專(zhuān)利名稱(chēng)：測(cè)試儀探頭的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試儀的探頭。
背景技術(shù)：
示波器是一種用途廣泛的電子測(cè)量?jī)x器，它能把肉眼看不到的信號(hào)轉(zhuǎn)換成為看得見(jiàn)的圖 像，便于人們研究各種信號(hào)的變化過(guò)程。通常在設(shè)計(jì)印刷電路板的過(guò)程當(dāng)中，需要利用示波 器對(duì)所述印刷電路板上的元件的信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，以驗(yàn)證是否達(dá)到設(shè)計(jì)要求。
請(qǐng)參考圖l，其為現(xiàn)有的示波器探頭的示意圖。所述探頭包括兩個(gè)探針l及一用于屏蔽電 磁干擾的探帽2，所述探針l用于采集印刷電路板上待測(cè)元件的信號(hào)。利用所述示波器對(duì)印刷 電路板上待測(cè)元件的信號(hào)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，檢測(cè)者首先需要將所述印刷電路板上的待測(cè)元件的絕 緣漆刮掉，然后將待測(cè)元件用一焊線(xiàn)接出，并將所述焊線(xiàn)與探針l相連方可采集所述印刷電 路板上待測(cè)元件的信號(hào)。
利用上述示波器探頭對(duì)所述印刷電路板上的待測(cè)元件進(jìn)行測(cè)試時(shí)，由于需要用焊線(xiàn)接出 ，故在測(cè)試過(guò)程中容易對(duì)所述印刷電路板或其元件造成損壞，并且測(cè)試過(guò)程比較繁瑣。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種使用方便的測(cè)試儀探頭。
一種測(cè)試儀探頭，包括一探帽、 一正極探針及一負(fù)極探針，所述探帽的一端開(kāi)設(shè)有一第 一通孔及一第二通孔，所述正極探針與負(fù)極探針均包括一轉(zhuǎn)動(dòng)部、 一探測(cè)部及一連接所述轉(zhuǎn) 動(dòng)部與探測(cè)部的連接部，所述正極探針及負(fù)極探針的轉(zhuǎn)動(dòng)部可分別在所述第一及第二通孔內(nèi) 轉(zhuǎn)動(dòng)并定位，以調(diào)整對(duì)應(yīng)探測(cè)部的方向。
當(dāng)利用所述測(cè)試儀探頭進(jìn)行測(cè)試時(shí)，測(cè)試者只需要將印刷電路板上的待測(cè)元件處的絕緣 漆刮掉，然后將所述測(cè)試儀探頭的正極探針及負(fù)極探針的探測(cè)部與待測(cè)元件接觸即可采集到 該待測(cè)元件處的信號(hào)；并且可以根據(jù)待測(cè)元件的位置及形狀調(diào)整所述探測(cè)部的方向，從而可 使所述探測(cè)部更好的接觸待測(cè)元件，以得到更精確的信號(hào)。


下面結(jié)合附圖及較佳實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述。
圖l為現(xiàn)有的示波器探頭的示意圖。
圖2為本發(fā)明測(cè)試儀探頭的較佳實(shí)施方式的立體圖。圖3為圖2中探帽及正極探針的拆分圖。
圖4為圖2中探帽的局部剖視圖。
圖5為圖2中測(cè)試儀探頭的一種使用狀態(tài)圖。
圖6為本發(fā)明測(cè)試儀探頭的另一較佳實(shí)施方式中探帽及正極探針的拆分圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明測(cè)試儀探頭可應(yīng)用于各種測(cè)試儀，下面將以其應(yīng)用于一示波器為例進(jìn)行說(shuō)明。
請(qǐng)參考圖2至圖4，本發(fā)明測(cè)試儀探頭的較佳實(shí)施方式包括一探帽IO、 一正極探針20、 一 負(fù)極探針30、 一導(dǎo)線(xiàn)40、 一與所述探帽10相連的固定裝置50及一接頭(圖未示)，所述導(dǎo)線(xiàn) 40的一端伸入所述固定裝置50內(nèi)部與所述正極探針20及負(fù)極探針30相連，另一端與所述接頭 相連，所述接頭用于與所述示波器(圖未示)相連，以傳輸由所述正極探針20及負(fù)極探針 30所采集的信號(hào)給所述示波器。
所述探帽10為一罩體，在本實(shí)施方式中所述探帽10為一梯臺(tái)狀罩體，所述探帽10的上底 面上開(kāi)設(shè)有一齒輪狀的第一通孔12及一齒輪狀的第二通孔14。所述正極探針20包括一轉(zhuǎn)動(dòng)部 22、 一連接部24及一與所述探測(cè)部24相連成"T"字形的探測(cè)部26，所述轉(zhuǎn)動(dòng)部22為一與所 述第一通孔12相嚙合的齒輪，所述連接部24為一可伸縮的長(zhǎng)條形導(dǎo)體，其第一端穿過(guò)所述轉(zhuǎn) 動(dòng)部22后與所述導(dǎo)線(xiàn)40相連，第二端與所述探測(cè)部26相連，所述探測(cè)部26為一可伸縮的長(zhǎng)條 形導(dǎo)體。所述負(fù)極探針30的結(jié)構(gòu)與所述正極探針20相同，其包括一轉(zhuǎn)動(dòng)部32、 一連接部34及 一探測(cè)部36，其轉(zhuǎn)動(dòng)部32為一與所述第二通孔14相嚙合的齒輪。其中，設(shè)計(jì)者也可以根據(jù)需 要將所述連接部24及探測(cè)部26均設(shè)計(jì)為一固定長(zhǎng)度的長(zhǎng)條形導(dǎo)體，所述探帽10起到屏蔽電磁 干擾的作用，以減少所述測(cè)試儀探頭在采集印刷電路板上的待測(cè)元件的信號(hào)時(shí)其他信號(hào)對(duì)其 的影響。所述探測(cè)部26及36用于與印刷電路板上待測(cè)元件接觸，以采集該待測(cè)元件的信號(hào)。
請(qǐng)繼續(xù)參考圖5，其為利用如圖2所示的測(cè)試儀探頭對(duì)印刷電路板60上的一待測(cè)元件62進(jìn) 行檢測(cè)的使用狀態(tài)圖。在進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，可以根據(jù)所述待測(cè)元件62的位置及形狀轉(zhuǎn)動(dòng)調(diào)整所述 轉(zhuǎn)動(dòng)部22及32分別與所述第一通孔12及第二通孔14相互嚙合的位置，以使得所述探測(cè)部26及 36同時(shí)接觸所述待測(cè)元件62的兩個(gè)測(cè)試引腳；并且，可以通過(guò)調(diào)整所述連接部24及34與探測(cè) 部26及36的長(zhǎng)度，以使得所述探帽10的下底面的一邊也同時(shí)接觸所述印刷電路板60，從而所 述測(cè)試儀探頭可以更加穩(wěn)定地放置于所述印刷電路板60上，避免由于測(cè)試者手持該測(cè)試儀探 頭進(jìn)行測(cè)試時(shí)所帶來(lái)的誤差。
請(qǐng)繼續(xù)參考圖6，本發(fā)明測(cè)試儀探頭的另一較佳實(shí)施方式包括一探帽IO、 一正極探針20 、 一負(fù)極探針(圖未示)、 一導(dǎo)線(xiàn)(圖未示)及一與所述導(dǎo)線(xiàn)相連的接頭(圖未示)，所述接頭用于與一示波器(圖未示)相連，以傳輸由所述正極探針20及負(fù)極探針?biāo)杉男盘?hào)給 所述示波器。所述正極探針20包括一轉(zhuǎn)動(dòng)部22、 一連接部24及一與所述連接部24相連成"T "字形的探測(cè)部26，所述轉(zhuǎn)動(dòng)部22為一圓柱體，其圓周側(cè)壁上設(shè)有三個(gè)沿軸向的凸肋220、 222及224，所述連接部24的第一端穿過(guò)所述轉(zhuǎn)動(dòng)部22后與所述導(dǎo)線(xiàn)相連，第二端與所述探測(cè) 部26相連。所述負(fù)極探針結(jié)構(gòu)與正極探針20相同。所述探帽10為一梯臺(tái)狀罩體，其上底面上 開(kāi)設(shè)有一第一通孔12及一第二通孔14，所述第一通孔12的內(nèi)壁上沿軸向開(kāi)設(shè)有與所述轉(zhuǎn)動(dòng)部 22側(cè)壁上的凸肋220、 222及224相卡合的凹槽120、 122及124，以使得所述轉(zhuǎn)動(dòng)部22可以裝設(shè) 于所述第一通孔12內(nèi)，并且通過(guò)調(diào)整凸肋220、 222及224與凹槽120、 122及124的不同組合關(guān) 系可以改變所述探測(cè)部26的方向，以測(cè)試不同位置的待測(cè)元件，如當(dāng)凸肋220插入凹槽120、 凸肋222插入凹槽122及凸肋224插入凹槽124與凸肋220插入凹槽122、凸肋222插入凹槽124及 凸肋224插入凹槽120時(shí)，所述探測(cè)部26的方向是不同的。所述第二通孔14的結(jié)構(gòu)及作用均與 所述第一通孔12相同。
另外，所述轉(zhuǎn)動(dòng)部22還可以為其它形狀，比如長(zhǎng)方體等，其側(cè)壁上設(shè)有至少兩個(gè)沿軸向 的凸肋或者凹槽，同時(shí)所述第一通孔12的內(nèi)壁上開(kāi)設(shè)有與所述轉(zhuǎn)動(dòng)部220上的凸肋或凹槽相 卡合的凹槽或凸肋。
在其他實(shí)施方式中，所述連接部24及34還可以分別與所述探測(cè)部26及36相連成"十"字 形、"L"形或者其他形狀。所述探帽10還可以為其他形狀的罩體，比如一長(zhǎng)方體形罩體。
當(dāng)利用所述測(cè)試儀探頭進(jìn)行測(cè)試時(shí)，測(cè)試者只需要將印刷電路板60上待測(cè)元件62處的絕 緣漆刮掉，然后將所述測(cè)試儀探頭的正極探針20及負(fù)極探針30的探測(cè)部26及36與待測(cè)元件 62的測(cè)試引腳接觸即可采集到該待測(cè)元件62的信號(hào)。由于所述轉(zhuǎn)動(dòng)部22及32可分別在所述通 孔12及14內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng)，并通過(guò)齒條或凸肋定位，因此，可以根據(jù)所述待測(cè)元件62的測(cè)試引腳的位 置及形狀調(diào)整所述探測(cè)部26及36的方向，從而可使所述探測(cè)部26及36更好地接觸待測(cè)元件62 的測(cè)試引腳，以得到更精確的信號(hào)。同時(shí)，當(dāng)所述探測(cè)部26及36與待測(cè)元件62的測(cè)試引腳接 觸時(shí)，可以通過(guò)調(diào)節(jié)所述連接部24及34與探測(cè)部26及36的長(zhǎng)度使得所述探帽10的下底面的一 邊也同時(shí)接觸所述印刷電路板60，從而可以使得所述測(cè)試儀探頭與待測(cè)元件62的測(cè)試引腳穩(wěn) 定地接觸，避免由于測(cè)試者手持該測(cè)試儀探頭進(jìn)行測(cè)試時(shí)所帶來(lái)的誤差。
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試儀探頭，包括一探帽、一正極探針及一負(fù)極探針，其特征在于所述探帽的一端開(kāi)設(shè)有一第一通孔及一第二通孔，所述正極探針與負(fù)極探針均包括一轉(zhuǎn)動(dòng)部、一探測(cè)部及一連接所述轉(zhuǎn)動(dòng)部與探測(cè)部的連接部，所述正極探針及負(fù)極探針的轉(zhuǎn)動(dòng)部可分別在所述第一及第二通孔內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng)并定位，以調(diào)整對(duì)應(yīng)探測(cè)部的方向。
2.如權(quán)利要求l所述的測(cè)試儀探頭，其特征在于所述探帽為一梯臺(tái) 狀罩體或一長(zhǎng)方體形的罩體。
3.如權(quán)利要求l所述的測(cè)試儀探頭，其特征在于所述正極探針及負(fù) 極探針的轉(zhuǎn)動(dòng)部的圓周壁上凸設(shè)有至少兩個(gè)沿軸向的凸肋，所述第一通孔及第二通孔的內(nèi)壁 上開(kāi)設(shè)有至少兩個(gè)與對(duì)應(yīng)凸肋相卡合的凹槽。
4.如權(quán)利要求l所述的測(cè)試儀探頭，其特征在于所述正極探針及負(fù) 極探針的轉(zhuǎn)動(dòng)部的圓周壁上開(kāi)設(shè)有至少兩個(gè)沿軸向的凹槽，所述第一通孔及第二通孔的內(nèi)壁 上凸設(shè)有至少兩個(gè)與對(duì)應(yīng)凹槽相卡合的凸肋。
5.如權(quán)利要求l所述的測(cè)試儀探頭，其特征在于所述正極探針的轉(zhuǎn) 動(dòng)部的圓周壁上凸設(shè)有至少兩個(gè)沿軸向的凸肋，所述負(fù)極探針的轉(zhuǎn)動(dòng)部的圓周壁上開(kāi)設(shè)有至 少兩個(gè)沿軸向的凹槽，所述第一通孔的內(nèi)壁上開(kāi)設(shè)有至少兩個(gè)與所述正極探針的凸肋相卡合 的凹槽，所述第二通孔的內(nèi)壁上開(kāi)設(shè)有至少兩個(gè)與所述負(fù)極探針的凹槽相卡合的凸肋。
6.如權(quán)利要求l所述的測(cè)試儀探頭，其特征在于所述正極探針的轉(zhuǎn) 動(dòng)部的圓周壁上開(kāi)設(shè)有至少兩個(gè)沿軸向的凹槽，所述負(fù)極探針的轉(zhuǎn)動(dòng)部的圓周壁上凸設(shè)有至 少兩個(gè)沿軸向的凸肋，所述第一通孔的內(nèi)壁上凸設(shè)有至少兩個(gè)與所述正極探針的凹槽相卡合 的凸肋，所述第二通孔的內(nèi)壁上開(kāi)設(shè)有至少兩個(gè)與所述負(fù)極探針的凸肋相卡合的凹槽。
7.如權(quán)利要求l所述的測(cè)試儀探頭，其特征在于所述正極探針及負(fù) 極探針的轉(zhuǎn)動(dòng)部均為一齒輪，所述第一通孔及第二通孔均為一與所述正極探針及負(fù)極探針的 轉(zhuǎn)動(dòng)部相互嚙合的齒輪狀通孔。
8.如權(quán)利要求l所述的測(cè)試儀探頭，其特征在于所述連接部及探測(cè)部均為一長(zhǎng)條形導(dǎo)體。
9.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試儀探頭，其特征在于所述連接部與探測(cè) 部相連成"T"字形或者"十"字形或者"L"字形。
10.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試儀探頭，其特征在于所述連接部及探測(cè)部均為一可伸縮的長(zhǎng)條形導(dǎo)體。
全文摘要
一種測(cè)試儀探頭，包括一探帽、一正極探針及一負(fù)極探針，所述探帽的一端開(kāi)設(shè)有一第一通孔及一第二通孔，所述正極探針與負(fù)極探針均包括一轉(zhuǎn)動(dòng)部、一探測(cè)部及一連接所述轉(zhuǎn)動(dòng)部與探測(cè)部的連接部，所述正極探針及負(fù)極探針的轉(zhuǎn)動(dòng)部可分別在所述第一及第二通孔內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng)并定位，以調(diào)整對(duì)應(yīng)探測(cè)部的方向。利用所述測(cè)試儀探頭可以方便的測(cè)試印刷電路板上待測(cè)元件的信號(hào)。
文檔編號(hào)G01R1/067GK101614756SQ20081030239
公開(kāi)日2009年12月30日 申請(qǐng)日期2008年6月27日 優(yōu)先權(quán)日2008年6月27日
發(fā)明者銳 葉 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司