高密度互連電路板線圈快速測(cè)試裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種高密度互連電路板線圈快速測(cè)試裝置，所述磁感應(yīng)柱的下端穿裝在一底座內(nèi)，該底座上安裝兩個(gè)表筆柱，每個(gè)表筆柱的一端連接一個(gè)所述表筆，所述磁感應(yīng)柱外緣套裝的電路板底面上的每個(gè)線圈的首端點(diǎn)和末端點(diǎn)分別與底座上端面豎直嵌裝的一個(gè)探針接觸，與第一個(gè)線圈的首端點(diǎn)接觸的探針下端連接一個(gè)所述表筆柱的另一端，與最后一個(gè)線圈的末端點(diǎn)接觸的探針下端連接另一個(gè)所述表筆柱的另一端，每個(gè)線圈的末端點(diǎn)均與下一個(gè)線圈的首端點(diǎn)串聯(lián)連接。本實(shí)用新型中從整體上縮短了單次測(cè)試的時(shí)間，而且降低了出錯(cuò)的概率，保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確。
【專利說(shuō)明】高密度互連電路板線圈快速測(cè)試裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于線圈圈數(shù)測(cè)試【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其是一種高密度互連電路板線圈快速測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在高密度互連電路板加工中，有一種具有一個(gè)或多個(gè)線圈的結(jié)構(gòu)，這些線圈可以在某一層電路板中或者在多層電路板中，所有的線圈的首末端點(diǎn)均位于電路板的正面，由于大部分線圈無(wú)法看到，所以生產(chǎn)好后必須進(jìn)行線圈的檢測(cè)，以確保批次產(chǎn)品中是否存在線圈不聯(lián)通的次品或線圈數(shù)量是否符合客戶要求。
[0003]在檢測(cè)過(guò)程中，使用的設(shè)備是線圈圈數(shù)測(cè)試儀，其包括:測(cè)試儀、表筆和磁感應(yīng)柱，測(cè)試儀上的兩個(gè)插孔分別通過(guò)電纜連接一個(gè)表筆，將磁感應(yīng)柱穿過(guò)待測(cè)試樣板中心處的孔內(nèi)，然后用兩個(gè)表筆分別接觸一個(gè)線圈的首末端點(diǎn)，此時(shí)測(cè)試儀上的顯示屏顯示線圈的數(shù)量或者顯示線圈斷路的信息，測(cè)試完每個(gè)線圈后完成一次測(cè)試。
[0004]但在實(shí)際使用中，測(cè)試人員的工作過(guò)程是:1.將待測(cè)試樣板取過(guò)來(lái)；2.將磁感應(yīng)柱放入待測(cè)試樣板中心的孔內(nèi)；3.雙手拿起表筆；4.接觸每個(gè)線圈的首末端點(diǎn)，測(cè)量線圈的圈數(shù)，同時(shí)觀察測(cè)試儀的顯示屏的顯示信息；5取下待測(cè)試樣板。如果樣板上有三個(gè)線圈，那么上述工作過(guò)程至少需要10秒左右，而且每個(gè)線圈均需要測(cè)試人員觀察顯示屏，如果批次產(chǎn)品數(shù)量很多時(shí)，極易出現(xiàn)漏檢或錯(cuò)減的情況，最終將導(dǎo)致發(fā)往客戶處的電路板出現(xiàn)質(zhì)量事故。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0005]本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種結(jié)構(gòu)合理、操作簡(jiǎn)便的高密度互連電路板線圈快速測(cè)試裝置。
[0006]本實(shí)用新型采取的技術(shù)方案是:
[0007]一種高密度互連電路板線圈快速測(cè)試裝置，包括線圈圈數(shù)測(cè)試儀、表筆和磁感應(yīng)柱，所述線圈圈數(shù)測(cè)試儀分別連接表筆和磁感應(yīng)柱，其特征在于:所述磁感應(yīng)柱的下端穿裝在一底座內(nèi)，該底座上安裝兩個(gè)表筆柱，每個(gè)表筆柱的一端連接一個(gè)所述表筆，所述磁感應(yīng)柱外緣套裝的電路板底面上的每個(gè)線圈的首端點(diǎn)和末端點(diǎn)分別與底座上端面豎直嵌裝的一個(gè)探針接觸，與第一個(gè)線圈的首端點(diǎn)接觸的探針下端連接一個(gè)所述表筆柱的另一端，與最后一個(gè)線圈的末端點(diǎn)接觸的探針下端連接另一個(gè)所述表筆柱的另一端，每個(gè)線圈的末端點(diǎn)均與下一個(gè)線圈的首端點(diǎn)串聯(lián)連接。
[0008]而且，所述底座包括上面板和底板，底板上端面四角分別豎直安裝一個(gè)支撐柱，該四個(gè)支撐柱上端部壓接在上面板的底面，該上面板與支撐柱之間通過(guò)螺栓固定。
[0009]而且,探針豎直限位滑動(dòng)嵌裝在一針管內(nèi)，該針管外緣套裝一外管,該外管嵌裝在所述上面板內(nèi)，在外管的上端部向外側(cè)制出的翻邊壓接在所述上面板的上端面。
[0010]而且，所述針管上端內(nèi)壁上制出凸環(huán)，位于該凸環(huán)下方的探針外緣上制出凸塊，該凸塊下方的探針下端外緣套裝一彈簧，該彈簧下端部壓接在所述針管下端部。
[0011]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)和積極效果是:
[0012]本實(shí)用新型中，在底座內(nèi)穿裝磁感應(yīng)柱，在磁感應(yīng)柱外側(cè)的底座上嵌裝多個(gè)探針，磁感應(yīng)柱上套裝的電路板底面上的每個(gè)線圈的首端點(diǎn)和末端點(diǎn)分別與一個(gè)探針接觸，第一個(gè)線圈首端點(diǎn)接觸的探針連接一個(gè)表筆柱，最后一個(gè)線圈末端點(diǎn)接觸的探針連接另一個(gè)表筆柱，之間的線圈的末端點(diǎn)接觸的探針串聯(lián)連接下一個(gè)線圈的首端點(diǎn)接觸的探針，使用該結(jié)構(gòu)后，測(cè)試人員只需將電路板壓緊在探針上，線圈圈數(shù)測(cè)試儀將顯示所有線圈圈數(shù)的綜合數(shù)量，這樣節(jié)省了表筆與每個(gè)線圈首末端點(diǎn)接觸的時(shí)間，而且只需要觀察一個(gè)顯示屏，從整體上縮短了單次測(cè)試的時(shí)間，而且降低了出錯(cuò)的概率，保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0013]圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0014]圖2是圖1的I部放大圖；
[0015]圖3是電路板多個(gè)線圈的首端點(diǎn)和末端點(diǎn)的分布；
[0016]圖4是圖3的電路板與探針接觸后的等效電路圖。
【具體實(shí)施方式】
[0017]下面結(jié)合實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步說(shuō)明，下述實(shí)施例是說(shuō)明性的，不是限定性的，不能以下述實(shí)施例來(lái)限定本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
[0018]一種高密度互連電路板線圈快速測(cè)試裝置，如圖1?4所示，包括線圈圈數(shù)測(cè)試儀12、表筆2和磁感應(yīng)柱1，所述線圈圈數(shù)測(cè)試儀的插孔13通過(guò)線纜15連接兩個(gè)表筆，本實(shí)用新型的創(chuàng)新在于:所述磁感應(yīng)柱的下端穿裝在一底座內(nèi)所制通孔19內(nèi)，該底座上安裝兩個(gè)表筆柱6，每個(gè)表筆柱的一端連接一個(gè)所述表筆，所述磁感應(yīng)柱外緣套裝的電路板底面上的每個(gè)線圈30的首端點(diǎn)和末端點(diǎn)分別與底座上端面豎直嵌裝的一個(gè)探針9接觸，與第一個(gè)線圈的首端點(diǎn)接觸的探針下端通過(guò)電纜7連接一個(gè)所述表筆柱的另一端，與最后一個(gè)線圈的末端點(diǎn)接觸的探針下端連接另一個(gè)所述表筆柱的另一端，每個(gè)線圈的末端點(diǎn)均與下一個(gè)線圈的首端點(diǎn)串聯(lián)連接。
[0019]本實(shí)施例中，所述底座包括上面板4和底板11，底板上端面四角分別豎直安裝一個(gè)支撐柱10，該四個(gè)支撐柱上端部壓接在上面板的底面，該上面板與支撐柱之間通過(guò)螺栓5固定。
[0020]探針結(jié)果如圖2所示，其豎直限位滑動(dòng)嵌裝在一針管16的空腔25內(nèi)，該針管外緣套裝一外管17，該外管嵌裝在所述上面板所制孔24內(nèi)，在外管的上端部向外側(cè)制出的翻邊18壓接在所述上面板的上端面。
[0021]具體來(lái)說(shuō):所述針管上端內(nèi)壁上制出凸環(huán)20，位于該凸環(huán)下方的探針外緣上制出凸塊21，該凸塊下方的探針下端22外緣套裝一彈簧23，該彈簧下端部壓接在所述針管下端部。探針可以在彈簧的作用下豎直運(yùn)動(dòng)，以保證所有的探針上端部和電路板的首端點(diǎn)和末端點(diǎn)接觸緊密。每個(gè)探針上端部安裝一針帽8，該針帽最上端有一尖端，該尖端的形狀可以根據(jù)電路板線圈的首末端點(diǎn)形狀設(shè)置。
[0022]實(shí)施例[0023]待測(cè)試樣板如圖3所示，包括三個(gè)線圈，每個(gè)線圈的首端點(diǎn)和末端點(diǎn)的命名可以自行設(shè)定，而且首端點(diǎn)和末端點(diǎn)均位于電路板的一個(gè)表面。本例中，第一個(gè)線圈的首端點(diǎn)和末端點(diǎn)為29、28，第二個(gè)線圈的首端點(diǎn)和末端點(diǎn)為26、32，第三個(gè)線圈的首端點(diǎn)和末端點(diǎn)為31、
[0024]27。三個(gè)線圈分別是4圈、9圈和3圈。
[0025]將具有首端點(diǎn)和末端點(diǎn)的表面朝下，然后將樣板套在磁感應(yīng)柱外緣，使每個(gè)線圈的首端點(diǎn)和末端點(diǎn)與探針接觸好，對(duì)好位置后，向下稍微壓緊電路板。
[0026]此時(shí)等效電路如圖4所示:
[0027]第一個(gè)線圈的首端點(diǎn)29通過(guò)探針9連接表筆柱6，該表筆柱通過(guò)表筆觸點(diǎn)3、表筆2連接線圈圈數(shù)測(cè)試儀，第一線圈的末端點(diǎn)28串聯(lián)連接第二線圈的首端點(diǎn)26，第二線圈的末端點(diǎn)32連接第三線圈的首端點(diǎn)31，第三線圈的末端點(diǎn)27通過(guò)探針連接另一個(gè)表筆柱6，該另一個(gè)表筆柱通過(guò)另一個(gè)表筆觸點(diǎn)3、另一個(gè)表筆2連接線圈圈數(shù)測(cè)試儀。
[0028]壓緊電路板后，此時(shí)線圈圈數(shù)測(cè)試儀的顯示屏14上顯示出線圈數(shù)量，由于上述三個(gè)線圈之間為串聯(lián)關(guān)系，所以顯示屏上應(yīng)該顯示16圈，即三個(gè)線圈的圈數(shù)只和。
[0029]上述測(cè)試過(guò)程時(shí)間非常短，熟練的測(cè)試人員只需要3秒，比現(xiàn)有技術(shù)節(jié)省了三分之一的時(shí)間，而且只需要觀察一個(gè)顯示屏。
[0030]本實(shí)用新型中，在底座內(nèi)穿裝磁感應(yīng)柱，在磁感應(yīng)柱外側(cè)的底座上嵌裝多個(gè)探針，磁感應(yīng)柱上套裝的電路板底面上的每個(gè)線圈的首端點(diǎn)和末端點(diǎn)分別與一個(gè)探針接觸，第一個(gè)線圈首端點(diǎn)接觸的探針連接一個(gè)表筆柱，最后一個(gè)線圈末端點(diǎn)接觸的探針連接另一個(gè)表筆柱，之間的線圈的末端點(diǎn)接觸的探針串聯(lián)連接下一個(gè)線圈的首端點(diǎn)接觸的探針，使用該結(jié)構(gòu)后，測(cè)試人員只需將電路板壓緊在探針上，線圈圈數(shù)測(cè)試儀將顯示所有線圈圈數(shù)的綜合數(shù)量，這樣節(jié)省了表筆與每個(gè)線圈首末端點(diǎn)接觸的時(shí)間，而且只需要觀察一個(gè)顯示屏，從整體上縮短了單次測(cè)試的時(shí)間，而且降低了出錯(cuò)的概率，保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確。
【權(quán)利要求】
1.一種高密度互連電路板線圈快速測(cè)試裝置，包括線圈圈數(shù)測(cè)試儀、表筆和磁感應(yīng)柱，所述線圈圈數(shù)測(cè)試儀分別連接表筆和磁感應(yīng)柱，其特征在于:所述磁感應(yīng)柱的下端穿裝在一底座內(nèi)，該底座上安裝兩個(gè)表筆柱，每個(gè)表筆柱的一端連接一個(gè)所述表筆，所述磁感應(yīng)柱外緣套裝的電路板底面上的每個(gè)線圈的首端點(diǎn)和末端點(diǎn)分別與底座上端面豎直嵌裝的一個(gè)探針接觸，與第一個(gè)線圈的首端點(diǎn)接觸的探針下端連接一個(gè)所述表筆柱的另一端，與最后一個(gè)線圈的末端點(diǎn)接觸的探針下端連接另一個(gè)所述表筆柱的另一端，每個(gè)線圈的末端點(diǎn)均與下一個(gè)線圈的首端點(diǎn)串聯(lián)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高密度互連電路板線圈快速測(cè)試裝置，其特征在于:所述底座包括上面板和底板，底板上端面四角分別豎直安裝一個(gè)支撐柱，該四個(gè)支撐柱上端部壓接在上面板的底面，該上面板與支撐柱之間通過(guò)螺栓固定。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的高密度互連電路板線圈快速測(cè)試裝置，其特征在于:探針豎直限位滑動(dòng)嵌裝在一針管內(nèi)，該針管外緣套裝一外管，該外管嵌裝在所述上面板內(nèi)，在外管的上端部向外側(cè)制出的翻邊壓接在所述上面板的上端面。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的高密度互連電路板線圈快速測(cè)試裝置，其特征在于:所述針管上端內(nèi)壁上制出凸環(huán)，位于該凸環(huán)下方的探針外緣上制出凸塊，該凸塊下方的探針下端外緣套裝一彈簧，該彈簧下端部壓接在所述針管下端部。
【文檔編號(hào)】G01R31/02GK203551709SQ201320615360
【公開日】2014年4月16日 申請(qǐng)日期:2013年9月29日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月29日
【發(fā)明者】劉學(xué)斌 申請(qǐng)人:天津普林電路股份有限公司