專利名稱：測量半導體發(fā)光器件用的溫控座的制作方法
技術領域：
測量半導體發(fā)光器件用的溫控座
所屬技術領域
本實用新型涉及一種測量裝置，尤其涉及一種具有溫控功能和避免結露的 測量半導體發(fā)光器件用的溫控座。背景技術：
半導體發(fā)光器件的核心是PN結，PN結的溫度被稱為結溫。半導體發(fā)光器 件性能與結溫有關，不同結溫下的半導體發(fā)光器件的光電色參數(shù)不同。因此， 要正確地測試與評價半導體發(fā)光器件的光電色參數(shù)必須對半導體發(fā)光器件的溫 度進行控制，使其保持相對恒定。
現(xiàn)有技術的測量半導體發(fā)光器件用的座體分為具有溫控功能和不具有溫控 功能兩類。不具有溫控功能的座體無法使被測試件的結溫保持相對恒定，測試 結果不具有可比性；具有溫控功能的座體一般不具有避免水汽凝結的裝置，在 低溫狀態(tài)下，被測試件表面容易出現(xiàn)結露、結霜甚至結冰，影響被測試件所發(fā) 的光的射出，影響測試的準確性。

發(fā)明內容
本實用新型的目的在于提供一種可以使被測試件的結溫保持相對恒定，同 時還可以避免被測試件表面出現(xiàn)結露、結霜甚至結冰的現(xiàn)象，測試準確，使測 試結果具有可比性，解決現(xiàn)有技術存在的難以使被測試件的結溫保持相對恒定， 或者，在低溫狀態(tài)下被測試件表面容易出現(xiàn)結露、結霜甚至結冰的現(xiàn)象，影響 測試的準確性等的問題。
本實用新型解決現(xiàn)有技術問題所采用的技術方案是測量半導體發(fā)光器件 用的溫控座，其可與被測試件相配合，其特征在于它包括溫控裝置和與溫控裝置相配合的密封罩，所述的被測試件可置于密封罩內與溫控裝置相配合。溫控 座既具有恒溫功能，又具有使被測試件與外界環(huán)境隔絕的功能。溫控裝置使被 測試件的結溫保持相對恒定，密封罩有利于避免被測試件表面出現(xiàn)結露、結霜 甚至結冰的現(xiàn)象，使測試更準確。
溫控裝置包括散熱裝置、測溫元件、與散熱裝置配合的溫控元件、與溫控 元件配合的恒溫座，所述恒溫座和溫控元件的裸露部分包覆有隔熱層，該隔熱 層上開有被測試件放置口，所述的被測試件可通過放置口安裝在恒溫座上，所 述的測溫元件上的信號采集端可與放置在恒溫座上的被測試件殼體直接連接， 或者與恒溫座相連接，信號輸出端可與電驅動、測量電路相連接。測溫元件用 來測量恒溫座或被測試件基殼的溫度，當測得的溫度低于設定的目標溫度時， 溫控元件工作處于加熱狀態(tài)，從而提高恒溫座和被測試件的溫度，使其達到預 定目標溫度；反之，當測得的溫度高于設定的目標溫度時，溫控元件工作處于 制冷狀態(tài)，從而降低恒溫座和被測試件的溫度，使其達到預定目標溫度。簡而 言之，溫控裝置使被測試件始終處于相對恒溫狀態(tài)，測試結果準確。
所述的密封罩上設有可與恒溫座相配合的開口 。被測試件可通過開口放置 到恒溫座上或者從恒溫座上取出。
所述的密封罩與恒溫座之間設有彈性密封圈，該彈性密封圈的形狀與開口 相適應。彈性密封圈的設置使密封罩與溫控裝置之間的密封效果更好。
所述的密封罩為一個透光的半球腔體，被測試件可置于球腔中心。
所述的密封罩為一個測光積分球，其上設有測試口，被測試件可置于開口 的中心。開口處于球體切面上。
所述的密封罩內壁覆有漫反射材料層，所述的測試口上設有透光通道，該 透光通道的外端可連接光測量裝置。光測量裝置為帶探測器或帶光傳輸器的測 光儀器。透光通道的設置有利于保證密封罩的密封效果。
所述的密封罩上還設有抽氣口，在該抽氣口上連接有抽真空機。抽真空機用于將密封罩內的空氣抽出，其目的可減少水汽，避免水汽凝結到被測試件上， 同時，也能使被測試件所發(fā)出的光盡可能的全部從密封罩內射出，盡量避免誤 差的產(chǎn)生，使測量結果準確。
散熱裝置包含散熱座體、設于散熱座體上的對流腔，與對流腔配合的動力 泵。散熱裝置的設置有利于對溫控裝置進行良好的散熱，保證溫控裝置順利工 作。對流腔內可通氣體或液體，通過動力泵使氣體或液體在對流腔內流動，形 成對流，使散熱裝置具有散熱功能。動力泵可為液壓泵或氣壓泵，分別對應于 對流腔內流動的介質。
所述的散熱裝置包含散熱座體、設于散熱座體上的對流腔，對流腔橫向設 置在散熱座體內，至少在所述散熱座體的橫向一端設有散熱風扇，使散熱裝置 形成橫向散熱方式?？梢栽谏嶙w的一端或兩端設置熱對流風扇，熱風扇和 散熱座體的設置位置關系能形成良好的對流環(huán)境，提高散熱效果。
本實用新型具有的有益效果1、溫控裝置的設置，使被測試件始終處于相 對恒溫狀態(tài)，測試結果準確；2、設有密封罩，可以使被測試件與周圍環(huán)境隔絕， 避免受周圍環(huán)境的影響；3、密封件的設置，使密封罩的密封效果更好；4、抽 氣口的設置，真空機通過抽氣口連接到密封罩上，可將密封罩內空氣抽取，減 少水汽，避免水汽凝結到被測試件上。

圖1是本實用新型的一種結構示意圖； 圖2是本實用新型的另一種結構示意圖中l(wèi)l-l.散熱座體；11-2.對流腔；l-2.溫控元件；l-3.測溫元件；1-4.恒 溫座；1-5.隔熱層；2.密封罩；2-1.開口； 2-2.測試口； 2-3.抽氣口； 3.被測 試件；4.電驅動、測量裝置；5.風扇；6.動力泵；7.真空機；8.密封圈；9. 透光通道；IO.光測量裝置。
具體實施方式
以下結合附圖和具體實施方式
對本實用新型作進一步的說明。
實施例1:測量半導體發(fā)光器件用的溫控座，如圖1所示，其可與被測試 件3、光測量裝置10相配合，它包括溫控裝置和與溫控裝置相配合的密封罩2， 被測試件3可置于密封罩2內與溫控裝置相配合。
溫控裝置包括散熱裝置、測溫元件1-3、與散熱裝置配合的溫控元件1-2、 與溫控元件1-2配合的恒溫座1-4，恒溫座1-4和溫控元件1-2的裸露部分包覆 有隔熱層1-5，該隔熱層1-5上開有被測試件3放置口 ，被測試件3可通過放置 口安裝在恒溫座1-4上，測溫元件1-3上的信號采集端可與放置在恒溫座1-4上 的被測試件3殼體直接連接，或者與恒溫座1-4相連接，信號輸出端可與電驅 動、測量裝置4相連接。
密封罩2為一個光學透光的半球形腔體，其上設有抽氣口 2-3，在該抽氣口 2-3上連接有抽真空機7。在密封罩2上還開有可與恒溫座1-4相配合的開口 2-1 ， 在它們的配合處設有彈性密封圈8，用于提高密封性。
散熱裝置包含散熱座體ll-l、設于散熱座體11-1上的對流腔11-2，對流腔 11-2橫向設置在散熱座體11-1內，散熱座體11-1的橫向兩端設有散熱風扇5， 使散熱裝置形成橫向散熱方式，散熱效果好。
使用過程中，溫控器使被測試件3的溫度保持相對恒定，密封罩2與恒溫 座1-4緊密配合用于密封被測試件3，抽真空機7通過抽氣口 2-3對密封罩2抽 氣，從而使被測試件3周圍環(huán)境中水汽的濃度降低，避免水汽凝結現(xiàn)象的出現(xiàn)。
實施例2:測量半導體發(fā)光器件用的溫控座，如圖2所示，在該溫控座上， 密封罩2為一個測光積分球，與恒溫座1-4相配合的開口 2-1位于球體下方壁體 上，且處于球體切面上，被測試件3位于開口 2-1的中心。球體側壁上還開有 測試口 2-2，測試口 2-2上安裝有一個透光通道9，透光通道9的外端連接光測 量裝置，光測量裝置可以為帶探測器或帶光傳輸器的測光儀器10。散熱裝置包含散熱座體ll-l、設于散熱座體11-1上的對流腔11-2，與對流 腔11-2配合的動力泵6，對流腔U-2內可通氣體或液體，對應的動力泵為液壓 泵或氣壓泵(若對流腔內通氣體，動力泵為氣壓泵，若對流腔內通液體，則動 力泵為液壓泵)，氣體或液體可相對散熱座體11-1做橫向對流運動，使散熱裝 置形成橫向散熱方式，散熱效果好。
其余結構同實施例1。
權利要求1.測量半導體發(fā)光器件用的溫控座，其可與被測試件(3)相配合，其特征在于它包括溫控裝置和與溫控裝置相配合的密封罩(2)，所述的被測試件(3)可置于密封罩(2)內與溫控裝置相配合。
2. 根據(jù)權利要求l所述的測量半導體發(fā)光器件用的溫控座，其特征在于所 述的溫控裝置包括散熱裝置、測溫元件(l-3)、與散熱裝置配合的溫控元件(l-2)、 與溫控元件(1-2)配合的恒溫座(1-4)，所述恒溫座(1-4)和溫控元件(1-2) 的裸露部分包覆有隔熱層(1-5)，該隔熱層(1-5)上開有被測試件(3)放置口， 所述的被測試件(3)可通過放置口安裝在恒溫座(1-4)上，所述的測溫元件(1-3)上的信號采集端可與放置在恒溫座(1-4)上的被測試件(3)殼體直接 連接，或者與恒溫座(1-4)相連接，信號輸出端可與電驅動、測量裝置(4) 相連接。
3. 根據(jù)權利要求2所述的測量半導體發(fā)光器件用的溫控座，其特征在于所 述的密封罩(2)上設有可與恒溫座(1-4)相配合的開口 (2-1)。
4. 根據(jù)權利要求3所述的測量半導體發(fā)光器件用的溫控座，其特征在于所 述的密封罩(2)與恒溫座(1-4)之間設有彈性密封圈(8)，該彈性密封圈(8) 的形狀與開口 (2-1)相適應。
5. 根據(jù)權利要求4所述的測量半導體發(fā)光器件用的溫控座，其特征在于所 述的密封罩(2)為一個透光的半球腔體，被測試件(3)可置于球腔中心。
6. 根據(jù)權利要求4所述的測量半導體發(fā)光器件用的溫控座，其特征在于所 述的密封罩(2)為一個測光積分球，其上設有測試口 (2-2)，被測試件(3) 可置于開口 (2-1)的中心。
7. 根據(jù)權利要求6所述的測量半導體發(fā)光器件用的溫控座，其特征在于所 述的密封罩(2)內壁覆有漫反射材料層，所述的測試口 (2-2)上設有透光通道(9)，該透光通道(9)的外端可連接光測量裝置(10)。
8. 根據(jù)權利要求5或6或7所述的測量半導體發(fā)光器件用的溫控座，其特 征在于所述的密封罩(2)上還設有抽氣口 (2-3)，在該抽氣口 (2-3)上連接有 抽真空機(7)。
9. 根據(jù)權利要求8所述的測量半導體發(fā)光器件用的溫控座，其特征在于所 述的散熱裝置包含散熱座體(11-1)、設于散熱座體(11-1)上的對流腔(11-2)， 與對流腔(11-2)配合的動力泵(6)。
10. 根據(jù)權利要求8所述的測量半導體發(fā)光器件用的溫控座，其特征在于 所述的散熱裝置包含散熱座體(11-1 )、設于散熱座體(11-1)上的對流腔(11-2)， 所述的對流腔(11-2)橫向設置在散熱座體(11-1)內，至少在所述散熱座體(11-1) 的橫向一端設有散熱風扇(5)，使散熱裝置形成橫向散熱方式。
專利摘要本實用新型涉及一種具有溫控功能和避免結露的測量半導體發(fā)光器件用的溫控座。它包括溫控裝置和與溫控裝置相配合的密封罩，被測試件可置于密封罩內與溫控裝置相配合。本實用新型具有的有益效果1.溫控裝置的設置，使被測試件始終處于相對恒溫狀態(tài)，測試結果準確；2.設有密封罩，可以使被測試件與周圍環(huán)境隔絕，避免受周圍環(huán)境的影響；3.密封件的設置，使密封罩的密封效果更好；4.抽氣口的設置，真空機通過抽氣口連接到密封罩上，可將密封罩內空氣抽取，減少水汽，避免水汽凝結到被測試件上。
文檔編號G01R31/26GK201133928SQ20072030311
公開日2008年10月15日 申請日期2007年12月10日 優(yōu)先權日2007年12月10日
發(fā)明者牟同升 申請人:杭州浙大三色儀器有限公司