專利名稱：聯(lián)合測試組鏈路成鏈方法及聯(lián)合測試組鏈路裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種聯(lián)合測試組鏈路成鏈方法及聯(lián) 合測試組鏈路裝置。
背景技術(shù)：
在目前常用的單板設(shè)計中，已經(jīng)廣泛采用聯(lián)合測試組(JTAG, Joint Test Action Group )鏈路的設(shè)計方式，實現(xiàn)了單板的各種測試功能，以及完成某些 芯片的調(diào)試、加載等功能。
在實際應(yīng)用中，為了滿足各種需求，往往需要對一個JTAG鏈路進行分鏈 設(shè)計。
例如為了實現(xiàn)加載的可靠性與高速度，要求盡量少的器件組鏈，會傾向 于只將與加載相關(guān)的邊界掃描(BS， Boundary Scan)器件連成一條的JTAG 鏈路；或者為了更好的實現(xiàn)單板互連測試等功能，方便生產(chǎn)定位維修，要求 將盡量多的器件組鏈，會傾向于將單板上所有的BS器件組成一條JTAG鏈路。
此時就需要對一塊單板上的JTAG鏈進行分鏈路設(shè)計，使一個單板上的器 件可以通過選擇組成不同的鏈路，讓單板實現(xiàn)整板JTAG鏈及各分鏈路，來支 持各種需求。其中將為常見的情況也就是既可以將單板上所有的BS器件組成 一條較長的JTAG鏈路，也可以只將其中部分BS器件組成一條較短的JTAG 鏈路。
分鏈時常用的方法有兩種
l)在單板上加裝選擇器，選擇器可控制不同的鏈路是否有效，通過控制 選擇器選擇不同的鏈路，實現(xiàn)分鏈；
2 )在單板上加裝JTAG專用橋片，通過JTAG專用橋片來實現(xiàn)鏈路的隔 離或者多鏈設(shè)計，JTAG專用橋片可以連接多個不同鏈路，通過控制JTAG專 用橋片選4奪不同的鏈路，實現(xiàn)分鏈。在對現(xiàn)有技術(shù)的研究和實踐過程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)存在以下問題
這兩種方法都需要在單板上增加硬件，硬件增加就會增加電路設(shè)計的復(fù) 雜度，單板上器件增多，器件故障的幾率增加，也會造成單板壞板率增加， 同時增加硬件，成本也會上升。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例要解決的技術(shù)問題是提供一種聯(lián)合測試組鏈路成鏈方法及 聯(lián)合測試組鏈路裝置，可以減少聯(lián)合測試組鏈路分鏈時使用的器件。
本發(fā)明實施例一方面，提供了 一種聯(lián)合測試組鏈路成鏈方法，包括 將屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳與不屬于第一鏈路的邊界掃 描器件的控制引腳分別與聯(lián)合測試組鏈接口的不同引腳連接；
將屬于不同鏈路的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所述聯(lián)合測試組 鏈接口的不同測試數(shù)據(jù)輸出引腳連接；
在所述聯(lián)合測試組鏈接口通過不屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引 腳控制所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件處于無效狀態(tài)時，選通第一鏈路。
另一方面，提供了一種聯(lián)合測試組鏈路裝置，包括聯(lián)合測試組鏈接口， 至少兩個邊界掃描器件；
屬于第 一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳與不屬于第 一鏈路的邊界掃描 器件的控制引腳分別與所述聯(lián)合測試組鏈接口的不同引腳連接；
屬于不同鏈路的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所述聯(lián)合測試組鏈 接口的不同測試數(shù)據(jù)輸出引腳連接；
在所述聯(lián)合測試組鏈接口通過不屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引 腳控制所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件處于無效狀態(tài)時，第一鏈路有效。
由以上技術(shù)方案可以看出，由于將屬于某一鏈路的邊界掃描器件的控制 引腳與不屬于該鏈路的邊界掃描器件的控制引腳分別連接到聯(lián)合測試組鏈接 口不同的引腳，在需要使該鏈路有效時，由聯(lián)合測試組鏈接口控制不屬于該 鏈路的邊界掃描器件無效，既可完成，不需要增加新的器件，與現(xiàn)有技術(shù)相 比有效減少了器件的使用量，相應(yīng)減輕了電路設(shè)計的復(fù)雜度，降低了單板壞板率，降低了成本。


為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實 施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面 描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講， 在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為本發(fā)明實施例提供的邊界掃描器件引腳圖； 圖2為本發(fā)明提供的聯(lián)合測試組鏈路裝置實施例一結(jié)構(gòu)圖； 圖3為本發(fā)明提供的聯(lián)合測試組鏈路裝置實施例二電路原理圖； 圖4為本發(fā)明提供的聯(lián)合測試組鏈路裝置實施例三電路原理圖。
具體實施例方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行 清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而 不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作 出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
本發(fā)明實施例提供了 一種聯(lián)合測試組鏈路成鏈方法及聯(lián)合測試組鏈路裝 置，可以減少聯(lián)合測試組鏈路分鏈時使用的器件。
本發(fā)明實施例提供的聯(lián)合測試組鏈路成鏈方法包括
將屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳與不屬于第一鏈路的邊界掃 描器件的控制《1腳分別與聯(lián)合測試組鏈接口的不同引腳連接；
將屬于不同鏈路的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所述聯(lián)合測試組 鏈接口的不同測試數(shù)據(jù)輸出31腳連接；
在所述聯(lián)合測試組鏈接口通過不屬于第 一鏈路的邊界掃描器件的控制引 腳控制所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件處于無效狀態(tài)時，選通第一鏈路。
由于邊界掃描器件有3個可以控制邊界掃描器件狀態(tài)的輸入信號引腳， 本發(fā)明實施例提供的聯(lián)合測試組鏈路成鏈方法，將屬于某一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳與不屬于該鏈路的邊界掃描器件的控制引腳分別連接到聯(lián)合 測試組鏈接口不同的引腳，在需要使該鏈路有效時，由聯(lián)合測試組鏈接口控 制不屬于該鏈路的邊界掃描器件無效，既可完成，不需要增加新的器件，與 現(xiàn)有技術(shù)相比有效減少了器件的使用量，相應(yīng)減輕了電路設(shè)計的復(fù)雜度，降 低了單板壞板率，降低了成本。
在本發(fā)明實施例提供的聯(lián)合測試組鏈路成鏈方法中，控制引腳可以是測
試復(fù)位(TRST)引腳、測試時鐘(TCK)引腳或測試模式選擇(TMS)引腳 其中之一，根據(jù)使用的引腳不同，控制所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件 處于無效狀態(tài)的方式也不同
1) 在控制引腳為測試復(fù)位引腳時；
測試復(fù)位引腳為低電平時，邊界掃描器件會處于復(fù)位狀態(tài)，不工作，是 一種無效狀態(tài)，所以此時聯(lián)合測試組鏈接口會將所述不屬于第一鏈路的邊界 掃描器件測試復(fù)位引腳置為低電平，控制所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器 件處于復(fù)位狀態(tài)。
2) 在控制引腳為測試時鐘引腳時；
邊界掃描器件只有在能獲得正常時鐘信號時才會正常工作，如果測試時 鐘引腳收不到信號，就不會工作，處于無效狀態(tài)，所以此時聯(lián)合測試組鏈接 口將所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件測試時鐘引腳置為高阻態(tài)，控制所 述不屬于第一鏈^^的邊界掃描器件處于無效狀態(tài)。
3) 在控制引腳為測試模式選擇引腳時；
邊界掃描器件在測試模式選擇引腳為高電平時，如果連續(xù)收到5個時鐘 信號就會進入復(fù)位狀態(tài)，因此聯(lián)合測試組鏈接口將所述不屬于第 一鏈路的邊 界掃描器件測試模式選擇引腳置為高電平，控制所述不屬于第一鏈路的邊界 掃描器件處于復(fù)位狀態(tài)。
以上電平狀態(tài)均為舉例，實際中有可能不同，例如測試復(fù)位引腳可能為 高電平有效。
進一步，為了使系統(tǒng)可以正常工作，清除之前的狀態(tài)，可以在選通某一鏈路前，先將所有邊界掃描器件復(fù)位，復(fù)位的方式可以是，使用測試復(fù)位引 腳，也可以是將全部邊界掃描器件測試模式選擇引腳置為高電平，向全部邊 界掃描器件測試時鐘引腳輸出5個連續(xù)時鐘信號，控制全部邊界掃描器件處 于復(fù)位狀態(tài)。
以上為對本發(fā)明實施例提供的聯(lián)合測試組鏈路成鏈方法的描述，現(xiàn)將開 始描述本發(fā)明實施例提供的聯(lián)合測試組鏈路裝置。
本發(fā)明實施例提供的聯(lián)合測試組鏈路裝置，包括聯(lián)合測試組鏈接口， 至少兩個邊界掃描器件；
屬于第 一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳與不屬于第 一鏈路的邊界掃描 器件的控制引腳分別與所述聯(lián)合測試組鏈接口的不同引腳連接；
屬于不同鏈路的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所述聯(lián)合測試組鏈 接口的不同測試數(shù)據(jù)輸出？ 1腳連接；
在所述聯(lián)合測試組鏈接口通過不屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引 腳控制所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件處于無效狀態(tài)時，第一鏈路有效。
其中，聯(lián)合測試組鏈接口可以是主機(Host)，或者聯(lián)合測試組插座。 以有兩個邊界掃描器件為例，本發(fā)明提供的聯(lián)合測試組鏈路裝置實施例 一結(jié)構(gòu)如圖1所示，包括聯(lián)合測試組鏈接口 UOl、邊界掃描器件U02、邊 界掃描器件U03;邊界掃描器件U02構(gòu)成第一鏈路，邊界掃描器件U02和邊 界掃描器件U03共同組成另 一鏈路。
邊界掃描器件U02屬于第一鏈路，邊界掃描器件U02的引腳1為控制引 腳，連接到聯(lián)合測試組鏈接口 U01的引腳1;邊界掃描器件U03不屬于第一 鏈路，邊界掃描器件uo;3的引腳1為控制引腳，連接到聯(lián)合測試組鏈接口 U01 的引腳4;
邊界掃描器件U02的引腳2為輸入引腳，連接到聯(lián)合測試組鏈接口 U01 的引腳2，邊界掃描器件U02的引腳3為輸出引腳，連接到聯(lián)合測試組鏈接 口 U01的引腳3,組成第一鏈路；邊界掃描器件U02的引腳3連接到邊界掃 描器件U03的引腳3，邊界掃描器件U03的引腳3位輸入引腳，組成另 一鏈
10路，邊界掃描器件U02的引腳2為邊界掃描器件U02和邊界掃描器件U03共 同組成鏈路的輸出引腳，連接到聯(lián)合測試組鏈接口 UO1的引腳5;
在所述聯(lián)合測試組鏈接口 U01通過不屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控 制引腳4控制不屬于第一鏈路的邊界掃描器件U03處于無效狀態(tài)時，第一鏈 ^各有效。
圖2為本發(fā)明實施例提供的邊界掃描器件引腳圖，引腳1為測試復(fù)位引 腳，引腳2為測試模式選擇引腳，引腳3為測試時鐘引腳，引腳4為測試數(shù) 據(jù)輸入(TDI)引腳，引腳5為測試數(shù)據(jù)輸出(TDO)引腳。
當(dāng)邊界掃描器件為復(fù)位狀態(tài)時，測試數(shù)據(jù)輸出引腳為高阻態(tài)，不輸出數(shù)據(jù)。
實際上用中由于測試模式選擇引腳與測試時鐘引腳組合也能復(fù)位邊界掃 描器件，因此測試復(fù)位引腳并非必須引腳，可能沒有。
由于邊界掃描器件有3個可以控制邊界掃描器件狀態(tài)的輸入信號引腳， 本發(fā)明實施例提供的聯(lián)合測試組鏈路裝置，將屬于某一鏈路的邊界掃描器件 的控制引腳與不屬于該鏈路的邊界掃描器件的控制引腳分別連接到聯(lián)合測試 組鏈接口不同的引腳，在需要使該鏈路有效時，由聯(lián)合測試組鏈接口控制不 屬于該鏈路的邊界掃描器件無效，既可完成，不需要增加新的器件，與現(xiàn)有 技術(shù)相比有效減少了器件的使用量，相應(yīng)減輕了電路設(shè)計的復(fù)雜度，降低了 單板壞板率，降低了成本。
現(xiàn)以實例進行描述，以控制引腳為測試復(fù)位引腳， 一個邊界掃描器件組 成第一鏈路，全部邊界掃描器件組成第二鏈路為例，本發(fā)明提供的聯(lián)合測試 組鏈路裝置實施例二電路原理圖如圖3所示
聯(lián)合測試組鏈接口 S01的引腳1為第一測試復(fù)位引腳，與屬于第一鏈路 的邊界掃描器件S02的引腳1連接在一起，邊界掃描器件S02的引腳1為測 試復(fù)位引腳；
聯(lián)合測試組鏈接口 S01的引腳2為第二測試復(fù)位引腳，與不屬于第一鏈 路的邊界掃描器件S03、 S04的引腳1連接在一起，邊界掃描器件S03、 S04 的引腳1為測試復(fù)位引腳；聯(lián)合測試組鏈接口 SOI的引腳3為測試模式選擇引腳，與全部邊界掃描
器件S02、 S03、 S04的引腳2連接在一起，邊界掃描器件S02、 S03、 S04的 引腳2為測試模式選擇引腳；
聯(lián)合測試組鏈接口 S01的引腳4為測試時鐘引腳，與全部邊界掃描器件 S02、 S03、 S04的引腳3連接在一起，邊界掃描器件S02、 S03、 S04的引腳3 為測試時鐘引腳；
聯(lián)合測試組鏈接口 SOI的引腳5為測試數(shù)據(jù)輸入引腳，與屬于第一鏈路 的邊界掃描器件S02的引腳4連接在一起，邊界掃描器件S02的引腳4為測 試數(shù)據(jù)輸入引腳；
邊界掃描器件S02的引腳5為測試數(shù)據(jù)輸出引腳，與聯(lián)合測試組鏈接口 SOI的引腳6、邊界掃描器件S03的引腳4連接在一起，聯(lián)合測試組鏈接口 SOI的引腳6為第一測試數(shù)據(jù)輸出引腳，邊界掃描器件S03的引腳4為測試數(shù) 據(jù)輸入引腳；
邊界掃描器件S03的引腳5為測試數(shù)據(jù)輸出引腳，連接到下一個邊界掃 描器件的測試數(shù)據(jù)輸入引腳，在本實施例中，如果下一個就是邊界掃描器件 S04，則連接到邊界掃描器件S04的引腳4，也即邊界掃描器件S04的測試數(shù) 據(jù)輸入引腳；_
邊界掃描器件S04的引腳5為測試數(shù)據(jù)輸出引腳，連接到聯(lián)合測試組鏈 接口 SO 1的引腳7 ，聯(lián)合測試組鏈接口 SO 1的引腳7為第二測試數(shù)據(jù)輸出引腳。
當(dāng)需要選通第一鏈路時，也就是只需要邊界掃描器件S02有效，聯(lián)合測 試組鏈接口 SOI的引腳2輸出低電平，則邊界掃描器件S03到邊界掃描器件 S04的都會被置低電平，邊界掃描器件S03到邊界掃描器件S04的都會進入 復(fù)位狀態(tài)，被無效；聯(lián)合測試組鏈接口 SOI的引腳l、 3、 4、 5、 6,也就是聯(lián) 合測試組鏈接口 SOI的第一測試復(fù)位引腳、測試模式選擇引腳、測試時鐘引 腳、測試數(shù)據(jù)輸入引腳和第一測試數(shù)據(jù)輸出引腳組成一組聯(lián)合測試組信號控 制邊界掃描器件S02進入工作狀態(tài)，此時第一鏈路有效。
當(dāng)需要選通第二鏈路時，也就是需要全部邊界掃描器件有效，聯(lián)合測試 組鏈接口 SOI的引腳1、 2輸出同步有效信號，與聯(lián)合測試組鏈接口 SOI的引腳3、 4、 5、 7組成一組聯(lián)合測試組信號控制邊界掃描器件S02、 S03、 S04進 入工作狀態(tài)，此時第二鏈路有效。
假如控制引腳為測試時鐘引腳或測試模式選擇引腳，其實電路原理圖與 本發(fā)明提供的聯(lián)合測試組鏈路裝置實施例一類似，不同之處在于聯(lián)合測試組 鏈接口需要給出兩個測試時鐘引腳或測試模式選擇引腳，只需要一個測試復(fù) 位引腳，由于聯(lián)合測試組鏈接口具有可編程的特性，可以滿足需求。
以控制引腳為測試時鐘引腳， 一個邊界掃描器件組成第一鏈路，其他邊 界掃描器件組成第二鏈路為例，本發(fā)明提供的聯(lián)合測試組鏈路裝置實施例三 電路原理圖如圖4所示
聯(lián)合測試組鏈接口 D01的引腳1為測試復(fù)位引腳，與邊界掃描器件D02、 D03、 D04的引腳1連接在一起，邊界掃描器件D02、 D03、 D04的引腳1為 測試復(fù)位引腳；
聯(lián)合測試組鏈接口 D01的引腳2為測試模式選擇引腳，與邊界掃描器件 D02、 D03、 D04的引腳2連接在一起，邊界掃描器件D02、 D03、 D04的引 腳2為測試模式選擇引腳；
聯(lián)合測試組鏈接口 D01的引腳3為第二測試時鐘引腳，與屬于第二鏈路 的邊界掃描器件D03、 D04的引腳3連接在一起，邊界掃描器件D03、 D04 的引腳3為測試時鐘引腳；
聯(lián)合測試組鏈接口 D01的引腳4為第一測試時鐘引腳，與屬于第一鏈3各 的邊界掃描器件D02的引腳3連接在一起，邊界掃描器件D02的引腳3為測 試時鐘引腳；
聯(lián)合測試組鏈接口 D01的引腳5為第一測試數(shù)據(jù)輸入引腳，與屬于第一 鏈路的邊界掃描器件D02的引腳4連接在一起，邊界掃描器件D02的引腳4 為測試數(shù)據(jù)輸入引腳；
邊界掃描器件D02的引腳5為測試數(shù)據(jù)輸出引腳，與聯(lián)合測試組鏈接口 D01的引腳6連接在一起，聯(lián)合測試組鏈接口 D01的引腳6為第一測試數(shù)據(jù) 輸出引腳；聯(lián)合測試組鏈接口 D01的引腳7為第二測試數(shù)據(jù)輸入引腳，與屬于第一 鏈路的邊界掃描器件D03的引腳4連接在一起，邊界掃描器件D03的引腳4 為測試數(shù)據(jù)輸入引腳；
邊界掃描器件D03的引腳5為測試數(shù)據(jù)輸出引腳，連接到下一個邊界掃 描器件的測試數(shù)據(jù)輸入引腳，在本實施例中，如果下一個就是邊界掃描器件 D04,則連接到邊界掃描器件D04的引腳4,也即邊界掃描器件D04的測試 數(shù)據(jù)輸入引腳；
邊界掃描器件D04的引腳5為測試數(shù)據(jù)輸出引腳，連接到聯(lián)合測試組鏈 接口 D01的引腳8,聯(lián)合測試組鏈接口 D01的引腳8為第二測試數(shù)據(jù)輸出引 腳。
當(dāng)需要選通第一鏈路時，也就是只需要邊界掃描器件D02有效，聯(lián)合測 試組鏈接口 D01先將全部邊界掃描器件復(fù)位，可以使用測試復(fù)位引腳全部復(fù) 位，也可以先將測試模式選擇引腳置高電平，再給第一測試時鐘引腳、第二 測試時鐘引腳5個時鐘信號；
復(fù)位后，聯(lián)合測試組鏈接口 D01的引腳3輸出高阻態(tài)，則邊界掃描器件 D03到邊界掃描器件D04的都無法收到時鐘信號，會一直處于復(fù)位狀態(tài)，被 無效；聯(lián)合測試組鏈接口 D01的引腳1、 2、 4、 5、 6,也就是聯(lián)合測試組鏈 接口 D01的測試復(fù)位引腳、測試才莫式選擇引腳、第一測試時鐘引腳、第一測 試數(shù)據(jù)輸入引腳和第一測試數(shù)據(jù)輸出引腳組成一組聯(lián)合測試組信號，控制邊 界掃描器件D02進入工作狀態(tài)，此時第一鏈路有效。
當(dāng)需要選通第二鏈路時，也就是需要邊界掃描器件D03、邊界掃描器件 D04有效，聯(lián)合測試組鏈接口 D01同樣先將全部邊界掃描器件復(fù)位，
復(fù)位后，聯(lián)合測試組鏈接口 D01的引腳4輸出高阻態(tài)，則邊界掃描器件 D02無法收到時鐘信號，會一直處于復(fù)位狀態(tài)，被無效；聯(lián)合測試組鏈接口 D01的引腳1、 2、 3、 7、 8組成一組聯(lián)合測試組信號，控制邊界掃描器件D03、 D04進入工作狀態(tài)，此時第二鏈路有效。
在有更多的鏈路時，都可依照上述辦法進行處理，在此不再重復(fù)描述。
本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實現(xiàn)上述實施例方法中的全部或部分步驟
14是可以通過程序來指令相關(guān)的硬件完成，所述的程序可以存儲于一種計算機
可讀存儲介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時，包括如下步驟 一種聯(lián)合測試組鏈3各成鏈方法，包括
將屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳與不屬于第一鏈路的邊界掃 描器件的控制引腳分別與聯(lián)合測試組鏈接口的不同引腳連接；
將屬于不同鏈路的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所述聯(lián)合測試組 鏈接口的不同測試數(shù)據(jù)輸出引腳連接；
在所述聯(lián)合測試組鏈接口通過不屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引 腳控制所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件處于無效狀態(tài)時，選通第一鏈路。
上述提到的存儲介質(zhì)可以是只讀存儲器，磁盤或光盤等。
以上對本發(fā)明所提供的 一種聯(lián)合測試組鏈路成鏈方法及聯(lián)合測試組鏈路
行了闡述，以上實施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想； 同時，對于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在具體實施方式
及 應(yīng)用范圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對本發(fā)明 的限制。
權(quán)利要求
1、一種聯(lián)合測試組鏈路成鏈方法，其特征在于，包括將屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳與不屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳分別與聯(lián)合測試組鏈接口的不同引腳連接；將屬于不同鏈路的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所述聯(lián)合測試組鏈接口的不同測試數(shù)據(jù)輸出引腳連接；在所述聯(lián)合測試組鏈接口通過不屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳控制所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件處于無效狀態(tài)時，選通第一鏈路。
2、 如權(quán)利要求1所述的聯(lián)合測試組鏈路成鏈方法，其特征在于，所述控 制引腳為測試復(fù)位引腳；所述聯(lián)合測試組鏈接口通過不屬于第 一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳 控制所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件處于無效狀態(tài)包括所述聯(lián)合測試組鏈接口將所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件測試復(fù)位 引腳置為j氐電平，控制所述不屬于第一鏈^ 各的邊界掃描器件處于復(fù)位狀態(tài)。
3、 如權(quán)利要求1所述的聯(lián)合測試組鏈路成鏈方法，其特征在于，所述控 制引腳為測試時鐘引腳；所述聯(lián)合測試組鏈接口通過不屬于第 一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳 控制所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件處于無效狀態(tài)包括所述聯(lián)合測試組鏈接口將所述不屬于第 一鏈路的邊界掃描器件測試時鐘 引腳置為高阻態(tài)，控制所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件處于無效狀態(tài)。
4、 如權(quán)利要求1所述的聯(lián)合測試組鏈路成鏈方法，其特征在于，所述控 制引腳為測試模式選擇引腳；所述聯(lián)合測試組鏈接口通過不屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳 控制所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件處于無效狀態(tài)包括所述聯(lián)合測試組鏈接口將所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件測試模式 選擇引腳置為高電平，控制所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件處于復(fù)位狀態(tài)。
5、 如權(quán)利要求3或4所述的聯(lián)合測試組鏈路成鏈方法，其特征在于，在所述聯(lián)合測試組鏈接口通過不屬于第 一鏈路的邊界掃描器件的控制？ 1腳控制所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件處于無效狀態(tài)之前還包括所述聯(lián)合測試組鏈接口將全部邊界掃描器件測試;漠式選擇引腳置為高電 平，所述聯(lián)合測試組鏈"t妻口向全部邊界掃描器件測試時鐘引腳輸出5個連續(xù) 時鐘信號，控制全部邊界掃描器件處于復(fù)位狀態(tài)。
6、 一種聯(lián)合測試組鏈路裝置，其特征在于，包括聯(lián)合測試組鏈接口， 至少兩個邊界掃描器件；屬于第 一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳與不屬于第 一鏈路的邊界掃描 器件的控制引腳分別與所述聯(lián)合測試組鏈接口的不同引腳連接；屬于不同鏈路的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所述聯(lián)合測試組鏈 接口的不同測試數(shù)據(jù)輸出^ 1腳連接；在所述聯(lián)合測試組鏈接口通過不屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引 腳控制所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件處于無效狀態(tài)時，第一鏈路有效。
7、 如權(quán)利要求6所述的聯(lián)合測試組鏈路裝置，其特征在于，全部所述邊 界掃描器件組成第二鏈路；所述屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳與不屬于第一鏈路的邊界 掃描器件的控制引腳分別與所述聯(lián)合測試組鏈接口的不同引腳連接；屬于不 同鏈路的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所述聯(lián)合測試組鏈接口的不同 測試數(shù)據(jù)輸出引腳連接包括屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳與所述聯(lián)合測試組鏈接口的控 制引腳連接在一起；屬于第一鏈路的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所 述聯(lián)合測試組鏈接口的第一測試數(shù)據(jù)輸出引腳連接在一起；不屬于第一鏈路 的邊界掃描器件的控制引腳與所述聯(lián)合測試組鏈接口的第二引腳連接在一 起；屬于第二鏈路的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所述聯(lián)合測試組鏈 接口的第二測試數(shù)據(jù)輸出引腳連接在一起；在通過所述聯(lián)合測試組鏈接口的第二引腳控制所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件處于工作狀態(tài)時，第二鏈路有效。
8、 如權(quán)利要求6所述的聯(lián)合測試組鏈路裝置，其特征在于，所述不屬于 第 一鏈路的邊界掃描器件組成第二鏈路；所述屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳與不屬于第一鏈路的邊界 掃描器件的控制引腳分別與所述聯(lián)合測試組鏈接口的不同引腳連接；屬于不 同鏈S各的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所述聯(lián)合測試組鏈接口的不同 測試數(shù)據(jù)輸出引腳連接包括屬于第 一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳與所述聯(lián)合測試組鏈接口的控 制引腳連接在一起；屬于第一鏈路的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所 述聯(lián)合測試組鏈接口的第一測試數(shù)據(jù)輸出引腳連接在一起；不屬于第一鏈路 的邊界掃描器件的控制引腳與所述聯(lián)合測試組鏈接口的第二引腳連接在一 起；所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所述聯(lián)合測 試組鏈接口的第二測試數(shù)據(jù)輸出引腳連接在一起；在通過所述聯(lián)合測試組鏈 接口的控制引腳控制所述屬于第一鏈路的邊界掃描器件處于無效狀態(tài)時，第 二鏈路有效。
9、 如權(quán)利要求6所述的聯(lián)合測試組鏈路裝置，其特征在于，所述邊界掃 描器件為三個以上；所述屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳與不屬于第一鏈路的邊界 掃描器件的控制引腳分別與所述聯(lián)合測試組鏈接口的不同引腳連接；屬于不 同鏈路的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所述聯(lián)合測試組鏈接口的不同 測試數(shù)據(jù)輸出S1腳連接包括屬于第 一鏈路的邊界掃描器件的控制卩1腳與所述聯(lián)合測試組鏈接口的控 制引腳連接在一起；屬于第一鏈路的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所 述聯(lián)合測試組鏈接口的第 一測試數(shù)據(jù)輸出《I腳連接在一起；屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳與所述聯(lián)合測試組鏈接口的控 制引腳連接在一起；屬于第一鏈路的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所 述聯(lián)合測試組鏈接口的第 一測試數(shù)據(jù)輸出^ 1腳連接在一起；屬于第二鏈路的邊界掃描器件的控制引腳與所述聯(lián)合測試組鏈接口的第二引腳連接在一起；屬于第二鏈路的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所 述聯(lián)合測試組鏈接口的第二測試數(shù)據(jù)輸出引腳連接在一起；屬于第三鏈路的邊界掃描器件的控制引腳與所述聯(lián)合測試組鏈接口的第 三引腳連接在一起；屬于第三鏈路的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所 述聯(lián)合測試組鏈接口的第三測試數(shù)據(jù)輸出引腳連接在一起；在通過所述聯(lián)合測試組鏈接口的控制引腳、第三引腳控制所述屬于第一 鏈路和第三鏈路的邊界掃描器件處于無效狀態(tài)時，第二鏈路有效；在通過所 述聯(lián)合測試組鏈接口的控制引腳、第二引腳控制所述屬于第一鏈路和第二鏈 路的邊界掃描器件處于無效狀態(tài)時，第三鏈路有效。
10、如權(quán)利要求6、 7、 8或9所述的聯(lián)合測試組鏈路裝置，其特征在于， 所述控制引腳為測試復(fù)位引腳、測試時鐘引腳或測試^f莫式選擇引腳。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種聯(lián)合測試組鏈路成鏈方法及聯(lián)合測試組鏈路裝置。其中方法包括將屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳與不屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳分別與聯(lián)合測試組鏈接口的不同引腳連接；將屬于不同鏈路的邊界掃描器件的測試數(shù)據(jù)輸出引腳與所述聯(lián)合測試組鏈接口的不同測試數(shù)據(jù)輸出引腳連接；在所述聯(lián)合測試組鏈接口通過不屬于第一鏈路的邊界掃描器件的控制引腳控制所述不屬于第一鏈路的邊界掃描器件處于無效狀態(tài)時，選通第一鏈路。裝置包括聯(lián)合測試組鏈接口，至少兩個邊界掃描器件。應(yīng)用本發(fā)明可以減少聯(lián)合測試組鏈路分鏈時使用的器件。
文檔編號G01R31/28GK101446624SQ20081018914
公開日2009年6月3日 申請日期2008年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2008年12月29日
發(fā)明者張貫忠, 剛 王 申請人:華為技術(shù)有限公司