一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備和系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備及系統(tǒng)。所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備包括：第一衰減器，用于對(duì)矩陣信號(hào)進(jìn)行衰減后發(fā)送給光發(fā)射機(jī)；第二衰減器，用于對(duì)待測(cè)設(shè)備的輸出信號(hào)進(jìn)行衰減；帶通濾波器，與所述第二衰減器相連，用于對(duì)所述第二衰減器的輸出信號(hào)進(jìn)行濾波處理；第三衰減器，與所述帶通濾波器相連，用于所述帶通濾波器的輸出信號(hào)進(jìn)行衰減處理；均衡器，與所述第三衰減器相連，用于對(duì)第三衰減器的輸出信號(hào)進(jìn)行均衡處理后發(fā)送給測(cè)試儀。所述自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)包括主機(jī)、所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備、矩陣信號(hào)發(fā)生器、測(cè)試儀、光發(fā)射機(jī)、第四光衰減器和待測(cè)設(shè)備。本實(shí)用新型提供的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備和系統(tǒng)，能夠自動(dòng)完成對(duì)光學(xué)裝置的測(cè)試，使得整體測(cè)試更加精確和快速。
【專利說明】一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備和系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及電子【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種對(duì)光學(xué)裝置自動(dòng)測(cè)試的設(shè)備和系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]在光學(xué)裝置生產(chǎn)過程制造過程中，產(chǎn)品需要進(jìn)行大量的測(cè)試及調(diào)試工作，當(dāng)中需要使用很多專業(yè)的設(shè)備例如頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀等，對(duì)測(cè)試人員的素質(zhì)要求比較高，同時(shí)操作這些設(shè)備也需要耗費(fèi)大量工時(shí)。
[0003]這種情況下，就需要一套解決方案，能夠自動(dòng)的對(duì)這些設(shè)備用軟件的方式進(jìn)行控制，盡量簡(jiǎn)化測(cè)試人員的動(dòng)作，以提高測(cè)試效率，并保證測(cè)試的準(zhǔn)確性。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0004]本實(shí)用新型提供了一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備和系統(tǒng)，能夠自動(dòng)完成對(duì)光學(xué)裝置的測(cè)試，使得整體測(cè)試更加精確和快速。
[0005]本實(shí)用新型提供了一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，包括:
[0006]第一衰減器，用于對(duì)矩陣信號(hào)進(jìn)行衰減后發(fā)送給光發(fā)射機(jī)；
[0007]第二衰減器，用于對(duì)待測(cè)設(shè)備的輸出信號(hào)進(jìn)行衰減；
[0008]帶通濾波器，與所述第二衰減器相連，用于對(duì)所述第二衰減器的輸出信號(hào)進(jìn)行濾波處理；
[0009]第三衰減器，與所述帶通濾波器相連，用于所述帶通濾波器的輸出信號(hào)進(jìn)行衰減處理；
[0010]均衡器，與所述第三衰減器相連，用于對(duì)第三衰減器的輸出信號(hào)進(jìn)行均衡處理后發(fā)送給測(cè)試儀。
[0011]本實(shí)用新型還提供了另一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，包括:
[0012]第一衰減器，用于對(duì)矩陣信號(hào)進(jìn)行衰減后發(fā)送給光發(fā)射機(jī)；
[0013]第二衰減器，用于對(duì)待測(cè)設(shè)備的輸出信號(hào)進(jìn)行衰減；
[0014]帶通濾波器，與所述第二衰減器相連，用于對(duì)所述第二衰減器的輸出信號(hào)進(jìn)行濾波處理；
[0015]均衡器，與所述帶通濾波器相連，用于對(duì)所述帶通濾波器的輸出信號(hào)進(jìn)行均衡處理；
[0016]第三衰減器，與所述均衡器相連，用于對(duì)所述均衡器的輸出信號(hào)進(jìn)行衰減處理后發(fā)送給測(cè)試儀。
[0017]本實(shí)用新型還提供了一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，包括主機(jī)、如上所述的任何一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備、矩陣信號(hào)發(fā)生器、測(cè)試儀、光發(fā)射機(jī)、第四光衰減器和待測(cè)設(shè)備，其中:
[0018]所述主機(jī)與所述矩陣信號(hào)發(fā)生器和所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備相連，控制所述矩陣信號(hào)發(fā)生器和所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備；[0019]所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備與所述矩陣信號(hào)發(fā)生器和所述光發(fā)射機(jī)相連，接收矩陣信號(hào)，進(jìn)行衰減處理后輸出至光發(fā)射機(jī)；接收所述待測(cè)設(shè)備的輸出信號(hào)進(jìn)行處理后輸出至所述測(cè)試儀；
[0020]所述光發(fā)射機(jī)，接收衰減后的矩陣信號(hào)，產(chǎn)生光信號(hào)，經(jīng)所述光衰減器進(jìn)行衰減處理后輸出至所述待測(cè)設(shè)備。
[0021]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型提供的一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備和系統(tǒng)，能夠自動(dòng)完成對(duì)光學(xué)裝置的測(cè)試，使得整體測(cè)試更加精確和快速。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0022]圖1是本實(shí)用新型第一實(shí)施例一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備結(jié)構(gòu)示意圖；
[0023]圖2是本實(shí)用新型第一實(shí)施例一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；
[0024]圖3是本實(shí)用新型第一實(shí)施例一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備連接關(guān)系示意圖；
[0025]圖4是本實(shí)用新型第二實(shí)施例一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備結(jié)構(gòu)示意圖；
[0026]圖5是本實(shí)用新型第二實(shí)施例一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；
[0027]圖6是本實(shí)用新型第二實(shí)施例一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備連接關(guān)系示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0028]以下結(jié)合具體實(shí)施例和附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0029]第一實(shí)施例
[0030]本實(shí)用新型提供了一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，如圖1所示，包括:
[0031]第一衰減器，用于對(duì)矩陣信號(hào)進(jìn)行衰減后發(fā)送給光發(fā)射機(jī)；
[0032]第二衰減器，用于對(duì)待測(cè)設(shè)備的輸出信號(hào)進(jìn)行衰減；
[0033]帶通濾波器，與所述第二衰減器相連，用于對(duì)所述第二衰減器的輸出信號(hào)進(jìn)行濾波處理；
[0034]第三衰減器，與所述帶通濾波器相連，用于所述帶通濾波器的輸出信號(hào)進(jìn)行衰減處理；
[0035]均衡器，與所述第三衰減器相連，用于對(duì)第三衰減器的輸出信號(hào)進(jìn)行均衡處理后發(fā)送給測(cè)試儀。
[0036]所述測(cè)試儀根據(jù)需要選擇，可以是例如頻譜分析儀，網(wǎng)絡(luò)分析儀等。
[0037]較佳地，還包括通信接口和設(shè)置于主機(jī)上的控制程序。所述通信接口用于將所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備與主機(jī)相連。所述設(shè)置于主機(jī)上的控制程序，用于經(jīng)所述通信接口控制所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備。從而能夠使得測(cè)試人員通過設(shè)置于主機(jī)上的軟件操作測(cè)試設(shè)備，完成測(cè)試過程，大大提高了效率。
[0038]較佳地，所述通信接口是USB接口。
[0039]較佳地，所述帶通濾波器是帶通濾波器陣列。
[0040]較佳地，所述第一衰減器經(jīng)并行接口與矩陣信號(hào)發(fā)生器相連，獲取矩陣信號(hào)。
[0041 ] 較佳地，所述第一衰減器可調(diào)。
[0042]相應(yīng)地，本實(shí)用新型還提供了一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，如圖2所示，包括主機(jī)、如圖1所述的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備、矩陣信號(hào)發(fā)生器、測(cè)試儀、光發(fā)射機(jī)、第四光衰減器和待測(cè)設(shè)備，其中:[0043]所述主機(jī)與所述矩陣信號(hào)發(fā)生器和所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備相連，控制所述矩陣信號(hào)發(fā)生器和所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備；
[0044]所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備與所述矩陣信號(hào)發(fā)生器和所述光發(fā)射機(jī)相連，接收矩陣信號(hào)，進(jìn)行衰減處理后輸出至光發(fā)射機(jī)；接收所述待測(cè)設(shè)備的輸出信號(hào)進(jìn)行處理后輸出至所述測(cè)試儀；
[0045]所述光發(fā)射機(jī)，接收衰減后的矩陣信號(hào)，產(chǎn)生光信號(hào)，經(jīng)所述光衰減器進(jìn)行衰減處理后輸出至所述待測(cè)設(shè)備。
[0046]較佳地，還提供了一種細(xì)化的連接關(guān)系示意圖，如圖3所示:
[0047]較佳地，所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備經(jīng)USB接口與所述主機(jī)相連。
[0048]較佳地，所述測(cè)試儀經(jīng)GPIB接口與所述主機(jī)相連。
[0049]較佳地，所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備經(jīng)并行接口與所述矩陣信號(hào)發(fā)生器相連。
[0050]第二實(shí)施例
[0051]本實(shí)用新型提供了一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，如圖4所示，包括:
[0052]第一衰減器，用于對(duì)矩陣信號(hào)進(jìn)行衰減后發(fā)送給光發(fā)射機(jī)；
[0053]第二衰減器，用于對(duì)待測(cè)設(shè)備的輸出信號(hào)進(jìn)行衰減；
[0054]帶通濾波器，與所述第二衰減器相連，用于對(duì)所述第二衰減器的輸出信號(hào)進(jìn)行濾波處理；
[0055]均衡器，與所述帶通濾波器相連，用于對(duì)所述帶通濾波器的輸出信號(hào)進(jìn)行均衡處理；
[0056]第三衰減器，與所述均衡器相連，用于對(duì)所述均衡器的輸出信號(hào)進(jìn)行衰減處理后發(fā)送給測(cè)試儀。
[0057]所述測(cè)試儀根據(jù)需要選擇，可以是例如頻譜分析儀，網(wǎng)絡(luò)分析儀等。
[0058]較佳地，還包括通信接口和設(shè)置于主機(jī)上的控制程序。所述通信接口用于將所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備與主機(jī)相連。所述設(shè)置于主機(jī)上的控制程序，用于經(jīng)所述通信接口控制所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備。從而能夠使得測(cè)試人員通過設(shè)置于主機(jī)上的軟件操作測(cè)試設(shè)備，完成測(cè)試過程，大大提高了效率。
[0059]較佳地，所述通信接口是USB接口。
[0060]較佳地，所述帶通濾波器是帶通濾波器陣列。
[0061 ] 較佳地，所述第一衰減器經(jīng)并行接口與矩陣信號(hào)發(fā)生器相連，獲取矩陣信號(hào)。
[0062]較佳地，所述第一衰減器可調(diào)。
[0063]相應(yīng)地，本實(shí)用新型還提供了一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，如圖5所示，包括主機(jī)、如圖4所述的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備、矩陣信號(hào)發(fā)生器、測(cè)試儀、光發(fā)射機(jī)、第四光衰減器和待測(cè)設(shè)備，其中:
[0064]所述主機(jī)與所述矩陣信號(hào)發(fā)生器和所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備相連，控制所述矩陣信號(hào)發(fā)生器和所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備；
[0065]所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備與所述矩陣信號(hào)發(fā)生器和所述光發(fā)射機(jī)相連，接收矩陣信號(hào)，進(jìn)行衰減處理后輸出至光發(fā)射機(jī)；接收所述待測(cè)設(shè)備的輸出信號(hào)進(jìn)行處理后輸出至所述測(cè)試儀；
[0066]所述光發(fā)射機(jī)，接收衰減后的矩陣信號(hào)，產(chǎn)生光信號(hào)，經(jīng)所述光衰減器進(jìn)行衰減處理后輸出至所述待測(cè)設(shè)備。[0067]較佳地，還提供了一種細(xì)化的連接關(guān)系示意圖，如圖6所示:
[0068]較佳地，所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備經(jīng)USB接口與所述主機(jī)相連。
[0069]較佳地，所述測(cè)試儀經(jīng)GPIB接口與所述主機(jī)相連。
[0070]較佳地，所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備經(jīng)并行接口與所述矩陣信號(hào)發(fā)生器相連。
[0071]以上公開的僅為本實(shí)用新型的幾個(gè)具體實(shí)施例，但是，本實(shí)用新型并非局限于此，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員能思之的變化都應(yīng)落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，其特征在于，包括: 第一衰減器，用于對(duì)矩陣信號(hào)進(jìn)行衰減后發(fā)送給光發(fā)射機(jī)； 第二衰減器，用于對(duì)待測(cè)設(shè)備的輸出信號(hào)進(jìn)行衰減； 帶通濾波器，與所述第二衰減器相連，用于對(duì)所述第二衰減器的輸出信號(hào)進(jìn)行濾波處理； 第三衰減器，與所述帶通濾波器相連，用于所述帶通濾波器的輸出信號(hào)進(jìn)行衰減處理； 均衡器，與所述第三衰減器相連，用于對(duì)第三衰減器的輸出信號(hào)進(jìn)行均衡處理后發(fā)送給測(cè)試儀。
2.一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，其特征在于，包括: 第一衰減器，用于對(duì)矩陣信號(hào)進(jìn)行衰減后發(fā)送給光發(fā)射機(jī)； 第二衰減器，用于對(duì)待測(cè)設(shè)備的輸出信號(hào)進(jìn)行衰減； 帶通濾波器，與所述第二衰減器相連，用于對(duì)所述第二衰減器的輸出信號(hào)進(jìn)行濾波處理； 均衡器，與所述帶通濾波器相連，用于對(duì)所述帶通濾波器的輸出信號(hào)進(jìn)行均衡處理；第三衰減器，與所述均衡器相連，用于對(duì)所述均衡器的輸出信號(hào)進(jìn)行衰減處理后發(fā)送給測(cè)試儀。
3.如權(quán)利要求1或2所述的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，其特征在于，還包括: 通信接口，用于將所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備與主機(jī)相連接； 設(shè)置于主機(jī)上的控制程序，用于經(jīng)所述通信接口控制所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備。
4.如權(quán)利要求3所述的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，其特征在于: 所述通信接口是USB接口。
5.如權(quán)利要求1或2所述的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，其特征在于: 所述帶通濾波器是帶通濾波器陣列。
6.如權(quán)利要求1或2所述的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，其特征在于: 所述第一衰減器經(jīng)并行接口與矩陣信號(hào)發(fā)生器相連，獲取矩陣信號(hào)。
7.一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括主機(jī)、如權(quán)利要求1或2所述 的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備、矩陣信號(hào)發(fā)生器、測(cè)試儀、光發(fā)射機(jī)、第四光衰減器 和待測(cè)設(shè)備，其中: 所述主機(jī)與所述矩陣信號(hào)發(fā)生器和所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備相連，控制所述矩陣信號(hào)發(fā)生器和所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備； 所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備與所述矩陣信號(hào)發(fā)生器和所述光發(fā)射機(jī)相連，接收矩陣信號(hào)，進(jìn)行衰減處理后輸出至光發(fā)射機(jī)；接收所述待測(cè)設(shè)備的輸出信號(hào)進(jìn)行處理后輸出至所述測(cè)試儀； 所述光發(fā)射機(jī)，接收衰減后的矩陣信號(hào)，產(chǎn)生光信號(hào)，經(jīng)所述光衰減器進(jìn)行衰減處理后輸出至所述待測(cè)設(shè)備。
8.如權(quán)利要求7所述的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于: 所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備經(jīng)USB接口與所述主機(jī)相連。
9.如權(quán)利要求7所述的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:所述測(cè)試儀經(jīng)GPIB接口與所述主機(jī)相連。
10.如權(quán)利要求7所述的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備經(jīng)并行接口與所述`矩陣信號(hào)發(fā)生器相連。
【文檔編號(hào)】G01M11/00GK203502201SQ201320604034
【公開日】2014年3月26日 申請(qǐng)日期:2013年9月29日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月29日
【發(fā)明者】孫冉波, 張林龍 申請(qǐng)人:北京太平洋萊特科技有限公司