專利名稱：一種x射線衍射樣品架的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種用于x射線衍射儀的樣品架。
背景技術(shù)：
x射線衍射儀用于利用衍射原理精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)及應(yīng)力，從而精確進(jìn)行物相分析、定性分析、定量分析的重要儀器，廣泛應(yīng)用于冶金、石 油、化工、航空航天、材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。用于X射線衍射儀的傳統(tǒng)樣品架主要有兩種， 一種是用于測試塊狀樣品 的樣品臺l，如圖1和圖2所示，該樣品臺1具有樣品孔2，在樣品孔2的 中心位置標(biāo)記為3，樣品臺1還具有楔部4，當(dāng)檢測塊狀樣品時，需要將塊 狀樣品置入樣品孔2中，并使該塊狀樣品位于中心位置3處，然后通過楔部 4將帶有塊狀樣品的樣品臺1放置到X射線衍射儀，從而進(jìn)行檢測；另一種 是用于測試粉末狀樣品的槽狀樣品架(未顯示)。對于樣品臺l而言，主要用于測試塊狀樣品，而且僅能對一定尺寸范圍 內(nèi)的塊狀樣品進(jìn)行測試，例如，樣品臺l要求待測的塊狀樣品的厚度必須大 于樣品臺l自身的厚度，只有這樣才有可能將塊狀樣品固定；對槽狀樣品架 而言，主要用于測試粉末狀樣品，不適用于測試塊狀樣品和薄片狀樣品。因 而，傳統(tǒng)的X射線衍射樣品架均不適用于測試微米級甚至更薄的薄片狀樣P叩o實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于克服現(xiàn)有的X射線衍射樣品架不適用于測試薄 片狀樣品的缺陷，而提供一種適用于測試薄片狀樣品的X射線衍射樣品架。本實用新型提供了一種x射線衍射樣品架，該X射線衍射樣品架包括樣品臺，該樣品臺上設(shè)置有樣品孔，其中，所述x射線衍射樣品架還包括支撐件，在使用時，所述支撐件位于所述樣品孔內(nèi)。按照本實用新型提供的x射線衍射樣品架，在傳統(tǒng)樣品臺的基礎(chǔ)上，添加了支撐件。當(dāng)需要對薄片狀樣品進(jìn)行測試時，可以將該薄片狀樣品設(shè)置在 支撐件上，這樣，薄片狀樣品和支撐件一起在整體形狀上形成塊狀體，完全 適用于傳統(tǒng)樣品架對待測樣品的要求，從而實現(xiàn)便于對薄片狀樣品進(jìn)行測試 的本實用新型的目的，而且不需對傳統(tǒng)的樣品臺進(jìn)行任何改造。


圖1為傳統(tǒng)的樣品臺的立體示意圖； 圖2為圖1中樣品臺的平面示意圖；圖3為本實用新型提供的X射線衍射樣品架的立體示意圖； 圖4為圖3中支撐件的立體示意圖。
具體實施方式
下面參考附圖，對本實用新型的具體實施方式
進(jìn)行詳細(xì)的描述。 如圖3所示，本實用新型提供的X射線衍射樣品架包括樣品臺1，該樣 品臺1上設(shè)置有樣品孔2，其中，所述X射線衍射樣品架還包括支撐件5， 在使用時，所述支撐件5位于所述樣品孔2內(nèi)。在圖3中的支撐件5上，還 放置有待測樣品6，顯然，待測樣品6與支撐件5—起在整體形狀上組成了 適用于樣品臺1進(jìn)行測試的塊狀體，從而可以利用傳統(tǒng)的樣品臺1方便地對 待測樣品6進(jìn)行測試。樣品臺1為用于檢測塊狀樣品的傳統(tǒng)樣品架，可以由鋁合金或玻璃等材 料制成。樣品臺1的樣品孔2用于放置待測樣品，而且通常需要將待測樣品 放置在樣品孔2的中心位置3，以確保待測樣品位于X射線入射光束的中心部分，從而可以準(zhǔn)確地對待測樣品進(jìn)行測試。當(dāng)使用時，支撐件5位于樣品孔2內(nèi)，樣品孔2可以為多種形狀，如長 方形、正方形、或圓形等，同時，支撐件5也可以為多種形狀，如長方形、 圓形等，只要可以滿足將支撐件5放置在樣品孔2內(nèi)即可。在優(yōu)選情況下， 所述支撐件5與樣品孔2為相同的形狀，只是支撐件5的尺寸小于樣品孔2 的尺寸，以便可以將支撐件5放置在樣品孔2內(nèi)。例如，樣品孔2和支撐件 5均可以為正方形，且樣品孔2的尺寸稍大于支撐件5的尺寸。由于放置在支撐件5上的待測樣品6與支撐件5 —起在整體外形上形成 塊狀體，從而使樣品臺l適用于對待測樣品6進(jìn)行測試，而且不需要對傳統(tǒng) 的樣品臺1進(jìn)行任何結(jié)構(gòu)上的改造。如圖4所示，支撐件5包括固定件7和由該固定件7固定支撐的載樣板 8，從而基本形成塊狀的立體形狀。支撐件5可以由多種材料制成，如玻璃、塑料等。在優(yōu)選情況下，所述 載樣板8由質(zhì)量輕且表面光滑的材料制成，如單晶片，如果待測樣品6為納 米級厚度，為了減少背底干擾，可以使用硅單晶片制造載樣板8;固定件7 由質(zhì)量輕且粗糙度大的材料制成，如粗糙載波片、泡沫、塑料或木片等。包括固定件7和載樣板8的支撐件5可以一體制成，或?qū)⒎珠_的固定件 7與載樣板8結(jié)合而成。例如，支撐件5可以通過傳統(tǒng)的制作玻璃的工藝制 成一體的部件，也可以分別先制造兩個板狀的固定件7以及載樣板8，然后 通過粘結(jié)劑將固定件7和載樣板8粘接起來。在優(yōu)選情況下，所述固定件7為分別與載樣板8固定連接的至少兩個板， 優(yōu)選為兩個，且各個板所在的平面垂直于載樣板8所在的平面。通過這樣的 結(jié)構(gòu)，板可以更加平穩(wěn)、可靠地支撐載樣板8，從而確保載樣板8處于水平 穩(wěn)定的工作狀態(tài)。根據(jù)支撐件5的一個實施例，載樣板8由一塊載波片制成，固定件7由 兩塊載波片制成。先將三塊載波片裁剪為預(yù)定的規(guī)格；然后將用作固定件7的兩塊載波片固定在用作載樣板8的載波片的兩個邊緣處(該兩個邊緣可以 是相對的，也可以是相鄰的，能確保將用作固定件7的兩塊載波片有效地起 到支撐作用即可)，同時使固定件7與載樣板8處于垂直關(guān)系。為了確保將待測樣品6放置在載樣板8上的正確位置上，在優(yōu)選情況下， 在載樣板8上設(shè)置有標(biāo)記3'，用于指示載樣板8的中心位置，即確保待測樣 品6位于X射線入射光束的中心部分，如圖3和圖4所示。當(dāng)帶有待測樣品 6的支撐件5放置在樣品臺1的樣品孔2中時，為了進(jìn)一步確保待測樣品6 位于X射線入射光束的中心部分，優(yōu)選地，標(biāo)記3'與樣品孔2的中心位置3 重合，從而可以準(zhǔn)確地對待測樣品6進(jìn)行測試。待測樣品6通常為薄片狀樣品，可以具有微米級厚度。如果待測樣品6 較薄(如厚度為納米級)，為了準(zhǔn)確地對該樣品進(jìn)行測試，優(yōu)選地，待測樣 品6固定(如通過膠水)在由單晶硅制成的襯墊上，該襯墊的形狀與待測陽 平6的形狀完全相同，以形成適宜的厚度，如微米級厚度。為了將待測樣品 6固定于載樣板8上，優(yōu)選地，在載樣板8上設(shè)置有粘結(jié)部件，如雙面膠或 膠水等。當(dāng)將待測樣品6貼合于載樣板8的中心位置3'上時，需要保持待測 樣品6的平整，避免氣泡或褶皺的產(chǎn)生，從而有利于對待測樣品6進(jìn)行準(zhǔn)確當(dāng)將待測樣品6貼合于支撐件5的載樣板8上后，需要將支撐件5與樣 品臺1固定在一起，從而再通過楔部4將與支撐件5固定連接的樣品臺1安 裝到X射線衍射儀上，對待測樣品6進(jìn)行測試。支撐件5與樣品臺1之間通過固定元件固定連接，該固定元件具有多種 形式，如可以通過橡膠泥將支撐件5粘結(jié)在樣品臺1的樣品孔2的周壁上； 還可以在支撐件5與樣品孔2的周壁之間通過楔形插入件實現(xiàn)支撐件5的固 定。只要實現(xiàn)樣品附件5與樣品臺1的固定連接，同時確保二者之間的相對 位置關(guān)系即可。為了能夠?qū)Υ郎y樣品6進(jìn)行精確測試，位于樣品孔2內(nèi)的支撐件5與樣品臺1之間需要滿足以下的相對位置關(guān)系支撐件5的頂表面低于樣品臺1的頂表面，二者之間的距離恰為待測樣品6的厚度。也就是說，待測樣品6 的頂表面與樣品臺1的頂表面處于同一平面內(nèi)。支撐件5與樣品臺1之間的 位置關(guān)系可以在通過支撐件5與樣品臺1的裝配過程中得以實現(xiàn)，為本領(lǐng)域 普通技術(shù)人員所公知。根據(jù)本實用新型的另一實施方式，在支撐件5的載樣板8上設(shè)置有樣品 槽(未顯示)，這樣，由該支撐件5組成的X射線衍射樣品架還可以用于粉 末的測試。該樣品槽可以通過多種方法形成，如化學(xué)腐蝕或機(jī)械加工等。優(yōu) 選情況下，所述樣品槽的中心位置與載樣板8的中心位置重合，從而能準(zhǔn)確 地對待測樣品6進(jìn)行測試。本實用新型提供的X射線衍射樣品架的制造和使用方法為根據(jù)配合使用的樣品臺1的尺寸形狀，制造與其對應(yīng)的支撐件5 (該支 撐件5的一種制造方法已經(jīng)在上文中公開)；在待測金屬薄片上裁取一小塊 待測樣品6，可以通過雙面膠或膠水將該待測樣品6貼合在支撐件5的載樣 板8上；然后將帶有樣品的支撐件5放置到樣品臺1的樣品孔2內(nèi)，通過橡 膠泥使支撐件5與樣品臺1固定連接，并確保支撐件5、樣品臺1以及待測 樣品6處于正確的相對位置(待測樣品6的頂表面與樣品臺1的頂表面處于 同一平面內(nèi))；最后將支撐件5和樣品臺1 一起通過楔部4裝到X射線衍射 儀上，從而進(jìn)行測試。通過上面的描述可知，本實用新型提供的X射線衍射樣品架便于對薄片 狀樣品進(jìn)行測試，同時不需要對傳統(tǒng)的樣品臺l進(jìn)行任何結(jié)構(gòu)上的改變。
權(quán)利要求1. 一種X射線衍射樣品架，該X射線衍射樣品架包括樣品臺(1)，該樣品臺(1)上設(shè)置有樣品孔(2)，其特征在于，所述X射線衍射樣品架還包括支撐件(5)，在使用時，所述支撐件(5)位于所述樣品孔(2)內(nèi)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線衍射樣品架，其特征在于，所述支撐 件(5)為支撐塊。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線衍射樣品架，其特征在于，所述支撐 件(5)包括載樣板(8)和固定支撐該載樣板(8)的固定件(7)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的X射線衍射樣品架，其特征在于，所述固定 件(7)為分別與所述載樣板(8)固定連接的兩個板，所述任意板所在的平 面垂直于所述載樣板(8)所在的平面。
5. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的X射線衍射樣品架，其特征在于，所述載樣 板(8)上設(shè)置有指示所述載樣板(8)中心位置的標(biāo)記(3，)。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的X射線衍射樣品架，其特征在于，所述標(biāo)記 (3')與所述樣品孔(2)的中心位置重合。
7. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的X射線衍射樣品架，其特征在于，所述載樣 板(8)的上具有粘結(jié)部件。
8. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線衍射樣品架，其特征在于，所述支撐 件(5)通過連接元件與所述樣品臺(1)的樣品孔(2)的內(nèi)表面固定連接。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的X射線衍射樣品架，其特征在于，所述連接 元件為橡皮泥或楔形插入件。
10. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線衍射樣品架，其特征在于，在使用時，所述支撐件(5)的頂面低于樣品臺(1)的表面。
11.根據(jù)權(quán)利要求3所述的X射線衍射樣品架，其特征在于，所述載樣 板(8)的表面上設(shè)置有樣品槽，該樣品槽的中心與所述載樣板(8)的中心 位置重合。
專利摘要本實用新型提供了一種X射線衍射樣品架，該X射線衍射樣品架包括樣品臺，該樣品臺上設(shè)置有樣品孔，其中，所述X射線衍射樣品架還包括支撐件，在使用時，所述支撐件位于所述樣品孔內(nèi)。按照本實用新型提供的X射線衍射樣品架，在傳統(tǒng)樣品臺的基礎(chǔ)上，添加了支撐件。當(dāng)需要對薄片狀樣品進(jìn)行測試時，可以將該薄片狀樣品放置在支撐件上，這樣，薄片狀樣品和支撐件一起組成塊狀體，完全適用于傳統(tǒng)樣品臺對待測樣品的要求，從而實現(xiàn)便于對薄片狀樣品進(jìn)行測試的本實用新型的目的。而且不需對傳統(tǒng)的樣品臺進(jìn)行任何改造。
文檔編號G01N23/20GK201096732SQ20072017441
公開日2008年8月6日 申請日期2007年8月24日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月24日
發(fā)明者李成章, 林 江, 陳靖華 申請人:比亞迪股份有限公司