專利名稱：一種柔性薄膜光學(xué)測試固定治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種柔性薄膜光學(xué)測試治具，具體應(yīng)用在奧林巴斯USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀上。
背景技術(shù)：
隨著觸控技術(shù)的發(fā)展，特別是I Phone和I Pad的出現(xiàn)，將全球觸控行業(yè)帶向了一個嶄新的時代。因此，對于柔性光學(xué)薄膜的需求量也日益增長，現(xiàn)階段PET、ITO film等光學(xué)薄膜已供不應(yīng)求。在此類柔性光學(xué)薄膜的生產(chǎn)過程中，薄膜的光學(xué)性能一直是衡量薄膜質(zhì)量的一項重要指標(biāo)。對于柔性光學(xué)薄膜的光學(xué)性能檢測，主要集中在反射率、透過率、折射率、L*a*b*值和霧度等，尤其是反射率和透過率更是衡量薄膜光學(xué)性能的晴雨表。 日本奧林巴斯公司的USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀具有使用方法簡單、檢測速度快和對測試樣品面積要求較小的優(yōu)點，對于提高生產(chǎn)效率具有顯著特點，倍受人們青睞。但由于柔性薄膜的生產(chǎn)方式所決定，導(dǎo)致該儀器很難精確的檢測出柔性薄膜的光學(xué)性能，因此只能得到粗略的測試結(jié)果。利用奧林巴斯USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀檢測柔性薄膜反射率和透過率的傳統(tǒng)方式是將柔性薄膜直接置于分光測定儀的操作臺面上進(jìn)行檢測。由于大部分柔性薄膜的生產(chǎn)都是采用卷繞的方式，這樣勢必會造成測試樣品在一定程度上彎曲。將彎曲的測試樣品置于測試臺面上直接測試容易導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確，而用膠帶將測試樣品粘貼在測試臺面上會在測試樣品上遺留殘膠，影響后續(xù)檢測，并且操作繁瑣，影響生產(chǎn)效率。同時，一些特定柔性光學(xué)薄膜，如ITO film等的測試過程中，經(jīng)常需要測試退火前和退火后同一點的光學(xué)特征。傳統(tǒng)測試治具很難對測試樣品的同一點進(jìn)行定位，而標(biāo)記法又會對測試樣品造成一定的污染。這些因素都極大地影響了柔性光學(xué)薄膜的測試效率和結(jié)果真實性。為了有效提高奧林巴斯USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀在測量柔性光學(xué)薄膜時的精度問題，必須對傳統(tǒng)方法進(jìn)行改良，然而目前尚未見改良技術(shù)的報道。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種放置在奧林巴斯USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀測試臺上的治具，克服傳統(tǒng)測試臺面所帶來的缺陷。本實用新型的技術(shù)方案是在現(xiàn)有的測試臺面上增加一個架子；架子中添加一個金屬片，利用磁鐵與金屬片的磁性固定住測試片，達(dá)到展平樣品的效果，樣品擋板能夠起到精確定位測試的效果。本實用新型的結(jié)構(gòu)包括樣品擋板，正方形區(qū)域，光滑金屬片放置區(qū)，通光孔，“L”形架子固定板，磁鐵，光滑金屬片，待測樣品；架子中的樣品擋板(I)高出正方形區(qū)域(2)，正方形區(qū)域(2)高于光滑金屬片放置區(qū)(3)，光滑金屬片(7)置于光滑金屬片放置區(qū)(3)內(nèi)，“L”形架子固定板(5)粘貼在兩塊樣品擋板(I)交匯處，待測樣品(8)放置于正方形區(qū)域(2)內(nèi)，且邊緣貼近樣品擋板(I)。展平樣品后，將磁鐵(6)壓于光滑金屬片(7)所對應(yīng)的樣品上，最后，將裝好待測樣品(8)的治具放置于原有測試臺面上，將“L”形架子固定板(5)頂住測試臺面一角，起到固定作用。本實用新型優(yōu)點I、解決了利用奧林巴斯USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀，在傳統(tǒng)方法下測定柔性光學(xué)薄膜精確度較低、重復(fù)性不佳的問題，提高了測試的精準(zhǔn)度和重復(fù)性。2、由于該治具是利用磁鐵固定樣品，避免了用膠帶將測試樣品粘貼在測試臺面上所造成的污染樣品問題，并且也避免了粘貼膠帶所耗費的時間，提高了檢測效率。同時，也節(jié)省了膠帶，在一定程度上降低了企業(yè)的成本。

圖I為本實用新型結(jié)構(gòu)的俯視圖；圖中I.樣品擋板，2.正方形區(qū)域，3.光滑金屬片放置區(qū)，4.通光孔，5. “L”形架子固定板；圖2為本實用新型所述柔性薄膜光學(xué)測試固定治具工作示意圖；圖中6.磁鐵，7.光滑金屬片，8.待測樣品。
具體實施方式
下面結(jié)合說明書附圖以一個具體尺寸的柔性薄膜光學(xué)測試固定治具對本實用新型做進(jìn)一步的說明。架子邊長120臟，高15臟，其中樣品擋板(I)的高度為15mm;正方形區(qū)域(2)為高度10mm、邊長IOOmm的正方形區(qū)域；光滑金屬片放置區(qū)(3)為高度8mm、外徑38mm、內(nèi)徑23mm的圓環(huán)形區(qū)域，且該圓環(huán)圓心處于正方形區(qū)域(2)的對角線交點處,長25mm、寬8mm、高20mm的“L”形架子固定板(5)粘貼于兩塊樣品擋板(I)的交匯處。高度2mm、外徑37mm、內(nèi)徑23mm的光滑金屬片(7)固定于光滑金屬片放置區(qū)(3)內(nèi)，待測樣品(8)邊緣緊貼兩塊樣品擋板(I)。展平待測樣品(8)后,將高10mm、內(nèi)徑23mm、外徑38mm的磁鐵(6)壓于光滑金屬片(7)所對應(yīng)的待測樣品(8)上。最后，將裝好待測樣品的治具放置于原有測試臺面上，將“L”形架子固定板(5)頂住測試臺面一角，起到固定作用。當(dāng)光束通過通光孔(4)時，即可得到準(zhǔn)確的測量數(shù)據(jù)。由于樣品擋板(I)能將待測樣品(8)很好的定位，因此，可以精確地測試待測樣品(8 )退火前和退火后同一點的數(shù)據(jù)，有利于產(chǎn)品研發(fā)。
權(quán)利要求1. 一種柔性薄膜光學(xué)測試固定治具，其特征在于，其結(jié)構(gòu)包括樣品擋板，正方形區(qū)域，光滑金屬片放置區(qū)，通光孔，“L”形架子固定板，磁鐵，光滑金屬片，待測樣品；架子中的樣品擋板(I)高出正方形區(qū)域(2)，正方形區(qū)域(2)高于光滑金屬片放置區(qū)(3)，光滑金屬片(7)置于光滑金屬片放置區(qū)(3)內(nèi)，“L”形架子固定板(5)粘貼在兩塊樣品擋板(I)交匯處，待測樣品(8)放置于正方形區(qū)域(2)內(nèi)，且邊緣貼近樣品擋板(I);展平樣品后，將磁鐵(6)壓于光滑金屬片(7)所對應(yīng)的樣品上，最后，將裝好待測樣品(8)的治具放置于原有測試臺面上，將“L”形架子固定板(5)頂住測試臺面一角，起到固定作用。
專利摘要一種柔性薄膜光學(xué)測試固定治具包括樣品擋板，正方形區(qū)域，光滑金屬片放置區(qū)，通光孔，“L”形架子固定板，磁鐵，光滑金屬片，待測樣品；在現(xiàn)有的測試臺面上增加一個架子；架子中添加一個金屬片，利用磁鐵與金屬片的磁性固定住測試片，達(dá)到展平樣品的效果，樣品擋板能夠起到精確定位測試的效果。本實用新型解決了利用奧林巴斯USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀，在傳統(tǒng)方法下測定柔性光學(xué)薄膜精確度較低、重復(fù)性不佳的問題，提高了測試的精準(zhǔn)度和重復(fù)性。
文檔編號G01M11/02GK202793739SQ20122039341
公開日2013年3月13日 申請日期2012年8月10日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月10日
發(fā)明者熊磊 申請人:南昌大學(xué)