專利名稱：均勻域測(cè)試裝置及測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電磁場(chǎng)測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種電磁場(chǎng)輻射抗擾度均勻域測(cè)試裝置及測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
在進(jìn)行電磁兼容測(cè)試的射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)之前需要對(duì)測(cè)試場(chǎng)地進(jìn)行驗(yàn)證，進(jìn)行均勻域的量測(cè)以確保測(cè)試場(chǎng)地中電磁場(chǎng)強(qiáng)分布充分均勻。一般來(lái)說(shuō)，測(cè)試所使用的均勻域尺寸為1.5mX 1.5m，其中包含十六個(gè)用于均勻域場(chǎng)強(qiáng)量測(cè)的測(cè)試點(diǎn)。在進(jìn)行均勻域的量測(cè)時(shí)，將場(chǎng)強(qiáng)探頭放置在其中一個(gè)測(cè)試點(diǎn)上，使用信號(hào)發(fā)生器、功率放大器及發(fā)射天線在每個(gè)預(yù)定的發(fā)射頻率段中分別以不同的天線極性(例如水平與垂直極性)發(fā)射不同頻率的測(cè)試信號(hào)。場(chǎng)強(qiáng)探頭在所選的測(cè)試點(diǎn)分別接收具有不同極性及頻率點(diǎn)測(cè)試信號(hào)，從而感測(cè)到對(duì)應(yīng)各個(gè)測(cè)試信號(hào)的場(chǎng)強(qiáng)讀值。在該測(cè)試點(diǎn)獲得對(duì)應(yīng)每個(gè)預(yù)訂極性及頻率點(diǎn)測(cè)試信號(hào)的場(chǎng)強(qiáng)讀值后，將該場(chǎng)強(qiáng)探頭移至其他測(cè)試點(diǎn)，一一重復(fù)上述測(cè)試操作，最后匯整所有測(cè)試點(diǎn)對(duì)應(yīng)具有不同極性及頻率點(diǎn)測(cè)試信號(hào)的場(chǎng)強(qiáng)讀值，以考察該均勻域中場(chǎng)強(qiáng)的均勻度。
在上述測(cè)試過(guò)程中，當(dāng)場(chǎng)強(qiáng)探頭位于每個(gè)測(cè)試點(diǎn)時(shí)，都要分別調(diào)節(jié)天線極性及測(cè)試信號(hào)的發(fā)射頻率，以在該測(cè)試點(diǎn)分別獲取對(duì)應(yīng)具有不同極性及頻率點(diǎn)測(cè)試信號(hào)的場(chǎng)強(qiáng)讀值，而且該操作需要重復(fù)多次。因此，上述現(xiàn)有測(cè)試方法顯然耗費(fèi)時(shí)間較長(zhǎng)，操作繁瑣，且多次移動(dòng)場(chǎng)強(qiáng)探頭容易導(dǎo)致定位精度不夠而使測(cè)量的結(jié)果不準(zhǔn)確。發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種操作簡(jiǎn)單的均勻域測(cè)試裝置。
另外，有必要提供一種操作簡(jiǎn)單的均勻域測(cè)試方法。
一種均勻域測(cè)試裝置，適用于電磁場(chǎng)輻射抗擾度均勻域測(cè)試。該均勻域測(cè)試裝置包括測(cè)試架與安裝于測(cè)試架的若干場(chǎng)強(qiáng)探頭。該若干場(chǎng)強(qiáng)探頭位于同一平面內(nèi)并呈陣列排布，位于同一行或同一列的相鄰的場(chǎng)強(qiáng)探頭的間距不小于電磁場(chǎng)福射抗擾度均勻域測(cè)試中相鄰測(cè)試點(diǎn)的最小間距。
一種上述均勻域測(cè)試裝置進(jìn)行均勻域測(cè)試的方法，包括如下步驟:a.將所述均勻域測(cè)試裝置放入第一頻段均勻域驗(yàn)證平面區(qū)域中，使若干場(chǎng)強(qiáng)探頭分別對(duì)應(yīng)該頻段均勻域驗(yàn)證平面區(qū)域中的測(cè)試點(diǎn)；b.進(jìn)行第一頻段的均勻域的量測(cè)；c.更換發(fā)射天線以使其適應(yīng)第二頻段的均勻域的量測(cè)；d.進(jìn)行第二頻段的均勻域的量測(cè)；e.判定測(cè)試結(jié)果。
使用所述均勻域測(cè)試裝置進(jìn)行電磁場(chǎng)輻射抗擾度均勻域測(cè)試，可拆卸地安裝多個(gè)場(chǎng)強(qiáng)探頭于該均勻域測(cè)試裝置上，該多個(gè)場(chǎng)強(qiáng)探頭位于同一平面內(nèi)并呈陣列排布。該等場(chǎng)強(qiáng)探頭分別對(duì)應(yīng)電磁場(chǎng)輻射抗擾度均勻域測(cè)試的多個(gè)測(cè)試點(diǎn)。從而在測(cè)試時(shí)無(wú)須多次調(diào)節(jié)場(chǎng)強(qiáng)探頭的位置，也無(wú)須多次調(diào)節(jié)發(fā)射頻率及更換發(fā)射天線的極性，相比大大縮短了量測(cè)的時(shí)間并簡(jiǎn)化了操作過(guò)程。


圖1為本發(fā)明較佳實(shí)施例的均勻域測(cè)試裝置的示意圖。
圖2為圖1所示均勻域測(cè)試裝置的進(jìn)行均勻域測(cè)試的示意圖。
圖3為本發(fā)明較佳實(shí)施例的均勻域測(cè)試裝置進(jìn)行電磁場(chǎng)輻射抗擾度均勻域測(cè)試的方法流程圖。
圖4為本發(fā)明較佳實(shí)施例均勻域測(cè)試的方法中各頻段測(cè)試的方法流程圖。
主要元件符號(hào)說(shuō)明
權(quán)利要求
1.一種均勻域測(cè)試裝置，適用于電磁場(chǎng)輻射抗擾度均勻域測(cè)試，其特征在于:該均勻域測(cè)試裝置包括測(cè)試架與安裝于測(cè)試架的若干場(chǎng)強(qiáng)探頭，該若干場(chǎng)強(qiáng)探頭位于同一平面內(nèi)并呈陣列排布，位于同一行或同一列的相鄰的場(chǎng)強(qiáng)探頭的間距不小于電磁場(chǎng)輻射抗擾度均勻域測(cè)試中相鄰測(cè)試點(diǎn)的最小間距。
2.如權(quán)利要求1所述的均勻域測(cè)試裝置，其特征在于:所述場(chǎng)強(qiáng)探頭陣列的區(qū)域與電磁場(chǎng)輻射抗擾度均勻域測(cè)試所需的最大區(qū)域相一致。
3.如權(quán)利要求2所述的均勻域測(cè)試裝置，其特征在于:所述場(chǎng)強(qiáng)探頭可拆卸地裝設(shè)在測(cè)試架上。
4.如權(quán)利要求1所述的均勻域測(cè)試裝置，其特征在于:所述測(cè)試架包括底座、垂直立于底座之上且相互平行的兩個(gè)立柱及以預(yù)定高度間隔設(shè)置于立柱上且相互平行的若干水平橫桿，同一立柱上相鄰的橫桿的間距不小于電磁場(chǎng)輻射抗擾度均勻域測(cè)試中相鄰測(cè)試點(diǎn)的最小間距，兩立柱上同一高度的橫桿相對(duì)的端部的間距不小于電磁場(chǎng)輻射抗擾度均勻域測(cè)試中相鄰測(cè)試點(diǎn)的最小間距。
5.如權(quán)利要求4所述的均勻域測(cè)試裝置，其特征在于:所述若干橫桿位于同一豎直平面內(nèi)，所述若干場(chǎng)強(qiáng)探頭分別安裝于該若干橫桿的兩端，以使該等場(chǎng)強(qiáng)探頭形成適應(yīng)均勻域測(cè)試的平面區(qū)域。
6.一種使用權(quán)利要求1至5所述的任一均勻域測(cè)試裝置進(jìn)行均勻域測(cè)試的方法，其特征在于包括如下步驟: a.將所述均勻域測(cè)試裝置放入均勻域驗(yàn)證平面區(qū)域中，使若干場(chǎng)強(qiáng)探頭分別對(duì)應(yīng)該頻段均勻域驗(yàn)證平面區(qū)域中的測(cè)試點(diǎn)； b.進(jìn)行第一頻段的均勻域的量測(cè)； c.更換發(fā)射天線以使其適應(yīng)第二頻段的均勻域的量測(cè)； d.進(jìn)行第二頻段的均勻域的量測(cè)； e.判定測(cè)試結(jié)果。
7.如權(quán)利要求6所述的均勻域測(cè)試的方法，其特征在于:所述第一頻段為低頻段時(shí)，第二頻段為高頻段，當(dāng)?shù)谝活l段為高頻段時(shí)，第二頻段為低頻段，該低頻段均勻域的量測(cè)中，使用低頻發(fā)射天線，該高頻段均勻域的量測(cè)中，使用高頻發(fā)射天線。
8.如權(quán)利要求6所述的均勻域測(cè)試的方法，其特征在于所述第一頻段及第二頻段的均勻域的量測(cè)還包括如下步驟: f.發(fā)射預(yù)定極性的信號(hào)到該頻段均勻域驗(yàn)證平面區(qū)域中； g.調(diào)節(jié)發(fā)射功率，使某一場(chǎng)強(qiáng)探頭讀到一個(gè)預(yù)定場(chǎng)強(qiáng)，記錄此時(shí)發(fā)射功率及其余場(chǎng)強(qiáng)探頭的讀值； h.以特定步長(zhǎng)增加發(fā)射頻率，直到該頻段的頻率上限，記錄各個(gè)頻率點(diǎn)的發(fā)射功率及各場(chǎng)強(qiáng)探頭的讀值； 1.更換發(fā)射信號(hào)的極性，重復(fù)步驟g，h。
9.如權(quán)利要求8所述的均勻域測(cè)試的方法，其特征在于:所述低頻段的頻率范圍為80MHz 1000MHz，高頻段的頻率范圍為IGHz 3GHz。
全文摘要
一種均勻域測(cè)試裝置，適用于電磁場(chǎng)輻射抗擾度均勻域測(cè)試。該均勻域測(cè)試裝置包括測(cè)試架與安裝于測(cè)試架的若干場(chǎng)強(qiáng)探頭。該若干場(chǎng)強(qiáng)探頭位于同一平面內(nèi)并呈陣列排布，位于同一行或同一列的相鄰的場(chǎng)強(qiáng)探頭的間距不小于電磁場(chǎng)輻射抗擾度均勻域測(cè)試中相鄰測(cè)試點(diǎn)的最小間距。同時(shí)提供一種使用該均勻域測(cè)試裝置進(jìn)行電磁場(chǎng)輻射抗擾度均勻域測(cè)試的方法。
文檔編號(hào)G01R1/067GK103185841SQ20111044366
公開(kāi)日2013年7月3日 申請(qǐng)日期2011年12月27日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月27日
發(fā)明者何小練 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司