一種電子裝備等效輻射功率測試的模糊方法及設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及電子設(shè)備測試【技術(shù)領(lǐng)域】，公開一種電子裝備等效輻射功率測試的模糊方法及設(shè)備，所述設(shè)備包括：標(biāo)準(zhǔn)天線、信號衰減器、場強(qiáng)儀、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及分析裝置，所述標(biāo)準(zhǔn)天線通過數(shù)據(jù)傳輸線纜與信號衰減器相連，信號衰減器通過數(shù)據(jù)傳輸線纜與場強(qiáng)儀相連，場強(qiáng)儀通過數(shù)據(jù)傳輸線纜與數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及分析裝置相連。本發(fā)明所述方法在較少測試數(shù)據(jù)量的情況下或不需要數(shù)據(jù)的概率統(tǒng)計(jì)特征就可以計(jì)算出電子裝備等效輻射功率值。所述設(shè)備能夠直接與現(xiàn)有的場強(qiáng)儀、頻譜儀直接相接，并能夠通過算法程序模塊FPGA將測試數(shù)據(jù)直接進(jìn)行處理，并實(shí)時(shí)顯示處理過程和結(jié)果。所述設(shè)備可用于各種電子設(shè)備的輻射功率測試，還可用于軍用電子裝備的輻射功率測試。
【專利說明】一種電子裝備等效輻射功率測試的模糊方法及設(shè)備
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子設(shè)備測試【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種電子裝備等效輻射功率測試的模糊方法及設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，對電子裝備的等效輻射功率進(jìn)行測試，通常是利用標(biāo)準(zhǔn)天線、衰減器、場強(qiáng)儀或頻譜儀測得若干個(gè)場強(qiáng)值，在假設(shè)這若干個(gè)場強(qiáng)值服從正態(tài)分布的情況下，求取這若干個(gè)場強(qiáng)值的數(shù)學(xué)期望后推算出電子裝備的等效輻射功率值。但是實(shí)際測試環(huán)境本質(zhì)上是一個(gè)動(dòng)態(tài)變化過程，實(shí)際測試數(shù)據(jù)在統(tǒng)計(jì)上可能不屬于同一總體，特別是數(shù)據(jù)量比較少時(shí)，其分布規(guī)律根本無法確定，導(dǎo)致最后推算出的電子裝備等效輻射功率值可能會(huì)帶有較大的誤差。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供一種電子裝備等效輻射功率測試的模糊方法及設(shè)備。
[0004]為實(shí)現(xiàn)如上所述的發(fā)明目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
[0005]一種電子裝備等效輻射功率測試的設(shè)備，包括:標(biāo)準(zhǔn)天線、信號衰減器、場強(qiáng)儀、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及分析裝置，所述標(biāo)準(zhǔn)天線通過數(shù)據(jù)傳輸線纜與信號衰減器相連，信號衰減器通過數(shù)據(jù)傳輸線纜與場強(qiáng)儀相連，場強(qiáng)儀通過數(shù)據(jù)傳輸線纜與數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及分析裝置相連。
[0006]一種電子裝備等效輻射功率測試的設(shè)備，所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及分析裝置由數(shù)據(jù)存儲(chǔ)FLASH存儲(chǔ)器、算法程序模塊FPGA、復(fù)位電路、觸摸屏接口電路、觸摸屏，所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)FLASH存儲(chǔ)器輸入端通過串口電路與場強(qiáng)儀相連，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)FLASH存儲(chǔ)器輸出端通過算法程序模塊FPGA、觸摸屏接口電路與觸摸屏相連，其中算法程序模塊FPGA的復(fù)位端與復(fù)位電路相連。
[0007]—種電子裝備等效輻射功率測試的模糊方法，為模糊信息處理方法，其步驟如下:
[0008]I)、采用將經(jīng)過標(biāo)準(zhǔn)天線、信號衰減器后由場強(qiáng)儀測試的場強(qiáng)值數(shù)據(jù)電信號傳輸至數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及分析裝置，進(jìn)行場強(qiáng)數(shù)據(jù)的模糊信息處理，確定被測試的電子裝備等效輻射功率;
[0009]2)、對于被測試的電子裝備等效輻射功率測試，采用等效輻射功率母體概率密度函數(shù)的估計(jì)方法，即被測試的電子裝備等效輻射功率測試數(shù)據(jù)的模糊處理步驟如下:
[0010](I)根據(jù)電子裝備等效輻射功率測試數(shù)據(jù)樣本為X=U1, X2,…，X1J，其樣本量為n，依據(jù)樣本量η為在算法程序模塊FPGA內(nèi)查得對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)信息擴(kuò)散估計(jì)系數(shù)α ；
[0011](2)通過算法程序模塊FPGA計(jì)算最大測試值bzmaxUi, x2,…，xn}和
azminkp x2,…，xj ,并根據(jù)公式
【權(quán)利要求】
1.一種電子裝備等效輻射功率測試的設(shè)備，其特征在于:包括:標(biāo)準(zhǔn)天線、信號衰減器、場強(qiáng)儀、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及分析裝置，所述標(biāo)準(zhǔn)天線通過數(shù)據(jù)傳輸線纜與信號衰減器相連，信號衰減器通過數(shù)據(jù)傳輸線纜與場強(qiáng)儀相連，場強(qiáng)儀通過數(shù)據(jù)傳輸線纜與數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及分析裝置相連。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子裝備等效輻射功率測試的設(shè)備，其特征在于:所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及分析裝置由數(shù)據(jù)存儲(chǔ)FLASH存儲(chǔ)器、算法程序模塊FPGA、復(fù)位電路、觸摸屏接口電路、觸摸屏，所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)FLASH存儲(chǔ)器輸入端通過串口電路與場強(qiáng)儀相連，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)FLASH存儲(chǔ)器輸出端通過算法程序模塊FPGA、觸摸屏接口電路與觸摸屏相連，其中算法程序模塊FPGA的復(fù)位端與復(fù)位電路相連。
3.一種電子裝備等效輻射功率測試的模糊方法，為模糊信息處理方法，其特征在于:其步驟如下: 1)、采用將經(jīng)過標(biāo)準(zhǔn)天線、信號衰減器后由場強(qiáng)儀測試的場強(qiáng)值數(shù)據(jù)電信號傳輸至數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及分析裝置，進(jìn)行場強(qiáng)數(shù)據(jù)的模糊信息處理，確定被測試的電子裝備等效輻射功率； 2)、對于被測試的電子裝備等效輻射功率測試，采用等效輻射功率母體概率密度函數(shù)的估計(jì)方法，即被測試的電子裝備等效輻射功率測試數(shù)據(jù)的模糊處理步驟如下: (1)根據(jù)電子裝備等效輻射功率測試數(shù)據(jù)樣本為X=Ix1, X2,…，xn}，其樣本量為n，依據(jù)樣本量η為在算法程序模塊FPGA內(nèi)查得對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)信息擴(kuò)散估計(jì)系數(shù)α ； (2)通過算法程序模塊FPGA計(jì)算最大測試值b=max{x1； x2,...，xj和aminU” x2,...，xj，并根據(jù)公式h =計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)擴(kuò)散窗寬h ；

η — I (3)確定等效輻射功率母體概率密度函數(shù)f(x)的擴(kuò)散估計(jì)

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種電子裝備等效輻射功率測試的模糊方法，其特征在于:所述在算法程序模塊FPGA內(nèi)存儲(chǔ)的樣本量η與對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)信息擴(kuò)散估計(jì)系數(shù)α如下；
樣本量 η 為 3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、1718、19、≥ 20 ； 對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)信息擴(kuò)散估計(jì)系數(shù)α為0.849322、1.273983、1.698644、1.336253、1.445461,1.395190,1.422962,1.416279,1.420835,1.420269,1.420698,1.420669、1.420693、1.420692、1.420693、1.420693、1.420693、1.420693。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種電子裝備等效輻射功率測試的模糊方法，其特征在于:所述等效輻射功率母體概率密度函數(shù)的估計(jì)稱為模糊擴(kuò)散估計(jì)方法；當(dāng)μ (X)是定義在
上的一個(gè)波雷爾可測函數(shù)，Δ m>0為常數(shù)，m為等效輻射功率測試樣本容量，則稱
【文檔編號】G01R29/08GK103529308SQ201310424330
【公開日】2014年1月22日 申請日期:2013年9月17日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月17日
【發(fā)明者】柯宏發(fā), 夏斌, 李云濤, 唐曉婧, 杜紅梅 申請人:中國人民解放軍裝備學(xué)院