整合式巖區(qū)斜度測算相塊的制作方法
【專利摘要】一種整合式巖區(qū)斜度測算相塊，包括塊狀的相塊，所述的相塊壁上環(huán)繞繃著膠皮膜，透過膠皮膜外延著一級金屬探針接口和一級金屬探針，一級探針的尾部安插在相塊上的凹孔中。有效地避免了生產(chǎn)難度大費(fèi)用也大且使用中故障頻發(fā)的缺陷。
【專利說明】整合式巖區(qū)斜度測算相塊
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于地質(zhì)【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及一種整合式巖區(qū)斜度測算相塊。
【背景技術(shù)】
[0002]目前的巖區(qū)斜度測算相塊的外形非常繁雜，墊圈同中心件乃至結(jié)合的金屬塊間隔的銜接密合不夠牢，隔離探頭也增添了多余的膠棒，這樣導(dǎo)致了生產(chǎn)難度大費(fèi)用也大且使用中故障頻發(fā)的問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實(shí)用新型提供一種整合式巖區(qū)斜度測算相塊，包括塊狀的相塊，所述的相塊壁上環(huán)繞繃著膠皮膜，透過膠皮膜外延著一級金屬探針接口和一級金屬探針，一級探針的尾部安插在相塊上的凹孔中。有效地避免了生產(chǎn)難度大費(fèi)用也大且使用中故障頻發(fā)的缺陷。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案為:
[0005]一種整合式巖區(qū)斜度測算相塊，包括塊狀的相塊I，所述的相塊I壁上環(huán)繞繃著膠皮膜2，透過膠皮膜2外延著一級金屬探針接口 3和一級金屬探針4，一級探針4的尾部安插在相塊I上的凹孔5中。
[0006]本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比通過所述的相塊I壁上環(huán)繞繃著膠皮膜2，透過膠皮膜2外延著一級金屬探針接口 3和一級金屬探針4，一級探針4的尾部安插在相塊I上的凹孔5中，真正實(shí)現(xiàn)了結(jié)構(gòu)簡單。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0007]圖1為本實(shí)用新型的整合式巖區(qū)斜度測算相塊的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0008]下面通過具體實(shí)施例對本實(shí)用新型做進(jìn)一步說明:
[0009]如圖1所示，整合式巖區(qū)斜度測算相塊，包括塊狀的相塊1，所述的相塊I壁上環(huán)繞繃著膠皮膜2，透過膠皮膜2外延著一級金屬探針接口 3和一級金屬探針4，一級探針4的尾部安插在相塊I上的凹孔5中。
[0010]本實(shí)用新型的工作原理為通過所述的相塊I壁上環(huán)繞繃著膠皮膜2，透過膠皮膜2外延著一級金屬探針接口 3和一級金屬探針4，一級探針4的尾部安插在相塊I上的凹孔5中，真正實(shí)現(xiàn)了結(jié)構(gòu)簡單。
[0011]以上所述，僅是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并非對本實(shí)用新型作任何形式上的限制，雖然本實(shí)用新型已以較佳實(shí)施例揭露如上，然而并非用以限定本實(shí)用新型，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員，在不脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案范圍內(nèi)，當(dāng)可利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容做出些許更動或修飾為等同變化的等效實(shí)施例，但凡是未脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案內(nèi)容，依據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)，在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)，對以上實(shí)施例所作的任何簡單的修改、等同替換與改進(jìn)等，均仍屬于本實(shí)用新型技術(shù)方案的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種整合式巖區(qū)斜度測算相塊，其特征在于包括塊狀的相塊(I)，所述的相塊(I)壁上環(huán)繞繃著膠皮膜(2)，透過膠皮膜(2)外延著一級金屬探針接口(3)和一級金屬探針(4)，一級探針(4)的尾部安插在相塊(I)上的凹孔(5)中。
【文檔編號】G01C9/02GK203595509SQ201320659043
【公開日】2014年5月14日 申請日期:2013年10月24日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月24日
【發(fā)明者】馮喬 申請人:西安匯科地質(zhì)技術(shù)服務(wù)有限責(zé)任公司