專利名稱：多路掃描測(cè)試控制裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種多路掃描測(cè)試控制裝置，用于壓敏、PTC、NTC、瓷介電容等芯片的電性能測(cè)試分技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有測(cè)試元件是接一組探針，且對(duì)每個(gè)元件測(cè)試，但是每次只測(cè)一個(gè)元件。每測(cè)試完成一次元件后，測(cè)試探針需要運(yùn)動(dòng)一次，接著在對(duì)下一個(gè)元件進(jìn)行測(cè)試，導(dǎo)致測(cè)試元件速度比較慢。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，提供一種多路掃描測(cè)試控制裝置。本發(fā)明的目的通過(guò)以下技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn)
多路掃描測(cè)試控制裝置，包括電阻測(cè)試儀裝置、RS232通訊裝置以及多路測(cè)試探針裝置，所述RS232通訊裝置的輸出端與電阻測(cè)試儀裝置的輸入端相連，其特征在于所述多路測(cè)試探針裝置的各測(cè)試探針中的一端相互連接，所述各測(cè)試探針相互連接的一端與電阻測(cè)試儀裝置的輸出端相連，所述各測(cè)試探針的另一輸入端與多路繼電器輸出裝置的輸出端相連，所述多路測(cè)試探針裝置的輸出端與測(cè)試元件相連，所述電阻測(cè)試儀裝置的輸出端與多路繼電器輸出裝置的輸入端相連，所述多路繼電器輸出裝置的輸入端與多路數(shù)字量I/O裝置的輸出端相連。進(jìn)一步地，上述的多路掃描測(cè)試控制裝置，其中，多路數(shù)字量I/O裝置和RS232通訊裝置的輸入端與電源相連。本發(fā)明技術(shù)方案的實(shí)質(zhì)性特點(diǎn)和進(jìn)步主要體現(xiàn)在
本發(fā)明通過(guò)在電阻測(cè)試儀裝置和多路測(cè)試探針裝置之間連接有多路繼電器輸出裝置， 使其測(cè)試元件的速度得到較快的提高，且保證了測(cè)試元件的精確性。
圖1 本發(fā)明的連接示意圖。
具體實(shí)施例方式如圖1所示，多路掃描測(cè)試控制裝置，包括電阻測(cè)試儀裝置3、RS232通訊裝置2， 以及多路測(cè)試探針裝置5，RS232通訊裝置2的輸出端與電阻測(cè)試儀裝置3的輸入端相連， 多路測(cè)試探針裝置5的各測(cè)試探針中的一端相互連接，各測(cè)試探針相互連接的一端與電阻測(cè)試儀裝置3的輸出端相連，各測(cè)試探針的另一輸入端與多路繼電器輸出裝置4的輸出端相連，多路測(cè)試探針裝置5的輸出端與測(cè)試元件6相連，電阻測(cè)試儀裝置3的輸出端與多路繼電器輸出裝置4的輸入端相連，多路繼電器輸出裝置4的輸入端與多路數(shù)字量I/O裝置 1的輸出端相連。
其中多路數(shù)字量I/O裝置1和RS232通訊裝置2的輸入端與電源相連。其中裝置上安裝有另一相同的多路掃描測(cè)試控制裝置，此裝置能保證在測(cè)試完第一次后，利用相同的裝置再次對(duì)測(cè)試元件6進(jìn)行測(cè)試，保證測(cè)試得出的數(shù)據(jù)更加精確。具體應(yīng)用時(shí)，裝置啟動(dòng)后，首先RS232通訊裝置2通過(guò)電阻測(cè)試儀裝置3使得多路測(cè)試探針裝置5下降與測(cè)試元件6相接觸，相接觸后多路測(cè)試探針裝置5停止，此時(shí)多路數(shù)字量I/O裝置1啟動(dòng)，多路數(shù)字量I/O裝置1控制多路繼電器輸出裝置4開(kāi)啟，致使多路測(cè)試探針裝置5的一測(cè)試探針與測(cè)試元件6中的一元件相通，再通過(guò)多路繼電器輸出裝置4 和電阻測(cè)試儀裝置3將元件的大小測(cè)試出來(lái)，接著通過(guò)程序關(guān)斷多路繼電器輸出裝置4開(kāi)通的通路，然后再通過(guò)程序再開(kāi)啟另一多路繼電器輸出裝置4與其對(duì)應(yīng)的元件通路并測(cè)得元件數(shù)值的大小，直至元件測(cè)試完成。其中測(cè)得元件的大小保存至電阻測(cè)試裝置3中，再與其相同裝置再一次測(cè)試后通過(guò)軟件對(duì)比，保證測(cè)得的元件數(shù)值更加精確。綜上所述，通過(guò)安裝在電阻測(cè)試儀裝置和多路測(cè)試探針裝置之間的多路繼電器輸出裝置，控制多路繼電器輸出裝置中與多路測(cè)試探針裝置相通和關(guān)閉，提高了測(cè)試元件的速度，并且提高了生產(chǎn)效率。需要強(qiáng)調(diào)的是以上僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非對(duì)本發(fā)明作任何形式上的限制，凡是依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡(jiǎn)單修改、等同變化與修飾， 均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.多路掃描測(cè)試控制裝置，包括電阻測(cè)試儀裝置、RS232通訊裝置以及多路測(cè)試探針裝置，所述RS232通訊裝置的輸出端與電阻測(cè)試儀裝置的輸入端相連，其特征在于所述多路測(cè)試探針裝置的各測(cè)試探針中的一端相互連接，所述各測(cè)試探針相互連接的一端與電阻測(cè)試儀裝置的輸出端相連，所述各測(cè)試探針的另一輸入端與多路繼電器輸出裝置的輸出端相連，所述多路測(cè)試探針裝置的輸出端與測(cè)試元件相連，所述電阻測(cè)試儀裝置的輸出端與多路繼電器輸出裝置的輸入端相連，所述多路繼電器輸出裝置的輸入端與多路數(shù)字量I/O 裝置的輸出端相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多路掃描測(cè)試控制裝置，其特征在于所述多路數(shù)字量I/O 裝置和RS232通訊裝置的輸入端與電源相連。
全文摘要
本發(fā)明涉及多路掃描測(cè)試控制裝置，包括電阻測(cè)試儀裝置、RS232通訊裝置以及多路測(cè)試探針裝置，RS232通訊裝置的輸出端與電阻測(cè)試儀裝置的輸入端相連，多路測(cè)試探針裝置的各測(cè)試探針中的一端相互連接，各測(cè)試探針相互連接的一端與電阻測(cè)試儀裝置的輸出端相連，各測(cè)試探針的另一輸入端與多路繼電器輸出裝置的輸出端相連，多路測(cè)試探針裝置的輸出端與測(cè)試元件相連，電阻測(cè)試儀裝置的輸出端與多路繼電器輸出裝置的輸入端相連，多路繼電器輸出裝置的輸入端與多路數(shù)字量I/O裝置的輸出端相連。通過(guò)在電阻測(cè)試儀裝置和多路測(cè)試探針裝置之間連接多路繼電器輸出裝置，控制多路繼電器輸出裝置中與多路測(cè)試探針裝置相通和關(guān)閉，提高測(cè)試元件的速度。
文檔編號(hào)G01R1/073GK102435880SQ20111028319
公開(kāi)日2012年5月2日 申請(qǐng)日期2011年9月22日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月22日
發(fā)明者曾航 申請(qǐng)人:蘇州慧捷自動(dòng)化科技有限公司