專利名稱：傳感器芯片和陶瓷基板zmo的測試裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種傳感器測試裝置，尤其是指一種傳感器芯片和陶瓷基板ZMO的測試裝置。
背景技術：
傳感器應用于生活中的各個方面，也使得傳感器需要大批量的生產(chǎn)，但是制造傳感器的芯片價格高，來料中會有不良品混入，需要在生產(chǎn)前用測試工具百分百全檢，測基板ZMO的方式繁瑣且不易操作，需要兩個人配合操作，一人持直流穩(wěn)壓電源輸入端對準焊盤，另一個人用萬用表對準基板上焊盤測試，因焊盤較小，操作起來不便甚至無法測試，這種測試方法不適合批量生產(chǎn)。

實用新型內容本實用新型要解決的技術問題是提供一種操作簡單適合批量生產(chǎn)用的傳感器芯片和陶瓷基板ZMO的測試裝置。為了解決上述技術問題，本實用新型的技術方案為:傳感器芯片和陶瓷基板ZMO的測試裝置，其特征在于:包括支架，支架的頂部設有凹槽，凹槽的兩側壁各有兩個圓孔；與支架底部固定連接的測試臺，測試臺上設有定位凹槽；與支架凹槽側壁活動連接的擺動桿，擺動桿的底部設有一凸塊，凸塊與支架凹槽的底部接觸，擺動桿的前端設有圓孔；與擺動桿如端圓孔連接的觸針；連接擺動桿后端和支架后端的彈黃。進一步的，所述的測試臺與支架底部通過緊固件固定連接。進一步的，所述的擺動桿與支架凹槽通過固定銷或者圓軸活動鏈接，固定銷或者圓軸的數(shù)量至少一個。 進一步的，所述的擺動桿的前端的圓孔至少四個。進一步的，所述的觸針數(shù)量至少四個。采用本實用新型的技術方案，簡單易操作，有效的并批量性的完成傳感器芯片測試。
以下結合附圖對本實用新型的具體實施方式
作進一步詳細的說明。

圖1是本實用新型爆炸圖；圖2是本實用新型開啟工作狀態(tài)剖視圖；圖3是本實用新型閉合工作狀態(tài)剖視圖；圖4是本實用新型實施例一示意圖；圖5是本實用新型實施例二示意圖；圖6是本實用新型非工作狀態(tài)示意圖；具體實施方式
以下結合附圖和具體實施方式
，對本實用新型做進一步說明。圖1所示傳感器芯片和陶瓷基板ZMO的測試裝置，包括支架1，支架I的頂部設有凹槽11，凹槽11的兩側壁各有兩個圓孔12 ;與支架I底部固定連接的測試臺2，測試臺2上設有定位凹槽21 ;與支架凹槽11側壁活動連接的擺動桿3，擺動桿3的底部設有一凸塊31，凸塊31與支架凹槽11的底部接觸，擺動桿3的前端設有多個圓孔32 ;與擺動桿3前端的圓孔21連接的多個觸針4 ;連接擺動桿3后端和支架I后端的彈簧6，測試臺2與支架I底部通過緊固件5固定連接，擺動桿3與支架凹槽11通過固定銷或者圓軸活動鏈接，固定銷或者圓軸的數(shù)量至少一個。圖2、圖3所示開啟和閉合工作狀態(tài)，凹槽11的側壁上的右圓孔12-1里插入固定銷連接支架I和擺動桿3，在支架I和擺動桿3的后端施加外力，支架I和擺動桿3之間的彈簧6被壓縮，與支架I接觸的凸臺31成為一個支點，擺動桿3的前端向上翹起，觸針離開待測帶有芯片的基板，待測基板可以取走或者放入，當支架I和擺動桿3的后端無施加外力時，彈簧6恢復形變，擺動桿3的前端向下移動，因為凸臺31頂住支架1，使得擺動桿3停止在測試位置。圖4、圖5所示芯片和基板測試使用實施例，根據(jù)不同的尺寸，測試臺2上的定位凹槽21的位置和形狀都不同。圖6所示當裝置不使用狀態(tài)下，在支架凹槽11側壁上左圓孔12-2處插入固定銷，防止觸針4接觸到測試臺2。盡管結合優(yōu)選實施方案具體展示和介紹了本實用新型，但所屬領域的技術人員應該明白，在不脫離所附權利要求書所限定的本實用新型的精神和范圍內，在形式上和細節(jié)上對本實用新型做出 各種變化，均為本實用新型的保護范圍。
權利要求1.傳感器芯片和陶瓷基板ZMO的測試裝置，其特征在于:包括支架，支架的頂部設有凹槽，凹槽的兩側壁各有兩個圓孔；與支架底部固定連接的測試臺，測試臺上設有定位凹槽；與支架凹槽側壁活動連接的擺動桿，擺動桿的底部設有一凸塊，凸塊與支架凹槽的底部接觸，擺動桿的前端設有圓孔；與擺動桿前端圓孔連接的觸針；連接擺動桿后端和支架后端的彈黃。
2.根據(jù)權利要求1所述的傳感器芯片和陶瓷基板ZMO的測試裝置，其特征在于:所述的測試臺與支架底部通過緊固件固定連接。
3.根據(jù)權利要求1所述的傳感器芯片和陶瓷基板ZMO的測試裝置，其特征在于:所述的擺動桿與支架凹槽通過固定銷或者圓軸活動鏈接，固定銷或者圓軸的數(shù)量至少一個。
4.根據(jù)權利要求1所述的傳感器芯片和陶瓷基板ZMO的測試裝置，其特征在于:所述的擺動桿的前端的圓孔至少四個。
5.根據(jù)權利要求1所述的傳感器芯片和陶瓷基板ZMO的測試裝置，其特征在于:所述的觸針數(shù)量至少四個。`
專利摘要傳感器芯片和陶瓷基板ZMO的測試裝置，包括支架，支架的頂部設有凹槽，凹槽的兩側壁各有兩個平行排列的圓孔；與支架底部固定連接的測試臺，測試臺上設有定位凹槽；與支架凹槽側壁活動連接的擺動桿，擺動桿的底部設有一凸塊，凸塊與支架凹槽的底部接觸，擺動桿的前端設有圓孔；與擺動桿前端圓孔連接的觸針；連接擺動桿后端和支架后端的彈簧，采用本實用新型的技術方案，簡單易操作，有效的并批量性的完成傳感器芯片和陶瓷基板ZMO的測試。
文檔編號G01R1/04GK203101585SQ20132012586
公開日2013年7月31日 申請日期2013年3月19日 優(yōu)先權日2013年3月19日
發(fā)明者聶泳忠, 李永聰 申請人:廈門乃爾電子有限公司