專利名稱：使用中子伽瑪射線測量結(jié)果確定地下地層的密度的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及使用中子伽馬射線測量結(jié)果確定地下地層的密度。特別是，本發(fā)明提供用于分析中子伽瑪射線測量結(jié)果的技術(shù)，該測量結(jié)果與圍繞油氣工業(yè)中使用的類型的井眼的地下地層相關(guān)。
背景技術(shù)：
已知許多技術(shù)用于特征化圍繞井眼的地層的性質(zhì)。典型地，將包括信號源的工具主體放置在井眼中并且源用于詢問地層。測量回到工具主體的信號并且計算感興趣的參數(shù)。在工具主體緊貼井眼壁的地方，信號實質(zhì)上僅通過圍繞井眼的地層并且因此能夠用于以直接的方式推導(dǎo)感興趣的性質(zhì)。然而，在工具主體與井眼壁之間存在空間(有時稱作‘間隙(standoff)’)的地方，因為信號在進(jìn)入地層或從地層返回到工具主體之前通過井眼的內(nèi)含物(content)，所以引起了問題。從而井眼的內(nèi)含物將對信號具有影響，并且必須去除此影響或補償此影響，以確定感興趣的地層性質(zhì)，井眼的內(nèi)含物典型地為流體。補償井眼影響的一個公知的方法是在距源不同的距離對返回信號進(jìn)行兩次測量。 在典型的測量的尺度上，間隙和井眼影響在近和遠(yuǎn)的測量位置之間基本上不變化，使得兩個測量之間的唯一差異歸因于地層中信號路徑的差異，并且因此感興趣的地層性質(zhì)的差
已地層密度的測量是一種特征化圍繞油氣井等的地下地層的公知方式。存在能夠用于做這件事的許多基于核測量的技術(shù)。最通常的技術(shù)是伽瑪-伽瑪密度測井，其中，從工具主體中的例如發(fā)射0. 66MeV的伽瑪射線的137Cs的伽瑪射線源輻照地層。伽瑪射線通過地層，經(jīng)歷與地層的成分的相互作用并返回到井眼，在井眼處探測通量。于是能夠分析這個以確定地層密度。此技術(shù)已經(jīng)用于深井開鑿和LWD應(yīng)用，用于測井。為了補償井眼影響，經(jīng)常使用上述雙探測器途徑。US4^7575描述了伽瑪-伽瑪密度測井方法。因為伽瑪-伽瑪密度測井提供體地層密度，并且地下地層典型地為多孔的，所以已經(jīng)提出了將伽瑪-伽瑪密度測井與中子孔隙率(porosity)測量進(jìn)行組合。在中子孔隙率測井中，利用來自化學(xué)源或加速器源的高能中子輻照地層，化學(xué)源例如是產(chǎn)生4MeV的中子的241AmBe,加速器源例如是產(chǎn)生14MeV的中子的脈沖D-T加速器。隨著它們通過地層，它們與孔隙流體中的氫核相互作用，散射并損失能量。散射的中子回到工具主體中被探測并且能夠被分析以確定氫的量，并且因此確定地層的孔隙率。中子孔隙率測量能夠與伽瑪-伽瑪密度測量組合以確定巖層基質(zhì)的密度，如W02007/149869中描述的。再次，已經(jīng)采用了雙探測器補償技術(shù)來處理井眼影響。更近地，已經(jīng)研發(fā)了用于基于利用高能中子的輻照來確定地層密度的技術(shù)。中子將由地層散射，取決于地層密度。從而，測量返回中子能夠用于獲得地層密度的一些確定 (中子-中子密度)。然而，這能夠受到來自地層的孔隙率的多個干擾作用的影響。中子輻照也能夠?qū)е轮凶拥姆菑椥陨⑸?，伴隨伽瑪射線的生成。這些伽瑪射線能夠用于密度確定方法中(中子伽瑪密度)。在此情況下，地層有效地用作伽瑪射線的次級源，根據(jù)該次級源能夠確定密度。W096/08733、US5608215、和US2009/(^6359公開了用于密度確定的中子-中子和中子-伽瑪技術(shù)。存在用于分析雙間距(dual spaced)核測量的兩種通常的技術(shù)。在一種技術(shù)中， 使用在兩個探測器間距測得的信號的簡單的交會圖或比率并且將其與來自已知地層的校準(zhǔn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。此途徑通常用于中子-中子孔隙率和密度以及中子-伽瑪密度中。另一技術(shù)稱作脊肋(spine and rib)處理并且用于伽瑪-伽瑪密度上。此途徑基于在兩個探測器間距的測量的交會圖的確定和歸因于工具間隙而與此交會圖的偏離的確定，交會圖 (脊)和偏離(肋)的交點用于確定地層密度。此途徑的范例能夠在以上引用的文獻(xiàn)中找到。此發(fā)明基于如下認(rèn)識，脊肋途徑能夠應(yīng)用于中子-伽瑪密度技術(shù)中，即使測量所基于的基本過程(歸因于中子輻照在地層中產(chǎn)生伽瑪射線)基本與依賴于利用已知能量的伽瑪射線進(jìn)行直接輻照的伽瑪-伽瑪密度技術(shù)所基于的過程基本不同。

發(fā)明內(nèi)容
此方法提供一種根據(jù)對伽瑪射線的測量結(jié)果和對伽瑪射線通量的測量結(jié)果來確定圍繞井眼的地下地層的密度的方法，所述伽瑪射線源自位于所述井眼中的工具主體中的核源對所述地層的輻照，所述伽瑪射線通量為所述工具主體中距所述源兩個不同探測器間距處的伽瑪射線通量，所述方法包括-對無間隙的工具主體，確定在每個不同探測器間距處的伽瑪射線通量測量結(jié)果之間的關(guān)于所述地層的密度的基本直線的關(guān)系；-確定定義根據(jù)在所述兩個不同探測器間距處測得的伽瑪射線通量測量結(jié)果確定的密度相對于根據(jù)所述直線關(guān)系計算的密度的偏離關(guān)于工具間隙的關(guān)系；以及-對于在所述不同探測器間距處的給定對的伽瑪射線通量測量結(jié)果，確定定義所述偏離的所述關(guān)系與所述直線關(guān)系的交點，以便指示圍繞所述井眼的所述地層的密度，其中，所述源是中子源，并且在所述工具主體中測得的所述伽瑪射線是從對所述地層的中子輻照得到的中子誘發(fā)的伽瑪射線。其中，在所述工具主體中距所述源兩個不同的探測器間距處測量來自所述地層的中子通量，所述方法能夠包括針對地層中的中子輸運的影響，使用所述中子通量測量結(jié)果來校正所述伽瑪射線通量測量結(jié)果。所測得的伽瑪射線通量能夠包括從中子與所述地層的成分之間的非彈性相互作用得到的伽瑪射線。如果使用中子生成器來生成初始中子，則對中子通量的確定需要使用諸如中子監(jiān)視器的裝置來確定來自中子生成器的初始中子通量。如果使用化學(xué)源，則能夠通過校準(zhǔn)來確定初始通量。能夠根據(jù)關(guān)系P = a-bXln(net-inel/F(n))來針對在一間距處的伽瑪射線通量測量結(jié)果計算密度，其中，a和b為實驗推導(dǎo)的常數(shù)，net-inel為位于討論的所述間距處的伽瑪射線探測器處測得的凈非彈性伽瑪射線通量，并且F(n)為對應(yīng)的中子探測器測得的中子通量η的函數(shù)。對于給定對的通量測量結(jié)果，能夠根據(jù)關(guān)系Pb= Pls+Δ ρ，通過使用最靠近所述源的通量測量結(jié)果來校正針對最遠(yuǎn)離所述源的所述通量測量結(jié)果確定的密度來計算密度，其中，Pb為所述地層的密度，P β為根據(jù)最遠(yuǎn)離所述源的所述通量測量結(jié)果計算的密度，以及Δ ρ是密度的歸因于間隙的偏離。能夠根據(jù)以下形式的關(guān)系Δ ρ =A(Pls-Pss) +B (P B-Pss) 2+C( P κ Pss)3+…來計算Δ p，其中，Pss是根據(jù)最靠近所述源的所述通量測量結(jié)果計算的密度，且Α、B、C、…為實驗推導(dǎo)的常數(shù)。本發(fā)明的第二方面提供一種用于確定圍繞井眼的地層的密度的設(shè)備，所述設(shè)備包括-位于所述井眼中的工具主體；-所述工具主體中的用于輻照所述地層的中子源；以及-位于所述工具主體中的距所述中子源對應(yīng)的第一和第二間距處的第一和第二探測器；其中，所述第一和第二探測器布置為探測從對所述地層的中子輻照得到的伽瑪射線，所述設(shè)備還包括處理系統(tǒng)，用于-對無間隙的工具主體，確定在每個不同探測器間距處的伽瑪射線通量測量結(jié)果之間的關(guān)于所述地層的密度的基本直線的關(guān)系；-確定定義從在所述兩個不同探測器間距處測得的伽瑪射線通量測量結(jié)果確定的密度相對于根據(jù)從所述直線關(guān)系計算的密度的偏離關(guān)于工具間隙的關(guān)系；以及-對于在所述不同探測器間距處的給定對的伽瑪射線通量測量結(jié)果，確定定義所述偏離的所述關(guān)系與所述直線關(guān)系的交點，以便指示圍繞所述井眼的所述地層的密度。所述設(shè)備優(yōu)選地根據(jù)本發(fā)明的第一方面的方法進(jìn)行操作。根據(jù)以下描述，本發(fā)明的另外的方面將是明顯的。


圖1示出了用于井眼補償?shù)碾p探測器系統(tǒng)的圖示；圖2示出了中子-伽瑪密度工具的示意圖；圖3示出了長間距伽瑪射線測量與密度的關(guān)系的圖；圖4示出了根據(jù)本發(fā)明確定的脊肋圖；以及圖5示出了肋校正的圖。
具體實施例方式圖1示出了包括用于對地層測量進(jìn)行井眼補償?shù)碾p探測器系統(tǒng)的井眼工具的圖示。此工具架構(gòu)用于本發(fā)明所應(yīng)用的工具。在此系統(tǒng)中，工具主體10(于此示為懸掛于井眼中的深井開鑿(Wireline)工具，但是也能夠是LWD工具)安置于井眼中，在該主體與井眼壁之間具有間隙(standoff)。工具包括源和在距源12分別短和長探測器間距處的探測器14和16，源例如是核源(在本發(fā)明的情況下為脈沖高能中子源，例如D-T 14MeV的源，但是伽瑪射線源也是可能的)。使用中，從源12傳遞至短間距探測器14的信號將與井眼間隙d相交兩次并且將經(jīng)過長度X的地層路徑。傳遞至長間距探測器16的對應(yīng)信號將與井眼間隙d相交兩次并且將經(jīng)過X+Y的地層路徑長度。兩個信號之間的差異僅歸因于額外的地層路徑長度Y，所以從長間距信號減去短間距信號將給出差，該差實質(zhì)上僅歸因于地層性質(zhì)，而無源自間隙的任何井眼影響。雖然這是補償井眼影響的雙探測器途徑的簡化解釋，但是其給出了本發(fā)明中使用的基本技術(shù)和途徑。圖2示出了用于中子-伽瑪密度測量的通用工具。工具主體20包括形成鉆柱(未示出)的部分的LWD工具。工具主體20安置于井眼22中，在工具主體與井眼壁/地層M 之間具有間隙d。因為其是鉆孔工具，所以井眼中工具主體20的運動能夠意指間隙能夠是零與工具直徑和井眼直徑之間的差的最大值之間的任何距離(當(dāng)工具在一側(cè)與井眼壁接觸時)。從而，歸因于間隙而對測量的任何井眼影響將變化。14MeV的加速器中子源沈安裝于工具主體20中。中子探測器觀安裝于與源沈間隔開并配置為探測超熱中子的工具主體22中。伽瑪射線探測器30位于主體20中不同間距處。使用中，源以高能中子32的脈沖輻照地層M。這些以兩種主要方式與地層M的成分相互作用。其中一種方式是，中子經(jīng)歷彈性散射，損失能量于地層并以較低的超熱能返回到井眼，在井眼處它們由中子探測器觀探測。另一種方式是，中子經(jīng)歷非彈性散射，導(dǎo)致伽瑪射線34的形成。這些伽瑪射線傳播通過地層，與地層成分的電子相互作用并且從而受到地層密度的影響。在伽瑪射線探測器30處探測返回到井眼的伽瑪射線。在工具中，在表面處，或者既在工具中也在表面處，處理探測器的輸出，以根據(jù)測量結(jié)果推導(dǎo)地層的性質(zhì)。如根據(jù)以上描述清楚的，中子伽瑪密度測量基于在探測器處對中子誘發(fā)的伽瑪射線的探測，探測器放置在遠(yuǎn)離中子源處。探測器處的伽瑪射線通量受到至伽瑪射線產(chǎn)生中子相互作用的點的中子輸運和伽瑪射線從它們的起點至伽瑪射線探測器的隨后的輸運的影響。為了消除熱中子影響對答案(answer)的影響，僅測量高能中子產(chǎn)生的非彈性伽瑪射線。減去來自中子捕獲的背景。中子探測器的輸出用于解釋產(chǎn)生非彈性伽瑪射線的中子的輸運影響。實際上，雙探測器系統(tǒng)將用于補償井眼影響。這將包括短和長間距的伽瑪射線測量結(jié)果SS、LS ；和近和遠(yuǎn)中子測量結(jié)果Near和Far。因為井眼中的流體的密度通常與地層密度不同，所以將引起歸因于間隙的井眼影響。因此，如果流體密度比地層密度低，則具有間隙時測得的密度將相應(yīng)地比真實地層密度低，并且反之亦然。能夠通過使用以下等式對短間距和長間距密度計算中子-伽瑪密度響應(yīng)。P ss = ass-bssln (SSnet-inel/F (Near))ρ LS = aLS-bLSln (LSnet-inel/F (Far))其中，SSnet-inel =短間距探測器中的凈非彈性計數(shù)率LSnet-inel =長間距探測器中的凈非彈性計數(shù)率Near =來自近間距中子探測器的計數(shù)率Far =來自遠(yuǎn)間距中子探測器的計數(shù)率并且，函數(shù)形式F選擇為對密度產(chǎn)生線性依賴關(guān)系，如圖3中針對長間距密度P。 所示。此圖示出了根據(jù)長間距探測器計算的脊(無工具間隙)。能夠根據(jù)短間距探測器P ss 得到脊的類似圖。通常，函數(shù)形式F將不同地依賴于對用于補償中子輸運影響的中子探測器的選擇。使用近和遠(yuǎn)中子探測器的前述途徑的替代實施例是使用來自單個探測器的計數(shù)率用于Pu和Pss，使用針對相應(yīng)探測器的兩個不同函數(shù)F。中子探測器不限于超熱中子探測器。能夠使用快、超熱或熱中子的探測器，或其組
I=I O
能夠在Wahl，J. S.、Tittman, J.、Johnstone, C. W.以及 Alger，R. P.在 Thirty-ninth SPE Annual Meeting(1964)上陳述的"The Dual Spacing Formation Density Log，，中并且在 Tittman， J.禾口 Wahl， J.S.的"The Physical Foundations of Formation Density Logging(伽瑪-伽瑪)"(Geophysics，Vol. 30，1965)中找到適合于本發(fā)明的脊肋處理的合適形式的細(xì)節(jié)。在脊肋技術(shù)中，長間距密度P μ用于初始(primary)密度測量結(jié)果，因為源自間隙的井眼影響對整個測量響應(yīng)有最小的貢獻(xiàn)，而短間距密度P ss用于針對工具間隙校正長間距密度，因為源自間隙的井眼影響對整個測量響應(yīng)有較大的貢獻(xiàn)。使用以下表達(dá)式校正長間距密度Ptrue= P LS+Δ P 等式(1)其中，校正項Δ ρ典型地由以下表達(dá)式給出Ap = A ( P LS- P ss) +B ( P LS- P ss) 2+C ( P LS_ P ss)3+…等式(2)使得Pb=P ls+A (Pls-P ss) +B (Pls-P ss) 2+C ( P ls_ P ss) 3+…等式(3)其中，P β和P ss分別是長和短間距密度，P b是校正密度，且A、B、C是根據(jù)在已知條件下對響應(yīng)進(jìn)行特征化而得到的常數(shù)。圖4示出了脊肋圖。脊S包括以短Pss和長間距P。測得的密度的交會圖。肋R 是歸因于間隙而從此直線的偏離△ P。在示出的范例中，流體或泥漿密度Pmud低于地層密度Pb，這意味著長間距密度P μ和短間距密度Pss讀數(shù)均低于真實密度Pb。然而，短間距密度Pss將受到間隙更大的影響，并且從而交會圖測量點將位于脊的真實密度點Pb的左邊(并且因此在線以上)。長間距密度P μ讀數(shù)比真實密度Pb低Δ ρ的量。通過施加以上給出的校正，能夠確定真實密度Pb。如果ρ mud比地層密度P b高，則短和長間距密度P ss、P LS讀數(shù)比真實密度P b高 (即在脊的右邊和下邊)并且在相反指向上(opposite sense)施加校正。圖4中，肋脊在兩個點相交。在較低點，其指示極大的間隙并且從而示出了 Pmud。 較上交點在Pb處。等式⑵和(3)中的常數(shù)A與圖4中所示的脊和肋之間的角度相關(guān)。附加項包括在校正中，以解釋肋的彎曲。從而使用長和短間距密度之間的差異來測量工具間隙以針對間隙校正長間距密度。圖5示例作為短和長間距密度P LS-PSS的差的函數(shù)的校正項Δ ρ。密度比地層密度大的泥漿中的間隙產(chǎn)生正的△ P值(右手側(cè))，而密度比地層密度小的泥漿中的間隙給出負(fù)的Δ ρ值(左手側(cè))。能夠在本發(fā)明的范圍內(nèi)改變上述途徑。與其它技術(shù)相比，使用本發(fā)明的脊肋技術(shù)來校正工具間隙存在若干個優(yōu)點。存在試圖利用長和短間距探測器通量的比率來校正工具間隙的方法。這些技術(shù)通常導(dǎo)致對工具間隙的僅部分校正。即通量的比率仍然呈現(xiàn)出顯著的殘余工具間隙影響，需要其它方式的進(jìn)一步的校正，通常需要關(guān)于測井環(huán)境的附加和或許不可用的信息。使用短和長間距響應(yīng)的簡單交會繪圖的技術(shù)直覺上是吸引人的，但是受到以下方面的影響a)需要已知條件下工具響應(yīng)的非常大的數(shù)據(jù)庫的實際；b)當(dāng)測井期間遇到的條件不在數(shù)據(jù)庫點附近時，需要精確的和通常非常復(fù)雜的插值方案；以及c)當(dāng)在測井期間遇到落在在已知條件下確定的響應(yīng)數(shù)據(jù)庫“地圖”外的響應(yīng)時，不能產(chǎn)生合理的答案。
權(quán)利要求
1.一種根據(jù)對伽瑪射線的測量結(jié)果和對伽瑪射線通量的測量結(jié)果來確定圍繞井眼的地下地層的密度的方法，所述伽瑪射線源自位于所述井眼中的工具主體中的核源對所述地層的輻照，所述伽瑪射線通量為所述工具主體中距所述源兩個不同探測器間距處的伽瑪射線通量，所述方法包括-對無間隙的工具主體，確定在每個不同探測器間距處的伽瑪射線通量測量結(jié)果之間的關(guān)于所述地層的密度的基本直線的關(guān)系；-確定定義根據(jù)在所述兩個不同探測器間距處測得的伽瑪射線通量測量結(jié)果確定的密度相對于根據(jù)所述直線關(guān)系計算的密度的偏離關(guān)于工具間隙的關(guān)系；以及-對于在所述不同探測器間距處的給定對的伽瑪射線通量測量結(jié)果，確定定義所述偏離的所述關(guān)系與所述直線關(guān)系的交點，以便指示圍繞所述井眼的所述地層的密度，其中，所述源是中子源，并且在所述工具主體中測得的所述伽瑪射線是從對所述地層的中子輻照得到的中子誘發(fā)的伽瑪射線。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括在所述工具主體中距所述源兩個不同的探測器間距處測量伽瑪射線通量。
3.如權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，在所述工具主體中距所述源兩個不同的探測器間距處測量來自所述地層的中子通量，所述方法包括針對至所述中子誘發(fā)的伽瑪射線的起始點的中子輸運的影響，使用所述中子通量測量結(jié)果來校正所述伽瑪射線通量測量結(jié)果。
4.如任一前述權(quán)利要求所述的方法，其中，所測得的伽瑪射線通量包括從中子與所述地層的成分之間的非彈性相互作用得到的伽瑪射線。
5.如權(quán)利要求1-4中任一項所述的方法，其中，對伽瑪射線通量的測量包括測量從中子與所述地層的成分之間的捕獲反應(yīng)得到的伽瑪射線。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，包括測量從熱中子捕獲反應(yīng)得到的伽馬射線。
7.如任一前述權(quán)利要求所述的方法，還包括在所述工具主體中距所述源兩個不同的探測器間距處測量來自所述地層的中子通量。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，其中，根據(jù)關(guān)系P=a-bXln(net-inel/F(n))來針對在一間距處的伽瑪射線通量測量結(jié)果計算密度，其中，a和b為實驗推導(dǎo)的常數(shù)，net-inel為位于討論的所述間距處的伽瑪射線探測器處測得的凈非彈性伽瑪射線通量，并且F(n)為針對相應(yīng)的中子探測器測量的中子通量。
9.如任一前述權(quán)利要求所述的方法，其中，對于給定對的通量測量結(jié)果，根據(jù)關(guān)系Pb =Pls+Δ P，通過使用最靠近所述源的通量測量結(jié)果來校正針對最遠(yuǎn)離所述源的所述通量測量結(jié)果確定的密度來計算密度，其中，Pb為所述地層的密度，Pu為根據(jù)最遠(yuǎn)離所述源的所述通量測量結(jié)果計算的密度，以及△ P為由于間隙而造成的密度的偏離。
10.如權(quán)利要求9所述的方法，其中，根據(jù)以下形式的關(guān)系ΔP = A(Pls-Pss)+B(Pls 1%尸+(&『0%)3+丨來計算Δ p，其中，Pss是根據(jù)最靠近所述源的所述通量測量結(jié)果計算的密度，且Α、B、C、…為實驗推導(dǎo)的常數(shù)。
11.一種用于確定圍繞井眼的地層的密度的設(shè)備，所述設(shè)備包括-位于所述井眼中的工具主體；-所述工具主體中的用于輻照所述地層的中子源；以及-位于所述工具主體中的距所述中子源對應(yīng)的第一和第二間距處的第一和第二探測器；其中，所述第一和第二探測器布置為探測從對所述地層的中子輻照得到的伽瑪射線， 所述設(shè)備還包括處理系統(tǒng)，用于-對無間隙的工具主體，確定在每個不同探測器間距處的伽瑪射線通量測量結(jié)果之間的關(guān)于所述地層的密度的基本直線的關(guān)系；-確定定義根據(jù)在所述兩個不同探測器間距處測得的伽瑪射線通量測量結(jié)果確定的密度相對于根據(jù)所述直線關(guān)系計算的密度的偏離關(guān)于工具間隙的關(guān)系；以及-對于在所述不同探測器間距處的給定對的伽瑪射線通量測量結(jié)果，確定定義所述偏離的所述關(guān)系與所述直線關(guān)系的交點，以便指示圍繞所述井眼的所述地層的密度。
12.如權(quán)利要求11所述的設(shè)備，其中，所述處理系統(tǒng)被配置為執(zhí)行如權(quán)利要求1-10中的任一項所述的方法。
全文摘要
一種根據(jù)對伽瑪射線的測量結(jié)果和對伽瑪射線通量的測量結(jié)果來確定圍繞井眼的地下地層的密度的方法，所述伽瑪射線源自位于所述井眼中的工具主體中的核源對所述地層的輻照，所述伽瑪射線通量為所述工具主體中距所述源兩個不同探測器間距處的伽瑪射線通量，所述方法包括對無間隙的工具主體，確定在每個不同探測器間距處的伽瑪射線通量測量結(jié)果之間的關(guān)于所述地層的密度的基本直線的關(guān)系；確定定義根據(jù)在所述兩個不同探測器間距處測得的伽瑪射線通量測量結(jié)果確定的密度相對于根據(jù)所述直線關(guān)系計算的密度的偏離關(guān)于工具間隙的關(guān)系；以及對于在所述不同探測器間距處的給定對的伽瑪射線通量測量結(jié)果，確定定義所述偏離的所述關(guān)系與所述直線關(guān)系的交點，以便指示圍繞所述井眼的所述地層的密度，其中，所述源是中子源，并且在所述工具主體中測得的所述伽瑪射線是從對所述地層的中子輻照得到的中子誘發(fā)的伽瑪射線。
文檔編號G01V5/10GK102428392SQ201080021375
公開日2012年4月25日 申請日期2010年4月14日 優(yōu)先權(quán)日2009年4月17日
發(fā)明者M·埃文斯 申請人:普拉德研究及開發(fā)股份有限公司