專利名稱：具有預(yù)聚焦抗散射柵格的檢測(cè)器陣列的制作方法
具有預(yù)聚焦抗散射柵格的檢測(cè)器陣列下文總體上涉及一種具有抗散射柵格的檢測(cè)器陣列，尤其應(yīng)用于計(jì)算機(jī)斷層攝影 (CT)。不過(guò)，它也可以針對(duì)其他醫(yī)療成像應(yīng)用和非醫(yī)療成像應(yīng)用加以修改。通常，計(jì)算機(jī)斷層攝影(CT)掃描機(jī)包括χ射線管和檢測(cè)器陣列。X射線管從焦斑發(fā)射輻射，發(fā)射的輻射貫穿檢查區(qū)域。檢測(cè)器陣列設(shè)置在檢查區(qū)域相對(duì)側(cè)X射線管的對(duì)面并檢測(cè)貫穿檢查區(qū)域的輻射。檢測(cè)器陣列將檢測(cè)到的輻射轉(zhuǎn)換成表示所檢測(cè)輻射的信號(hào)。 重構(gòu)器重構(gòu)信號(hào)以產(chǎn)生其體積圖像數(shù)據(jù)。圖像發(fā)生器基于體積圖像數(shù)據(jù)產(chǎn)生被掃描受檢者或?qū)ο蟮囊粋€(gè)或多個(gè)圖像。對(duì)于一個(gè)CT系統(tǒng)而言，檢測(cè)器陣列包括多個(gè)檢測(cè)器模塊，每個(gè)模塊具有多個(gè)光傳感器塊。每個(gè)光傳感器塊都是由抗散射柵格(ASG)、閃爍體陣列、光傳感器陣列、處理電子裝置和基底構(gòu)成的堆疊結(jié)構(gòu)。首先組裝光傳感器塊，然后將光傳感器塊用于填充(populate) 檢測(cè)器模塊。每個(gè)光傳感器塊的基底包括螺紋凹槽，將光傳感器塊的螺紋凹槽與模塊構(gòu)架中加工的孔對(duì)準(zhǔn)，將螺絲釘(screw)穿過(guò)孔插入凹槽，使螺絲釘與螺紋凹槽嚙合，從而在檢測(cè)器模塊中安裝每個(gè)光傳感器塊。令人遺憾的是，光傳感器塊的ASG與焦斑的對(duì)準(zhǔn)取決于在模塊構(gòu)架中加工孔的精度和組裝每個(gè)堆疊光傳感器塊的精度，因?yàn)槎询B每個(gè)光傳感器塊的個(gè)體部件都可能引入、 傳遞和/或放大堆疊誤差。上述情況可能導(dǎo)致檢測(cè)器模塊中的ASG的對(duì)準(zhǔn)以及因此其與焦斑的對(duì)準(zhǔn)的不可忽略的誤差，ASG與焦斑對(duì)準(zhǔn)不良可能導(dǎo)致檢測(cè)器盲區(qū)(shadowing)，這又可能導(dǎo)致偽影，例如CT圖像中的環(huán)。本申請(qǐng)的各個(gè)方面解決上述問(wèn)題以及其他問(wèn)題。根據(jù)一個(gè)方面，一種輻射敏感檢測(cè)器陣列包括相對(duì)于成像系統(tǒng)沿ζ軸方向延伸并沿X軸方向排列的多個(gè)檢測(cè)器模塊。檢測(cè)器模塊中的至少一個(gè)包括模塊構(gòu)架和至少一個(gè)檢測(cè)器組塊(tile)。至少一個(gè)檢測(cè)器組塊通過(guò)非螺紋緊固件耦合到模塊構(gòu)架。所述至少一個(gè)檢測(cè)器組塊包括二維檢測(cè)器和聚焦在成像系統(tǒng)焦斑處的二維抗散射柵格。根據(jù)另一方面，具有焦斑的成像系統(tǒng)的檢測(cè)器陣列包括多個(gè)相對(duì)于成像系統(tǒng)沿橫向排列的檢測(cè)器模塊。檢測(cè)器模塊中的至少一個(gè)包括檢測(cè)器組塊。檢測(cè)器組塊包括在成像系統(tǒng)中安裝至少一個(gè)檢測(cè)器模塊之前相對(duì)于成像系統(tǒng)的焦斑聚焦的二維抗散射柵格。根據(jù)另一方面，一種方法在將抗散射柵格安裝在成像系統(tǒng)中之前將檢測(cè)器組塊的抗散射柵格與成像系統(tǒng)的焦斑對(duì)準(zhǔn)。該方法包括在對(duì)準(zhǔn)設(shè)備的引導(dǎo)區(qū)域中插入至少一個(gè)二維抗散射柵格。引導(dǎo)區(qū)域包括一個(gè)或多個(gè)基準(zhǔn)，基準(zhǔn)在引導(dǎo)區(qū)域中引導(dǎo)至少一個(gè)二維抗散射柵格。引導(dǎo)區(qū)域與焦斑預(yù)先對(duì)準(zhǔn)，將至少一個(gè)二維抗散射柵格引導(dǎo)到引導(dǎo)區(qū)域中，從而使至少一個(gè)二維抗散射柵格相對(duì)于焦斑聚焦。根據(jù)另一方面，一種對(duì)準(zhǔn)設(shè)備用于在成像系統(tǒng)之外相對(duì)于成像系統(tǒng)的焦斑聚焦抗散射柵格。對(duì)準(zhǔn)設(shè)備包括至少一個(gè)引導(dǎo)區(qū)域，引導(dǎo)區(qū)域被配置成接收抗散射柵格并相對(duì)于焦斑聚焦抗散射柵格。本發(fā)明可以實(shí)現(xiàn)為各種部件或部件設(shè)置以及各種步驟或步驟設(shè)置。附圖的作用僅在于對(duì)優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行例示，不應(yīng)認(rèn)為對(duì)本發(fā)明構(gòu)成限制。


圖1示出了一種范例成像系統(tǒng)。圖2示出了組塊的范例2D抗散射柵格。圖3示出了范例對(duì)準(zhǔn)設(shè)備。圖4示出了范例方法。圖5-8圖解示出了圖4中的方法的動(dòng)作。圖9示出了另一種范例檢測(cè)器組塊對(duì)準(zhǔn)設(shè)備。圖10示出了將檢測(cè)器組塊固定到檢測(cè)器模塊構(gòu)架的范例方式。圖11示出了將檢測(cè)器組塊固定到檢測(cè)器模塊構(gòu)架的另一種范例方式。圖12示出了用于測(cè)試已安裝抗散射柵格和/或組塊在對(duì)準(zhǔn)設(shè)備中的對(duì)準(zhǔn)情況的方法。圖1示出了成像系統(tǒng)100，例如計(jì)算機(jī)斷層攝影(CT)掃描機(jī)。成像系統(tǒng)100包括靜止掃描架102和旋轉(zhuǎn)掃描架104，旋轉(zhuǎn)掃描架由靜止掃描架102可旋轉(zhuǎn)地支撐。旋轉(zhuǎn)掃描架104相對(duì)于縱向或ζ軸108繞檢查區(qū)域106旋轉(zhuǎn)。諸如χ射線管的輻射源110由旋轉(zhuǎn)掃描架104支撐并與旋轉(zhuǎn)掃描架一起繞著檢查區(qū)域106旋轉(zhuǎn)。輻射源110從焦斑112發(fā)射輻射。準(zhǔn)直器114使發(fā)射的輻射準(zhǔn)直，以產(chǎn)生貫穿檢查區(qū)域106的大致扇形、楔形或錐形輻射束。輻射敏感檢測(cè)器陣列116檢測(cè)貫穿檢查區(qū)域106的輻射并產(chǎn)生表示其的信號(hào)。輻射敏感檢測(cè)器陣列116包括多個(gè)沿橫向(x/y方向)并行排列并由模塊托架120承載的檢測(cè)器模塊118。檢測(cè)器模塊118包括一個(gè)或多個(gè)檢測(cè)器馬賽克或組塊122，沿著ζ軸108并行地、沿著檢測(cè)器模塊構(gòu)架1 排列。組塊122包括二維檢測(cè)器1 和二維抗散射柵格(ASG) 128。圖示的檢測(cè)器1 包括閃爍體陣列130、光傳感器陣列132(具有諸如光電二極管或其他光學(xué)傳感器的光學(xué)感測(cè)像素的二維布置)、襯底134、處理電子裝置136和基底138。如圖2所示，ASG 128包括多個(gè)由橫向和縱向延伸的相交壁204和206界定的通道。這里也想到了一維ASG。返回到圖1，閃爍體陣列130光耦合到光傳感器陣列132，光傳感器陣列132電耦合至襯底134上的處理電子裝置136。處理電子裝置136包括專用集成電路(ASIC)和/或其他集成電路。輸入/輸出(I/O)觸點(diǎn)(未示出)與處理電子裝置136電連通。ASG 128 固定到入射輻射一側(cè)的閃爍體陣列130上。ASG 128允許透射輻射通過(guò)并照射閃爍體陣列130，并衰減本來(lái)會(huì)照射閃爍體陣列130的大量散射輻射。閃爍體陣列130檢測(cè)貫穿ASG 1 的通道的輻射并產(chǎn)生表示其的光信號(hào)。光傳感器陣列132檢測(cè)光信號(hào)并產(chǎn)生表示所檢測(cè)輻射的電信號(hào)。處理電子裝置 136處理電信號(hào)。經(jīng)由I/O觸點(diǎn)從組塊檢測(cè)器122傳遞經(jīng)處理的信號(hào)(和/或未處理的電信號(hào))。注意，I/O觸點(diǎn)還用于向組塊檢測(cè)器122傳遞信號(hào)。模塊構(gòu)架IM包括一個(gè)或多個(gè)組塊接收區(qū)域140。在圖示的實(shí)施例中，利用緊固件 142將組塊122固定到組塊接收區(qū)域140，緊固件例如是粘合劑，像導(dǎo)熱環(huán)氧樹(shù)脂等。另一種適當(dāng)?shù)木o固件包括低熔點(diǎn)金屬或合金。在將組塊122固定到模塊構(gòu)架IM之前，相對(duì)于焦斑112聚焦(或預(yù)聚焦)ASG 1 并將其相對(duì)于彼此對(duì)準(zhǔn)。如下文更詳細(xì)所述，可以這樣聚焦并對(duì)準(zhǔn)ASG 128，并利用對(duì)準(zhǔn)設(shè)備將組塊122固定到模塊構(gòu)架124。將填充了組塊的模塊118固定到掃描機(jī)100。在圖示的實(shí)施例中，模塊118包括具有無(wú)材料區(qū)域146的緊固區(qū)域144。范例緊固件148被示為通過(guò)無(wú)材料區(qū)域146延伸。在一種情況下，利用緊固件148或其他緊固件和無(wú)材料區(qū)域146將模塊118固定到托架120。 例如，在緊固件148是螺絲釘?shù)葧r(shí)，螺絲釘與托架120中的螺紋凹槽(帶有與螺絲釘?shù)穆菁y互補(bǔ)的螺紋)嚙合并可拆卸地將模塊118固定到托架120。如上所述，輻射敏感檢測(cè)器陣列116檢測(cè)輻射并產(chǎn)生表示其的信號(hào)。重構(gòu)器150 重構(gòu)信號(hào)并產(chǎn)生表示其的體積圖像數(shù)據(jù)。諸如臥榻的患者支撐物巧4在檢查區(qū)域106中支撐著患者以進(jìn)行掃描。通用計(jì)算系統(tǒng)152充當(dāng)操作員控制臺(tái)。駐存在控制臺(tái)上的軟件允許操作者控制系統(tǒng)100的工作，例如選擇掃描規(guī)程、開(kāi)始和/或終止掃描等。圖3示出了范例對(duì)準(zhǔn)設(shè)備300。設(shè)備300包括一個(gè)或多個(gè)模塊構(gòu)架安裝區(qū)域302。 模塊構(gòu)架安裝區(qū)域302被配置成在物理上基本類似于托架120的模塊安裝區(qū)域，并被配置成與模塊構(gòu)架124的緊固區(qū)域144(圖1)機(jī)械連接。以上結(jié)構(gòu)允許在焦斑112處聚焦ASG 128，同時(shí)在設(shè)備300中安裝組塊122并將組塊122固定到模塊構(gòu)架124。圖示的構(gòu)架安裝區(qū)域302包括凹槽306，其適于嚙合緊固件 148 (圖1)。對(duì)準(zhǔn)基準(zhǔn)304便于將模塊構(gòu)架124與模塊構(gòu)架安裝區(qū)域302對(duì)準(zhǔn)。在另一實(shí)施例中，省略對(duì)準(zhǔn)基準(zhǔn)304。設(shè)備300還包括一個(gè)或多個(gè)引導(dǎo)區(qū)域308。引導(dǎo)區(qū)域308包括一個(gè)或多個(gè)對(duì)準(zhǔn)基準(zhǔn)，包括一個(gè)或多個(gè)對(duì)準(zhǔn)特征310和對(duì)準(zhǔn)表面312。對(duì)準(zhǔn)基準(zhǔn)310和312在設(shè)備300中支撐和引導(dǎo)抗散射柵格128。對(duì)準(zhǔn)特征310被配置成，在將ASG 1 或?qū)?yīng)組塊122插入設(shè)備 300中時(shí)引導(dǎo)ASG 128的側(cè)壁的外表面。注意，各對(duì)特征310之間的虛線是為了例示的目的，不是對(duì)準(zhǔn)特征310的一部分。 此外，注意，圖示的對(duì)準(zhǔn)特征310的數(shù)量是用于解釋性目的而非用于限制。組塊對(duì)準(zhǔn)表面312適于接觸ASG 128面對(duì)入射輻射的側(cè)面。相對(duì)于模塊構(gòu)架安裝區(qū)域302，并因此相對(duì)于托架120配置對(duì)準(zhǔn)表面312，便于相對(duì)于模塊構(gòu)架安裝區(qū)域302對(duì) ASG 1 進(jìn)行取向以在焦斑112處聚焦ASG 128。結(jié)果，將ASG 1 安裝到區(qū)域308中就相對(duì)于焦斑112對(duì)ASG 1 進(jìn)行了預(yù)聚焦。圖4示出了范例方法。圖5-8圖解示出了方法的動(dòng)作。一開(kāi)始參考圖4和5，在402，在對(duì)準(zhǔn)設(shè)備300的引導(dǎo)區(qū)域308中安裝組塊122。如上所述，對(duì)準(zhǔn)基準(zhǔn)310和312在引導(dǎo)區(qū)域308中引導(dǎo)組塊122，使組塊122的ASG 128彼此相對(duì)地并相對(duì)于模塊構(gòu)架安裝區(qū)域302對(duì)準(zhǔn)，這樣將組塊122的ASG 128聚焦在焦斑112。 可以如下文更詳細(xì)所述那樣測(cè)試ASG 128的對(duì)準(zhǔn)情況。參考圖4和6，在404，將緊固件142施加到組塊122的基底138。在圖示的實(shí)施例中，緊固件142為無(wú)螺絲釘緊固件，例如導(dǎo)熱粘合劑或其他無(wú)螺絲釘緊固件。參考圖4和7，在406，將模塊構(gòu)架124安裝到對(duì)準(zhǔn)設(shè)備300。在圖示的實(shí)施例中， 利用緊固件148將構(gòu)架IM安裝到其上。這樣安裝模塊構(gòu)架IM使得緊固件142與構(gòu)架 124的緊固區(qū)域140物理接觸。可以通過(guò)緊固件142補(bǔ)償組塊122中存在的堆疊誤差。例如，在緊固件142與組塊緊固區(qū)域144嚙合時(shí)，擠壓緊固件142并從組塊122和組塊緊固區(qū)域144之間擠出多余的緊固件142。這樣一來(lái)，堆疊組塊122的厚度差異將導(dǎo)致緊固件142的厚度差異。此外， 緊固件142還減小了由于模塊構(gòu)架124中的加工不精確導(dǎo)致的機(jī)械誤差，在使用螺絲釘將組塊122安裝到構(gòu)架124的配置中就是這種情況。這樣一來(lái)，可以減輕檢測(cè)器盲區(qū)以及偽影，例如CT圖像中的環(huán)。參考圖4和8，在408，從對(duì)準(zhǔn)設(shè)備300去除組裝好的模塊118。參考圖4，在410， 可以在掃描機(jī)100中安裝已組裝的模塊118。論述變化和/或替換方案。在圖示的實(shí)施例中，檢測(cè)器1 是閃爍體/光傳感器型檢測(cè)器。在另一實(shí)施例中， 檢測(cè)器1 包括直接轉(zhuǎn)換材料，例如碲化鎘(CdTe)、碲化鎘鋅(CZT)等。圖9示出了對(duì)準(zhǔn)設(shè)備300的另一非限制性實(shí)施例。在這一實(shí)施例中，引導(dǎo)區(qū)域308 中的至少一個(gè)包括至少一個(gè)對(duì)準(zhǔn)特征902，對(duì)準(zhǔn)特征310被省略。與對(duì)準(zhǔn)特征310不同的是，至少一個(gè)對(duì)準(zhǔn)特征902被配置成接觸ASG 1 的內(nèi)部部分，例如ASG 1 的一個(gè)或多個(gè)壁204或206。在另一實(shí)施例中，使用了兩個(gè)對(duì)準(zhǔn)特征310和902和/或其他對(duì)準(zhǔn)基準(zhǔn)。在又一實(shí)施例中，可以使用其他對(duì)準(zhǔn)基準(zhǔn)。在結(jié)合圖1、3、7和8所示的模塊118的實(shí)施例中，通過(guò)緊固件142將組塊122永久性固定到模塊構(gòu)架124。圖10和11示出了替代配置，其中將組塊122可拆除地固定到模塊構(gòu)架口4。參考圖10，模塊構(gòu)架124的組塊接收區(qū)域140包括凹槽1002，隨后是無(wú)材料區(qū)域 1004。組塊122的基底138包括第一和第二子部分US1和1382，具有彼此相對(duì)并配合在一起的大致平面的內(nèi)側(cè)1008和1010。第二子部分13 包括與內(nèi)側(cè)1010相對(duì)一側(cè)上的螺紋凹槽1006。利用凹槽1002、無(wú)材料區(qū)域1004和螺紋凹槽1006將第二子部分13 固定到模塊構(gòu)架124。例如，緊固件148可以是螺絲釘?shù)?，并可用于通過(guò)經(jīng)凹槽1002和無(wú)材料區(qū)域1004 延伸并與螺紋凹槽1006嚙合來(lái)將第二子部分13 固定到模塊構(gòu)架124。對(duì)于本實(shí)施例而言，經(jīng)由緊固件148將第二子部分13 固定到模塊構(gòu)架124。然后將第一子部分HS1固定到第二子部分1382，由此將組塊122固定到模塊構(gòu)架IM并形成模塊118?？梢酝ㄟ^(guò)去除緊固件148從模塊構(gòu)架124去除特定組塊122。圖11類似于圖10，只是內(nèi)側(cè)1008和1010是非平面的，具有更大的表面面積。更大的表面面積允許更大的熱傳遞，因此允許粘合劑兩端的溫降。在圖示的實(shí)施例中，通過(guò)在基底上、下區(qū)段US1和13 上制造聯(lián)鎖鰭來(lái)增大表面面積。這里也想到了其他形狀。對(duì)于圖10和11而言，可以由諸如鋁的金屬或另一種材料形成上、下區(qū)段
13&。由于模塊精確度是利用緊固件148實(shí)現(xiàn)的，所以上、下區(qū)段US1和13 不需要是高度精確的。因此可以通過(guò)更低成本的方法，例如鑄造、擠壓等來(lái)制造上、下區(qū)段US1和13&。圖12示出了用于測(cè)試對(duì)準(zhǔn)設(shè)備300中安裝的ASG 128的對(duì)準(zhǔn)情況的設(shè)備1200。在本范例中，如這里所述，利用對(duì)準(zhǔn)基準(zhǔn)310、312和/或902在對(duì)準(zhǔn)設(shè)備300中安裝ASG 128。 在將檢測(cè)器126固定到ASG 128之前，將ASG對(duì)準(zhǔn)測(cè)試固定件1200安裝到模塊構(gòu)架安裝區(qū)域 302。對(duì)準(zhǔn)測(cè)試固定件1200包括可動(dòng)檢測(cè)器1202，可以相對(duì)于特定的已安裝ASG 128， 例如圖示實(shí)施例中的ASG US1有選擇地定位它。通過(guò)對(duì)應(yīng)的ASG 1 將輻射投射到檢測(cè)器1202?？梢栽跍y(cè)試期間移動(dòng)焦斑112，可以基于檢測(cè)器1202的信號(hào)輸出評(píng)估ASG盲區(qū)。在另一實(shí)施例中，使用設(shè)備1200測(cè)試對(duì)準(zhǔn)設(shè)備300中安裝的組塊122(而非僅僅ASG 128) 0同樣地，利用對(duì)準(zhǔn)基準(zhǔn)310、312和/或902，如這里所述在對(duì)準(zhǔn)設(shè)備300中安裝組塊122。類似地，通過(guò)對(duì)應(yīng)組塊122向檢測(cè)器1202投射輻射，可以基于檢測(cè)器1202的信號(hào)輸出評(píng)估ASG盲區(qū)。在另一實(shí)施例中，額外地或替代地使用膠片1204取代檢測(cè)器1202。能夠在將ASG 128安裝到檢測(cè)器1 之前提前測(cè)試它和/或在將組塊122安裝到模塊構(gòu)架1 之前提前測(cè)試組塊122可以降低成本，因?yàn)榭梢栽谕暾M裝組塊122和/或模塊118之前檢測(cè)故障部件?？梢杂芍T如鋁的適當(dāng)χ射線透明材料形成設(shè)備1200。這里所述的檢測(cè)器陣列116適用于各種成像應(yīng)用，包括CT掃描機(jī)和/或其他模態(tài)的掃描機(jī)。更具體而言，其非常適用于如下應(yīng)用，檢測(cè)器陣列116的每個(gè)組塊122都具有其自己的ASG 128并獨(dú)立安裝到模塊構(gòu)架124。在這里已經(jīng)參考各實(shí)施例描述了本發(fā)明。在閱讀這里的描述后，其他人可以想到修改和變化。這意味著，應(yīng)當(dāng)將本發(fā)明理解為包括所有此類落在所附權(quán)利要求及其等同物的范圍內(nèi)的修改和變化。
權(quán)利要求
1.一種輻射敏感檢測(cè)器陣列，包括相對(duì)于成像系統(tǒng)(100)沿Z軸方向延伸并沿X軸方向排列的多個(gè)檢測(cè)器模塊(118)，所述檢測(cè)器模塊(118)中的至少一個(gè)包括模塊構(gòu)架(124)；以及通過(guò)非螺紋緊固件(14 耦合到所述模塊構(gòu)架(124)的至少一個(gè)檢測(cè)器組塊(122)， 所述至少一個(gè)檢測(cè)器組塊(12 包括二維檢測(cè)器(126)和聚焦在成像系統(tǒng)(100)的焦斑 (112)的二維抗散射柵格(1 )。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)器陣列，其中所述二維檢測(cè)器(126)包括 耦合到所述二維抗散射柵格(128)的閃爍體層(130)；耦合到所述閃爍體層(130)的光傳感器層(132)；具有耦合到所述光傳感器層(132)的電子裝置(136)的襯底層(134)；以及耦合到所述襯底層(134)的基底層(138)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1到2中的任一項(xiàng)所述的檢測(cè)器陣列，其中所述非螺紋緊固件(142) 是導(dǎo)熱粘合劑。
4.根據(jù)權(quán)利要求2到3中的任一項(xiàng)所述的檢測(cè)器陣列，其中所述非螺紋緊固件(142) 將所述組塊(122)的基底層(138)緊固到所述模塊構(gòu)架(IM)。
5.根據(jù)權(quán)利要求2到4中的任一項(xiàng)所述的檢測(cè)器陣列，所述基底層(138)包括第一和第二子構(gòu)件(1381; 1382)，其中所述子構(gòu)件(1381;13&)中的第一個(gè)通過(guò)螺紋緊固件(148) 耦合到所述模塊構(gòu)架(IM)，所述子構(gòu)件(1381; 1382)中的第二個(gè)是所述組塊(12 的部分， 所述第一和第二子構(gòu)件(1381; 1382)通過(guò)螺紋緊固件(148)耦合。
6.根據(jù)權(quán)利要求1到5中的任一項(xiàng)所述的檢測(cè)器陣列，其中所述非螺紋緊固件(142) 適于填充所述組塊(122)和所述模塊構(gòu)架(124)之間的預(yù)定距離。
7.根據(jù)權(quán)利要求1到6中的任一項(xiàng)所述的檢測(cè)器陣列，其中所述非螺紋緊固件(142) 具有可調(diào)節(jié)的厚度，該厚度根據(jù)所述模塊構(gòu)架(124)中的所述組塊(122)的預(yù)定對(duì)準(zhǔn)而調(diào)離iF. ο
8.根據(jù)權(quán)利要求1到7中的任一項(xiàng)所述的檢測(cè)器陣列，其中利用對(duì)準(zhǔn)設(shè)備(300)相對(duì)于所述焦斑(11 聚焦所述二維抗散射柵格(1 )。
9.一種具有焦斑(11 的成像系統(tǒng)(100)的檢測(cè)器陣列，包括相對(duì)于所述成像系統(tǒng)(100)沿橫向排列的多個(gè)檢測(cè)器模塊(118)，所述檢測(cè)器模塊 (118)中的至少一個(gè)包括檢測(cè)器組塊(122)，其中所述檢測(cè)器組塊(12 包括二維抗散射柵格(1 )，在將所述至少一個(gè)檢測(cè)器模塊(118)安裝到所述成像系統(tǒng)(100)中之前相對(duì)于所述成像系統(tǒng)(100)的焦斑(11 聚焦所述二維抗散射柵格(1 )。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的檢測(cè)器陣列，所述至少一個(gè)檢測(cè)器模塊(118)包括 包括至少一個(gè)組塊接收區(qū)域(140)的模塊構(gòu)架(IM)，其中所述組塊(12 通過(guò)粘合劑緊固件(14 耦合到所述至少一個(gè)組塊接收區(qū)域(140)。
11.根據(jù)權(quán)利要求9到10中的任一項(xiàng)所述的檢測(cè)器陣列，其中所述組塊(12 包括多個(gè)堆疊的層(128，130，132，134，136，138)，所述緊固件(142)補(bǔ)償所述堆疊層的堆疊失準(zhǔn)。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的檢測(cè)器陣列，其中所述多個(gè)堆疊層包括檢測(cè)器基底(138)， 所述檢測(cè)器基底(138)通過(guò)所述粘合劑緊固件(142)固定到所述模塊構(gòu)架(IM)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的檢測(cè)器陣列，其中所述檢測(cè)器基底(138)為單個(gè)構(gòu)件。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的檢測(cè)器陣列，其中所述檢測(cè)器基底(138)包括通過(guò)粘合劑耦合在一起的至少兩個(gè)子構(gòu)件(1381;13&)，所述構(gòu)件(1381; 1382)之一通過(guò)螺紋緊固件 (148)固定到所述模塊構(gòu)架(IM)，所述至少兩個(gè)子構(gòu)件(1381; 1382)中的另一個(gè)是所述組塊(122)的部分。
15.根據(jù)權(quán)利要求9到14中的任一項(xiàng)所述的檢測(cè)器陣列，其中利用對(duì)準(zhǔn)設(shè)備(300)相對(duì)于所述焦斑(11 聚焦所述二維抗散射柵格(1 )。
16.一種在將檢測(cè)器組塊(122)安裝到成像系統(tǒng)(100)中之前相對(duì)于所述成像系統(tǒng) (100)的焦斑(11 聚焦檢測(cè)器組塊(122)的抗散射柵格(1 )的方法，包括在對(duì)準(zhǔn)設(shè)備(300)的引導(dǎo)區(qū)域(308)中插入至少一個(gè)二維抗散射柵格(1 )，所述引導(dǎo)區(qū)域(308)包括一個(gè)或多個(gè)基準(zhǔn)(310，312，902)，所述一個(gè)或多個(gè)基準(zhǔn)在所述引導(dǎo)區(qū)域 (308)中引導(dǎo)所述至少一個(gè)二維抗散射柵格(1 )，其中所述引導(dǎo)區(qū)域(308)預(yù)先與所述焦斑(11 對(duì)準(zhǔn)，并且將所述至少一個(gè)二維抗散射柵格(1 )引導(dǎo)到所述引導(dǎo)區(qū)域(308)中使所述至少一個(gè)二維抗散射柵格(128)相對(duì)于所述焦斑(11 聚焦。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中所述抗散射柵格(128)是插入所述接收區(qū)域 (140)中的檢測(cè)器組塊(122)的部分。
18.根據(jù)權(quán)利要求16到17中的任一項(xiàng)所述的方法，還包括通過(guò)導(dǎo)熱環(huán)氧樹(shù)脂將模塊構(gòu)架(124)固定到所述組塊(122)的基底區(qū)域(138)。
19.根據(jù)權(quán)利要求16到18中的任一項(xiàng)所述的方法，其中所述基底區(qū)域(138)包括第一和第二子區(qū)域(1381; 1382)，所述第一子區(qū)域(1381； 1382)固定到所述組塊(122)，還包括將所述第二子區(qū)域(1381; 1382)固定到所述模塊構(gòu)架(124)；以及在將所述第二子區(qū)域耦合到所述模塊構(gòu)架(124)之后將所述第一和第二子區(qū)域(138” 1382)耦合在一起。
20.一種對(duì)準(zhǔn)設(shè)備(300)，用于在成像系統(tǒng)(100)外部相對(duì)于所述成像系統(tǒng)(100)的焦斑(112)聚焦檢測(cè)器組塊(122)的抗散射柵格(1 )，包括適于接收檢測(cè)器模塊構(gòu)架(124)的安裝區(qū)域(302)，其中基于利用所述成像系統(tǒng)(100) 中的所述焦斑(11 預(yù)先確定的焦點(diǎn)物理地配置所述安裝區(qū)域(302)；以及至少一個(gè)引導(dǎo)區(qū)域(308)，其被配置成接收抗散射柵格(128)并相對(duì)于所述安裝區(qū)域 (302)聚焦所述抗散射柵格(1 )，由此相對(duì)于焦斑(11 聚焦所述抗散射柵格(1 )。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的對(duì)準(zhǔn)設(shè)備(300)，其中所述至少一個(gè)引導(dǎo)區(qū)域(308)包括基準(zhǔn)(310)，所述基準(zhǔn)(310)在所述至少一個(gè)引導(dǎo)區(qū)域(308)中相對(duì)于所述安裝區(qū)域(302) 引導(dǎo)所述抗散射柵格(1 )的外表面，由此相對(duì)于所述焦斑(11 聚焦所述抗散射柵格 (128)。
22.根據(jù)權(quán)利要求20所述的對(duì)準(zhǔn)設(shè)備(300)，其中所述至少一個(gè)引導(dǎo)區(qū)域(308)包括基準(zhǔn)(902)，所述基準(zhǔn)(902)在所述至少一個(gè)引導(dǎo)區(qū)域(308)中相對(duì)于所述安裝區(qū)域 (302)引導(dǎo)所述抗散射柵格(128)的內(nèi)壁，由此相對(duì)于所述焦斑(11 聚焦所述抗散射柵格 (128)。
23.根據(jù)權(quán)利要求20到22中的任一項(xiàng)所述的對(duì)準(zhǔn)設(shè)備(300)，還包括測(cè)試設(shè)備 (1200)，該測(cè)試設(shè)備(1200)被配置成測(cè)試所述抗散射柵格(128)相對(duì)于所述焦斑(112)的聚焦O
24.根據(jù)權(quán)利要求23所述的對(duì)準(zhǔn)設(shè)備(300)，其中所述測(cè)試設(shè)備(1200)包括產(chǎn)生表示所述聚焦的信號(hào)的檢測(cè)器(120 或提供表示所述聚焦的圖像的膠片(1204)。
全文摘要
一種輻射敏感檢測(cè)器陣列，包括相對(duì)于所述成像系統(tǒng)(100)沿z軸方向延伸并沿x軸方向排列的多個(gè)檢測(cè)器模塊(118)。檢測(cè)器模塊中的至少一個(gè)包括模塊構(gòu)架(124)和至少一個(gè)檢測(cè)器組塊(122)。所述至少一個(gè)檢測(cè)器組塊(122)通過(guò)非螺紋緊固件(142)耦合到模塊構(gòu)架(124)。所述至少一個(gè)檢測(cè)器組塊(122)包括二維檢測(cè)器(126)和聚焦在成像系統(tǒng)(100)的焦斑(112)處的二維抗散射柵格(128)。
文檔編號(hào)G01T1/29GK102428388SQ201080021763
公開(kāi)日2012年4月25日 申請(qǐng)日期2010年4月14日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月20日
發(fā)明者B·E·哈伍德, R·A·馬特森, R·P·盧赫塔 申請(qǐng)人:皇家飛利浦電子股份有限公司