專利名稱：用于顯微維氏硬度計(jì)的砝碼托架的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及機(jī)械領(lǐng)域，尤其涉及材料硬度測(cè)試裝置，特別涉及用于顯微維氏硬度計(jì)的砝碼托架，具體的是一種用于顯微維氏硬度計(jì)的砝碼托架。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中，顯微維氏硬度計(jì)用于測(cè)試金屬材料，包括微小零件、薄板、金屬箔、電線、薄硬化層和電鍍層，還可以用于測(cè)試玻璃、珠寶和陶瓷等非金屬材料，它可以遵循金屬的結(jié)構(gòu)，測(cè)試感應(yīng)硬化或滲碳等材料的內(nèi)部硬度。顯微維氏硬度計(jì)中利用砝碼對(duì)杠桿加壓， 實(shí)現(xiàn)需要的加荷。砝碼從大到小層疊放置，相鄰的砝碼之間容易放錯(cuò)和發(fā)生碰撞，影響砝碼的精度。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種用于顯微維氏硬度計(jì)的砝碼托架，所述的這種用于顯微維氏硬度計(jì)的砝碼托架要解決現(xiàn)有技術(shù)中顯微維氏硬度計(jì)中相鄰的砝碼之間容易放錯(cuò)和發(fā)生碰撞、影響砝碼的精度的技術(shù)問(wèn)題。本實(shí)用新型的這種用于顯微維氏硬度計(jì)的砝碼托架，由一個(gè)圓錐臺(tái)形外殼構(gòu)成， 其中，所述的圓錐臺(tái)形外殼的頂面的直徑大于其底面的直徑，圓錐臺(tái)形外殼的內(nèi)壁中連續(xù)設(shè)置有兩個(gè)以上數(shù)目的環(huán)狀臺(tái)階，任意一個(gè)所述的環(huán)狀臺(tái)階的內(nèi)圓周均與圓錐臺(tái)形外殼共軸，從圓錐臺(tái)形外殼的下端向上、環(huán)狀臺(tái)階的內(nèi)圓周的直徑逐個(gè)遞增，任意一個(gè)環(huán)狀臺(tái)階的下臺(tái)階面均與圓錐臺(tái)形外殼的軸向垂直，任意一個(gè)環(huán)狀臺(tái)階的上臺(tái)階面均是其上側(cè)相鄰的環(huán)狀臺(tái)階的下臺(tái)階面。進(jìn)一步的，任意一個(gè)所述的環(huán)狀臺(tái)階的下臺(tái)階面上，均各自放置有一個(gè)砝碼，砝碼所在的環(huán)狀臺(tái)階的高度均大于該砝碼的高度，砝碼所在的環(huán)狀臺(tái)階的內(nèi)圓周的直徑均大于該砝碼的直徑。進(jìn)一步的，圓錐臺(tái)形外殼的底面的下側(cè)同軸設(shè)置有一個(gè)連接座。本實(shí)用新型的工作原理是砝碼由小到大，按從下到上的順序放置在圓錐臺(tái)形外殼內(nèi)，每個(gè)砝碼只能對(duì)應(yīng)放置在一個(gè)環(huán)狀臺(tái)階上，環(huán)狀臺(tái)階的高度大于砝碼的高度，因此上下相鄰的任意兩個(gè)砝碼之間不會(huì)接觸。本實(shí)用新型和已有技術(shù)相比較，其效果是積極和明顯的。本實(shí)用新型利用圓錐臺(tái)形外殼構(gòu)成砝碼托架，在圓錐臺(tái)形外殼的內(nèi)側(cè)連續(xù)設(shè)置兩個(gè)以上數(shù)目的環(huán)狀臺(tái)階，每個(gè)砝碼只能對(duì)應(yīng)放置在一個(gè)環(huán)狀臺(tái)階上，不會(huì)放錯(cuò)，同時(shí)，環(huán)狀臺(tái)階的高度大于砝碼的高度，上下相鄰的任意兩個(gè)砝碼之間不接觸，因此不會(huì)發(fā)生碰撞。
圖1是本實(shí)用新型的用于顯微維氏硬度計(jì)的砝碼托架的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例1[0013]如圖1所示，本實(shí)用新型的用于顯微維氏硬度計(jì)的砝碼托架，由一個(gè)圓錐臺(tái)形外殼1構(gòu)成，其中，所述的圓錐臺(tái)形外殼1的頂面的直徑大于其底面的直徑，圓錐臺(tái)形外殼1 的內(nèi)壁中連續(xù)設(shè)置有兩個(gè)以上數(shù)目的環(huán)狀臺(tái)階2，任意一個(gè)所述的環(huán)狀臺(tái)階2的內(nèi)圓周均與圓錐臺(tái)形外殼1共軸，從圓錐臺(tái)形外殼1的下端向上、環(huán)狀臺(tái)階2的內(nèi)圓周的直徑逐個(gè)遞增，任意一個(gè)環(huán)狀臺(tái)階2的下臺(tái)階面3均與圓錐臺(tái)形外殼1的軸向垂直，任意一個(gè)環(huán)狀臺(tái)階 2的上臺(tái)階面4均是其上側(cè)相鄰的環(huán)狀臺(tái)階2的下臺(tái)階面。進(jìn)一步的，任意一個(gè)所述的環(huán)狀臺(tái)階2的下臺(tái)階面3上，均各自放置有一個(gè)砝碼5， 砝碼5所在的環(huán)狀臺(tái)階2的高度均大于該砝碼5的高度，砝碼5所在的環(huán)狀臺(tái)階2的內(nèi)圓周的直徑均大于該砝碼5的直徑。進(jìn)一步的，圓錐臺(tái)形外殼1的底面的下側(cè)同軸設(shè)置有一個(gè)連接座6。本實(shí)施例的工作過(guò)程是砝碼5由小到大，按從下到上的順序放置在圓錐臺(tái)形外殼1內(nèi)，每個(gè)砝碼5只能對(duì)應(yīng)放置在一個(gè)環(huán)狀臺(tái)階2上，環(huán)狀臺(tái)階2的高度大于砝碼5的高度，因此上下相鄰的任意兩個(gè)砝碼5之間不會(huì)接觸。
權(quán)利要求1.一種用于顯微維氏硬度計(jì)的砝碼托架，由一個(gè)圓錐臺(tái)形外殼構(gòu)成，其特征在于所述的圓錐臺(tái)形外殼的頂面的直徑大于其底面的直徑，圓錐臺(tái)形外殼的內(nèi)壁中連續(xù)設(shè)置有兩個(gè)以上數(shù)目的環(huán)狀臺(tái)階，任意一個(gè)所述的環(huán)狀臺(tái)階的內(nèi)圓周均與圓錐臺(tái)形外殼共軸，從圓錐臺(tái)形外殼的下端向上、環(huán)狀臺(tái)階的內(nèi)圓周的直徑逐個(gè)遞增，任意一個(gè)環(huán)狀臺(tái)階的下臺(tái)階面均與圓錐臺(tái)形外殼的軸向垂直，任意一個(gè)環(huán)狀臺(tái)階的上臺(tái)階面均是其上側(cè)相鄰的環(huán)狀臺(tái)階的下臺(tái)階面。
2.如權(quán)利要求1所述的用于顯微維氏硬度計(jì)的砝碼托架，其特征在于任意一個(gè)所述的環(huán)狀臺(tái)階的下臺(tái)階面上，均各自放置有一個(gè)砝碼，砝碼所在的環(huán)狀臺(tái)階的高度均大于該砝碼的高度，砝碼所在的環(huán)狀臺(tái)階的內(nèi)圓周的直徑均大于該砝碼的直徑。
3.如權(quán)利要求1所述的用于顯微維氏硬度計(jì)的砝碼托架，其特征在于圓錐臺(tái)形外殼的底面的下側(cè)同軸設(shè)置有一個(gè)連接座。
專利摘要一種用于顯微維氏硬度計(jì)的砝碼托架，由圓錐臺(tái)形外殼構(gòu)成，圓錐臺(tái)形外殼的頂面的直徑大于其底面的直徑，圓錐臺(tái)形外殼的內(nèi)壁中沿軸向連續(xù)設(shè)置有兩個(gè)以上數(shù)目的環(huán)狀臺(tái)階，任意一個(gè)環(huán)狀臺(tái)階的內(nèi)圓周均與圓錐臺(tái)形外殼共軸，從圓錐臺(tái)形外殼的下端向上、環(huán)狀臺(tái)階的內(nèi)圓周的直徑逐個(gè)遞增，環(huán)狀臺(tái)階的下臺(tái)階面均與圓錐臺(tái)形外殼軸向垂直，任意一個(gè)環(huán)狀臺(tái)階的上臺(tái)階面均是其上側(cè)相鄰的環(huán)狀臺(tái)階的下臺(tái)階面。環(huán)狀臺(tái)階的下臺(tái)階面上各自放置有一個(gè)砝碼，砝碼所在的環(huán)狀臺(tái)階的高度大于該砝碼的高度。砝碼由小到大，按從下到上的順序?qū)?yīng)放置在環(huán)狀臺(tái)階上，不會(huì)放錯(cuò)，環(huán)狀臺(tái)階的高度大于砝碼的高度，因此上下相鄰的任意兩個(gè)砝碼之間不會(huì)接觸碰撞。
文檔編號(hào)G01N3/02GK202141637SQ20112024420
公開(kāi)日2012年2月8日 申請(qǐng)日期2011年7月12日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月12日
發(fā)明者錢(qián)保根 申請(qǐng)人:上海尚材試驗(yàn)機(jī)有限公司