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一種通用測試設備的制作方法

文檔序號:5857280閱讀:247來源:國知局
專利名稱:一種通用測試設備的制作方法
技術領域
本實用新型涉及測試技術,尤其涉及測試具有通用接口的集成電路的技術。
背景技術
越來越多的半導體生產(chǎn)商在集成電路(如存儲器、監(jiān)控芯片、視頻處理芯片)上集 成I2C接口、SPI接口等通用通訊接口,以實現(xiàn)集成電路的通信。同時半導體生產(chǎn)商也會提 供相應測試設備對上述集成電路進行測試。隨著整機廠商設計產(chǎn)品復雜性的增加,整機產(chǎn) 品中會采用多個不同半導體生產(chǎn)商提供的具有I2C接口、SPI接口等通用通訊接口的集成 電路,整機廠商在測試這些集成電路時,需要購買不同集成電路的測試設備及測試軟件,這 將導致整機廠商需要購買和維護越來越多的測試設備,增加運營成本。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型旨在解決現(xiàn)有技術的不足,為具有I2C總線,SPI總線等通用通訊接口 的集成電路提供一種通用測試設備,以方便實現(xiàn)測試,降低開發(fā)成本。通用測試設備,包括存儲器、⑶I模塊、測試模塊、一個或多個通用通訊模塊,所述 ⑶I模塊連接測試模塊,測試模塊連接一個或多個通用通訊模塊,(1)由測試模塊選擇一個 或多個通用通訊模塊,被選中的通用通訊模塊模擬并發(fā)出相應的接口時序,被測試集成電 路對應的接口接收通用通訊模塊發(fā)出的接口時序,將被測集成電路的參數(shù)傳回GUI模塊以 用于測試;和/或( 由測試模塊選擇其中一個或多個通用通訊模塊,被選中的通用通訊模 塊模擬并發(fā)出相應的接口時序,被測試集成電路對應的接口接收通用通訊模塊發(fā)出的接口 時序,被測試集成電路解析接口時序,根據(jù)接口時序中包含的地址信息對符合地址被測集 成電路的寄存器進行寫操作。所述通用通訊模塊包括下列模塊中的一種或幾種并口通訊模塊、串口通訊模塊、 USB通訊模塊。所述被測集成電路的接口包括下列接口中的一種或幾種I2C接口、SPI接口和其 他通用通訊接口。所述通用通訊模塊包括I2C時序模塊、SPI時序模塊、PCI時序模塊和其他時序模 塊,其中I2C時序模塊發(fā)出I2C時序、SPI時序模塊發(fā)出SPI時序、PCI時序模塊發(fā)出PCI時 序、其它時序模塊發(fā)出集成電路可接收的其他時序,通用通訊模塊發(fā)出的時序通過并口通 訊模塊、串口通訊模塊或USB通訊模塊中的一種發(fā)出。所述寄存器描述文件模塊包括各被測集成電路的寄存器信息表子模塊各被測集 成電路的地址單元、被測集成電路的各寄存器地址單元、各寄存器名稱單元、各寄存器位單元等。所述寄存器信息表子模塊可以按照各寄存器的不同功能進行分類,如被測集成電 路為視頻處理集成電路,則可以該集成電路寄存器信息表分為縮放功能寄存器、OSD功能寄 存器、編碼功能寄存器、解碼功能寄存器等分別進行分類。[0010]所述寄存器信息表子模塊的寄存器位單元可以按照功能寄存器中不同比特位按 照位的功能進行分組,如將某視頻處理集成電路的gamma校正寄存器按照功能對寄存器中 各比特數(shù)進行分組,其中比特0表示gamma校正使能位,比特1表示gamma表I/O控制,比 特2和比特3表示gamma表通道選擇,這樣可以對該寄存器的特定比特在不同值下實現(xiàn)的 功能分別測試。所述通用通訊模塊的輸出端還可連接一總線通訊板,再由總線通訊板連接被測集 成電路,總線通訊板用于增強通用通訊模塊輸出信號的驅(qū)動能力,并將通用通訊模塊的輸 出電壓轉(zhuǎn)為集成電路的工作電壓。所述通用測試設備可以實現(xiàn)批量測試被測集成電路,通用測試設備根據(jù)所述寄存 器描述文件中被測集成電路的地址,尋找被測集成電路,對符合地址的被測集成電路進行 測試。本實用新型有益效果在于本實用新型所述的通用測試設備可以方便、直觀地實 現(xiàn)對具有通用通訊接口的被測集成電路的測試,對于不同的被測集成電路,用戶僅需編寫 寄存器描述文件,即可實現(xiàn)通用測試,整機廠商可以節(jié)約購買測試工具的成本以及維護成 本,同時利用本實用新型提供的通用測試設備可以實現(xiàn)批量測試集成電路。

圖1為本實用新型通用測試設備框圖具體實施方式
下面通過具體實例并結合附圖對本實用新型做進一步的詳細描述。通用測試設備,包括存儲器00)、GUI模塊、測試模塊02)、一個或多個通用 通訊模塊(23),所述GUI模塊從存儲器OO)中調(diào)用寄存器描述文件模塊,并對寄存器 描述進行解析,通過GUI模塊進行下列操作的一種或幾種(1)讀操作測試模塊02) 發(fā)出讀操作命令,并選擇一個或多個通用通訊模塊(23),被選中的通用通訊模塊模擬 并發(fā)出相應的接口時序,被測集成電路對應的接口(如I2C接口、SPI接口等)接收通用通 訊模塊03)發(fā)出的接口時序,將被測集成電路的參數(shù)傳回GUI模塊以用于測試;(2) 寫操作測試模塊0 發(fā)出寫操作命令,并選擇其中一個或多個通用通訊模塊(23),被選 中的通用通訊模塊模擬并發(fā)出相應的接口時序,被測試集成電路對應的接口(如I2C 接口、SPI接口)接收通用通訊模塊發(fā)出的接口時序,被測試集成電路解析接口時序, 根據(jù)接口時序中包含的地址信息對符合地址被測集成電路的寄存器進行寫操作。所述通用通訊模塊包括下列模塊中的一種或幾種并口通訊模塊031)、串 口通訊模塊(23 、USB通訊模塊(233)。所述被測集成電路的接口包括下列接口中的一種或幾種I2C接口、SPI接口和其 他通用通訊接口。所述通用通訊模塊包括I2C時序模塊、SPI時序模塊、PCI時序模塊和其他時序模 塊,其中I2C時序模塊發(fā)出I2C時序、SPI時序模塊發(fā)出SPI時序、PCI時序模塊發(fā)出PCI時 序、其它時序模塊發(fā)出集成電路可接收的其他時序,通用通訊模塊發(fā)出的時序通過并口通 訊模塊031)、串口通訊模塊(232)、USB通訊模塊033)中的一種發(fā)出。[0020]所述寄存器描述文件模塊包括各被測集成電路的寄存器信息表子模塊各被測集 成電路的地址單元、被測集成電路的各寄存器地址單元、各寄存器名稱單元、各寄存器位單
兀等ο所述寄存器信息表可以按照各寄存器的不同功能進行分類,如被測集成電路為視 頻處理集成電路,則可以該集成電路寄存器信息表分為縮放功能寄存器、OSD功能寄存器、 編碼功能寄存器、解碼功能寄存器等分別進行分類。所述寄存器信息表子模塊的寄存器位單元可以按照功能對寄存器中不同比特位 按照位的進行分組,如將視頻處理集成電路的gamma校正寄存器按照功能對寄存器中的各 比特數(shù)進行分組,其中第0比特表示gamma校正使能位,第1比特表示gamma表I/O控制, 第2、3比特表示gamma表通道選擇,這樣可以實現(xiàn)對該寄存器的特定比特在不同值下的功 能分別進行測試。利用該通用測試設備可以直觀地通過GUI模塊顯示被測集成電路的測試信息。所述通用通訊模塊的輸出端還可連接一總線通訊板,再由總線通訊板連接被測集 成電路,總線通訊板用于增強通用通訊模塊輸出信號的驅(qū)動能力,并將通用通訊模塊的輸 出電壓轉(zhuǎn)為集成電路的工作電壓。所述通用測試設備可以實現(xiàn)批量測試被測集成電路,通用測試設備根據(jù)所述寄存 器描述文件中被測集成電路的地址,尋找被測集成電路,對符合地址的被測集成電路進行 測試。應該理解到的是上述描述只是結合具體的實施方式對本實用新型所作的進一步 詳細說明,而不能認定本實用新型的具體實施只限于這些說明,任何不超出本實用新型實 質(zhì)精神范圍內(nèi)的發(fā)明創(chuàng)造,例如對所述系統(tǒng)的計算機軟件模塊的非實質(zhì)性更改等,均落入 本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
權利要求1.通用測試設備,其特征在于包括存儲器、⑶I模塊、測試模塊、一個或多個通用通訊 模塊,所述⑶I模塊連接測試模塊,測試模塊連接一個或多個通用通訊模塊,(1)由測試模 塊選擇一個或多個通用通訊模塊,被選中的通用通訊模塊模擬并發(fā)出相應的接口時序,被 測試集成電路對應的接口接收通用通訊模塊發(fā)出的接口時序,將被測集成電路的參數(shù)傳回 GUI模塊;和/或O),由測試模塊選擇其中一個或多個通用通訊模塊,被選中的通用通訊模 塊模擬并發(fā)出相應的接口時序,被測試集成電路對應的接口接收通用通訊模塊發(fā)出的接口 時序,被測試集成電路解析接口時序,根據(jù)接口時序中包含的地址信息對符合地址被測集 成電路的寄存器進行寫操作。
2.如權利要求1所述通用測試設備,其特征在于所述通用通訊模塊包括下列模塊中的 一種或幾種并口通訊模塊、串口通訊模塊、USB通訊模塊。
3.如權利要求1所述通用測試設備,其特征在于所述被測集成電路的接口包括下列接 口中的一種或幾種I2C接口、SPI接口。
4.如權利要求1所述通用測試設備,其特征在于所述通用通訊模塊包括I2C時序模塊、 SPI時序模塊、PCI時序模塊,其中I2C時序模塊發(fā)出I2C時序、SPI時序模塊發(fā)出SPI時序、 PCI時序模塊發(fā)出PCI時序,通用通訊模塊發(fā)出的時序通過并口通訊模塊、串口通訊模塊或 USB通訊模塊中的一種發(fā)出。
5.如權利要求1所述通用測試設備,其特征在于所述通用通訊模塊的輸出端還可連接 一總線通訊板,再由總線通訊板連接被測集成電路,總線通訊板用于增強通用通訊模塊輸 出信號的驅(qū)動能力,并將通用通訊模塊的輸出電壓轉(zhuǎn)為集成電路的工作電壓。
專利摘要本實用新型提供了通用測試設備,其GUI模塊從存儲器中調(diào)用寄存器描述文件,并進行解析,通過GUI模塊進行下列操作的一種或幾種(1)讀操作測試模塊發(fā)出讀操作命令,被選中的通用通訊模塊模擬并發(fā)出相應的接口時序,被測試集成電路對應的接口接收接口時序,將被測集成電路的參數(shù)傳回GUI模塊以用于測試;(2)寫操作測試模塊發(fā)出寫操作命令,被選中的通用通訊模塊模擬并發(fā)出相應的接口時序,被測試集成電路對應的接口接收接口時序,被測試集成電路解析接口時序,根據(jù)接口時序中包含的地址信息對符合地址被測集成電路的寄存器進行寫操作。本實用新型可以方便地實現(xiàn)對具有通用通訊接口的被測集成電路的測試。
文檔編號G01R31/28GK201876522SQ20092021587
公開日2011年6月22日 申請日期2009年12月31日 優(yōu)先權日2009年12月31日
發(fā)明者蔣登峰, 魏建中 申請人:杭州士蘭微電子股份有限公司
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