專利名稱：數(shù)字指示器及數(shù)字指示器的使用方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測(cè)定被測(cè)定物的尺寸等的數(shù)字指示器及數(shù)字指示器的使用方法。
背景技術(shù)：
作為測(cè)定被測(cè)定物的尺寸等的測(cè)定器，利用具備芯軸的指示器。 作為通常的指示器，已知有通過指針的旋轉(zhuǎn)角來顯示芯軸的位移量的指
針式指示器、和電檢測(cè)芯軸的位移量來進(jìn)行數(shù)字顯示的數(shù)字指示器。
數(shù)字指示器具備主體、貫通主體的外周壁沿軸向滑動(dòng)自如地被支承的芯
軸、作為檢測(cè)芯軸的滑動(dòng)量的檢測(cè)裝置而設(shè)置的編碼器、數(shù)字顯示由編碼器
檢測(cè)到的芯軸相對(duì)于主體的位移量的顯示部。
例如文獻(xiàn)(特開2003-344004號(hào)公報(bào)(第二實(shí)施例))中公開有如下數(shù)字 指示器，即，通過將主體和設(shè)于主體上且滑動(dòng)自如地支承芯軸的軸承部用賦 予了導(dǎo)電性的合成樹脂一體成形，可保護(hù)電路不受外部的磁干擾。
作為用于數(shù)字指示器的檢測(cè)裝置，列舉靜電電容式、電磁式、光學(xué)式等
編碼器。例如可使用具備靜電電容式刻度尺(7亇一少)和檢測(cè)頭的編碼器， 其中，靜電電容式刻度尺沿軸向設(shè)于芯軸上，檢測(cè)頭設(shè)于主體上，與刻度尺 靜電耦合，檢測(cè)芯軸的位移量。目前正在使用的這些編碼器是通過將從刻度 尺的基準(zhǔn)點(diǎn)的位移進(jìn)行增量，測(cè)定現(xiàn)在的位移量的相對(duì)方式的編碼器。 圖2 (A)表示數(shù)字指示器中的刻度尺和檢測(cè)頭的位置關(guān)系的概略。 如圖2(A)所示，將刻度尺15和4會(huì)測(cè)頭16相對(duì)配置， 一全測(cè)頭16一企測(cè) 刻度尺15的位移。通過將檢測(cè)到的刻度尺15的位移進(jìn)行增量，可檢測(cè)芯軸 的位移。
但是，如圖2 (B)所示，當(dāng)芯軸過度向上方滑動(dòng)時(shí)，刻度尺15和檢測(cè) 頭16離開。在這種狀態(tài)下，由于檢測(cè)頭16不能檢測(cè)刻度尺15的位移，故檢 測(cè)裝置產(chǎn)生問題，而不能求出芯軸的位移。因此，現(xiàn)有的數(shù)字指示器中，其 構(gòu)成為，芯軸的滑動(dòng)范圍與刻度尺15和檢測(cè)頭16不能離開一定的范圍、即
與編碼器的可檢測(cè)范圍相等。需要說明的是，圖2 ( A)中的a為芯軸的滑動(dòng) 范圍及編碼器的可檢測(cè)范圍。
在這種現(xiàn)有的數(shù)字指示器中，存在如下問題點(diǎn)。
圖3及圖4表示使用數(shù)字指示器測(cè)定杯子2的底部的厚度的情況的圖。 在測(cè)定杯子2的底部的厚度時(shí)，首先在使芯軸11的接觸部12抵接地板 面3的狀態(tài)下進(jìn)行調(diào)零。其次，如圖3所示，按照接觸部12超出杯子2的壁 面的高度的方式使芯軸11向上方滑動(dòng)。在該狀態(tài)下，按照芯軸11位于杯子2 的底面的上方的方式使杯子2水平移動(dòng)。在此，如圖4所示，若使芯軸ll向 下方滑動(dòng)，使接觸部12抵接杯子2的底面，則可從顯示部14的顯示值求出 杯子2的底部的厚度。
在這樣的測(cè)定中，芯軸ll的滑動(dòng)范圍需要比杯子2的壁面的高度高，但 現(xiàn)有的數(shù)字指示器中，由于芯軸的滑動(dòng)范圍和編碼器的可檢測(cè)范圍相等，故 即使被測(cè)定部位(杯子2的底部)的長(zhǎng)度短，但若不使用可檢測(cè)范圍寬的大 型且昂貴的指示器，則會(huì)產(chǎn)生不能進(jìn)行測(cè)定的不良情況。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為消除上述那樣的問題點(diǎn)，其目的在于，提供一種數(shù)字指示器及 數(shù)字指示器的使用方法，可廣泛對(duì)應(yīng)多種形狀的被測(cè)定物，而且小型且廉價(jià)。
本發(fā)明提供一種數(shù)字指示器，其特征在于，具備主體；芯軸，其沿軸 向可滑動(dòng)地:&于所述主體上， 一端具有與^t測(cè)定部位4氏接的接觸部；檢測(cè)裝 置，其檢測(cè)所述芯軸相對(duì)于所述主體的絕對(duì)的位移量；顯示部，其顯示由所 述檢測(cè)裝置檢測(cè)到的所述芯軸相對(duì)于所述主體的位移量，所述芯軸的構(gòu)成為， 超出所述檢測(cè)裝置可檢測(cè)的可檢測(cè)范圍而向所述接觸部的相反側(cè)方向可滑 動(dòng)。
根據(jù)本發(fā)明，檢測(cè)裝置檢測(cè)芯軸相對(duì)于主體的絕對(duì)的位移量，芯軸超出 檢測(cè)裝置可檢測(cè)的可檢測(cè)范圍而向接觸部的相反側(cè)方向可滑動(dòng)地構(gòu)成，因此， 即使芯軸超出可檢測(cè)范圍向接觸部的相反側(cè)的方向滑動(dòng)，對(duì)于檢測(cè)裝置而言 也是沒有問題的。因此，即使芯軸一度超出可檢測(cè)范圍向接觸部的相反側(cè)方 向滑動(dòng)，之后只要返回可檢測(cè)范圍內(nèi)，就能夠繼續(xù)進(jìn)行測(cè)定。
即，就本發(fā)明的數(shù)字指示器而言，相對(duì)于檢測(cè)裝置的可檢測(cè)范圍，可加 寬芯軸的滑動(dòng)范圍，因此，盡管其為小型，也能夠廣泛對(duì)應(yīng)于多種形狀的被
測(cè)定物。其可檢測(cè)范圍也可以小，但在需要芯軸的滑動(dòng)范圍寬的情況下、例 如測(cè)定杯子的底部厚度的情況等，則非常適用。
本發(fā)明提供一種數(shù)字指示器的使用方法，其用于所述的數(shù)字指示器，其
特征在于，具備使所述接觸部與被測(cè)定部位抵接，從所述顯示部的顯示讀 取第一檢測(cè)值的第一檢測(cè)過程；在進(jìn)行了所述第一檢測(cè)過程之后，使所述芯 軸超出所述檢測(cè)裝置可檢測(cè)的所述可檢測(cè)范圍而向所述接觸部的相反側(cè)方向 滑動(dòng)的超過滑動(dòng)過程；在進(jìn)行了所述超過滑動(dòng)過程之后，使所述接觸部與其 它被測(cè)定部位抵接，從所述顯示部的顯示讀取第二^企測(cè)值的第二一全測(cè)過程。
根據(jù)本發(fā)明，由于使用所述數(shù)字指示器，故在超過滑動(dòng)過程中，即使使 芯軸超出檢測(cè)裝置可檢測(cè)的可檢測(cè)范圍而向接觸部的相反側(cè)方向滑動(dòng)，對(duì)于 檢測(cè)裝置而言也是沒有問題的，可將在第一檢測(cè)過程讀取的第 一檢測(cè)值和在 第二檢測(cè)過程讀取的第二檢測(cè)值同列比較。
因此，本發(fā)明的數(shù)字指示器的使用方法，其可檢測(cè)范圍也可以小，但在 需要芯軸的滑動(dòng)范圍寬的情況下、例如測(cè)定杯子的底部厚度的情況等，則非 常適用。


圖1是橫向看到的本發(fā)明實(shí)施例的數(shù)字指示器的剖面圖； 圖2是上述實(shí)施例的數(shù)字指示器的刻度尺和檢測(cè)頭的位置關(guān)系的概略圖； 圖3是使用上述實(shí)施例的數(shù)字指示器測(cè)定杯子的底部厚度的情況的圖； 圖4是使用上述實(shí)施例的數(shù)字指示器測(cè)定杯子的底部厚度的情況的圖。
具體實(shí)施例方式
下面，參照

本發(fā)明的實(shí)施例。
圖1是橫向看到的本實(shí)施例的數(shù)字指示器1的剖面圖。
如圖1所示，數(shù)字指示器1具備主體10、沿軸向可滑動(dòng)地設(shè)于主體10
上且在一端具有與被測(cè)定部位抵接的接觸部12的芯軸11、纟企測(cè)芯軸11相對(duì)
于主體10的絕對(duì)的位移量的檢測(cè)裝置13、數(shù)字顯示由檢測(cè)裝置13檢測(cè)到的
芯軸11相對(duì)于主體10的位移量的顯示部14。
檢測(cè)裝置13是靜電電容式編碼器，其具有靜電電容式刻度尺15和檢測(cè)
頭16,其中所述靜電電容式刻度尺15沿芯軸11的軸向設(shè)置；所述檢測(cè)頭設(shè) 于主體10內(nèi)部，與刻度尺15靜電耦合，檢測(cè)芯軸11的絕對(duì)的位移量。
圖2表示刻度尺15和檢測(cè)頭16的位置關(guān)系的概略圖。 圖2 (A)中的a表示編碼器的可檢測(cè)范圍，圖2 (B)中的b表示芯軸 U的滑動(dòng)范圍。如圖2所示，芯軸11 (省略圖示)如下構(gòu)成，刻度尺15和 檢測(cè)頭16相對(duì)，超出檢測(cè)裝置13可檢測(cè)芯軸11的位移的可檢測(cè)范圍a,在 b范圍內(nèi)向接觸部12的相反側(cè)方向可滑動(dòng)。
其次，說明這種數(shù)字指示器1的使用方法。
圖3及圖4表示使用數(shù)字指示器1測(cè)定杯子2的底部的厚度的情況的圖。 首先，在使芯軸11的接觸部12抵接地面3的狀態(tài)下進(jìn)行調(diào)零(第一檢 測(cè)過程)。其次，如圖3所示，使芯軸11向上方滑動(dòng)，以使接觸部12超過杯 子2的壁面的高度(超過滑動(dòng)過程)。在該狀態(tài)下，按照芯軸11位于杯子2 的底面上方的方式使杯子2水平移動(dòng)。在此，如圖4所示，只要使芯軸ll向 下方滑動(dòng)，使接觸部12與杯子2的底面抵接，則可從顯示部14的顯示值得 到杯子2的底部的厚度(第二4企測(cè)過程)。
根據(jù)本實(shí)施例，具有如下所示的效果。 (1 )檢測(cè)裝置13檢測(cè)芯軸11相對(duì)于主體10的絕對(duì)的位移量，芯軸11 超出檢測(cè)裝置13可檢測(cè)的可檢測(cè)范圍a而向接觸部12的相反側(cè)方向可滑動(dòng) 地過程，因此，即^吏芯軸11超出可^f企測(cè)范圍a沿"l妻觸部12的相反側(cè)方向滑 動(dòng)，對(duì)于檢測(cè)裝置13而言也是沒有問題的。因此，芯軸11即使一度超出可 檢測(cè)范圍a而向接觸部12的相反側(cè)方向滑動(dòng)，之后只要返回到可檢測(cè)范圍a 內(nèi)，則可繼續(xù)進(jìn)行測(cè)定。
即，就本發(fā)明的數(shù)字指示器1而言，由于相對(duì)于檢測(cè)裝置13可檢測(cè)范圍 a，可加寬芯軸的滑動(dòng)范圍b，故其可小型，并且可廣泛對(duì)應(yīng)多種形狀的被測(cè) 定物。其可檢測(cè)范圍a也可以小，但在需要芯軸的滑動(dòng)范圍b寬的情況下、 例如測(cè)定杯子2的底部厚度的情況等，則非常適用。
(2)由于使用如下構(gòu)成的數(shù)字指示器1,即，檢測(cè)裝置13檢測(cè)芯軸11 相對(duì)于主體10的絕對(duì)的位移量，且芯軸11超出檢測(cè)裝置13可檢測(cè)的可檢測(cè) 范圍a而向接觸部12的相反側(cè)方向可滑動(dòng)，因此，在超過滑動(dòng)過程中，即使 使芯軸11超出檢測(cè)裝置13可檢測(cè)的可檢測(cè)范圍a而向接觸部12的相反側(cè)方 向滑動(dòng)，對(duì)于檢測(cè)裝置13也是沒有問題的，可將在第一檢測(cè)過程讀取的第一 檢測(cè)值、和在第二檢測(cè)過程讀取的第二檢測(cè)值同列進(jìn)行比較。
因此，就本發(fā)明的數(shù)字指示器1的使用方法而言，其可檢測(cè)范圍a也可 以小，但在需要芯軸的滑動(dòng)范圍b寬的情況下、例如測(cè)定杯子2的底部厚度 的情況等，則非常適用。
需要說明的是，本發(fā)明不限于上述實(shí)施例，其含有可實(shí)現(xiàn)本發(fā)明目的的 其它構(gòu)成等，以下所示的變形等也屬于本發(fā)明。
上述實(shí)施例中，數(shù)字指示器1具備靜電電容式編碼器作為檢測(cè)裝置13， 但檢測(cè)裝置13只要是能夠檢測(cè)芯軸11相對(duì)于主體10的絕對(duì)的位移量即可， 而不限于靜電電容式編碼器。
例如也可以是電^F茲感應(yīng)式及光學(xué)式等編碼器，即可檢測(cè)芯軸11的絕對(duì)的 位移量的編碼器。即使是這種構(gòu)成，也能夠得到與上述實(shí)施例相同的效果。
權(quán)利要求
1、一種數(shù)字指示器，其特征在于，具備主體；芯軸，其沿軸向可滑動(dòng)地設(shè)于所述主體上，一端具有與被測(cè)定部位抵接的接觸部；檢測(cè)裝置，其檢測(cè)所述芯軸相對(duì)于所述主體的絕對(duì)的位移量；顯示部，其顯示由所述檢測(cè)裝置檢測(cè)到的所述芯軸相對(duì)于所述主體的位移量，所述芯軸的構(gòu)成為，超出所述檢測(cè)裝置可檢測(cè)的可檢測(cè)范圍而向所述接觸部的相反側(cè)方向可滑動(dòng)。
2、 一種數(shù)字指示器的使用方法，其為使用權(quán)利要求1所述的數(shù)字指示 器的方法，其特征在于，具備使所述接觸部與被測(cè)定部位抵接，從所述顯示部的顯示讀取第一檢測(cè)值 的第一檢測(cè)過程；在進(jìn)行了所述第一檢測(cè)過程之后，使所述芯軸超出所述檢測(cè)裝置可檢測(cè) 的所述可檢測(cè)范圍而向所述接觸部的相反側(cè)方向滑動(dòng)的超過滑動(dòng)過程；在進(jìn)行了所述超過滑動(dòng)過程之后，使所述接觸部與其它被測(cè)定部位抵 接，從所述顯示部的顯示讀取第二檢測(cè)值的第二檢測(cè)過程。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種數(shù)字指示器(1)，其具備主體(10)；芯軸(11)，其沿軸向可滑動(dòng)地設(shè)于主體(10)上，一端具有與被測(cè)定部位抵接的接觸部(12)；檢測(cè)裝置(13)，其檢測(cè)芯軸(11)相對(duì)于主體(10)的絕對(duì)的位移量；顯示部(14)，其數(shù)字顯示由檢測(cè)裝置(13)檢測(cè)到的芯軸(11)相對(duì)于主體(10)的位移量，芯軸(11)的構(gòu)成為，超出檢測(cè)裝置(13)可檢測(cè)的可檢測(cè)范圍而向接觸部(12)的相反側(cè)方向可滑動(dòng)。
文檔編號(hào)G01B3/22GK101191716SQ200710196120
公開日2008年6月4日 申請(qǐng)日期2007年11月28日 優(yōu)先權(quán)日2006年11月28日
發(fā)明者廣島亞紀(jì), 新井里枝, 木和田健史, 林田秀二 申請(qǐng)人:三豐株式會(huì)社