專利名稱：具有誤碼檢測的測試和測量儀器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試和測量儀器，尤其涉及一種具有誤碼檢測的測試和測量儀ο
背景技術(shù)：
測試和測量儀器，例如示波器，邏輯分析儀等，可以用于分析數(shù)字化數(shù)據(jù)。例如，示 波器可以顯示波形，眼圖等。邏輯分析儀可以顯示數(shù)字化數(shù)據(jù)。但是，數(shù)字化數(shù)據(jù)會包含錯 誤，其會與其他沒有錯誤的數(shù)字化數(shù)據(jù)一起顯示。

發(fā)明內(nèi)容
實施方式包括測試和測量儀器，其包括輸入端，其被配置成接收信號和輸出數(shù)字 化數(shù)據(jù)；存儲器，其被配置成存儲包含參考序列的參考數(shù)字化數(shù)據(jù)；模式檢測器，其被配置 成檢測數(shù)字化數(shù)據(jù)中的參考序列并生成同步信號作為回應；存儲器控制器，其被配置成響 應所述同步信號使得存儲器輸出參考數(shù)字化數(shù)據(jù)；以及比較器，其被配置成將存儲器輸出 的參考數(shù)字化數(shù)據(jù)與數(shù)字化數(shù)據(jù)進行比較。另一實施方式包括一種方法，該方法包括以下步驟接收來自信號的數(shù)字化數(shù)據(jù)； 匹配數(shù)字化數(shù)據(jù)的序列與參考數(shù)字化數(shù)據(jù)的序列；響應所述匹配生成同步信號；響應所述 同步信號輸出參考數(shù)字化數(shù)據(jù)；比較輸出的參考數(shù)字化數(shù)據(jù)與數(shù)字化數(shù)據(jù)。


圖1為根據(jù)實施方式的測試和測量儀器的誤碼檢測器的框圖。圖2為圖1的比較器的例子的框圖。圖3為根據(jù)實施方式的輸入到比較器的數(shù)據(jù)的例子的框圖。圖4為圖1的錯誤檢測器的例子的框圖。圖5為根據(jù)實施方式的測試和測量儀器的框圖。
具體實施例方式各實施方式包括測試和測量儀器及技術(shù)，其中數(shù)字化數(shù)據(jù)中的誤碼可以被檢測。 如同下文將要進一步詳細描述的，在一個實施方式中，檢測到的錯誤可以被分析，用于數(shù)據(jù)采集等。圖1為根據(jù)實施方式的測試和測量儀器的誤碼檢測器的框圖。該測試和測量儀器 10可以是任何種類的儀器。例如測試和測量儀器10可以是示波器，邏輯分析儀，網(wǎng)絡分析儀等。在這一實施方式中，測試和測量儀器10包括輸入端12，耦接到輸入端12的模式檢測 器16，存儲器18，耦接到輸入端12的比較器24，以及耦接到比較器24的錯誤檢測器26。輸入端12被配置成接收信號和輸出數(shù)字化數(shù)據(jù)14。在實施方式中，該信號可以是 模擬信號，用以表示數(shù)字化數(shù)據(jù)14。例如，輸入端12可以包括時鐘和數(shù)據(jù)恢復電路(CDR)。 該CDR可以接收編碼于信號中的數(shù)字化數(shù)據(jù)14。在另一個實施方式中，輸入端12可以包括 模數(shù)轉(zhuǎn)換器，其被配置成將信號轉(zhuǎn)換為信號的數(shù)字化表示。附加電路可以將數(shù)字化信號轉(zhuǎn) 化為數(shù)字化數(shù)據(jù)14。也就是說，任何能夠恢復編碼于信號中的數(shù)字化數(shù)據(jù)14的電路都可以 用作輸入端12。數(shù)字化數(shù)據(jù)14可以以多種形式表示。例如，數(shù)字化數(shù)據(jù)14可以是串行數(shù)據(jù)或并 行數(shù)據(jù)。數(shù)字化數(shù)據(jù)14可以包含與數(shù)據(jù)相關(guān)的其他的信息，信號等。例如，如上所述，輸入 端12可以是⑶R。因此，數(shù)字化數(shù)據(jù)14可以包括恢復時鐘。在另一個實施方式中，數(shù)字化 數(shù)據(jù)14可以包含幀信息，例如幀錯誤，非法代碼信息，例如非法8B/10B代碼序列，同步損失 信息等。任何這種信息都可以包含在數(shù)字化數(shù)據(jù)14中。在另一個例子中，數(shù)字化數(shù)據(jù)14 可以是來自⑶R的重新定時的解多工數(shù)據(jù)(de-multiplexed data)。存儲器18可以是任何種類的存儲器。例如，存儲器18可以是動態(tài)存儲器，靜態(tài)存 儲器，只讀存儲器，隨機存取存儲器等。存儲器18可以被配置成存儲包括參考序列的參考 數(shù)字化數(shù)據(jù)。例如，該參考數(shù)字化數(shù)據(jù)可以是偽隨機位序列。該參考序列可以是適合偽隨 機模式的長度的特殊的一系列1或者一系列零。在另一個例子中，該參考數(shù)字化數(shù)據(jù)可以 是使用者定義的模式、工業(yè)標準模式等。該參考序列可以是在整個重復模式中唯一的任何 數(shù)據(jù)序列。因此，如同下文將要描述的，參考序列可以用于對齊(align)錯誤檢測。存儲器18可以包括存儲器控制器19。該存儲器控制器19可以被配置成響應同步 信號20引起存儲器18輸出參考數(shù)字化數(shù)據(jù)22。在一個實施方式中，存儲器控制器19可 以與存儲器18集成。但是，在另一個實施方式中，存儲器控制器19可以與存儲器18分離。 例如，存儲器控制器19可以是測試和測量儀器10的控制系統(tǒng)的一部分。模式檢測器16可以被配置成檢測數(shù)字化數(shù)據(jù)14中的參考序列并生成同步信號20 作為回應。在一個實施方式中，模式檢測器16可以是觸發(fā)系統(tǒng)的一部分。例如，該觸發(fā)系 統(tǒng)可以被配置成檢測數(shù)字化數(shù)據(jù)14中的字符，位序列，對齊信息等。該參考序列是在數(shù)字 化數(shù)據(jù)14中可以被檢測的這種模式的例子。盡管模式檢測器16已經(jīng)被描述為其他電路的 一部分，但是模式檢測器16可以與這種其他系統(tǒng)分離，例如作為至觸發(fā)電路34的輸入端。模式檢測器16可以被配置成輸出同步信號20。該同步信號20可以是單個信號或 多個信號。例如，同步信號20可以包含與數(shù)字化數(shù)據(jù)14中的參考序列的對齊有關(guān)的信息。 數(shù)字化數(shù)據(jù)14可以是多位寬。同步信號20可以包括關(guān)于參考序列從哪一位開始的指示。 在另一個例子中，例如利用8B/10B編碼，數(shù)字化數(shù)據(jù)14可以分組成10位為一塊。參考序 列可以跨越多于一個的這種塊。同步信號20可以指示數(shù)字化數(shù)據(jù)14的哪些塊包含參考序 列，哪些塊具有參考序列的開始等。在一個實施方式中，響應同步信號20，存儲器18可以被設(shè)置成輸出參考數(shù)字化數(shù) 據(jù)22。輸出的參考數(shù)字化數(shù)據(jù)22可以被適當?shù)嘏c數(shù)字化數(shù)據(jù)14對齊，以使輸出到比較器 24的參考數(shù)字化數(shù)據(jù)22可以是在數(shù)字化數(shù)據(jù)14中所預期的數(shù)據(jù)。盡管參考序列可以是 產(chǎn)生同步信號20的序列，但是參考序列可以是，但不一定是，從存儲器18輸出的參考數(shù)字化數(shù)據(jù)22的開始。例如，自參考序列的識別以來已經(jīng)過去一定的時間量。參考數(shù)字化數(shù)據(jù) 22的輸出可以被適當?shù)乜刂埔允辜词箙⒖夹蛄胁辉俪霈F(xiàn)在數(shù)字化數(shù)據(jù)14中，適當?shù)膮⒖?數(shù)字化數(shù)據(jù)22也能夠?qū)谀壳八谕臄?shù)字化數(shù)據(jù)14而被輸出。在一個實施方式中， 同步信號20可以反映這種偏移。比較器24可以被配置成將存儲器輸出的參考數(shù)字化數(shù)據(jù)22與數(shù)字化數(shù)據(jù)14進 行比較。上述比較可以以多種形式進行。在一個實施方式中，比較器24可以被配置成并行 地比較參考數(shù)字化數(shù)據(jù)22的位與數(shù)字化數(shù)據(jù)14的位。比較器28的輸出值可以是指示數(shù) 字化數(shù)據(jù)14的相關(guān)位是否與參考數(shù)字化數(shù)據(jù)22匹配的并行數(shù)據(jù)。比較器24的輸出值可以被提供給錯誤檢測器26。該錯誤檢測器26可以被配置成 響應所述比較28執(zhí)行數(shù)字化數(shù)據(jù)的各種分析。例如，如同下文將要進一步詳細描述的，錯 誤檢測器26可以被配置成指示是否某個位有錯誤，計算錯誤的數(shù)量，指示一個或多個錯誤 的位的位置，指示錯誤率等。該信息可以以錯誤信號32表示。而且，測試和測量儀器10可以具有與錯誤檢測器26耦接的持續(xù)時間計數(shù)器27。 持續(xù)時間計數(shù)器27可以被配置成重置錯誤檢測器26，使能錯誤檢測器26等。該持續(xù)時間 計數(shù)器也可以被配置成輸出持續(xù)時間。因此，逝去的時間可以用于計算錯誤率，在一段時間 內(nèi)選通(gate)錯誤檢測等。在另一個實施方式中，持續(xù)時間計數(shù)器26可以被配置成計算過去的位的數(shù)目。例 如，持續(xù)時間計數(shù)器26可以被配置成接收數(shù)字化數(shù)據(jù)14。在另一個實施方式中，持續(xù)時間 計數(shù)器26可以被配置成接收與數(shù)字化數(shù)據(jù)14有關(guān)的時鐘信號。由此，持續(xù)時間計數(shù)器26 可以確定過去的位的數(shù)目。因此，錯誤率，例如每過去的位中的錯誤位，可以被計算。而且，持續(xù)時間計數(shù)器26可以被配置成測量任何與數(shù)字化數(shù)據(jù)14有關(guān)的跨度。也 就是，如上所述，位的時間和數(shù)目可以在錯誤分析中使用。但是，其他因子也可以被使用，例 如幀的數(shù)目，碼字的數(shù)目等。錯誤信號32和同步信號20可以被輸入選擇器30。該選擇器30可以被配置成在 錯誤信號32、同步信號20、其他信號等中進行選擇。選擇的信號36可以被輸入觸發(fā)電路 34。盡管來自模式檢測器16的同步信號20已經(jīng)被描述成輸入到選擇器30，但是同步信號 20和/或錯誤信號32可以在沒有在其他信號中進行選擇的情況下被提供給觸發(fā)電路34。因此，由于錯誤信號32可用于觸發(fā)電路34，測試和測量儀器10的采集可以響應于 錯誤信號32而被觸發(fā)。例如，采集可以因單個錯誤、多個錯誤、數(shù)字化數(shù)據(jù)14中的特殊位 置的錯誤等而被觸發(fā)。由此，使用者可以將注意力集中在數(shù)字化數(shù)據(jù)14的錯誤部分上。在一個實施方式中，參考數(shù)字化數(shù)據(jù)可以是使用者定義的數(shù)字化數(shù)據(jù)。如同到存 儲器18的虛線輸入所示出的，從輸入端12接收的數(shù)字化數(shù)據(jù)14可以被輸入到存儲器18。 因此，數(shù)字化數(shù)據(jù)14可以被存儲于存儲器18之中。由此，存儲的數(shù)字化數(shù)據(jù)14可以作為 參考數(shù)字化數(shù)據(jù)22使用。由此，參考數(shù)字化數(shù)據(jù)22不需要被限定為預定的序列，由算法生成的序列等。參 考數(shù)字化數(shù)據(jù)可以是具有合適的參考序列的使用者所期望的任何數(shù)據(jù)序列。一旦使用者數(shù) 字化數(shù)據(jù)被存儲在存儲器18中，參考序列就被確定了。例如，使用者可以提供模式內(nèi)的序 列的地址，使用者確定唯一序列，存儲器控制器19或其他處理器可以將該唯一序列定位在 儲存的使用者數(shù)字化數(shù)據(jù)中，存儲器控制器19可以搜索使用者數(shù)字化數(shù)據(jù)中的唯一序列，等等。由此，這樣的參考序列可以被提供給模式檢測器16用于隨后使用者數(shù)字化數(shù)據(jù)與新 輸入的數(shù)字化數(shù)據(jù)14之間的比較。圖2為圖1的比較器的例子的框圖。在該實施方式中，比較器24包括多個獨立比 較器46。每個比較器46被配置成接收參考數(shù)字化數(shù)據(jù)22和數(shù)字化數(shù)據(jù)14的子集。例如， 子集40，42和44代表數(shù)字化數(shù)據(jù)14的不同部分。如同下文將要進一步詳細描述的，子集 40，42和44可以但不一定是來自數(shù)字化數(shù)據(jù)14的相同時間片(time slice)。比較器46的輸出端可以被耦接到選擇器48。該選擇器被配置成在比較器46的輸 出值中為比較器24的輸出值28進行選擇。由此，選擇的比較可以在相對于數(shù)字化數(shù)據(jù)14 的多個位置中的任何一個中發(fā)生。在一個實施方式中，盡管參考數(shù)字化數(shù)據(jù)22的輸出值已 經(jīng)在上文被描述成在比較器24處與所預期的數(shù)字化數(shù)據(jù)14對齊，但是數(shù)字化數(shù)據(jù)14的各 塊的粒度(granularity)可以導致未同時出現(xiàn)的數(shù)字化數(shù)據(jù)14的參考序列跨度位置。圖3為根據(jù)實施方式的輸入到比較器的數(shù)據(jù)的例子的框圖。在一個實施方式中， 每一個塊52可以是8B/10B編碼序列的十位序列。參考序列54的對齊可以取決于輸入端 12接收的信號的相對相位。特殊塊52之中的對齊可以是預定的。例如，可以接收8B/10B 編碼數(shù)據(jù)的輸入端12可以被配置成對齊進入塊52的數(shù)字化數(shù)據(jù)14的輸出值。但是，這個 例子中的參考序列54跨越四個塊52。由于參考序列54可以自任一個塊52開始，多個塊 52可以被設(shè)置成被并行地分析，以便不管參考序列54的開始塊52，整個參考序列54將在 所提供的多個塊中出現(xiàn)。在這一例子中，可以用于比較器24的數(shù)字化數(shù)據(jù)50為七個塊52寬。也就是說， 如果來自輸入端的數(shù)字化數(shù)據(jù)14通常是四個塊寬，則另外的三個塊可以被緩沖、延遲等， 以使之前的數(shù)字化數(shù)據(jù)14可以和當前的數(shù)字化數(shù)據(jù)14基本同時地呈現(xiàn)。所述緩沖、延遲 等可以在比較器24、輸入端12等中按照需要來執(zhí)行。在這一例子中，參考序列54為四個塊52長。參考序列54出現(xiàn)在偏移了一個塊的 數(shù)字化數(shù)據(jù)50中。盡管參考序列54有四個塊52，與上述的數(shù)字化數(shù)據(jù)14的寬度相似，但 是參考序列54可以具有任意長度。在一個實施方式中，圖2的比較器46的數(shù)目可以是四個。每一個比較器46可以 具有數(shù)字化數(shù)據(jù)50的相應部分作為輸入。例如，第一比較器46可以具有塊52-1至52-4 輸入作為數(shù)字化數(shù)據(jù)50的所述相應部分。第二比較器46可以具有塊52-2至52-5輸入作 為所述相應部分。第三比較器46可以具有塊52-3至52-6輸入作為所述相應部分。第四 比較器46可以具有塊52-4至52-7輸入作為所述相應部分。因此，在這個例子中，參考序列54被包含于與塊52-2至52_4對齊的數(shù)字化數(shù)據(jù)50中。 由此，當其他比較器的輸出值不是合適的輸出值的時候，第二比較器46的輸出值可以是合 適的輸出值。參考圖2，選擇器48的選擇可以是響應同步信號20而進行的。如上所述，同 步信號20可以具有與參考序列和數(shù)字化數(shù)據(jù)14的對齊有關(guān)的信息。也就是，同步信號20 可以指示出塊52-2至52-5是適合用于比較的塊。在一個實施方式中，提供M+N-1個塊52，其中，M是參考序列的塊長度，而N是數(shù)字 化數(shù)據(jù)14的塊寬度。例如，對于具有塊長度四的參考序列54和具有塊寬度四的數(shù)字化數(shù) 據(jù)14，提供給比較器24的數(shù)字化數(shù)據(jù)50可以包括七個塊52?？梢允褂盟膫€比較器46，因 為在七個塊52中存在參考序列可能出現(xiàn)的四個位置，由此指示參考數(shù)字化數(shù)據(jù)22與數(shù)字化數(shù)據(jù)14的對齊。在另一例子中，如果數(shù)字化數(shù)據(jù)14塊寬度為二而參考序列54為四，則 數(shù)字化數(shù)據(jù)50可以包括五個塊52。而且，盡管上文描述塊52為十個位寬，但塊52仍可以是任意寬度，包括一個位寬。 另外，在一個實施方式中，比較器46的數(shù)量可以等于數(shù)字化數(shù)據(jù)14的塊寬度。也就是，數(shù) 字化數(shù)據(jù)14的每一個塊52可以包括參考序列的開始。注意盡管參考序列已經(jīng)用于討論參考數(shù)字化數(shù)據(jù)22與數(shù)字化數(shù)據(jù)14的對齊，但 是該參考序列僅僅用于舉例說明。無論是輸出的參考數(shù)字化數(shù)據(jù)22的什么序列都可以與 數(shù)字化數(shù)據(jù)14進行比較。也就是，參考序列用于討論數(shù)字化數(shù)據(jù)14中的唯一序列的對齊。圖4為圖1的錯誤檢測器的實施例的框圖。在該實施方式中，多種不同的電路可 以用于分析比較器24的輸出值28。或門60可以合并輸出值28的信號。例如，輸出值28 可以是并行輸出，其中每一個位代表數(shù)字化數(shù)據(jù)14的相應位中是否出現(xiàn)錯誤。輸出值28 可以被合并成單一錯誤信號66。在另一例子中，錯誤的數(shù)量可以被計算。例如，錯誤數(shù)量解碼器62可以將輸出值 28解碼為數(shù)字。錯誤數(shù)量解碼器62可以接收40位寬的比較輸出值28并將輸出值28轉(zhuǎn)換 成至少6位寬的數(shù)68以適應高達40個誤碼。在另一例子中，錯誤的位置可以被解碼。錯誤位置解碼器64可以被配置成識別比 較輸出值28中的錯誤的位置。例如，錯誤位置70可以表示在比較輸出值28的40個輸入 位中錯誤所處的位。盡管一個錯誤被用作例子，但是錯誤位置解碼器64可以識別多個錯誤 的位置。盡管錯誤檢測器26和錯誤檢測器26的各部分的例子已經(jīng)被描述為與比較器24 分離，但是錯誤檢測器26的電路可以與比較器24相結(jié)合。例如，錯誤位置解碼器64也可 以使用同步信號20作為輸入值以識別錯誤發(fā)生在數(shù)字化數(shù)據(jù)14的哪個位。而且，盡管多 錯誤分析電路已經(jīng)被描述，但是一個或多個的任何組合也可以按照需要被用于錯誤檢測器 26中。圖5為根據(jù)實施方式的測試和測量儀器的框圖。在這一實施方式中，測試和測量 儀器100包括輸入端101，其被配置成接收輸入信號102。數(shù)字化器104耦接到輸入端101 并被配置成將輸入信號102數(shù)字化為數(shù)字化信號106。數(shù)字化信號106可以被采集電路108 采集。在一個實施方式中，輸入端101，數(shù)字化器104，以及采集電路108可以是示波器，邏 輯分析儀等的通道。另外，測試和測量儀器100還可以包括數(shù)據(jù)恢復電路110。數(shù)據(jù)恢復電路110可 以恢復編碼于輸入信號102中的數(shù)字化數(shù)據(jù)112。盡管數(shù)字化器104和數(shù)據(jù)恢復電路110 都可以以某種方式將輸入信號102數(shù)字化，但數(shù)字化器104和數(shù)據(jù)恢復電路110可以執(zhí)行 不同的數(shù)字化操作。例如，數(shù)字化器104可以是示波器的十位模數(shù)轉(zhuǎn)換器。由此，數(shù)字化信 號106是模擬輸入信號102的數(shù)字化型式。相比之下，數(shù)據(jù)恢復電路110可以將編碼于模 擬輸入信號102中的數(shù)字化數(shù)據(jù)恢復。數(shù)據(jù)恢復電路110可以是各種電路。例如，類似于上述的輸入端12，數(shù)據(jù)恢復電 路可以是時鐘和數(shù)據(jù)恢復電路(CDR)、解調(diào)器，例如正交幅度調(diào)制(QAM)解調(diào)器，或者調(diào)頻 (FM)解調(diào)器、光接收器、或任何可以恢復編碼于輸入信號102中的數(shù)字化數(shù)據(jù)的其他電路。結(jié)果，恢復的數(shù)字化數(shù)據(jù)112可以被提供給誤碼觸發(fā)器114。誤碼觸發(fā)器114可以是上述的誤碼觸發(fā)器系統(tǒng)。采集電路108的采集可以響應誤碼觸發(fā)器被觸發(fā)。由此，一種 格式的數(shù)據(jù)的表示，例如數(shù)字化模擬信號格式，可以響應于編碼于輸入信號102中的誤碼 或任何其他所得到的信息而被采集。盡管誤碼觸發(fā)器114已經(jīng)被描述為觸發(fā)采集電路108的采集，但是其他的觸發(fā)電 路也可以與誤碼觸發(fā)器114相結(jié)合使用。因此，誤碼可以被合并到任何簡單或復雜的觸發(fā) 等式(trigger equation)中。盡管已描述了特定實施例，但是將會認識到本發(fā)明的原理不限于這些實施例。在 不偏離如在后面的權(quán)利要求中所闡述的本發(fā)明的原理的情況下完成變化和修改。
權(quán)利要求
一種測試和測量儀器，包括輸入端，其被配置成接收信號和輸出數(shù)字化數(shù)據(jù)；存儲器，其被配置成存儲包含參考序列的參考數(shù)字化數(shù)據(jù)；模式檢測器，其被配置成檢測數(shù)字化數(shù)據(jù)中的參考序列并生成同步信號作為回應；存儲器控制器，其被配置成響應所述同步信號使得存儲器輸出參考數(shù)字化數(shù)據(jù)；以及比較器，其被配置成將存儲器輸出的參考數(shù)字化數(shù)據(jù)與數(shù)字化數(shù)據(jù)進行比較。
2.如權(quán)利要求1的測試和測量儀器，所述比較器被稱為第一比較器，其中第一比較器 包括多個第二比較器，每個第二比較器被配置成將參考數(shù)字化數(shù)據(jù)與數(shù)字化數(shù)據(jù)的子集進 行比較；以及選擇器，其被配置成從第二比較器的輸出值中為第一比較器的輸出進行選擇。
3.如權(quán)利要求2的測試和測量儀器，其中 參考序列被存儲在M個塊中；數(shù)字化數(shù)據(jù)具有N個塊的塊寬度；第一比較器被配置成接收在M+N-1個塊中的數(shù)字化數(shù)據(jù)；以及 第一比較器包括N個第二比較器。
4.如權(quán)利要求1的測試和測量儀器，進一步包括錯誤檢測器，其被配置成響應于所述 比較器檢測數(shù)字化數(shù)據(jù)中的誤碼。
5.如權(quán)利要求4的測試和測量儀器，其中錯誤檢測器進一步被配置成響應于所述比較 器識別數(shù)字化數(shù)據(jù)中的誤碼的位置。
6.如權(quán)利要求4的測試和測量儀器，其中錯誤檢測器進一步被配置成響應于所述比較 器識別數(shù)字化數(shù)據(jù)的一部分中的誤碼的數(shù)量。
7.如權(quán)利要求4的測試和測量儀器，進一步包括選擇器，其被配置成在錯誤檢測器的 輸出值與同步信號之間進行選擇。
8.如權(quán)利要求1的測試和測量儀器，進一步包括觸發(fā)電路，其被配置成響應于所述比 較器來觸發(fā)信號的采集。
9.如權(quán)利要求1的測試和測量儀器，其中，存儲器被配置成存儲數(shù)字化數(shù)據(jù)作為參考 數(shù)字化數(shù)據(jù)。
10.一種方法，包括從信號接收數(shù)字化數(shù)據(jù)；將數(shù)字化數(shù)據(jù)的序列與參考數(shù)字化數(shù)據(jù)的序列進行匹配； 響應所述匹配以生成同步信號； 響應所述同步信號來輸出參考數(shù)字化數(shù)據(jù)；以及 將輸出參考數(shù)字化數(shù)據(jù)與數(shù)字化數(shù)據(jù)進行比較。
11.如權(quán)利要求10的方法，進一步包括響應輸出的參考數(shù)字化數(shù)據(jù)與數(shù)字化數(shù)據(jù)的比 較來觸發(fā)信號的采集。
12.如權(quán)利要求10的方法，進一步包括響應輸出的參考數(shù)字化數(shù)據(jù)與數(shù)字化數(shù)據(jù)的比 較來識別數(shù)字化數(shù)據(jù)中的誤碼。
13.如權(quán)利要求10的方法，進一步包括記錄使用者數(shù)字化數(shù)據(jù)作為參考數(shù)字化數(shù)據(jù)。
14.如權(quán)利要求13的方法，進一步包括識別使用者數(shù)字化數(shù)據(jù)的唯一序列作為參考數(shù) 字化數(shù)據(jù)的序列。
15.如權(quán)利要求10的方法，進一步包括檢測參考數(shù)字化數(shù)據(jù)的序列與數(shù)字化數(shù)據(jù)的對齊；以及 響應所述對齊的檢測來生成同步信號。
16.如權(quán)利要求14的方法，進一步包括從多個比較器的輸出值中選擇輸出值作為錯誤 信號，其中每個比較器被配置成將參考數(shù)字化數(shù)據(jù)與數(shù)字化數(shù)據(jù)進行比較。
17.一種測試和測量儀器，包括 輸入端，其被配置成接收輸入信號；數(shù)字化器，其耦接到輸入端并被配置成將輸入信號數(shù)字化為數(shù)字化信號； 采集電路，其被配置成采集數(shù)字化信號；數(shù)據(jù)恢復電路，其耦接到輸入端并被配置成將編碼于輸入信號中的數(shù)字化數(shù)據(jù)恢復；和誤碼觸發(fā)電路，其被配置成響應數(shù)字化數(shù)據(jù)中的誤碼來觸發(fā)采集電路的采集。
18.如權(quán)利要求17的測試和測量儀器，其中誤碼觸發(fā)電路包括模式檢測器，其被配置成識別數(shù)字化數(shù)據(jù)中的參考數(shù)字化數(shù)據(jù)的參考序列； 存儲器，其被配置成響應模式檢測器來存儲參考數(shù)字化數(shù)據(jù)并輸出參考數(shù)字化數(shù)據(jù)；以及比較器，其被配置成將數(shù)字化數(shù)據(jù)與輸出參考數(shù)字化數(shù)據(jù)進行比較。
19.如權(quán)利要求18的測試和測量儀器，其中誤碼觸發(fā)電路進一步包括錯誤檢測器，所 述錯誤檢測器耦接到比較器并被配置成響應所述比較器來識別數(shù)字化數(shù)據(jù)中的誤碼的位置。
20.如權(quán)利要求19的測試和測量儀器，其中誤碼觸發(fā)電路進一步包括選擇器，所述選 擇器被配置成從比較器的輸出值和模式檢測器的輸出值中進行選擇。
全文摘要
一種具有誤碼檢測的測試和測量儀器，包括輸入端，其被配置成接收信號和輸出數(shù)字化數(shù)據(jù)；存儲器，其被配置成存儲包含參考序列的參考數(shù)字化數(shù)據(jù)；模式檢測器，其被配置成檢測數(shù)字化數(shù)據(jù)中的參考序列并生成同步信號作為回應；存儲器控制器，其被配置成響應所述同步信號使得存儲器輸出參考數(shù)字化數(shù)據(jù)；以及比較器，其被配置成將存儲器輸出的參考數(shù)字化數(shù)據(jù)與數(shù)字化數(shù)據(jù)進行比較。
文檔編號G01R13/00GK101995500SQ201010288779
公開日2011年3月30日 申請日期2010年8月12日 優(yōu)先權(quán)日2009年8月12日
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