專利名稱：陶瓷柱塞內(nèi)臺階孔加工檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種檢測裝置，尤其涉及一種細(xì)長陶瓷柱塞加工內(nèi)臺階孔的深度檢測裝置。
技術(shù)背景一般應(yīng)用于農(nóng)用泵、高壓清洗泵上的陶瓷套管，其陶瓷套管本身的直徑較小，在陶瓷套管內(nèi)還開設(shè)有高精度的內(nèi)臺階孔，該內(nèi)臺階孔在套接時是否緊密直接關(guān)系到泵的氣密性，不容得在套接配套時產(chǎn)生一點(diǎn)的誤差，否側(cè)，影響泵的使用。原有在加工陶瓷柱塞上的內(nèi)臺階孔時，都是通過游標(biāo)卡尺直接進(jìn)行測量，在測量中，該內(nèi)臺階孔的深度偏差為O O. 15mm,由于存在人為的因素較多，很容易導(dǎo)致內(nèi)臺階孔的測量不準(zhǔn)確，且本陶瓷柱塞的材質(zhì)為陶瓷，游標(biāo)卡尺伸進(jìn)去進(jìn)行測量，很容易劃傷內(nèi)臺階·孔，造成不良品的產(chǎn)生。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型解決的技術(shù)問題是提供一種細(xì)長陶瓷柱塞內(nèi)臺階孔的深度檢測、并能適合大批量快速檢測、保證精準(zhǔn)度的陶瓷柱塞內(nèi)臺階孔加工檢測裝置。本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題所采取的技術(shù)方案是一種陶瓷柱塞內(nèi)臺階孔加工檢測裝置，包括檢測軸、塞片，所述檢測軸呈階梯狀，檢測軸的前端為伸出測量端，檢測軸的后端為握柄部位；該塞片可套接在伸出測量端上；所述伸出測量端的前端面寬度為D1，伸出測量端的伸出長度為D2，其中，Dl等于陶瓷柱塞上內(nèi)臺階孔的孔徑dl，D2大于陶瓷柱塞內(nèi)臺階孔的深度d2。為了防止本檢測裝置在檢測過程中會滑落，在該握柄部位上開設(shè)有螺紋，便于人手緊握住握柄部位。進(jìn)一步的，所述塞片的數(shù)量至少為一個。同時，為了能從塞片的數(shù)量上直接體現(xiàn)出檢測內(nèi)臺階孔的深度，所述塞片有厚度為O. Imm的數(shù)個、O. 2mm的數(shù)個、O. 05mm的數(shù)個。本實(shí)用新型的有益效果是本檢測裝置用于細(xì)小直徑的陶瓷柱塞上開設(shè)的內(nèi)臺階孔的檢測，通過檢測軸上的伸出測量端插入到內(nèi)臺階孔內(nèi)，并通過在間隙處添加的固定規(guī)格的塞片，以得到內(nèi)臺階孔的深度數(shù)值，或者，需要加工的臺階孔存在容許的誤差值內(nèi)，只要塞片的厚度值小于此誤差值也可直接的測量出臺階孔的加工精度；代替原有用游標(biāo)卡尺測量，避免測量時產(chǎn)生誤差，本機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)簡單，檢測快捷，可適合大批量陶瓷柱塞的快速檢測。


以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對本實(shí)用新型進(jìn)一步說明。圖I是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；[0012]圖2是本實(shí)用新型檢測裝置在具體使用中的示意圖。圖中1、檢測軸11、螺紋12、伸出測量端13、握柄部位2、塞片3、陶瓷柱塞。
具體實(shí)施方式
如圖I所示一種陶瓷柱塞內(nèi)臺階孔加工檢測裝置，包括檢測軸I、塞片2，所述檢測軸I呈階梯狀，檢測軸I的前端為伸出測量端12，檢測軸I的后端為握柄部位13，同時，該檢測軸I為材質(zhì)是陶瓷制造的一體軸；該塞片2可套接在伸出測量端12上；所述伸出測量端12的前端面寬度為Dl，伸出測量端12的伸出長度為D2，其中，Dl等于陶瓷柱塞上內(nèi)臺階孔的孔徑dl，D2大于陶瓷柱塞內(nèi)臺階孔的深度d2，D2減去d2得到的數(shù)值是N個塞片的厚度之和。為了防止本檢測裝置在檢測過程中會滑落，在該握柄部位13上開設(shè)有螺紋11，便于人手緊握住握柄部位。進(jìn)一步的，所述塞片2的數(shù)量至少為一個。同時，為了能從塞片2的數(shù)量上直接體現(xiàn)出檢測內(nèi)臺階孔的深度，所述塞片2有厚度為O. Imm的數(shù)個、O. 2mm的數(shù)個、O. 05mm的數(shù)個。本檢測裝置用于細(xì)小直徑的陶瓷柱塞3上開設(shè)的內(nèi)臺階孔的檢測，通過檢測軸上的伸出測量端12插入到內(nèi)臺階孔內(nèi)，并通過在間隙處添加的固定規(guī)格的塞片2的數(shù)量，以得到內(nèi)臺階孔的深度數(shù)值，代替原有用游標(biāo)卡尺測量，避免測量時產(chǎn)生誤差，本機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)簡單，檢測快捷，可適合大批量陶瓷柱塞3加工內(nèi)臺階孔的快速檢測。本裝置快速測量的方法還適用于需要加工的臺階孔存在容許的誤差值，只要塞片的厚度值小于此誤差值也可直接的測量出臺階孔的加工精度。例要加工產(chǎn)品的內(nèi)臺階尺寸為0 15*10，高度10的公差為+0. 15，也就是說臺階段長度為10. 15到10，做的檢測裝置的下部分尺寸為0 15*10. 15，檢測時，放入產(chǎn)品的內(nèi)臺階，只要有縫隙，并不超過O. 15就在公差范圍內(nèi)，因此只要拿O. 15的塞片，并且塞不進(jìn)縫隙即可。需要強(qiáng)調(diào)的是，以上是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施列而已，并非對本檢測裝置在外觀上作任何形式的限制，凡是依據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本實(shí)用新型技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種陶瓷柱塞內(nèi)臺階孔加工檢測裝置，其特征在于包括檢測軸(I)、塞片(2)，所述檢測軸(I)呈階梯狀，檢測軸的前端為伸出測量端(12)，檢測軸的后端為握柄部位(13);該塞片(2)可套接在伸出測量端(12)上；所述伸出測量端(12)的前端面寬度為D1，伸出測量端(12)的伸出長度為D2，其中，Dl等于陶瓷柱塞上內(nèi)臺階孔的孔徑dl，D2大于陶瓷柱塞內(nèi)臺階孔的深度d2。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的陶瓷柱塞內(nèi)臺階孔加工檢測裝置，其特征在于在該握柄部位(13)上開設(shè)有螺紋(11)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的陶瓷柱塞內(nèi)臺階孔加工檢測裝置，其特征在于所述塞片(2)的數(shù)量至少為一個。
4.根據(jù)權(quán)利要求I或3所述的陶瓷柱塞內(nèi)臺階孔加工檢測裝置，其特征在于所述塞片(2)有厚度為O. Imm的數(shù)個、O. 2mm的數(shù)個、O. 05mm的數(shù)個。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種陶瓷柱塞內(nèi)臺階孔加工檢測裝置，其特征在于包括檢測軸、塞片，所述檢測軸呈階梯狀，檢測軸的前端為伸出測量端，檢測軸的后端為握柄部位；該塞片可套接在伸出測量端上；所述伸出測量端的前端面寬度為D1，伸出測量端的伸出長度為D2，其中，D1等于陶瓷柱塞上內(nèi)臺階孔的孔徑d1，D2大于陶瓷柱塞內(nèi)臺階孔的深度d2，在該握柄部位上開設(shè)有螺紋。本檢測裝置用于細(xì)小直徑的陶瓷柱塞上開設(shè)的內(nèi)臺階孔的檢測，通過檢測軸上的伸出測量端插入到內(nèi)臺階孔內(nèi)，并通過在間隙處添加的固定規(guī)格的塞片，以得到內(nèi)臺階孔的深度數(shù)值，代替原有用游標(biāo)卡尺測量，避免測量時產(chǎn)生誤差，本機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)簡單，檢測快捷，可適合大批量陶瓷柱塞的快速檢測。
文檔編號G01B5/18GK202661018SQ20122015397
公開日2013年1月9日 申請日期2012年4月13日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月13日
發(fā)明者朱曉玢 申請人:蘇州晶瓷超硬材料有限公司