的位置上的自 動路由部件?？傊?，系統(tǒng)可被配置成檢測物品的存在并可自動地發(fā)起下述認(rèn)證過程，或者在 各種實施例中用戶可經(jīng)由用戶接口（例如，通過按下開始按鈕或提供類似輸入）來發(fā)起認(rèn)證 過程。
[0068] 根據(jù)實施例，認(rèn)證過程包括一系列的物品溫度調(diào)整、激發(fā)能提供以及發(fā)射物檢 測步驟(例如，方框406、408、410、412、414、416)，后面是所檢測發(fā)射物的分析(例如，方框 418、420)(如果有的話)，以確定在不同溫度下來自物品的發(fā)射物是否充分地不同以指示真 實的物品。根據(jù)實施例，對認(rèn)證方法和發(fā)射物分析的各種步驟的控制由處理系統(tǒng)(例如，處 理系統(tǒng)302)執(zhí)行。更具體地，處理系統(tǒng)通過向各種系統(tǒng)部件(例如，溫度控制器312、激發(fā)能 發(fā)生器304以及發(fā)射輻射檢測器306)提供控制信號來控制各種步驟的執(zhí)行計時，所述控制 信號引起各種系統(tǒng)部件發(fā)起和執(zhí)行各種步驟。
[0069] 在實施例中，為了對已被系統(tǒng)接收的物品進行認(rèn)證，在方框406中，主動地控制溫 度調(diào)整元件(例如，溫度調(diào)整元件316)以實現(xiàn)第一溫度。例如，處理系統(tǒng)可從數(shù)據(jù)儲存器(例 如，數(shù)據(jù)儲存器318)取回第一溫度，并且處理系統(tǒng)可向溫度控制器(例如，溫度控制器312) 發(fā)送控制信號，其指示第一溫度。響應(yīng)于接收到控制信號，溫度控制器可控制溫度調(diào)整元件 (例如，溫度調(diào)整元件314)以實現(xiàn)第一溫度。例如，在其中溫度調(diào)整元件是電阻類型的加熱 器的實施例中，溫度控制器可引起向加熱器的（多個）電阻元件提供一定量的能量(例如，通 過對電容器充電或提供電流達(dá)預(yù)定時段)，其足以使物品的溫度升高至期望溫度或相差期 望溫度差。替換地，在其中溫度調(diào)整元件是TEC的實施例中，溫度控制器可通過TEC來提 供電流，其中，電流的極性取決于是否正在使用TEC來從TEC的面對物品表面去除熱量(例 如，以將接近于TEC的面對物品表面的物品350的部分360冷卻)或者是否正在使用TEC來 向TEC的面對物品表面提供熱量(例如，以將接近于TEC的面對物品表面的物品350的部分 360加熱)。
[0070] 根據(jù)其中系統(tǒng)包括接近于溫度調(diào)整元件的溫度傳感器(例如，溫度傳感器316)的 實施例，溫度傳感器可感測溫度(例如，物品350的部分360的溫度、電阻類型加熱器的電阻 元件的溫度、或TEC的面對物品表面的溫度)，并且可連續(xù)地、周期性地或偶爾地向溫度控制 器提供指示由溫度傳感器感測的當(dāng)前溫度的信號。在此類實施例中，溫度控制器可基于當(dāng) 前溫度與第一溫度之間的差來調(diào)整其對溫度調(diào)整元件的控制，以便實現(xiàn)第一溫度。
[0071 ] 另外，在實施例中，溫度控制器(或溫度傳感器)可向處理系統(tǒng)和/或向用戶接口的 溫度監(jiān)視器部件(未示出）（如果包括在系統(tǒng)中的話)提供信號，其指示當(dāng)前溫度。在實施例 中，溫度監(jiān)視器部件可向系統(tǒng)的用戶顯示當(dāng)前溫度。另外或者替換地，溫度控制器可向處理 系統(tǒng)發(fā)送控制信號以指示當(dāng)前溫度已達(dá)到第一溫度而在可接受公差內(nèi)（例如，當(dāng)前溫度"基 本上等于"第一溫度)。當(dāng)處理系統(tǒng)確定當(dāng)前溫度基本上等于第一溫度時(例如，響應(yīng)于從 溫度控制器和/或溫度傳感器接收(多個)信號)，則處理系統(tǒng)可前進至認(rèn)證過程的下一部分 (即，至稍后描述的方框408)。
[0072] 根據(jù)其中第一溫度為環(huán)境溫度的實施例，可用環(huán)境溫度感測步驟來替換方框406。 替換地，可將方框406 -起排除。在前一個實施例中（S卩，其中該過程包括環(huán)境溫度感測步 驟)，溫度傳感器(例如，溫度傳感器316)可感測環(huán)境溫度(例如，物品350的部分360的溫 度、電阻類型加熱器的電阻元件的溫度、或TEC的面對物品表面的溫度)，并且可向溫度控制 器、處理系統(tǒng)和/或溫度監(jiān)視器部件提供指示環(huán)境溫度的信號，其指示感測的環(huán)境溫度，并 且可將所感測環(huán)境溫度作為"第一溫度"存儲在數(shù)據(jù)儲存器(例如，數(shù)據(jù)儲存器318)中。當(dāng)處 理系統(tǒng)已接收到感測環(huán)境溫度時，處理系統(tǒng)可前進至認(rèn)證過程的下一部分（即，方框408)。
[0073] 在方框408中，其在已達(dá)到第一溫度、已感測到環(huán)境溫度之后或者在經(jīng)過預(yù)定時 間段時執(zhí)行，在各種實施例中，將物品暴露于適當(dāng)激發(fā)能（即，在真實熱成像磷光體的吸收 譜帶內(nèi)的激發(fā)能)。例如，處理系統(tǒng)可向激發(fā)能發(fā)生器(例如，激發(fā)能發(fā)生器304)發(fā)送控制 信號，其指示激發(fā)能發(fā)生器應(yīng)發(fā)起提供適當(dāng)激發(fā)能、激發(fā)能的波長、和/或激發(fā)能發(fā)生器應(yīng) 提供激發(fā)能所達(dá)持續(xù)時間（或開始時間和停止時間)。響應(yīng)于接收到控制信號，激發(fā)能發(fā)生 器根據(jù)在控制信號中指定的任何參數(shù)來產(chǎn)生激發(fā)能(例如，激發(fā)能342)。例如，在其中將 Er: YIG熱成像磷光體結(jié)合到真實物品中的實施例中，激發(fā)能發(fā)生器可提供在鐵和/或鉺吸 收譜帶中的激發(fā)能。在其中在真實物品上面或內(nèi)部結(jié)合其它熱成像磷光體的實施例中，激 發(fā)能發(fā)生器可提供適合于熱成像磷光體的任何一個吸收譜帶中的激發(fā)能。
[0074] 激發(fā)能發(fā)生器提供激發(fā)能達(dá)一時間段(例如，按照處理系統(tǒng)所指示或控制的)。在 該時間段結(jié)束時，在方框410中停止物品對激發(fā)能的暴露，并且系統(tǒng)嘗試檢測來自物品 的發(fā)射輻射(例如，發(fā)射輻射344)。例如，處理系統(tǒng)可向發(fā)射物檢測器(例如，發(fā)射物檢測 器306)發(fā)送控制信號，其引起發(fā)射物檢測器響應(yīng)于真實熱成像磷光體的發(fā)射離子已吸收 (直接地或間接地）激發(fā)能中的至少某些而嘗試檢測從物品的一部分(例如，物品350的部 分360)發(fā)出的發(fā)射輻射(例如，發(fā)射輻射344)。例如，在其中在真實物品上面或內(nèi)部結(jié)合 Er:YIG熱成像磷光體的實施例中，發(fā)射物檢測器可嘗試檢測對應(yīng)于鉺發(fā)射譜帶中(例如，在 約1460nm與約1660nm之間的譜帶中）的鉺發(fā)射的發(fā)射輻射。在其中在真實物品上面或內(nèi) 部結(jié)合了具有其它發(fā)射離子的其它熱成像磷光體的其它實施例中，發(fā)射物檢測器可嘗試檢 測對應(yīng)于其它發(fā)射離子的發(fā)射輻射。
[0075] 如先前所討論的，在實施例中，在激發(fā)能停止時，發(fā)射物檢測器可將一個或多個積 分強度值數(shù)字化，并且發(fā)射物檢測器可向處理系統(tǒng)提供信號，其表示第一溫度下的發(fā)射輻 射的所述一個或多個積分強度(例如，"第一強度值")。根據(jù)由發(fā)射物檢測器提供的第一強 度值，處理系統(tǒng)可確定一個或多個發(fā)射特性(例如，發(fā)射輻射的一個或多個時間和/或譜特 性)。例如，處理系統(tǒng)可確定所檢測發(fā)射的第一衰變時間常數(shù)。
[0076] 在去除激發(fā)能時，任何發(fā)射離子發(fā)射的強度隨時間推移而衰變，并且可以用衰變 時間常數(shù)來表征用于發(fā)射離子的衰變率。例如，對于發(fā)射強度方面的簡單指數(shù)衰變而言，可 以用如下等式中的常數(shù)τ來表示衰變時間常數(shù)： fm- iwi", (等式 1) 其中，t表示時間，I (t)表示在時間t的發(fā)射強度，并且L表示在t = 0時的發(fā)射強度 (例如，t = 0可對應(yīng)于停止提供激發(fā)能的時刻)。雖然用于一些熱成像磷光體的發(fā)射強度可 根據(jù)上述簡單指數(shù)公式而衰變，但用于其它熱成像磷光體的發(fā)射強度可受到多個指數(shù)衰變 的影響(例如，當(dāng)存在影響衰變的多個機制時)。在某些情況下，熱成像磷光體可不展現(xiàn)簡單 的單個指數(shù)衰變，尤其是當(dāng)能量傳遞是該機制的一部分時。
[0077] 根據(jù)實施例，處理系統(tǒng)使第一溫度與第一溫度下的發(fā)射輻射的時間和/或譜特性 相關(guān)。例如，處理系統(tǒng)可存儲(例如，在數(shù)據(jù)儲存器318中)與第一溫度相關(guān)聯(lián)第一衰變時間 常數(shù)和/或強度值。
[0078] 然后針對第二溫度充分地重復(fù)方框406、408和410 (S卩，作為方框412、414以及 416)。更具體地，在方框412中，在實施例中，主動地控制溫度調(diào)整元件以實現(xiàn)第二溫度。例 如，處理系統(tǒng)可從數(shù)據(jù)儲存器(例如，數(shù)據(jù)儲存器318)取回第二溫度，并且處理系統(tǒng)可向溫 度控制器發(fā)送控制信號，其指示第二溫度。響應(yīng)于接收到控制信號，溫度控制器可控制溫度 調(diào)整元件(例如，溫度調(diào)整元件314)以實現(xiàn)第二溫度，如先前所述。根據(jù)實施例，第二溫度 是低于第一溫度的溫度(例如，相差約-5至約-15攝氏度范圍內(nèi)的溫度差或某個其它差)。 在替換實施例中，第二溫度是高于第一溫度的溫度(例如，相差約5至約15攝氏度范圍內(nèi)的 溫度差或某個其它差)。
[0079] 如先前還描述的，在實施例中，溫度控制器(或溫度傳感器）可向處理系統(tǒng)和/或 向用戶接口的溫度監(jiān)視器部件(未示出）（如果包括在系統(tǒng)中的話)提供信號，其指示當(dāng)前溫 度。另外或者替換地，溫度控制器可向處理系統(tǒng)發(fā)送控制信號以指示當(dāng)前溫度已達(dá)到第二 溫度而在可接受公差內(nèi)（例如，當(dāng)前溫度"基本上等于"第二溫度)。當(dāng)處理系統(tǒng)確定當(dāng)前溫 度基本上等于第二溫度時(例如，響應(yīng)于從溫度控制器和/或溫度傳感器接收(多個)信號)， 則處理系統(tǒng)可前進至認(rèn)證過程的下一部分（即，至稍后描述的方框414)。
[0080] 根據(jù)其中第二溫度為環(huán)境溫度的實施例，可用溫度歸一化步驟來替換方框412。例 如，為了允許物品返回至環(huán)境溫度，溫度控制器可停止主動地控制溫度調(diào)整元件，并且系統(tǒng) 可等待一段時間以便使物品的溫度到或朝向環(huán)境溫度來進行規(guī)格化（normalize)。
[0081] 在該時間段結(jié)束時，溫度傳感器可感測當(dāng)前溫度(例如，物品350的部分360的溫 度、電阻類型加熱器的電阻元件的溫度、或TEC的面對物品表面的溫度)，并且可向溫度控制 器、處理系統(tǒng)、和/或溫度監(jiān)視器部件提供指示當(dāng)前溫度的信號。可將此"感測的"環(huán)境溫 度作為"第二溫度"存儲在數(shù)據(jù)儲存器(例如，數(shù)據(jù)儲存器318)中。處理系統(tǒng)然后可前進至 認(rèn)證過程的下一部分（即，方框414)。
[0082] 在方框414中，其在已達(dá)到第二溫度、已感測到環(huán)境溫度之后或者在經(jīng)過預(yù)定時 間段時執(zhí)行，在各種實施例中，再次地將物品暴露于適當(dāng)激發(fā)能（即，在真實熱成像磷光體 的吸收譜帶內(nèi)的激發(fā)能)，如先前結(jié)合方框408所述。激發(fā)能發(fā)生器提供激發(fā)能達(dá)一段時間 (例如，按照處理系統(tǒng)所指示或控制的)。在該時間段結(jié)束時，在方框416中停止物品對激發(fā) 能的暴露，并且系統(tǒng)嘗試檢測來自物品的發(fā)射輻射(例如，發(fā)射輻射344)，也如先前結(jié)合方 框410所述。根據(jù)實施例，激發(fā)能發(fā)生器使用與用來結(jié)合執(zhí)行第一激發(fā)能暴露而提供激發(fā) 能相同的參數(shù)來提供激發(fā)能（即，與步驟408中相同的時間段和相同的波長)。
[0083] 如先前所討論的，在實施例中，在激發(fā)能停止時，發(fā)射物檢測器可將一個或多個積 分強度值數(shù)字化，并且發(fā)射物檢測器可向處理系統(tǒng)提供信號，其表示第二溫度下的發(fā)射輻 射的積分強度(或多個強度）（例如，"第二強度值")。根據(jù)由發(fā)射物檢測器提供的(多個)第 二強度值，處理系統(tǒng)再次地可確定一個或多個發(fā)射特性(例如，發(fā)射輻射的一個或多個時間 和/或譜特性)。例如，處理系統(tǒng)可確定所檢測發(fā)射物的第二衰變時間常數(shù)。根據(jù)實施例， 處理系統(tǒng)使第二溫度與第二溫度下的發(fā)射輻射的時間和/或譜特性相關(guān)。例如，處理系統(tǒng) 可存儲(例如，在數(shù)據(jù)儲存器318中）與第二溫度相關(guān)聯(lián)的第二強度值和/或第二衰變時間 常數(shù)。
[0084] 在方框418中，處理系統(tǒng)然后分析第一和第二發(fā)射物的時間和/或譜特性以便確 定任何所檢測輻射的時間和/或譜特性是否是對應(yīng)于真實物品的時間和/或譜特性。根據(jù) 實施例，處理系統(tǒng)比較第一和第二發(fā)射物的時間和/或譜特性。例如，為了比較第一和第二 發(fā)射物的譜特性，處理系統(tǒng)可確定第一和第二溫度下的第一和第二積分強度的比，其是在 停止與每次測量相關(guān)聯(lián)的激發(fā)能時（即，t=0)或者在停止激發(fā)能之后的給定時間下如下測 量的： ^=1(^)/1(^), (等式 2) 其中，馬是強度比，10\)是在相對于與第一強度測量相關(guān)聯(lián)的激發(fā)能的停止的給定時 間下，在第一溫度?\下測量的強度，并且I (T2)是在相對于與第二強度測量相關(guān)聯(lián)的激發(fā)能 的停止的相同給定時間下，在第二溫度Τ2下測量的強度。
[0085] 相反地，在其中在第一溫度下和在第二溫度下進行積分強度的多次測量(在相對 于激發(fā)能停止的不同時間下）的實施例中，第一和第二發(fā)射物的時間特性可使用多個積分 強度值作為數(shù)學(xué)等式中的變量以便計算對應(yīng)于在溫度中的每個下產(chǎn)生的發(fā)射物的衰變時 間常數(shù)。然后可確定第一和第二衰變時間常數(shù)之間的差的量值。例如，處理系統(tǒng)可如下確 定用于第一溫度下的發(fā)射物的第一衰變時間常數(shù)（以下等式3a)，確定用于第二溫度下的發(fā) 射物的第二衰變時間常數(shù)（以下等式3b)，并確定第一和第二衰變時間常數(shù)之間的差（以下 等式3c): I,丨....-- iJ.hHH'TiA Ι,.;Ι.(Τι?Ι2?, (等式 3a) τ'Ι2 =-⑴·丨此》· (等式 3b) Λτ...... τΓ, - τ·ν2, (等式 3c) 其中，TT:是表示第一溫度?\下的第一衰變時間常數(shù)的值，τΤ2是表示第二溫度τ2下的 第二衰變時間常數(shù)的值，并且是第一和第二衰變時間常數(shù)之間的差。
[0086] 替換地，為了比較第一和第二發(fā)射物的譜特性，處理系統(tǒng)可如下確定第一和第二 強度值之間的差： Λ, = Ι(Τ2Μ|Τ2?, (等式 4) 其中，*七是強度差。相反地，為了比較第一和第二發(fā)射物的時間特性，處理系統(tǒng)可如下 確定第一和第二溫度下的第一和第二衰變時間常數(shù)的比： Rt = fi iy t[ >, (等式 5) 其中，I是第一和第二衰變時間常數(shù)的比。
[0087] 在其它實施例中，可使用其它數(shù)學(xué)等式來指示第一和第二發(fā)射物的時間和/或譜 特性的差。另外，在其中執(zhí)行溫度調(diào)整、激發(fā)能暴露以及發(fā)射輻射檢測過程的三次或更多迭 代的實施例中，數(shù)學(xué)等式可在根據(jù)溫度來確定強度變化率或衰變時間常數(shù)中將三個或更多 測量強度和/或衰變時間常數(shù)考慮在內(nèi)，并且可認(rèn)為那些確定變化率將指示溫度如何影響 強度和/或衰變時間常數(shù)。
[0088] 如先前所討論的，熱成像磷光體的時間和/或譜特性隨溫度而變。相應(yīng)地，對于具 有真實熱成像磷光體的物品而言，系統(tǒng)預(yù)期從物品檢測的任何發(fā)射物的時間和/或譜特性 在第一和第二溫度下將是不同的。根據(jù)實施例，當(dāng)時間和/或譜特性是"充分不同的"時， 可認(rèn)為物品是真實的。相反地，當(dāng)時間和/或譜特性并不是"充分不同的"時，可認(rèn)為物品 是不真實的。
[0089] 在方框420中，處理系統(tǒng)確定是否存在第一和第二發(fā)射物的時間和/或譜特性方 面的可檢測差異。例如，處理系統(tǒng)可確定第一和第二發(fā)射物的時間和/或譜特性是"充分不 同的"以指示真實物品。此確定可包括將反映強度和/或衰變時間常數(shù)的比和/或差中的 一個或多個(例如，如上面在等式2-5中計算的）與相應(yīng)的認(rèn)證閾值(例如，分別地"強度相 關(guān)認(rèn)證閾值"和"衰變時間常數(shù)相關(guān)認(rèn)證閾值"）相比較。
[0090] 相對于衰變時間常數(shù)相關(guān)的認(rèn)證閾值，并且根據(jù)實施例，處理系統(tǒng)確定在對應(yīng)于 衰變時間常數(shù)的計算(例如，以上等式3和5)指示第一和第二衰變時間常數(shù)對于第一和第 二溫度之間的每10攝氏度差而言彼此相差至少百分之五(例如，衰變時間常數(shù)相關(guān)的認(rèn)證 閾值對于10攝氏度差而言為約1. 05或約0. 95)時，時間特性是充分不同的。根據(jù)另一實施 例，處理系統(tǒng)確定在對應(yīng)于衰變時間常數(shù)的計算指示第一和第二衰變時間常數(shù)對于第一和 第二溫度之間的每10攝氏度差而言彼此相差至少百分之十(例如，衰變時間常數(shù)相關(guān)的認(rèn) 證閾值對于10攝氏度差而言為約1. 1或約〇. 9)時，時間特性是充分不同的。根據(jù)又一實 施例，處理系統(tǒng)確定在對應(yīng)于衰變時間常數(shù)的計算指示第一和第二衰變時間常數(shù)對于第一 和第二溫度之間的每10攝氏度差而言彼此相差至少百分之二十(例如，衰變時間常數(shù)相關(guān) 的認(rèn)證閾值對于10攝氏度差而言為約1. 2或約0. 8)時，時間特性是充分不同的。根據(jù)又 一實施例，處理系統(tǒng)確定在對應(yīng)于衰變時間常數(shù)的計算指示第一和第二衰變時間常數(shù)對于 第一和第二溫度之間的每10攝氏度差而言彼此相差至少百分之三十(例如，衰變時間常數(shù) 相關(guān)的認(rèn)證閾值對于10攝氏度差而言為約1. 3或約0. 7)時，時間特性是充分不同的?？?分別地針對第一和第二溫度之間的較小或較大的差來實施按比例較小或較大的衰變時間 常數(shù)相關(guān)的認(rèn)證閾值。
[0091] 根據(jù)又一實施例，處理系統(tǒng)可基于溫度(例如，X軸）對衰變時間常數(shù)(例如，y軸） 曲線的傾斜（slope)方向和量值來確定時間特性是否是充分不同的。例如，處理系統(tǒng)可確 定當(dāng)對應(yīng)于較高溫度（即，第一或第二溫度）的衰變時間常數(shù)至少比對應(yīng)于較低溫度（即，第 一或第二溫度中的另一個)的衰變時間常數(shù)低預(yù)定義百分比時，時間特性是充分不同的。換 言之，處理系統(tǒng)確定當(dāng)溫度對衰變時間常數(shù)曲線的斜率是負(fù)的且具有足夠的量值(例如，每 攝氏度至少-〇. 1毫秒的量值或某個其它量值）時，時間特性是充分不同的。
[0092] 相對于強度相關(guān)的認(rèn)證閾值，并且根據(jù)另一實施例，處理系統(tǒng)確定當(dāng)?shù)谝缓偷诙?強度之間的比或差(例如，以上等式2和4)指示第一和第二強度對于第一和第二溫度之間 的每10攝氏度差而言彼此相差至少百分之十(例如，強度相關(guān)的認(rèn)證閾值對于10攝氏度差 而言為約1. 1或約〇. 9)時，譜特性是充分不同的。根據(jù)另一實施例，處理系統(tǒng)確定在第一 和第二強度的比或其之間的差指示第一和第二強度對于第一和第二溫度之間的每10攝氏 度差而言彼此相差至少百分之二十(例如，強度相關(guān)的認(rèn)證閾值對于10攝氏度差而言為約 1. 2或約0. 8)時，譜特性是充分不同的。根據(jù)又一實施例，處理系統(tǒng)確定在第一和第二強 度的比或其之間的差指示第一和第二強度對于第一和第二溫度之間的每10攝氏度差而言 彼此相差至少百分之三十(例如，強度相關(guān)的認(rèn)證閾值對于10攝氏度差而言為約1. 3或約 0. 7)時，譜特性是充分不同的?？煞謩e地針對第一和第二溫度之間的較小或較大的差來實 施按比例較小或較大的強度相關(guān)的認(rèn)證閾值。
[0093] 根據(jù)又一實施例，處理系統(tǒng)可基于溫度(例如，X軸）對強度(例如，y軸）曲線的傾 斜方向和量值來確定譜特性是否是充分不同的。例如，熱成像磷光體的某些實施例(例如， Er:HG的實施例）展現(xiàn)溫度與衰變時間常數(shù)和強度兩者之間的反比例關(guān)系(例如，如圖5- 7中所示)。因此，對于那些熱成像磷光體實施例而言，當(dāng)?shù)谝粶囟却笥诘诙囟葧r，第一衰 變時間常數(shù)和第一強度將小于真實熱成像磷光體中的第二衰變時間常數(shù)和第二強度。當(dāng)對 此類熱成像磷光體執(zhí)行認(rèn)證時，處理系統(tǒng)可確定當(dāng)對應(yīng)于較高溫度的強度低于對應(yīng)于較低 溫度的強度至少預(yù)定義百分比時，譜特性是充分不同的。熱成像磷光體的其它實施例可展 現(xiàn)溫度與強度之間的成正比關(guān)系(例如，如用跡線507表示的用于Cr: Er: YGG的實施例的溫 度對比強度關(guān)系，圖5)。因此，對于那些熱成像磷光體實施例而言，當(dāng)?shù)谝粶囟却笥诘诙?度時，第一強度將大于真實熱成像磷光體中的第二強度。當(dāng)對此類熱成像磷光體執(zhí)行認(rèn)證 時，處理系統(tǒng)可確定當(dāng)對應(yīng)于較高溫度的強度大于對應(yīng)于較低溫度的強度至少預(yù)定義百分 比時，譜特性是充分不同的?？傊?dāng)溫度對強度曲線的斜率落在預(yù)期預(yù)定參數(shù)內(nèi)時(例如， 斜率具有對應(yīng)于用于真實熱成像磷光體的預(yù)期符號的符號，并且斜率具有充分的量值(例 如，每攝氏度至少〇. 1任意單位的量值，或某個其它量值)），處理系統(tǒng)可確定譜特性是充分 不同的。
[0094] 在又一實施例中，作為計算強度之間的比較值(例如，比或差）的替代，處理系統(tǒng)可 分開地分析第一和第二發(fā)射物的時間和/或譜特性，以確定每個溫度下的發(fā)射物是否具有 落在對應(yīng)于真實熱成像磷光體的預(yù)定、不同范圍（即，不重疊范圍）內(nèi)的時間和/或譜特性。
[0095] 當(dāng)處理系統(tǒng)在方框420中確定第一和第二溫度下的發(fā)射物的時間和/或譜特性是 充分不同的(或落在適當(dāng)?shù)煌姆秶鷥?nèi))時，在方框422中，處理系統(tǒng)可將該物品識別為真 實的。例如，處理系統(tǒng)可采取與將物品識別為真實物品相關(guān)聯(lián)的某個動作。例如，處理系統(tǒng) 可向用戶接口（例如，用戶接口 320)發(fā)送與真實性相關(guān)聯(lián)的信號，其引起用戶接口產(chǎn)生真實 性的用戶可感知指示(例如，顯示的標(biāo)記、光、聲等)。替換地，處理系統(tǒng)可引起系統(tǒng)的路由部 件(未示出）將物品朝著為真實物品指派的路線或箱柜路由。
[0096] 相反地，當(dāng)處理系統(tǒng)確定第一和第二溫度下的發(fā)射物的時間和/或譜特性并不是 充分不同的時，在方框424中，處理系統(tǒng)可將物品識別為是不真實的。例如，當(dāng)所檢測輻射 的時間和/或譜性質(zhì)并不與真實物品相對應(yīng)時，處理系統(tǒng)可采取與將物品識別為不真實物 品相關(guān)聯(lián)的某個動作。例如，處理系統(tǒng)可向用戶接口發(fā)送與不真實性相關(guān)聯(lián)的信號，其引起 用戶接口產(chǎn)生不真實性的用戶可感知指示(例如，顯示的標(biāo)記、光、聲等)。替換地，處理系統(tǒng) 可引起系統(tǒng)的路由部件(未示出）將物品朝著為不真實物品指派的路線或箱柜路由。
[0097] 上文所討論的實施例指示系統(tǒng)基于系統(tǒng)是否是檢測到物品包括真實熱成像磷光 體的確定而進行認(rèn)證判定。其它系統(tǒng)和方法實施例也可在進行認(rèn)證判定時使用附加考慮。 例如但不作為限制，物品的另一實施例可包括一個或多個附加安全特征和/或一個或多個 附加熱成像和/或非熱成像磷光體材料(例如，一個或多個"參考"磷光體材料)。因此，其它 系統(tǒng)實施例可嘗試確定被呈現(xiàn)以用于認(rèn)證的物品是否包括（多個）附加安全特征和/或(多 個)附加磷光體。當(dāng)系統(tǒng)確定物品包括所有預(yù)期安全特征時，系統(tǒng)可確定物品是真實的。相 反地，當(dāng)系統(tǒng)確定物品不包括預(yù)期安全特征中的一個或多個時，系統(tǒng)可確定物品是不真實 的。
[0098] 圖5- 7包括描述被結(jié)合到物品中的熱成像磷光體(及其它磷光體）的各種實施例 的發(fā)射特性的圖表。例如，圖5是圖示出根據(jù)幾個示例性實施例的相對于溫度的多個熱成 像磷光體及其它(非熱成像）磷光體樣本的發(fā)射強度的圖表。為了生成圖5中所描述的結(jié) 果，在印刷于手抄紙物品基板上的墨中包括各種熱成像磷光體及其它磷光體樣本的顆粒。 更特別地，根據(jù)幾個實施例，創(chuàng)建包括墨基質(zhì)和各種Er:YIG樣本的墨材料。另外，出于比較 目的，創(chuàng)建附加墨材料，其包括墨基質(zhì)和Er:YOS (硫氧化釔)樣本、Cr:Er:YGG (釔鎵石榴石） 樣本以及Er:YAG (紀(jì)錯石槽石）樣本。在手抄紙物品基板的表面上印刷墨材料中的每個。
[0099] 例如，為了產(chǎn)生用來生成跡線501的樣本，創(chuàng)建第一墨材料，其包括Er:YIG (其中 在YIG主晶格材料中Er處于32%)。為了產(chǎn)生用來生成跡線502的樣本，創(chuàng)建第二墨材料， 其包括Er:YIG (其中在HG主晶格材料中Er處于12%)。為了產(chǎn)生用來生成跡線503的樣 本，創(chuàng)建第三墨材料，其包括Er:YIG (其中在YIG主晶格材料中Er處于6%)。為了產(chǎn)生用 來生成跡線504的樣本，創(chuàng)建第四墨材料，其包括Er:YIG (其中在HG主晶格材料中Er處 于3%)。為了產(chǎn)生用來生成跡線505的樣本，創(chuàng)建第五墨材料，其包括Er:YIG (其中在HG 主晶格材料中Er處于1%)。為了產(chǎn)生用來生成跡線506的樣本，創(chuàng)建第六墨材料，其包括 Er:Y0S(其中在Y0S主晶格材料中Er處于20%)。為了產(chǎn)生用來生成跡線507的樣本，創(chuàng)建 第七墨材料，其包括Cr:Er:YGG (其中在YGG主晶格材料中Cr處于20%且Er處于3%)。最 后，為了產(chǎn)生用來生成跡線508的樣本，創(chuàng)建第八墨材料，其包括Er:YAG (其中在YAG主晶 格材料中Er處于3%)。
[0100] 針對樣本501至505,使用LED來將印刷特征激發(fā)到鐵吸收譜帶(例如，在約630nm 下）中。針對樣本506,使用LED來將印刷特征激發(fā)到Er吸收譜帶(例如，在約660 nm下） 中。針對樣本507,使用LED來將印刷特征激發(fā)到鉻吸收譜帶(例如，在約630 nm下)中。最 后，針對樣本508,使用LED來將印刷特征激發(fā)到Er吸收譜帶(例如，在約660 nm下)中。針 對樣本中的每個，在停止激發(fā)之后，由認(rèn)證系統(tǒng)在從約〇攝氏度至約50攝氏度的范圍內(nèi)以 5攝氏度溫度增量來檢測所得到的發(fā)射強度。更特別地，針對樣本中的每個，所檢測的發(fā)射 物包括在約1460nm與約1660nm之間（S卩，在鉺發(fā)射譜帶中）的發(fā)射物。
[0101] 如圖5中所示，Er:YIG磷光體（即樣本501- 505)展現(xiàn)高度熱成像性質(zhì)，因為鉺 發(fā)射物的強度隨著溫度增加而顯著地降低。換言之，鉺發(fā)射物的強度隨著溫度下降而顯著 地增加。相應(yīng)地，Er:YIG磷光體中的鉺發(fā)射物的強度與樣本501- 505的溫度成反比。相 反地，Er:Y0S和Er:YAG磷光體（S卩，樣本506和508)展現(xiàn)基本上平坦的強度對溫度輪廓 (profile)。最后，Cr:Er:YGG磷光體（S卩，樣本507)確實展現(xiàn)某些熱成像性質(zhì)，因為鉺發(fā)射 物的強度隨著溫度增加而略微增加（即，Cr:Er:YGG磷光體中的鉺發(fā)射物的強度與樣本507 的溫度成正比)。然而，用于Cr:Er:YGG磷光體（S卩，樣本507)的溫度對強度曲線的斜率具 有明顯低于用于Er:YIG磷光體（S卩，樣本501-505)的溫度對強度曲線的斜率的量值。相應(yīng) 地，Er:YIG磷光體可比Cr:Er:YGG磷光體更容易地可檢測(或者其缺少可更顯而易見)。
[0102] 作為另一圖示，圖6描述了根據(jù)示例性實施例的相對于溫度的熱成像磷光體樣本 的譜發(fā)射特性。更具體地，圖6圖示出Er:YIG樣本的多個溫度下的譜發(fā)射特性(其中在HG 主晶格材料中Er處于3%)，其被包括在印刷于手抄紙物品基板的表面上的墨材料中。跡線 601對應(yīng)于當(dāng)物品基板處于約33.0攝氏度的溫度時的從1460 nm跨越至1660 nm的鉺發(fā)射 譜帶中的發(fā)射物的強度。跡線602對應(yīng)于當(dāng)物品基板處于約22. 3攝氏度的溫度時的鉺發(fā) 射譜帶中的發(fā)射物的強度。最后，跡線603對應(yīng)于當(dāng)物品基板處于約11. 6攝氏度的溫度時 的鉺發(fā)射譜帶中的發(fā)射物的強度。再次地，Er:YIG磷光體樣本展現(xiàn)高度熱成像性質(zhì)，因為 相對高溫度下的發(fā)射物的強度（即，跡線601)明顯低于相對低溫度下的發(fā)射物的強度（即， 跡線603)。
[0103] 圖7是圖示出根據(jù)幾個示例性實施例的相對于溫度的多個熱成像磷光體樣本的 衰變時間常數(shù)的圖表。使用與用來產(chǎn)生圖5的對應(yīng)跡線501- 508相同的樣本而產(chǎn)生跡線 701- 708。更特別地，跡線701對應(yīng)于在第一墨材料中包括Er:YIG (其中在HG主晶格材 料中Er處于32%)的樣本。跡線702對應(yīng)于在第二墨材料中包括Er:YIG (其中在HG主晶 格材料中Er處于12%)的樣本。跡線703對應(yīng)于在第三墨材料中包括Er :YIG (其中在HG 主晶格材料中Er處于6%)的樣本。跡線704對應(yīng)于在第四墨材料中包括Er:YIG (其中在 YIG主晶格材料中Er處于3%)的樣本。跡線705對應(yīng)于在第五墨材料中包括Er:YIG (其 中在YIG主晶格材料中Er處于1%)的樣本。跡線706對應(yīng)于在第六墨材料中包括Er:Y0S (其中在Y0S主晶格材料中Er處于20%)的樣本。跡線707對應(yīng)于在第七墨材料中包括 Cr:Er:YGG (其中在YGG主晶格材料中Cr處于20%且Er處于3%)的樣本。最后，跡線708 對應(yīng)于在第八墨材料中包括Er:YAG (其中在YAG主晶格材料中Er處于3%)的樣本。
[0104] 針對樣本701至705,使用LED來將印刷特征激發(fā)到鐵吸收譜帶(例如，在約630nm 下)中。針對樣本706,使用LED來將印刷特征激發(fā)到Er吸收譜帶(例如，在約660nm下)中。 針對樣本707,使用LED來將印刷特征激發(fā)到鉻吸收譜帶(例如，在約630nm下）中。最后， 針對樣本708,使用LED來將印刷特征激發(fā)到Er吸收譜帶(例如，在約660nm下）中。針對 樣本中的每個，在停止激發(fā)之后，由認(rèn)證系統(tǒng)在從約〇攝氏度至約50攝氏度的范圍內(nèi)以5 攝氏度溫度增量來計算所得到的衰變時間常數(shù)。更特別地，基于在溫度中的每個下用于樣 本中的每個的在約1460 nm和約1660 nm之間（S卩，在鉺發(fā)射譜帶中）的檢測發(fā)射物的強度 的多個時間增量測量結(jié)果來計算每個衰變時間常數(shù)。
[0105] 如圖7中所示，Er:YIG磷光體（S卩，樣本701- 705)展現(xiàn)高度熱成像性質(zhì)，因為鉺 發(fā)射物的衰變時間常數(shù)隨著溫度增加而顯著地減小(或者鉺發(fā)射物的衰變時間常數(shù)隨著溫 度降低而顯著地增加)。相應(yīng)地，Er:YIG磷光體中的鉺發(fā)射物的衰變時間常數(shù)與樣本701- 705的溫度成反比。相反地，Er:Y0S、Cr:Er:YGG和Er:YAG磷光體（S卩，樣本706- 708)展 現(xiàn)基本上平坦的衰變時間常數(shù)對溫度輪廓。
[0106] 雖然在前述詳細(xì)描述中已提出了至少一個示例性實施例，但應(yīng)認(rèn)識到的是存在許 多變體。還應(yīng)認(rèn)識到的是一個或多個示例性實施例僅僅是示例，并且并不意圖以任何方式 限制發(fā)明主題的范圍、適用性或配置。更確切地說，前述詳細(xì)描述將為本領(lǐng)域的技術(shù)人員提 供用于實施本發(fā)明的示例性實施例的方便道路圖，應(yīng)理解的是在不脫離如在所附權(quán)利要求 及其法律等價物中闡述的本發(fā)明的范圍的情況下可以在示例性實施例中所述的元件的功 能和布置方面進行各種更改。
【權(quán)利要求】
1. 一種用于識別結(jié)合在物品上或內(nèi)部的發(fā)光材料的方法，該方法包括步驟： 選擇性地使物品暴露于發(fā)光材料的吸收譜帶中的激發(fā)能； 當(dāng)物品具有第一溫度時，在發(fā)光材料的發(fā)射譜帶內(nèi)檢測來自物品的第一發(fā)射輻射的第 一發(fā)射特性； 當(dāng)物品具有不同于第一溫度的第二溫度時，在發(fā)射譜帶內(nèi)檢測來自物品的第二發(fā)射輻 射的第二發(fā)射特性；以及 確定第一發(fā)射特性是否充分地不同于第二發(fā)射特性。
2. 權(quán)利要求1的方法，其中，選擇性地將物品暴露于激發(fā)能包括： 首先在第一時間段期間將物品的一部分暴露于與具有第一溫度的物品的部分一致的 激發(fā)能； 在檢測第一發(fā)射特性之前停止第一暴露； 其次在第二時間段期間將物品的該部分暴露于與具有第二溫度的物品的部分一致的 激發(fā)能；以及 在檢測第二發(fā)射特性之前停止第二暴露。
3. 權(quán)利要求1的方法，其中，第一溫度和第二溫度中的至少一個是通過溫度調(diào)整元件 的主動控制而實現(xiàn)的溫度，并且其中，該方法還包括： 主動地控制溫度調(diào)整元件以實現(xiàn)第一溫度或第二溫度中的至少一個。
4. 權(quán)利要求1的方法，其中，所述第一溫度和所述第二溫度彼此相差在約+/_5攝氏度 至約+/- 15攝氏度范圍內(nèi)的溫度差。
5. 權(quán)利要求1的方法，其中，確定第一發(fā)射特性是否充分地不同于第二發(fā)射特性包括 確定第一發(fā)射輻射的第一強度針對第一和第二溫度之間差的每度是否與第二發(fā)射輻射的 第二強度相差至少約1%。
6. 權(quán)利要求1的方法，其中，確定第一發(fā)射特性是否充分地不同于第二發(fā)射特性包括 確定第一和第二發(fā)射輻射（344)的強度是否展現(xiàn)與溫度的反比例關(guān)系。
7. 權(quán)利要求1的方法，其中，確定第一發(fā)射特性是否充分地不同于第二發(fā)射特性包括 確定用于第一和第二發(fā)射輻射（344)的衰變時間常數(shù)是否展現(xiàn)與溫度的反比例關(guān)系。
8. 權(quán)利要求1的方法，其中，所述吸收譜帶是鐵的吸收譜帶，并且其中，所述發(fā)射譜帶 是鉺的發(fā)射譜帶。
9. 一種裝置，包括： 溫度調(diào)整元件（314)，被配置成調(diào)整接近于溫度調(diào)整元件（314)的物品（100)的溫度； 激發(fā)能發(fā)生器（304)，被配置成向物品（100)提供激發(fā)能（342)，其中，所述激發(fā)能 (342)對應(yīng)于當(dāng)物品（100)是真實的時預(yù)期存在的發(fā)光材料的吸收譜帶； 發(fā)射輻射檢測器（306)，被配置成： 當(dāng)物品（100)具有第一溫度時，在發(fā)光材料的發(fā)射譜帶內(nèi)檢測第一發(fā)射輻射（344)的 第一發(fā)射特性，以及 當(dāng)物品（100)具有不同于第一溫度的第二溫度時，在發(fā)射譜帶內(nèi)檢測第二發(fā)射輻射 (344)的第二發(fā)射特性；以及 處理系統(tǒng)（302)，被配置成確定第一發(fā)射特性是否充分地不同于第二發(fā)射特性。
10. -種物品（100)，包括： 認(rèn)證特征（110、120)，其包括 介質(zhì)，以及 分散在介質(zhì)中的熱成像磷光體的顆粒（130)。
【文檔編號】G01N21/64GK104160266SQ201380014532
【公開日】2014年11月19日 申請日期:2013年1月14日 優(yōu)先權(quán)日:2012年1月17日
【發(fā)明者】W.R.拉波波爾特, J.凱恩, C.劉, C.帕特爾, J.S.克羅瓦特 申請人:霍尼韋爾國際公司