專利名稱：電容式觸摸屏測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種觸摸屏測(cè)試裝置，特別是涉及一種電容式觸摸屏測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
電容式觸摸屏(CTP)是近幾年才開(kāi)發(fā)出來(lái)的創(chuàng)新技術(shù)，隨著某些頂級(jí)品牌的熱賣(mài)而受到吹捧。因?yàn)橐酝挠|摸屏太多采用的是傳統(tǒng)電阻式觸摸屏技術(shù)，以硬物如筆尖等按觸，通過(guò)改變觸摸屏導(dǎo)電特性來(lái)確定觸摸方位，只能支持單點(diǎn)識(shí)別而且隨著筆尖等硬物的多次用力觸摸，耐久性較差的電阻式觸摸屏常常會(huì)磨損甚至失靈。而頂級(jí)手機(jī)品牌已率先采用了支持多點(diǎn)觸摸技術(shù)的電容式觸摸屏。這種屏不僅解決了傳統(tǒng)電阻式屏容易破碎缺乏對(duì)灰塵，濕氣和靜電有效防護(hù)的弱點(diǎn)。用戶通過(guò)手指就可以獲得非常好的手機(jī)使用體驗(yàn)。比如放大縮小圖片，更加輕松地進(jìn)行界面的拖曳等等。 然而，目前的測(cè)試夾具多用于電阻式觸摸屏，還沒(méi)有能方便、精確地針對(duì)電容式觸摸屏進(jìn)行諸如打點(diǎn)精度、劃線精度等項(xiàng)目測(cè)試的裝置。為此，需要開(kāi)發(fā)出一種能滿足電容式觸摸屏的各項(xiàng)技術(shù)要求的電容式觸摸屏測(cè)試裝置。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是為了克服現(xiàn)有技術(shù)的觸摸屏測(cè)試工裝僅能滿足電阻式觸摸屏的測(cè)試，而無(wú)法滿足電容式觸摸屏的測(cè)試技術(shù)要求所需的缺陷，提供一種電容式觸摸屏測(cè)試裝置。本發(fā)明是通過(guò)下述技術(shù)方案來(lái)解決上述技術(shù)問(wèn)題的一種電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其包括一第一基板，一第二基板及多根設(shè)于所述第一基板與所述第二基板之間用于形成一操作空間的支柱，其特點(diǎn)在于，所述電容式觸摸屏測(cè)試裝置還包括一第一滑板，所述第一滑板活動(dòng)設(shè)于所述第二基板的上方，用于放置所述電容式觸摸屏，并能使所述電容式觸摸屏相對(duì)所述第二基板沿縱向線性移動(dòng)；至少一第一測(cè)試組件，所述至少一第一測(cè)試組件穿設(shè)所述第一基板位于所述操作空間內(nèi)，用于對(duì)所述電容式觸摸屏進(jìn)行定點(diǎn)固定高度的觸摸測(cè)試。較佳地，所述第一測(cè)試組件包括若干第一測(cè)試棒，所述若干第一測(cè)試棒分別穿過(guò)所述第一基板并懸設(shè)于所述第一滑板的上方；若干通孔，所述若干通孔位于所述第一基板的對(duì)應(yīng)所述第一滑板的區(qū)域內(nèi)，通過(guò)所述若干通孔，所述若干第一測(cè)試棒分別與所述第一基板穿設(shè)。較佳地，各所述第一測(cè)試棒的上部均形成有一第一圓臺(tái)，所述第一圓臺(tái)的直徑大于所述通孔的直徑。較佳地，至少一所述第一測(cè)試棒的下部還形成有一第二圓臺(tái)，所述第二圓臺(tái)的直徑小于所述第一圓臺(tái)的直徑。較佳地，所述第一測(cè)試棒為一銅棒。
較佳地，所述電容式觸摸屏測(cè)試裝置還包括一第二測(cè)試組件，所述第二測(cè)試組件與所述第一基板活動(dòng)穿套，用于對(duì)所述電容式觸摸屏進(jìn)行定點(diǎn)調(diào)節(jié)高度的觸摸測(cè)試。較佳地，所述第二測(cè)試組件包括一活動(dòng)置于所述第一基板上的壓板；若干用于將所述壓板架設(shè)于所述第一基板上方的導(dǎo)柱；若干分別穿套在各所述導(dǎo)柱上的弾力件；及一第二測(cè)試棒，所述第二測(cè)試棒依次與所述壓板、所述第一基板活動(dòng)穿套，所述第ニ測(cè)試棒的底部懸置于所述第一滑板的上方。較佳地，所述第二測(cè)試棒的頂部設(shè)有ー螺桿部，所述第二測(cè)試棒通過(guò)ー螺母與所述壓板固定。較佳地，所述第二測(cè)試組件還包括一與所述第一基板相嵌設(shè)的套筒，所述第二測(cè)試棒通過(guò)所述套筒與所述第一基板活動(dòng)穿套。較佳地，所述第二測(cè)試棒的底部位于所述第一滑板的中央?yún)^(qū)域的上方。
較佳地，所述第二測(cè)試棒為ー銅棒。較佳地，所述彈カ件為ー壓縮彈簧。較佳地，所述第二測(cè)試組件還包括ー用于放置所述電容式觸摸屏的第二滑板，所述第二滑板與所述第一滑板活動(dòng)連接，井能在所述第一滑板上作任意角度的旋轉(zhuǎn)。較佳地，所述第二測(cè)試組件還包括ー軸承件，所述軸承件嵌設(shè)于所述第一滑板內(nèi)；—短軸，所述短軸的一端與所述壓板固接，所述短軸的另一端置于所述軸承件的軸承孔內(nèi)。較佳地，所述軸承件為ー圓柱體軸承。較佳地，所述第二滑板為ー黑色防靜電電木板。較佳地，所述壓板與所述第一滑板均為ー黑色防靜電電木板。較佳地，所述電容式觸摸屏測(cè)試裝置還包括兩滑軌，所述兩滑軌分別沿縱向固設(shè)于所述第二基板的上方；兩滑塊，所述兩滑塊分別固接在所述第一滑板的底部，所述滑塊與所述滑軌相適配，用于使所述第一滑板能沿所述第二基板線性滑移。較佳地，所述第一基板與所述第二基板均為ー黑色防靜電電木板。本發(fā)明中，上述附加技術(shù)特征或優(yōu)選條件在符合本領(lǐng)域常識(shí)的基礎(chǔ)上可任意組合，即得本發(fā)明各較佳實(shí)施例。本發(fā)明的積極進(jìn)步效果在于I、本發(fā)明通過(guò)第一測(cè)試組件，當(dāng)電容式觸摸屏放置在第一滑板上時(shí)，可以通過(guò)第ー測(cè)試棒模擬人手指按壓各測(cè)試點(diǎn)，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，能滿足電容式觸摸屏定點(diǎn)固定高度的打點(diǎn)精度測(cè)試系列的測(cè)試要求，使電容式觸摸屏的質(zhì)量得到了保證。2、本發(fā)明通過(guò)第二測(cè)試組件，使得在進(jìn)行劃線精度測(cè)試時(shí)，可將第二測(cè)試棒向上提起，并距離電容式觸摸屏一定高度，實(shí)現(xiàn)電容式觸摸屏定點(diǎn)可調(diào)高度下的打點(diǎn)精度測(cè)試。而在進(jìn)行劃線精度的測(cè)試時(shí)，采用可調(diào)高度的第二測(cè)試棒，可以使得測(cè)試移動(dòng)更加平滑，提高了劃線測(cè)試時(shí)的精度。
3、本發(fā)明通過(guò)在第二測(cè)試組件中增設(shè)可以轉(zhuǎn)動(dòng)的第二滑板，使得本裝置可進(jìn)行包括任意角度位置下全面模擬測(cè)試，提高了測(cè)試的精度及范圍。4、此外，本發(fā)明的第一測(cè)試棒，第二測(cè)試棒均采用銅棒加工而成，由于銅棒更加接近人手指的電阻特性，因此進(jìn)行觸摸測(cè)試吋，能更加真實(shí)地模擬人手指的觸摸操作反應(yīng)，使得模擬效果更逼真。



圖I為本發(fā)明一較佳實(shí)施例的電容觸摸屏測(cè)試裝置結(jié)構(gòu)圖。圖2為圖I中未插入第一測(cè)試棒時(shí)的裝置俯視圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖給出本發(fā)明較佳實(shí)施例，以詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案。實(shí)施例I如圖I、圖2所示，本發(fā)明提供的電容式觸摸屏測(cè)試裝置包括一第一基板1，一第二基板2，一第一滑板5，及一組或多組用于對(duì)電容式觸摸屏進(jìn)行定點(diǎn)固定高度的觸摸測(cè)試的第一測(cè)試組件3。其中，第一滑板5活動(dòng)設(shè)于第二基板2的上方，用于放置電容式觸摸屏，并能使電容式觸摸屏相對(duì)第二基板2沿縱向作線性移動(dòng)。第一測(cè)試組件3設(shè)在第一基板I與第一滑板5之間。在第一基板I與第二基板2之間架設(shè)多根支柱7，用于在第一基板I與第ニ基板2間形成一操作空間。參見(jiàn)圖I所示，第一測(cè)試組件3可以由數(shù)根第一測(cè)試棒31組成，在第一基板I的對(duì)應(yīng)第一滑板5的兩側(cè)區(qū)域內(nèi)，設(shè)有數(shù)排通孔32。通過(guò)這些通孔32，數(shù)根第一測(cè)試棒31可以分別穿設(shè)在第一基板I上，并且數(shù)根第一測(cè)試棒31的底部懸設(shè)在第一滑板5的上方。進(jìn)ー步地,在姆根第一測(cè)試棒31的上部均形成有ー個(gè)第一圓臺(tái)311,第一圓臺(tái)311的直徑大于通孔32的直徑。這樣，通過(guò)第一圓臺(tái)311，第一測(cè)試棒31的上部就可以穩(wěn)定地固接在第一基板I上。而根據(jù)第一圓臺(tái)311的位置高度選取的不同，可以用來(lái)選擇不同定點(diǎn)固定高度下的第一測(cè)試棒與放在第一滑板上的電容式觸摸屏之間的接觸距離與觸壓カ度。再請(qǐng)參見(jiàn)圖I所示，在有些第一測(cè)試棒31的下部還可以形成一第二圓臺(tái)312，第二圓臺(tái)312的直徑略小于第一圓臺(tái)311的直徑。這樣，可以進(jìn)行不同大小的定點(diǎn)的點(diǎn)觸模擬。此外，為了對(duì)電容式觸摸屏進(jìn)行定點(diǎn)可調(diào)節(jié)高度的觸摸測(cè)試，本發(fā)明的電容式觸摸屏測(cè)試裝置還可以設(shè)置ー組活動(dòng)穿套在第一基板I上的第二測(cè)試組件4。如圖I、圖2所示，第二測(cè)試組件4可以由ー壓板42及第ニ測(cè)試棒41組成。第二測(cè)試棒41穿設(shè)第一基板I井能沿縱向上下移動(dòng)。根據(jù)需要的各種定點(diǎn)高度，可以通過(guò)ー螺母45將第二測(cè)試棒41的頂部411固定在壓板42的上端面上，使第二測(cè)試棒41的底部412懸置在第一滑板5的上方。為了與螺母45螺接，在第二測(cè)試棒41的頂部411形成有ー截相應(yīng)的螺桿。壓板42通過(guò)數(shù)根導(dǎo)柱43，比如四根不銹鋼的導(dǎo)柱活動(dòng)置設(shè)于第一基板I的上方。每根導(dǎo)柱43上分別穿套ー彈力件44，比如壓縮彈簧。進(jìn)ー步地，第二測(cè)試組件4還包括ー個(gè)與第一基板I嵌設(shè)的套筒46。通過(guò)該套筒46，第二測(cè)試棒41能相對(duì)第一基板I作上下活動(dòng)穿梭。
為了測(cè)試操作方便，在設(shè)置第二測(cè)試棒41的位置時(shí)，可以使其底部412正對(duì)第一滑板5的中央?yún)^(qū)域。本發(fā)明的第一測(cè)試棒，第二測(cè)試棒均可以采用不同尺寸的銅棒加工制得。之所以采用銅棒，是因?yàn)殂~棒更接近人手指的電阻特性，測(cè)試時(shí)，能更加真實(shí)地模擬人手指的操作反應(yīng)。此外，本發(fā)明的支柱可以采用不銹鋼材料，這樣不僅美觀而且穩(wěn)固耐用。而上、第ニ基板、第一滑板及壓板則可以采用黒色防靜電電木板，這樣可以在測(cè)試中避免靜電干擾，精確地進(jìn)行電容式觸摸屏的報(bào)點(diǎn)速度和精度的測(cè)試。如圖I所示，電容式觸摸屏測(cè)試裝置還包括兩個(gè)滑軌6和與兩滑軌6相適配的兩個(gè)滑塊(圖中未示出)。兩個(gè)滑軌6分別沿縱向固設(shè)在第二基板2的上方。兩滑塊分別固·接在第一滑板5底部的兩側(cè)，其作用是用來(lái)使第一滑板5安裝在第二基板2上時(shí)能相對(duì)第ニ基板2縱向線性滑移。本發(fā)明通過(guò)以上組成部分，再配合現(xiàn)有技術(shù)中已有的電容式觸摸屏的打點(diǎn)精度和劃線精度等系列的測(cè)試軟件，即可以完成電容式觸摸屏的報(bào)點(diǎn)速度測(cè)試、打點(diǎn)精度測(cè)試、劃線精度測(cè)試等系列的技術(shù)要求。其中，該電容式觸摸屏的開(kāi)發(fā)的用于打點(diǎn)精度和劃線精度等項(xiàng)目的測(cè)試軟件部分為現(xiàn)有技木，在此不作贅述。在測(cè)試過(guò)程中，首先根據(jù)電容式觸摸屏的尺寸大小挑選合適的第一測(cè)試棒，將第ー測(cè)試棒插入第一基板上的不同位置的通孔中，將第二測(cè)試棒調(diào)節(jié)到合適的高度后與第一基板固定即可進(jìn)行定點(diǎn)固定高度和定點(diǎn)可調(diào)高度下的觸摸測(cè)試。再通過(guò)第一滑板的前后移動(dòng)，結(jié)合可調(diào)高度的第二組件，可以完成劃線精度等的CTP測(cè)試要求。實(shí)施例2本實(shí)施例與實(shí)施例I的不同之處在于本實(shí)施例的第二測(cè)試組件還包括一塊用于放置電容式觸摸屏的第二滑板。安裝時(shí)，第二滑板通過(guò)ー軸承件及一短軸活動(dòng)設(shè)置在第一滑板的上方，井能繞軸承件相對(duì)第一滑板任意角度旋轉(zhuǎn)。進(jìn)ー步地，軸承件可以是嵌設(shè)在第一滑板內(nèi)的一圓柱體軸承。短軸的一端與壓板固接，另一端置于軸承件的軸承孔內(nèi)，短軸的軸徑與軸承件的軸承孔徑相適應(yīng)。另外，本實(shí)施例中的第二滑板也可以采用黒色防靜電電木板制作，原因同上。本實(shí)施例的其它部分與實(shí)施例I基本相同。本實(shí)施例通過(guò)上述的第二滑板結(jié)構(gòu)，可以使CTP在360度的任意角度內(nèi)進(jìn)行任意位置的打點(diǎn)精度和劃線精度測(cè)試，使得CTP測(cè)試精度更高，測(cè)試范圍更廣。當(dāng)然，除上述實(shí)施例之外，本發(fā)明還可以根據(jù)實(shí)際測(cè)試要求，設(shè)計(jì)不同的電容式觸摸屏エ裝夾具，也包括設(shè)置的通孔的個(gè)數(shù)及在第一基板上布排的方式等等，都可以根據(jù)實(shí)際測(cè)試要求進(jìn)行調(diào)整。此外，第一基板、第二基板、第一滑板、第二滑板及壓板的材料，除了采用黑色防靜電電木板之外，也可以采用其它更好的類似能防靜電的材料。雖然以上描述了本發(fā)明的具體實(shí)施方式
，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，這些僅是舉例說(shuō)明，本發(fā)明的保護(hù)范圍是由所附權(quán)利要求書(shū)限定的。本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不背離本發(fā)明的原理和實(shí)質(zhì)的前提下，可以對(duì)這些實(shí)施方式做出多種變更或修改，但這些變更和修改均落入本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其包括一第一基板，一第二基板及多根設(shè)于所述第一基板與所述第二基板之間用于形成一操作空間的支柱，其特征在于，所述電容式觸摸屏測(cè)試裝置還包括 一第一滑板，所述第一滑板活動(dòng)設(shè)于所述第二基板的上方，用于放置所述電容式觸摸屏，并能使所述電容式觸摸屏相對(duì)所述第二基板沿縱向線性移動(dòng)； 至少一第一測(cè)試組件，所述至少一第一測(cè)試組件穿設(shè)所述第一基板位于所述操作空間內(nèi)，用于對(duì)所述電容式觸摸屏進(jìn)行定點(diǎn)固定高度的觸摸測(cè)試。
2.如權(quán)利要求I所述的電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一測(cè)試組件包括 若干第一測(cè)試棒，所述若干第一測(cè)試棒分別穿過(guò)所述第一基板并懸設(shè)于所述第一滑板的上方； 若干通孔，所述若干通孔位于所述第一基板的對(duì)應(yīng)所述第一滑板的區(qū)域內(nèi)，通過(guò)所述若干通孔，所述若干第一測(cè)試棒分別與所述第一基板穿設(shè)。
3.如權(quán)利要求2所述的電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其特征在于，各所述第一測(cè)試棒的上部均形成有一第一圓臺(tái)，所述第一圓臺(tái)的直徑大于所述通孔的直徑。
4.如權(quán)利要求3所述的電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其特征在于，至少一所述第一測(cè)試棒的下部還形成有一第二圓臺(tái)，所述第二圓臺(tái)的直徑小于所述第一圓臺(tái)的直徑。
5.如權(quán)利要求2所述的電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一測(cè)試棒為一銅棒。
6.如權(quán)利要求I或2所述的電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其特征在于，所述電容式觸摸屏測(cè)試裝置還包括一第二測(cè)試組件，所述第二測(cè)試組件與所述第一基板活動(dòng)穿套，用于對(duì)所述電容式觸摸屏進(jìn)行定點(diǎn)調(diào)節(jié)高度的觸摸測(cè)試。
7.如權(quán)利要求6所述的電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其特征在于，所述第二測(cè)試組件包括 一活動(dòng)置于所述第一基板上的壓板； 若干用于將所述壓板架設(shè)于所述第一基板上方的導(dǎo)柱； 若干分別穿套在各所述導(dǎo)柱上的彈力件；及 一第二測(cè)試棒，所述第二測(cè)試棒依次與所述壓板、所述第一基板活動(dòng)穿套，所述第二測(cè)試棒的底部懸置于所述第一滑板的上方。
8.如權(quán)利要求7所述的電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其特征在于，所述第二測(cè)試棒的頂部設(shè)有一螺桿部，所述第二測(cè)試棒通過(guò)一螺母與所述壓板固定。
9.如權(quán)利要求7所述的電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其特征在于，所述第二測(cè)試組件還包括一與所述第一基板相嵌設(shè)的套筒，所述第二測(cè)試棒通過(guò)所述套筒與所述第一基板活動(dòng)穿套。
10.如權(quán)利要求7所述的電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其特征在于，所述第二測(cè)試棒的底部位于所述第一滑板的中央?yún)^(qū)域的上方。
11.如權(quán)利要求7所述的電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其特征在于，所述第二測(cè)試棒為一銅棒。
12.如權(quán)利要求7所述的電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其特征在于，所述彈力件為一壓縮彈簧。
13.如權(quán)利要求7所述的電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其特征在于，所述第二測(cè)試組件還包括一用于放置所述電容式觸摸屏的第二滑板，所述第二滑板與所述第一滑板活動(dòng)連接，并能在所述第一滑板上作任意角度的旋轉(zhuǎn)。
14.如權(quán)利要求13所述的電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其特征在于，所述第二測(cè)試組件還包括 一軸承件，所述軸承件嵌設(shè)于所述第一滑板內(nèi)； 一短軸，所述短軸的一端與所述壓板固接，所述短軸的另一端置于所述軸承件的軸承孔內(nèi)。
15.如權(quán)利要求14所述的電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其特征在于，所述軸承件為一圓柱體軸承。
16.如權(quán)利要求13所述的電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其特征在于，所述第二滑板為一黑色防靜電電木板。
17.如權(quán)利要求7所述的電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其特征在于，所述壓板與所述第一滑板均為一黑色防靜電電木板。
18.如權(quán)利要求I所述的電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其特征在于，所述電容式觸摸屏測(cè)試裝置還包括 兩滑軌，所述兩滑軌分別沿縱向固設(shè)于所述第二基板的上方； 兩滑塊，所述兩滑塊分別固接在所述第一滑板的底部，所述滑塊與所述滑軌相適配，用于使所述第一滑板能沿所述第二基板線性滑移。
19.如權(quán)利要求I所述的電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一基板與所述第二基板均為一黑色防靜電電木板。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種電容式觸摸屏測(cè)試裝置，其包括一第一基板，一第二基板及多根設(shè)于所述第一基板與所述第二基板之間用于形成一操作空間的支柱，一第一滑板，所述第一滑板活動(dòng)設(shè)于所述第二基板的上方，用于放置所述電容式觸摸屏，并能使所述電容式觸摸屏相對(duì)所述第二基板沿縱向線性移動(dòng)；至少一第一測(cè)試組件，所述至少一第一測(cè)試組件穿設(shè)所述第一基板位于所述操作空間內(nèi)，用于對(duì)所述電容式觸摸屏進(jìn)行定點(diǎn)固定高度的觸摸測(cè)試。采用本發(fā)明，可以在同一測(cè)試裝置中滿足打點(diǎn)精度和劃線精度的測(cè)試要求，準(zhǔn)確高效地測(cè)試出電容觸摸屏的各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)。
文檔編號(hào)G01R31/00GK102841270SQ20111016822
公開(kāi)日2012年12月26日 申請(qǐng)日期2011年6月21日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月21日
發(fā)明者陳愛(ài)平, 戎裕平 申請(qǐng)人:上海晨興希姆通電子科技有限公司