專利名稱：一種磁場測量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種磁場強度的測量器具。
技術(shù)背景現(xiàn)有技術(shù)中，測量表面磁場的工具一般為高斯計，高斯計是一種相 對比較精密的測量儀器，尤其是探頭部分的霍爾片，其對磁場敏感度高， 能夠測量平面磁場中各個位置的磁場強度，并通過計量表表示出來。對 于分布多個磁極的磁場，想要在其中找出磁場強度的最高點，使用高斯 計尋找，是比較困難的，需要將探頭在磁場的各個位置進行測量，不僅 浪費時間，而且由于磁場各個位置的磁場強度均不同，其測量的結(jié)果誤 差相對會較大。另外，由于探頭比較精密，其極容易損壞，這種逐點測 試的方法，容易導(dǎo)致探頭的損壞。發(fā)明內(nèi)容本實用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種磁場測量裝置，尋找磁 場中磁場強度最高點更容易，且高斯計的探頭不容易損壞。為解決上述技術(shù)問題，本實用新型的技術(shù)方案是 一種磁場測量裝 置，包括高斯計，所述高斯計包括測量筆、計量表，其中測量筆頭為一 探頭；設(shè)有支架，所述測量筆安裝在所述支架上，支架上對應(yīng)探頭下方處設(shè)有永磁體。作為改進，所述支架為階梯狀，分為上、下兩層支架，所述測量筆 安裝在上支架上，所述永磁體安裝在下支架上，下支架上設(shè)有使永磁體 旋轉(zhuǎn)的旋鈕。將測量筆固定于支架上，并在測量筆位置下方放置永磁體。于探頭的上方，并水平 的通過探頭。當(dāng)測試品上的磁極正好位于探頭上方，且其極性與永磁體 極性相反，根據(jù)同極相斥、異極相吸原理，測試品將被位于探頭下方的 永磁體吸引而緊壓在探頭上，測試品與探頭的接觸點即為測試品上其中 一點磁場最高點，同時，探頭測量到這一接觸點的磁場強度，并在計量 表上反映出來。按照此方法，可以繼續(xù)尋找磁場上的磁場最高點。作為改進，所述支架上于測量筆安裝處向外延伸設(shè)有一凸出部，所 述探頭位于凸出部端部上方，所述永磁體安裝在凸出部上，凸出部上設(shè) 有使永磁體旋轉(zhuǎn)的旋鈕。圓柱形的凸出部可以更方便的測量類似環(huán)形永 磁體的磁場分布。作為改進，所述支架上設(shè)有傾斜支架，所述計量表安裝在所述傾斜 支架上。使計量表、支架、測量筆成為一整體，方便了實用和操作。 本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比所帶來的有益效果是將測量筆固定在支架上，利用磁極自身同極相斥、異極相吸原理尋 找磁場的磁場最高點，極大的降低了尋找磁場最高點的難度，且高斯計 的探頭不容易損壞；永磁體的極性可變，方便了尋找磁場上的所有磁場 最高點。


圖1為本實用新型實施例1結(jié)構(gòu)示意圖; 圖2為實施例1測量狀態(tài)圖I; 圖3為實施例1測量狀態(tài)圖II; 圖4為本實用新型實施例2結(jié)構(gòu)示意圖; 圖5為圖4的A-A剖視圖；圖6為實施例2測量狀態(tài)圖I;圖7為實施例2測量狀態(tài)圖n。下面結(jié)合說明書附圖對本實用新型作進一步說明。 實施例1如圖1所示， 一種磁場測量裝置，包括高斯計，所述高斯計包括測 量筆2、計量表l，其中測量筆2頭為一探頭3;設(shè)有分上下層且呈階梯狀的支架，所述測量筆2安裝在所述上支架4上，探頭3伸出上支架4 外,位于下支架5的上表面；下支架5對應(yīng)探頭3下方處設(shè)有永磁體6， 該永磁體6可以通過旋鈕7旋轉(zhuǎn)。如圖2、 3所示，測量測試品8上的磁 場時，將測試品8放置于探頭3的上方，并水平的通過探頭3，當(dāng)測試品 8上的磁極正好位于探頭3上方，且其極性與永磁體6極性相反，根據(jù)同 極相斥、異極相吸原理，測試品8將被位于下支架5的永磁體6吸引， 使得測試品8緊壓在探頭3上，測試品8與探頭3的接觸點即為測試品8 上其中一點磁場最高點，同時，探頭3測量到這一接觸點的磁場強度， 并在計量表1上反映出來。尋找出其中一點磁場最高點后，繼續(xù)尋找磁 場上另一點磁場最高點，當(dāng)測試品8上的磁極正好位于探頭3上方，且 其極性與永磁體6極性相同時，根據(jù)同極相斥、異極相吸原理，測試品8 將受到排斥力而快速的通過探頭3，等到探頭3上方再次出現(xiàn)與永磁體6 極性相反的磁極，第二個磁極最高點被尋找出來，按照此方法，可以方 便地尋找出測試品8的磁場上與永磁體6極性相反的磁場最高點。通過 旋鈕7旋轉(zhuǎn)永磁體6，使其極性改變，按照上述磁場最高點的尋找方法， 可以尋找出測試品8的磁場上與永磁體6極性相反的磁場最高點，這樣 一來，測試品8的磁場上各個N極和S極均被尋找出來。 實施例2如圖4、 5所示， 一種磁場測量裝置，包括高斯計，所述高斯計包括 測量筆2、計量表l，其中測量筆2頭為一探頭3;所述支架上于測量筆 2安裝處向外延伸設(shè)有一凸出部9，所述探頭3位于凸出部9端部上方，所述永磁體6安裝在凸出部9上，凸出部9上設(shè)有使永磁體6旋轉(zhuǎn)的旋 鈕7，所述支架上設(shè)有傾斜支架10，所述計量表1安裝在所述傾斜支架 10上。本實施例中，所述凸出部9為圓柱形，為了準確放置探頭，所述圓 柱形凸出部一面被切削成平面，所述探頭放置與該平面上。本實施例中， 所述的測試品為圓環(huán)形多極磁體，本結(jié)構(gòu)對于測量圓環(huán)形磁體8的磁場 最高點更方便快捷，如圖6所示，為測量圓環(huán)形磁條8內(nèi)環(huán)磁場分布； 如圖7所示，為測量圓環(huán)形磁條8外環(huán)磁場分布。其測量原理與實施例1 中測量磁場最高點的方法一致，所不同的是，水平磁條在測量時為水平 經(jīng)過探頭，而對于圓環(huán)形磁體在測量時，旋轉(zhuǎn)磁體即可。通過本實用新型極大的降低了尋找磁場最高點的難度，且高斯計的 探頭3不容易損壞；永磁體6的極性可變，方便了尋找磁場上的所有磁 場最高點。
權(quán)利要求1.一種磁場測量裝置，包括高斯計，所述高斯計包括測量筆、計量表，其中測量筆頭為一探頭；其特征在于設(shè)有支架，所述測量筆安裝在所述支架上，支架上對應(yīng)探頭下方處設(shè)有永磁體。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種磁場測量裝置，其特征在于所述支架為階 梯狀，分為上、下兩層支架，所述測量筆安裝在上支架上，所述永磁體 安裝在下支架上，下支架上設(shè)有使永磁體旋轉(zhuǎn)的旋鈕。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種磁場測量裝置，其特征在于所述支架上于 測量筆安裝處向外延伸設(shè)有一凸出部，所述探頭位于凸出部端部上方， 所述永磁體安裝在凸出部上，凸出部上設(shè)有使永磁體旋轉(zhuǎn)的旋鈕。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的一種磁場測量裝置，其特征在于所述支架 上設(shè)有傾斜支架，所述計量表安裝在所述傾斜支架上。
專利摘要本實用新型公開一種磁場測量裝置，包括高斯計，所述高斯計包括測量筆、計量表，其中測量筆頭為一探頭；設(shè)有支架，所述測量筆安裝在所述支架上，支架上對應(yīng)探頭下方處設(shè)有永磁體，還設(shè)有使永磁體旋轉(zhuǎn)的旋鈕。利用磁極自身同極相斥、異極相吸原理尋找磁體表面磁場的最高點，極大的降低了尋找磁場最高點的難度，且高斯計的探頭不容易損壞；永磁體的極性可變，方便了尋找磁體表面的所有磁場最高點。本實用新型對于多極磁體表面的測量尤其有效。
文檔編號G01R33/02GK201425619SQ20092005834
公開日2010年3月17日 申請日期2009年6月12日 優(yōu)先權(quán)日2009年6月12日
發(fā)明者柴 任 申請人:安吉司潤磁性材料有限公司