專利名稱：顯影磁輥表磁測量裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種磁特性測量裝置，特別涉及用于復印機、激光打印機的顯影磁輥表磁測量裝置。
背景技術：
復印機、激光打印機的顯影磁輥，一般是通過顯影磁輥內(nèi)的磁體將墨粉吸附在顯影套筒表面，又通過磁輥上的四個磁極中的主磁極(軸向磁極中心與感光鼓中心相交)在顯影偏壓的作用下使墨粉吸附在感光鼓上達到顯影目的。因此，精確的測量顯影磁輥的磁極表磁和磁極軸向均勻性，是保證顯影磁輥正常工作的重要技術。目前多采用為手持式的測量方法，存在著測量不準，效率不高，測量數(shù)據(jù)重復性差且無法測量顯影磁輥軸向磁場均勻性等問題。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型要解決的問題是提供一種顯影磁輥表磁測量裝置，借助該裝置，不僅使顯影磁輥表磁的測量操作簡單，測量數(shù)據(jù)準確，而且還可以很方便地測量顯影磁輥軸向磁場均勻性。本實用新型采取的技術方案是一種顯影磁輥表磁測量裝置，包括底板、兩根導軌軸、帶兩個通孔的滑座、底座、調(diào)整座、帶有探頭孔的調(diào)整塊、調(diào)節(jié)螺絲、一對導軌軸支撐架、 一對V型工件支架，所述的一對導軌軸支撐架和一對V型工件支架分別對稱設置在所述底板的兩端；兩根導軌軸分別穿過滑座上的通孔設置在導軌軸支撐架上；所述底座的一端通過連接軸與滑座絞連；所述調(diào)整座是一個有一定厚度且上壁開有通孔的金屬框架，垂直設置在底座上；所述調(diào)整塊是一非金屬長方體，垂直設置在調(diào)整座的框架內(nèi)，所述調(diào)節(jié)螺絲穿過調(diào)整座上壁的通孔與調(diào)整塊螺紋連接；在調(diào)整塊上的探頭孔的一側(cè)設置探頭固定螺絲。本實用新型的使用，改變了傳統(tǒng)的一手持探頭，一手持磁輥的測量方式，不僅測量數(shù)據(jù)重復性強，測量結果準確，而且使顯影磁輥磁場軸向均勻性的測量變得簡單。

圖1是本實用新型正面結構示意圖。圖2是本實用新型的右視圖。圖3是本實用新型底板俯視圖。
具體實施方式
參考圖1和圖2，顯影磁輥表磁測量裝置，包括底板1、兩根導軌軸2、帶兩個通孔的滑座3、底座4、調(diào)整座5、帶有探頭孔9的調(diào)整塊6、一對導軌軸支撐架11、一對V型工件支架12，在底板1的兩端，對稱打有8個長孔，導軌軸支撐架11和V型工件支架12通過調(diào)節(jié)墊板16固定在長孔中；在滑座3中間設置兩個通孔，兩根導軌軸2分別穿過通孔固定導軌軸支撐架11上；底座4的一端通過連接軸13與滑座3絞連，另一端不連接；調(diào)整座5是一個有一定厚度的金屬框架，垂直設置在滑座3上；調(diào)整塊6是一尼龍長方體，垂直設置在調(diào)整座5的框架內(nèi)；在調(diào)整座4的上壁打了一個通孔，上下調(diào)節(jié)螺絲7的螺母設置在調(diào)整座的上端，螺絲端穿過通孔與調(diào)整塊5螺紋連接，為方便調(diào)整探頭10的前后位置，在調(diào)整塊6 上探頭孔9的一側(cè)設置探頭固定螺絲8。參考圖3，在的底板1兩端對稱設置多個長孔1-1，根據(jù)不同型號顯影磁輥的需要， 將導軌軸支撐架和V型工件支架均通過調(diào)節(jié)墊板16固定在適當?shù)拈L孔中1-1中。參考圖1、圖2，測量時，擰松探頭固定螺絲8，將測試探頭10放進探頭孔9中，向上搬動調(diào)整座5，將工件15平放在V型工件支架12，放下調(diào)整座5，根據(jù)工件直徑大小，將探頭前后移動，同時調(diào)整上下調(diào)節(jié)螺絲7，探頭10剛與工件15的表面接觸為測量的最佳位置，擰緊上下調(diào)節(jié)螺絲7和探頭固定螺絲8開始測量，左右移動滑座3，分別測試工件不同位置的表磁。
權利要求1.一種顯影磁輥表磁測量裝置，其特征在于包括底板(1)、兩根導軌軸(2)、帶兩個通孔的滑座(3)、底座(4)、調(diào)整座(5)、帶有探頭孔(9)的調(diào)整塊(6)、調(diào)節(jié)螺絲(7)、一對導軌軸支撐架(11 )、一對V型工件支架(12)，所述的一對導軌軸支撐架(11)和一對V型工件支架(12)分別對稱設置在所述底板(1)的兩端；兩根導軌軸(2)分別穿過滑座(3)上的通孔設置在導軌軸支撐架(11)上；所述底座(4)的一端通過連接軸(13)與滑座(3)絞連；所述調(diào)整座(5)是一個有一定厚度且上壁開有通孔的金屬框架，垂直設置在底座(4)上；所述調(diào)整塊(6)是一非金屬長方體，垂直設置在調(diào)整座(5)的框架內(nèi)，所述調(diào)節(jié)螺絲(7)穿過調(diào)整座(5)上壁的通孔與調(diào)整塊(6)螺紋連接；在調(diào)整塊(6)上的探頭孔(9)的一側(cè)設置探頭固定螺絲(8)。
2.如權利要求1所述的顯影磁輥表磁測量裝置，其特征在于在所述的底板(1)兩端對稱設置多個長孔(1-1)，所述的導軌軸支撐架(11)和V型工件支架(1 均通過調(diào)節(jié)墊板 (15)固定在長孔(1-1)中。
專利摘要本實用新型涉及一種顯影磁輥表磁測量裝置，一對導軌軸支撐架和一對V型工件支架分別對稱設置在底板的兩端；兩根導軌軸分別穿過滑座上的通孔設置在導軌軸支撐架上；底座的一端通過連接軸與滑座絞連；調(diào)整座是一個有一定厚度且上壁開有通孔的金屬框架，垂直設置在底座上；調(diào)整塊是一非金屬長方體，垂直設置在調(diào)整座的框架內(nèi)，調(diào)節(jié)螺絲穿過調(diào)整座上壁的通孔與調(diào)整塊螺紋連接；在調(diào)整塊上的探頭孔的一側(cè)設置探頭固定螺絲。本實用新型改變了傳統(tǒng)的一手持探頭，一手持磁輥的測量方式，不僅測量數(shù)據(jù)重復性強，測量結果準確，而且使顯影磁輥磁場軸向均勻性的測量變得簡單。
文檔編號G01R33/12GK202189137SQ20112024265
公開日2012年4月11日 申請日期2011年7月12日 優(yōu)先權日2011年7月12日
發(fā)明者何兢偉, 姜真, 張明熠, 陳維, 韓立勝 申請人:天津市中環(huán)天佳電子有限公司