專利名稱：Av端口專用測試探針的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及電子檢測器具，尤其涉及一種專門用來檢測AV(音頻Audio和視 頻Video的簡稱)端口質(zhì)量性能的測試探針。
背景技術(shù)：
當(dāng)前在電子產(chǎn)品生產(chǎn)中的測試環(huán)節(jié)，對于傳統(tǒng)AV信號的測試，通常是通過直接在 PCB板(印刷電路板)上的AV焊接點上獲取信號的方式來進(jìn)行測試；以這樣的方式完成測 試，往往無法測試出AV端口實際上的好壞，因而所測試的AV端口，其產(chǎn)品質(zhì)量將會埋下一 定的隱患。由于AV端口的正常使用過程是AV信號經(jīng)過連接線與AV連接器件端口插件連 接，端口插件經(jīng)引線與PCB板焊盤焊接；而前述傳統(tǒng)AV信號的測試環(huán)節(jié)中，傳統(tǒng)AV端口的 測試探針會直接下在PCB板焊盤上，也就是在測試過程中跳過了 AV連接器，因而不會測試 到AV連接器的好與壞。

實用新型內(nèi)容本實用新型所要解決的技術(shù)問題在于提供一種AV端口專用測試探針，它通過對 測試探針的結(jié)構(gòu)改進(jìn)，改變了測試過程中探針與AV連接器的相關(guān)觸及位置，進(jìn)而實現(xiàn)了對 AV連接器的電學(xué)質(zhì)量性能的測試，徹底解決了傳統(tǒng)AV端口在PCB板上測試時，遺留的質(zhì)量 隱患問題。其所要解決的技術(shù)問題可以通過以下技術(shù)方案來實施。一種AV端口專用測試探針，包括具有共同軸心的內(nèi)測試針和外測試針，所述內(nèi)測 試針和外測試針沿所述軸心的軸線方向分別經(jīng)一彈性部件沿各自針頭方向所抵持，并且， 所述內(nèi)測試針和所述外測試針經(jīng)定位件插接定位；所述內(nèi)測試針外部設(shè)有一內(nèi)測試針套， 所述外測試針外部設(shè)有一外測試針套，所述內(nèi)測試針套和所述外測試針間還設(shè)有絕緣套。作為本技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn)，所述彈性部件分別為抵持內(nèi)測試針的內(nèi)測試針壓 簧和抵持外測試針的外測試針壓簧。作為本實用新型的優(yōu)選實施例之一，所述定位件為設(shè)于該專用測試探針尾部的一 定位板。也作為本技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn)，所述內(nèi)測試針的基材為鈹銅，表面為鍍金、鍍銀 或鍍鎳層。還作為本技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn)，所述內(nèi)測試針套和/或所述外測試針的基材為 磷青銅，表面為鍍金、鍍銀或鍍鎳層。又作為本技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn)，所述外測試針套為磷青銅針套。作為本實用新型的另一優(yōu)選實施例，所述內(nèi)測試針壓簧和/或外測試針壓簧的壓 縮行程為8——10mm。另外，所述內(nèi)測試針的端部最好為球形。[0014]作為本技術(shù)方案的更進(jìn)一步改進(jìn)，所述外測試針的端部為60度內(nèi)錐邊。同樣，所述內(nèi)測試針和外測試針的同心度最好不大于0. 1mm。采用該技術(shù)方案的AV端口專用測試探針用來進(jìn)行AV端口測試時，通過將測試探 針直接下在了 AV連接器的插件端口上，從而把AV連接器、AV連接器與PCB板的焊接質(zhì)量 全部檢測進(jìn)去，消除現(xiàn)有檢測方式無法檢測AV連接器的質(zhì)量隱患，提高了產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定 性。是一種非常有效的測試方案。
以下結(jié)合附圖對本實用新型的具體實施方式
作一詳細(xì)說明。

圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本實用新型的零件分解圖。圖中11——內(nèi)測試針 111——內(nèi)測試針頭 12——內(nèi)測試針套13——內(nèi)測試針壓簧 21——外測試針 22——外測試針套221——定位耳 23——外測試針壓簧 3——絕緣套4——定位板
具體實施方式
如圖1和圖2所示的AV端口專用測試探針，主要基于電子測試領(lǐng)域測試探針的改 進(jìn)，該AV專用測試探針結(jié)構(gòu)上主要由內(nèi)測試針11和內(nèi)測試針套12、外測試針21和外測試 枕套22及絕緣套3所組成；各部件的結(jié)構(gòu)特點及組成和相互關(guān)系具體如下1.內(nèi)測試針和測試針套1. 1內(nèi)測試針內(nèi)測試針11采用鈹銅材料，表面鍍金、銀或鎳等，以保證測試接觸的可靠性；內(nèi)測 試針11的端部為球形的內(nèi)測試針頭。1. 2內(nèi)測試針套內(nèi)測試針套12采用磷青銅材料，表面鍍金、銀或鎳等，以保證測試接觸可靠性。1. 3測試彈簧內(nèi)測試針壓簧13壓力適中，內(nèi)測試針11在彈簧的作用下行程為8-10mm。2.外測試針和外測試針套2. 1外測試針外測試針21采用磷青銅材料，表面鍍金、銀或鎳等，以保證測試接觸可靠性。外測 試針21的端部形狀為60度內(nèi)錐邊。2. 2外測試針套外測試針套22采用磷青銅材料。2. 3測試彈簧外測試針壓簧23壓力適中，外測試針21在彈簧的作用下行程為8-10mm。3.內(nèi)、外測試針套的組裝3. 1將內(nèi)測試針11及內(nèi)測試針套12安裝在絕緣套3的內(nèi)孔中，有定位臺階控制安
裝位置。[0041]3. 2將內(nèi)、外測試針11和21分別以插接的形式安裝在AV專用測試針的定位板4 上(其中外測試針21是通過其外部的外測試針套22上的定位耳221實現(xiàn)與定位板4的連 接的)；同時要保證內(nèi)、外測試針11和12的同心度在0. Imm之內(nèi)。內(nèi)、外測試針11和12分 別在內(nèi)測試針壓簧13和外測試針壓簧23的作用下能夠?qū)崿F(xiàn)上下移動自如的狀態(tài)。本實用新型提供的AV端口專用測試針具有如下工作特點1. AV專用測試探針可以以普通探針的安裝形式安裝在測試針床上，也可以以功能 測試形式安裝在功能測試儀上。2. AV專用測試探針與AV連接器的連接時，首先內(nèi)測試針11進(jìn)入AV連接器內(nèi)孔， 并與信號點接觸，同時也起到為外測試針12定位作用。當(dāng)外測試針12與AV連接器的外接 觸點接觸時，整個連接過程結(jié)束。3. AV專用測試探針在測試狀態(tài)下，在彈簧力的作用下，與被側(cè)器件緊密接觸，由于 接觸面鍍金，使得接觸電阻很小，測試性能可靠。4.當(dāng)測試治具與AV專用測試針定位誤差在允許范圍內(nèi)時，由于AV專用測試針內(nèi) 測試針11的內(nèi)測試針頭111是球形，它可以自動導(dǎo)向進(jìn)入被測試孔；當(dāng)定位誤差過大時，它 將被頂起。這時內(nèi)測試針11的尾部導(dǎo)向桿伸出AV專用測試針的定位板4外，能及時報警 提醒操作者調(diào)整誤差。5.該AV專用測試探針使用壽命較長，這主要是由于它的加工要求很高。各滑動面 要盡量減少摩擦，彈簧的作用力不能因為加工的粗糙而受影響。以確保AV專用測試探針在 額定彈力下它的導(dǎo)電性能是合格的。6.該AV專用測試探針經(jīng)過測試，其可通過的電壓及電流強度遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于AV連接器 的測試要求，以確保產(chǎn)品在客戶的使用環(huán)境下能夠正常工作。7.該AV專用測試探針在特殊的側(cè)放狀態(tài)下也能正常工作。由于該AV專用測試探針的接觸表面都涂有鍍金，因此在日常維護(hù)時要避免用手 和其他硬質(zhì)器件碰擊，防止降低使用周期。同樣該AV專用測試探針要定期進(jìn)行維護(hù)保養(yǎng)， 保養(yǎng)周期可以與傳統(tǒng)探針相同。AV專用測試探針的更換是整體更換，這有別于傳統(tǒng)測試探 針的更換。本實用新型提供的AV端口專用探針，由內(nèi)芯探針和外部探針復(fù)合組成，通過兩組 探測彈簧的壓力，使內(nèi)、外探針分別作用于AV連接器的內(nèi)部和外部接觸點上，分別同時測 試AV連接器本體和AV連接器與PCB板焊接的質(zhì)量。徹底解決了傳統(tǒng)AV端口在PCB板上 測試時，遺留的質(zhì)量隱患問題。
權(quán)利要求一種AV端口專用測試探針，其特征在于，包括具有共同軸心的內(nèi)測試針和外測試針，所述內(nèi)測試針和外測試針沿所述軸心的軸線方向分別經(jīng)一彈性部件沿各自針頭方向所抵持，并且，所述內(nèi)測試針和所述外測試針經(jīng)定位件插接定位；所述內(nèi)測試針外部設(shè)有一內(nèi)測試針套，所述外測試針外部設(shè)有一外測試針套，所述內(nèi)測試針套和所述外測試針間還設(shè)有絕緣套。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的AV端口專用測試探針，其特征在于，所述彈性部件分別為抵 持內(nèi)測試針的內(nèi)測試針壓簧和抵持外測試針的外測試針壓簧。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的AV端口專用測試探針，其特征在于，所述定位件為設(shè)于該專 用測試探針尾部的一定位板。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的AV端口專用測試探針，其特征在于，所述內(nèi)測試針的基材為 鈹銅，表面為鍍金、鍍銀或鍍鎳層。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的AV端口專用測試探針，其特征在于，所述內(nèi)測試針套和/或 所述外測試針的基材為磷青銅，表面為鍍金、鍍銀或鍍鎳層。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的AV端口專用測試探針，其特征在于，所述外測試針套為磷青 銅針套。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的AV端口專用測試探針，其特征在于，所述內(nèi)測試針壓簧和/ 或外測試針壓簧的壓縮行程為8 10mm。
8.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的AV端口專用測試探針，其特征在于，所述內(nèi)測試針的端 部為球形。
9.根據(jù)權(quán)利要求1或5所述的AV端口專用測試探針，其特征在于，所述外測試針的端 部為60度內(nèi)錐邊。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的AV端口專用測試探針，其特征在于，所述內(nèi)測試針和外測試 針的同心度不大于0. 1mm。
專利摘要本實用新型涉及一種AV端口專用測試探針，包括具有共同軸心的內(nèi)測試針和外測試針，所述內(nèi)測試針和外測試針沿所述軸心的軸線方向分別經(jīng)一彈性部件沿各自針頭方向所抵持，并且，所述內(nèi)測試針和所述外測試針經(jīng)定位件插接定位；所述內(nèi)測試針外部設(shè)有一內(nèi)測試針套，所述外測試針外部設(shè)有一外測試針套，所述內(nèi)測試針套和所述外測試針間還設(shè)有絕緣套。它將測試探針直接下在了AV連接器的插件端口上，從而把AV連接器、AV連接器與PCB板的焊接質(zhì)量全部檢測進(jìn)去，消除現(xiàn)有檢測方式無法檢測AV連接器的質(zhì)量隱患，提高了產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定性。
文檔編號G01R1/067GK201673179SQ20102012722
公開日2010年12月15日 申請日期2010年3月10日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月10日
發(fā)明者魏秦 申請人:上海凱恒電子科技有限公司