專利名稱：一種圓盤鑄件用多孔位檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種檢測(cè)裝置，尤其涉及一種圓盤鑄件用多孔位檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
汽車行業(yè)零部件生產(chǎn)在于大批量，多孔位壓鑄件是汽車零部件的典型零件，該類型零件測(cè)量無外乎兩種方式進(jìn)行一是，使用相應(yīng)的測(cè)量量具，對(duì)孔位位置度進(jìn)行單個(gè)測(cè)量，具有測(cè)量準(zhǔn)確，測(cè)量時(shí)間長(zhǎng)，單件零件測(cè)量等特點(diǎn)；二是，采用兩個(gè)定位方式定位，其它采用沉頭孔或通孔確認(rèn)產(chǎn)品孔的位置，再使用相應(yīng)尺寸的銷子對(duì)每個(gè)孔進(jìn)行驗(yàn)證。但是，現(xiàn)有檢測(cè)中所用到的各種檢測(cè)裝置使用起來都過于復(fù)雜，檢測(cè)人員不能在第一時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)對(duì)所有孔的快速精確檢測(cè)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)存在的以上問題，提供一種圓盤鑄件用多孔位檢測(cè)裝置。為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的目的一種圓盤鑄件用多孔位檢測(cè)裝置，包括有圓盤狀檢測(cè)裝置本體，其中所述的圓盤狀檢測(cè)裝置本體上設(shè)置有與待檢測(cè)圓盤鑄件的主孔位置相對(duì)應(yīng)的主基準(zhǔn)測(cè)量組件；所述的主基準(zhǔn)測(cè)量組件四周設(shè)置有與待檢測(cè)圓盤鑄件的副孔位置相對(duì)應(yīng)的副基準(zhǔn)測(cè)量組件。進(jìn)一步地，上述的一種圓盤鑄件用多孔位檢測(cè)裝置，其中，所述的副基準(zhǔn)測(cè)量組件高度低于主基準(zhǔn)測(cè)量組件的高度。更進(jìn)一步地，上述的一種圓盤鑄件用多孔位檢測(cè)裝置，其中，所述的主基準(zhǔn)測(cè)量組件為直形銷；所述的副基準(zhǔn)測(cè)量組件為定位銷。采用本發(fā)明技術(shù)方案，由于主基準(zhǔn)測(cè)量組件與副基準(zhǔn)測(cè)量組件與各個(gè)待檢測(cè)的孔位置相對(duì)應(yīng)，只要在待檢測(cè)圓盤鑄件上扣上本發(fā)明即可在很短時(shí)間內(nèi)一次性檢測(cè)多個(gè)孔位。這樣，使用者不需要采用多個(gè)復(fù)雜的檢測(cè)裝置來挨個(gè)進(jìn)行孔位檢查，有利于實(shí)際生產(chǎn)中的快速而精確的檢測(cè)。本發(fā)明的目的、優(yōu)點(diǎn)和特點(diǎn)，將通過下面優(yōu)先實(shí)施例的非限制性說明進(jìn)行圖示和解釋，這些實(shí)施例是參照附圖僅作為例子給出的。


圖1是本圓盤鑄件用多孔位檢測(cè)裝置的正面構(gòu)造示意圖；圖2是本圓盤鑄件用多孔位檢測(cè)裝置的側(cè)面構(gòu)造示意圖。圖中各附圖標(biāo)記的含義如下1圓盤狀檢測(cè)裝置本體2直形銷3定位銷
具體實(shí)施例方式如圖1、圖2所示的一種圓盤鑄件用多孔位檢測(cè)裝置，包括有圓盤狀檢測(cè)裝置本體 1，其與眾不同之處在于本發(fā)明所采用的圓盤狀檢測(cè)裝置本體1上設(shè)置有與待檢測(cè)圓盤鑄件的主孔位置相對(duì)應(yīng)的主基準(zhǔn)測(cè)量組件。同時(shí)，在主基準(zhǔn)測(cè)量組件四周設(shè)置有與待檢測(cè)圓盤鑄件的副孔位置相對(duì)應(yīng)的副基準(zhǔn)測(cè)量組件。結(jié)合本發(fā)明一較佳的實(shí)施方式來看，考慮到能夠通過主基準(zhǔn)測(cè)量組件首先進(jìn)行一個(gè)圓盤鑄件的中心定位，本發(fā)明所采用的副基準(zhǔn)測(cè)量組件高度低于主基準(zhǔn)測(cè)量組件的高度。進(jìn)一步來看，為了提高檢測(cè)的精確程度，在本檢測(cè)裝置扣合到待檢測(cè)圓盤鑄件上時(shí)能夠讓檢測(cè)者第一時(shí)間知曉圓盤鑄件是否合格，本發(fā)明所采用的主基準(zhǔn)測(cè)量組件為直形銷2，而副基準(zhǔn)測(cè)量組件為定位銷3。結(jié)合本發(fā)明的實(shí)際使用情況來看，將其扣合到待檢測(cè)圓盤鑄件上。此時(shí)，直形銷2 插入待檢測(cè)圓盤鑄件的主孔內(nèi)，進(jìn)行一個(gè)中心定位。之后，稍作旋轉(zhuǎn)本檢測(cè)裝置，另定位銷 3的位置與副孔相對(duì)應(yīng)。在此期間，如果各個(gè)定位銷3均能順利沒入副孔內(nèi)，則可判定該圓盤鑄件的各個(gè)孔開設(shè)合格。如果出現(xiàn)個(gè)別定位銷3無法與副孔相對(duì)應(yīng)，既整個(gè)檢測(cè)裝置與水平面出現(xiàn)傾斜角度，則判斷為該圓盤鑄件有孔開設(shè)不合格。通過上述的文字表述并結(jié)合附圖可以看出，采用本發(fā)明后，由于主基準(zhǔn)測(cè)量組件與副基準(zhǔn)測(cè)量組件與各個(gè)待檢測(cè)的孔位置相對(duì)應(yīng)，只要在待檢測(cè)圓盤鑄件上扣上本發(fā)明即可在很短時(shí)間內(nèi)一次性檢測(cè)多個(gè)孔位。這樣，使用者不需要采用多個(gè)復(fù)雜的檢測(cè)裝置來挨個(gè)進(jìn)行孔位檢查，有利于實(shí)際生產(chǎn)中的快速而精確的檢測(cè)。當(dāng)然，以上僅是本發(fā)明的具體應(yīng)用范例，對(duì)本發(fā)明的保護(hù)范圍不構(gòu)成任何限制。除上述實(shí)施例外，本發(fā)明還可以有其它實(shí)施方式。凡采用等同替換或等效變換形成的技術(shù)方案，均落在本發(fā)明所要求保護(hù)的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種圓盤鑄件用多孔位檢測(cè)裝置，包括有圓盤狀檢測(cè)裝置本體，其特征在于所述的圓盤狀檢測(cè)裝置本體上設(shè)置有與待檢測(cè)圓盤鑄件的主孔位置相對(duì)應(yīng)的主基準(zhǔn)測(cè)量組件； 所述的主基準(zhǔn)測(cè)量組件四周設(shè)置有與待檢測(cè)圓盤鑄件的副孔位置相對(duì)應(yīng)的副基準(zhǔn)測(cè)量組件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種圓盤鑄件用多孔位檢測(cè)裝置，其特征在于所述的副基準(zhǔn)測(cè)量組件高度低于主基準(zhǔn)測(cè)量組件的高度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種圓盤鑄件用多孔位檢測(cè)裝置，其特征在于所述的主基準(zhǔn)測(cè)量組件為直形銷；所述的副基準(zhǔn)測(cè)量組件為定位銷。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種圓盤鑄件用多孔位檢測(cè)裝置，包括有圓盤狀檢測(cè)裝置本體，其特點(diǎn)是圓盤狀檢測(cè)裝置本體上設(shè)置有與待檢測(cè)圓盤鑄件的主孔位置相對(duì)應(yīng)的主基準(zhǔn)測(cè)量組件。同時(shí)，在主基準(zhǔn)測(cè)量組件四周設(shè)置有與待檢測(cè)圓盤鑄件的副孔位置相對(duì)應(yīng)的副基準(zhǔn)測(cè)量組件。由此，主基準(zhǔn)測(cè)量組件與副基準(zhǔn)測(cè)量組件與各個(gè)待檢測(cè)的孔位置相對(duì)應(yīng)，只要在待檢測(cè)圓盤鑄件上扣上本發(fā)明，即可在很短時(shí)間內(nèi)一次性檢測(cè)多個(gè)孔位。這樣，使用者不需要采用多個(gè)復(fù)雜的檢測(cè)裝置來挨個(gè)進(jìn)行孔位檢查，有利于實(shí)際生產(chǎn)中的快速而精確的檢測(cè)。
文檔編號(hào)G01B5/00GK102478376SQ20101056012
公開日2012年5月30日 申請(qǐng)日期2010年11月25日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月25日
發(fā)明者劉剛橋 申請(qǐng)人:蘇州春興精工股份有限公司