卡座自動(dòng)化檢驗(yàn)測試裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種卡座自動(dòng)化檢驗(yàn)測試裝置，其特征在于：包括測試裝置本體、設(shè)置在本體上的下測試固定板和可上下滑動(dòng)的上測試壓板，所述下測試固定板上設(shè)有若干個(gè)用于定位支撐PCBA板的定位彈針和用于接觸PCBA板底面待測觸腳的測試探針，所述上測試壓板下表面上設(shè)有用于接觸PCBA板上卡座彈片的上測試探針。本實(shí)用新型無需操作者插卡和取卡動(dòng)作，大大縮短測試時(shí)間，提高了生產(chǎn)效率。
【專利說明】卡座自動(dòng)化檢驗(yàn)測試裝置
[0001]【技術(shù)領(lǐng)域】:
[0002]本實(shí)用新型涉及一種用于SM卡座、TF卡座或SAM卡座的自動(dòng)化檢驗(yàn)測試裝置。
[0003]【背景技術(shù)】:
[0004]目前PCBA板上的卡座，通常需要采用直接插實(shí)物卡的方式進(jìn)行測試，在PCBA板自動(dòng)化檢驗(yàn)測試時(shí)，每檢測新PCBA板一次就要插拔實(shí)物卡一次，甚至要插拔幾張實(shí)物卡12，測試完畢后，還要將實(shí)物卡取下，這樣生產(chǎn)效率非常低下，且步驟繁瑣。
[0005]實(shí)用新型內(nèi)容:
[0006]本實(shí)用新型的目的在于提供一種卡座自動(dòng)化檢驗(yàn)測試裝置，該卡座自動(dòng)化檢驗(yàn)測試裝置不僅結(jié)構(gòu)簡單、設(shè)計(jì)合理，而且有利于減少插卡和取卡動(dòng)作，大大縮短測試時(shí)間。
[0007]本實(shí)用新型卡座自動(dòng)化檢驗(yàn)測試裝置，其特征在于:包括測試裝置本體、設(shè)置在本體上的下測試固定板和可上下滑動(dòng)的上測試壓板，所述下測試固定板上設(shè)有若干個(gè)用于定位支撐PCBA板的定位彈針和用于接觸PCBA板底面待測觸腳的測試探針，所述上測試壓板下表面上設(shè)有用于接觸PCBA板上卡座彈片的測試探針。
[0008]上述上測試壓板下表面上還設(shè)有剛性壓桿。
[0009]上述上測試壓板通過設(shè)在本體上的手動(dòng)搖桿驅(qū)動(dòng)其上下移動(dòng)。
[0010]上述定位彈針上端部呈尖銳狀，以與PCBA板上的通孔配合定位。
[0011]上述PCBA板的卡座為SM卡座、TF卡座或SAM卡座。
[0012]本實(shí)用新型卡座自動(dòng)化檢驗(yàn)測試裝置工作原理:將PCBA板上的孔套進(jìn)放置在測試裝置上的定位彈針上，通過測試裝置上的手動(dòng)搖桿向下運(yùn)動(dòng)，帶動(dòng)上測試壓板上的壓桿和測試探針向下運(yùn)動(dòng)，在測試時(shí)，壓桿向下運(yùn)動(dòng)，使PCBA板隨定位彈針向下運(yùn)動(dòng)，從而PCBA板接觸到固定在下測試固定板上的測試探針，導(dǎo)通電路，同時(shí)上測試壓板上的測試探針也接觸到PCBA板上卡座的彈片，從而無需操作者插卡和取卡動(dòng)作，大大縮短測試時(shí)間，提高了生產(chǎn)效率。
[0013]【專利附圖】

【附圖說明】:
[0014]圖1是本實(shí)用新型的立體圖；
[0015]圖2是本實(shí)用新型的局部立體放大圖；
[0016]圖3是卡座的構(gòu)造立體圖；
[0017]圖4是本實(shí)用新型的局部立體放大圖；
[0018]圖5是圖1側(cè)視圖。
[0019]【具體實(shí)施方式】:
[0020]下面參照附圖結(jié)合實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說明。
[0021]本實(shí)用新型卡座自動(dòng)化檢驗(yàn)測試裝置，包括測試裝置本體1、設(shè)置在本體I上的下測試固定板2和可上下滑動(dòng)的上測試壓板3，所述下測試固定板2上設(shè)有若干個(gè)用于定位支撐PCBA板4的定位彈針5和用于接觸PCBA板4底面待測觸腳的測試探針6，所述上測試壓板下表面上設(shè)有用于接觸PCBA板上卡座彈片7的上測試探針8。
[0022]本實(shí)用新型卡座自動(dòng)化檢驗(yàn)測試裝置工作時(shí)，將PCBA板上的孔套進(jìn)放置在測試裝置上的定位彈針上，通過測試裝置上的手動(dòng)搖桿向下運(yùn)動(dòng)，帶動(dòng)上測試壓板上的壓桿和上測試探針向下運(yùn)動(dòng)，在測試時(shí)，壓桿向下運(yùn)動(dòng)，使PCBA板隨定位彈針向下運(yùn)動(dòng)，從而PCBA板接觸到固定在下測試固定板上的測試探針，導(dǎo)通電路，同時(shí)上測試探針也接觸到PCBA板上卡座的彈片，從而無需操作者插卡和取卡動(dòng)作，大大縮短測試時(shí)間，提高了生產(chǎn)效率。
[0023]但上述測試裝置存在一個(gè)不足，就是與測試探針接觸的是彈片，在手動(dòng)搖桿下移上測試壓板的行程過大時(shí)，即會(huì)存在測試探針壓壞卡座彈片7的風(fēng)險(xiǎn)，從而導(dǎo)致卡座失效，為了克服上述不足之處提供一種可控壓縮行程，來避免卡座因測試過程損壞的裝置，從而減小卡座損壞率，降低不良。即在上述上測試壓板下表面上還設(shè)有剛性壓桿9。
[0024]使用時(shí)，先調(diào)整好這個(gè)上測試壓板最終位置線302，確保在手動(dòng)搖桿10搖下后，上測試壓板3的下表面在這個(gè)線上。
[0025]針對(duì)卡座11在PCBA板4上表面時(shí)，壓桿9的高度為hl，卡座底座11的高度為h2,上測試探針8自然狀態(tài)下高度為H1，在測試時(shí)我們僅需控制上測試探針Hl=hl-h2，其中hl，h2均可測量，即可確保彈片7在受壓的深度小等于卡片12厚度。
[0026]針對(duì)卡座在PCBA板下表面時(shí)，因測試裝置下測試固定板為固定狀態(tài)，上測試壓板3最終位置線302到下測試固定板表面的高度為h3，PCBA板厚為h4，下測試探針長度h5，我們可以得到卡座彈片7的干涉量為！12=111+114+112+115-113，其中111，112，113，114，115均可測量，即可得到H2的數(shù)值，控制H2，大于0，小于或等于卡片的厚度即可，其數(shù)值就是干涉量。若H2數(shù)值不符合，即可調(diào)整上測試壓板最終位置線302，改變h3，直到適合位置。
[0027]為了便于滑動(dòng)，上述上測試壓板通過設(shè)在本體上的手動(dòng)搖桿10驅(qū)動(dòng)其上下移動(dòng)。
[0028]上述定位彈針上端部呈尖銳狀，以與PCBA板上的通孔配合定位。
[0029]為了適合于不同場合，上述PCBA板的卡座為SM卡座、TF卡座或SAM卡座11。
[0030]以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，凡依本實(shí)用新型申請(qǐng)專利范圍所做的均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本實(shí)用新型的涵蓋范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種卡座自動(dòng)化檢驗(yàn)測試裝置，其特征在于:包括測試裝置本體、設(shè)置在本體上的下測試固定板和可上下滑動(dòng)的上測試壓板，所述下測試固定板上設(shè)有若干個(gè)用于定位支撐PCBA板的定位彈針和用于接觸PCBA板底面待測觸腳的測試探針，所述上測試壓板下表面上設(shè)有用于接觸PCBA板上卡座彈片的測試探針。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的卡座自動(dòng)化檢驗(yàn)測試裝置，其特征在于:所述上測試壓板下表面上還設(shè)有剛性壓桿。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的卡座自動(dòng)化檢驗(yàn)測試裝置，其特征在于:所述上測試壓板通過設(shè)在本體上的手動(dòng)搖桿驅(qū)動(dòng)其上下移動(dòng)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的卡座自動(dòng)化檢驗(yàn)測試裝置，其特征在于:所述定位彈針上端部呈尖銳狀，以與PCBA板上的通孔配合定位。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的卡座自動(dòng)化檢驗(yàn)測試裝置，其特征在于:所述PCBA板的卡座為SM卡座、TF卡座或SAM卡座。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK203551703SQ201320736736
【公開日】2014年4月16日 申請(qǐng)日期:2013年11月21日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月21日
【發(fā)明者】潘瑞樟, 施錦才, 許宗庚 申請(qǐng)人:福建聯(lián)迪商用設(shè)備有限公司