專利名稱：一種x衍射用多尺寸固體塊狀樣品分析臺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種儀器分析樣品臺，特別涉及一種X衍射用多尺寸 固體塊狀樣品分析臺。
技術(shù)背景布魯克D8 Discovery型衍射儀在對鋼鐵塊狀樣品進行衍射分析時，對于樣品尺寸 大小有著嚴(yán)格限定，只有滿足標(biāo)準(zhǔn)要求的樣品才能直接采用該設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)樣品臺進行固定。 對于小樣品或者不規(guī)則形狀的樣品，常采用粘結(jié)劑粘貼在樣品臺上進行固定。更小規(guī)格的 厚樣品則需定制專門的小樣品臺進行固定。固體樣品一般需加工成標(biāo)準(zhǔn)尺寸，且在測量面 需表面平整、光滑。對于小尺寸樣品，需加工成厚度一致的樣品，且樣品雙面均需達到表面 平整、光滑。而對于粉末樣品，常采用玻璃或者其他材料制作固定的尺寸的樣品杯，中間位 置需有不透凹槽，將粉末填裝在凹槽內(nèi)；或者將粉末樣品進行壓塊制成樣片后再粘貼在樣 品臺上進行固定，制備的樣品尺寸要求也同上面一致。上述所說的樣品臺無論標(biāo)準(zhǔn)樣品臺或者專門定制的小樣品臺均為單一的功能性， 在樣品條件不滿足標(biāo)準(zhǔn)要求的情況下就需要進行更換樣品臺或者改變樣品處理方式等，操 作繁瑣，效率低下，沒有達到一種通用互換的模式。中國專利200720174416. 0公開了 了一種X射線衍射樣品架，中下部為一固定構(gòu) 件，其設(shè)計在放樣品的平面上腐蝕個固定尺寸的凹槽，將待測樣品置于凹槽內(nèi)。樣品通過橡 皮泥、雙面膠或者膠水固定在凹槽內(nèi)。此設(shè)計樣品局限于凹槽的深度和形狀大小，使樣品適 應(yīng)樣品臺。涉及的粉末樣品分析，依舊延續(xù)載波片上腐蝕凹槽，粉末樣品填裝在內(nèi)，通過固 定載波片來進行衍射分析，但載波片無法放置于X熒光儀上進行分析。該專利僅改善樣品 臺的構(gòu)造，對不同厚度的樣品以粘結(jié)材料加以固定，表面平整度難以控制。在實驗室，因各類復(fù)雜的研究問題以及不同樣品來源，在檢測過程中常常會遇到 樣品規(guī)格無法制備成標(biāo)準(zhǔn)樣品臺的要求，而常規(guī)采取用粘結(jié)劑、樣品附著在其他物質(zhì)表面 或者更換適合小樣品尺寸的樣品臺進行固定測量，不僅工作效率低下，而且頻繁拆卸樣品 臺，或者采用粘結(jié)劑粘貼樣品在樣品臺的做法對樣品臺本身也有損傷，有時因無法保證樣 品測量面與樣品臺處于同一平面而導(dǎo)致錯誤的測量結(jié)果。隨著現(xiàn)代的檢測技術(shù)的發(fā)展，多種檢測設(shè)備協(xié)調(diào)工作，共同研究樣品的特性已成 為常態(tài)，對于同一樣品經(jīng)一次制樣后可滿足不同設(shè)備的檢測要求，即有利于試驗效率的提 高又有利于樣品制備成本的降低，如對于粉末樣品，X熒光光譜儀的壓片樣品，可直接應(yīng)用 于X衍射儀上進行物相分析，又如，測量硬度的試樣可直接用于X衍射儀上進行衍射和應(yīng)力 分析等，避免造成多次重復(fù)制備樣品，特別是在面對樣品量比較少的時候，無法實現(xiàn)多次制 樣，該樣品臺就發(fā)揮了其有效的作用，這也正是本實用新型要研究的課題
實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的在于提供一種可適用多規(guī)格樣品的X衍射用多尺寸固體塊狀 樣品分析臺。主要解決采取用粘結(jié)劑、樣品附著在其他物質(zhì)表面或者更換適合小樣品尺寸的樣品臺進行固定測量，不僅工作效率低下，且導(dǎo)致錯誤的測量結(jié)果的技術(shù)問題。本實用新型的技術(shù)方案一種X衍射用多尺寸固體塊狀樣品分析臺，其特征是由 基座、樣品測試擋板框架、樣品固定彈簧機構(gòu)和不同開口直徑的上蓋片組成，樣品測試擋板 框架固定在基座上形成內(nèi)空的箱體結(jié)構(gòu)，樣品固定彈簧機構(gòu)由彈簧和升降滑塊組成，彈簧 安置在基座的中部，彈簧上端固定有安放樣品的升降滑塊，所述的上蓋片固定在樣品測試 擋板框架上。基座下表面設(shè)有與X衍射儀連接的定位銷，樣品測試擋板框架與基座成60-90°夾角。本實用新型的有益效果是本實用新型可以解決不同尺寸、厚度固體等非標(biāo)準(zhǔn)尺 寸樣品在X衍射分析時樣品臺的統(tǒng)一，不必因尺寸問題更換樣品臺以及二次樣品加工處 理，即可直接進行測量，適用于實驗室目前可以接觸的各類尺寸的樣品，特別是解決了粉末 樣品X熒光儀上和X衍射儀檢測的二次制樣問題，極大提高制樣效率和有效利用檢測樣品， 提高了檢測的工作效率。與對比文件200720174416.0相比具有通過改善樣品架和樣品臺 的結(jié)構(gòu)，利用彈簧機構(gòu)，將待測量樣品直接固定于樣品臺上，彈簧機構(gòu)根據(jù)樣品的厚薄進行 伸縮，以實現(xiàn)與樣品臺上蓋片緊密貼合。對于小尺寸樣品，根據(jù)其形狀大小選用不同開口尺 寸的上蓋片于樣品臺用鉚釘鉚合。可適合不同厚薄、不同形狀大小的樣品，使樣品臺適應(yīng)樣 品。以適應(yīng)不同尺寸和厚度的樣品測量要求，無需采用粘結(jié)材料對樣品進行固定，能保證樣 品表面的平整度。對粉末樣品進行固定分析時著重考慮的是不同設(shè)備在經(jīng)過一次制樣后都 可以直接測量，如經(jīng)過壓塊機壓制的樣品可直接在X熒光儀上檢測，又可以固定在本專利 的樣品臺上進行衍射分析。

圖1為本實用新型結(jié)構(gòu)示意主視圖圖2為本實用新型結(jié)構(gòu)示意俯視圖圖中1-定位銷，2-基座，3-樣品測試擋板框架，4-彈簧孔，5-彈簧，6-升降滑塊， 7-上蓋片，8-上蓋片開口直徑，9-螺絲。
具體實施方式
參照圖1、2，通過定位銷1將樣品臺基座2固定在儀器上，樣品測試擋板框架與 基座成90°夾角(也可與基座呈60-90°夾角，小于90°時，上蓋片開口直徑可增大，可 用于檢測較大樣品)，樣品固定彈簧5放置在測試擋板框架內(nèi)并垂直于基座，一端嵌入基座 的彈簧孔4中，另一端頂起樣品測試擋板框架的升降滑塊6，制備好的樣品置于升降滑塊6 上，根據(jù)制備好的樣品尺寸大小選擇合適的上蓋片開口直徑8的上蓋片7，通過螺絲9將 上蓋片固定在樣品測試擋板框架上，進行測量。可解決尺寸在50mmX50mm(或050mm) lOmmXIOmm(或OlOmm)之間，樣品厚度為50mm以下的樣品，該尺寸基本包含了實驗室內(nèi) 部可涉及到的所有檢測試樣，特別是實現(xiàn)了粉末樣品在壓塊處理后同時適用于X熒光儀和 X衍射儀的檢測，極大地提高了檢測效率。本樣品臺加工簡單，拆卸方便，無需外部能源，安 全性好，無燃燒，爆炸等不安全因素。
權(quán)利要求一種X衍射用多尺寸固體塊狀樣品分析臺，其特征是由基座、樣品測試擋板框架、樣品固定彈簧機構(gòu)和不同開口直徑的上蓋片組成，樣品測試擋板框架固定在基座上形成內(nèi)空的箱體結(jié)構(gòu)，樣品固定彈簧機構(gòu)由彈簧和升降滑塊組成，彈簧安置在基座的中部，彈簧上端固定有安放樣品的升降滑塊，所述的上蓋片固定在樣品測試擋板框架上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種X衍射用多尺寸固體塊狀樣品分析臺，其特征是基座下 表面設(shè)有與X衍射儀連接的定位銷。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種X衍射用多尺寸固體塊狀樣品分析臺，其特征是樣品測 試擋板框架與基座成60-90°夾角。
專利摘要本實用新型涉及一種儀器分析樣品臺，特別涉及一種X衍射用多尺寸固體塊狀樣品分析臺。主要解決采取用粘結(jié)劑、樣品附著在其他物質(zhì)表面或者更換適合小樣品尺寸的樣品臺進行固定測量，不僅工作效率低下，且導(dǎo)致錯誤的測量結(jié)果的技術(shù)問題。本實用新型的技術(shù)方案一種X衍射用多尺寸固體塊狀樣品分析臺，其特征是由基座、樣品測試擋板框架、樣品固定彈簧機構(gòu)和不同開口直徑的上蓋片組成，樣品測試擋板框架固定在基座上形成內(nèi)空的箱體結(jié)構(gòu)，樣品固定彈簧機構(gòu)由彈簧和升降滑塊組成，彈簧安置在基座的中部，彈簧上端固定有安放樣品的升降滑塊，所述的上蓋片固定在樣品測試擋板框架上。本實用新型主要用于對鋼鐵塊狀樣品進行衍射分析。
文檔編號G01N23/20GK201653939SQ20102014490
公開日2010年11月24日 申請日期2010年3月23日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月23日
發(fā)明者吳小紅, 周桂海, 孫華云, 徐永宏, 胡宏衛(wèi) 申請人:上海梅山鋼鐵股份有限公司