專利名稱：多觸點間隙測量系統(tǒng)以及操作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明總體涉及間隙測量系統(tǒng)，更具體地涉及一種用于測量旋轉(zhuǎn)機械固定部件與可移動部件之間間隙的多觸點間隙測量系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
一直采用各種類型的傳感器測量兩個物體之間的距離。另外，這些傳感器一直用于多種場合。例如，汽輪機具有靠近支架布置的旋轉(zhuǎn)葉片。旋轉(zhuǎn)葉片與支架之間的間隙因各種操作條件例如溫度變化、葉片末端氧化等而改變。要求旋轉(zhuǎn)葉片與支架之間的間隔或間隙在汽輪機操作過程中得到保持。
一種現(xiàn)有的傳感器是多觸點電容傳感器，其包括測量電容的多個探測器觸點，以估計固定部件和可移動部件之間的徑向和軸向間隙。通常，所估計的間隙是來自傳感器所有探測器觸點的所有信號的增益的函數(shù)。不幸的是，該增益中的誤差或一段時間后的偏差導(dǎo)致系統(tǒng)性能變差。此外，某些系統(tǒng)采用信號處理估計來自探測器觸點的各個信號的正常狀態(tài)并采用傳遞函數(shù)將測量信號轉(zhuǎn)化成間隙。同樣，探測器觸點各個增益中的誤差修正沒有在該系統(tǒng)中得到解決。
而且，通常采用這些間隙測量系統(tǒng)在設(shè)計和離線測試過程中測量部件之間的間隙。不幸的是，這些現(xiàn)有系統(tǒng)不適合在所有因素尤其是部件幾何形狀的變化而產(chǎn)生的噪聲和偏差的影響下對于使用中進行測量。代替的是，根據(jù)在先在部件的設(shè)計和離線測試過程中測得的間隙測量結(jié)果進行使用中的間隙控制。當這些部件在使用過程中磨損時離線測量結(jié)果變得不適合進行使用中的間隙控制。
因此，需要提高一種多觸點間隙測量系統(tǒng)，其通過檢測和修正單個觸點的誤差和偏差提供對兩部件之間間隙的精確測量。同樣有利的是提供一種能夠用于對操作中的部件進行精確間隙測量的自校準間隙測量系統(tǒng)。

發(fā)明內(nèi)容
簡言之，根據(jù)一種實施方式，提供一種多觸點間隙測量系統(tǒng)。該間隙測量系統(tǒng)包括布置在第一物體上的傳感器，其中所述傳感器包括被構(gòu)造成產(chǎn)生信號的多個探測器觸點，所述信號代表與第二物體相對應(yīng)的感測參數(shù)，所述間隙測量系統(tǒng)還包括處理單元，其被構(gòu)造成估算來自探測器觸點的感測參數(shù)子集的信號，以檢測異常探測器觸點并調(diào)節(jié)相應(yīng)異常探測器觸點的增益或偏差，從而根據(jù)所述信號估計第一和第二物體之間的間隙。
在另一實施方式中，提供一種用于測量第一和第二物體之間間隙的方法。該方法包括通過具有多個探測器觸點的傳感器接收代表了與第一或第二物體相對應(yīng)的感測參數(shù)的多個信號以及根據(jù)從探測器觸點同時產(chǎn)生的感測參數(shù)子集估計第一和第二物體之間的間隙。該方法還包括分析來自探測器觸點的感測參數(shù)子集的估計間隙以確定異常探測器觸點以及調(diào)節(jié)異常探測器子集的增益或偏差以根據(jù)多個信號估計間隙。
在另一實施方式中，提供一種測量第一和第二物體之間間隙的方法。該方法包括通過具有多個探測器觸點的傳感器接收代表了與第一或第二物體相對應(yīng)的感測參數(shù)的多個信號以及根據(jù)從探測器觸點同時產(chǎn)生的感測參數(shù)子集估計第一和第二物體之間的間隙。該方法還包括分析來自探測器觸點的感測參數(shù)子集的估計間隙以確定異常探測器觸點以及根據(jù)來自異常探測器觸點之外的探測器觸點的信號估計間隙。
在另一實施方式中，提供一種旋轉(zhuǎn)機械。該旋轉(zhuǎn)機械包括與固定部件間隔的旋轉(zhuǎn)部件以及布置在固定部件上的傳感器其中傳感器包括被構(gòu)造成產(chǎn)生信號的多個探測器觸點，所述信號代表與旋轉(zhuǎn)部件相對應(yīng)的感測參數(shù)。該旋轉(zhuǎn)機械還包括處理單元，其被構(gòu)造成估算來自探測器觸點的感測參數(shù)子集的信號，以檢測異常探測器觸點并調(diào)節(jié)相應(yīng)異常探測器觸點的增益或偏差，從而根據(jù)所述信號估計固定和旋轉(zhuǎn)部件之間的間隙。
在另一實施方式中，提供一種監(jiān)控多觸點間隙測量系統(tǒng)正常運行的方法。該方法包括通過具有多個探測器觸點的傳感器接收代表了與第一或第二物體相對應(yīng)的感測參數(shù)的多個信號以及存儲從多個探測器觸點接收的多個信號。該方法還包括根據(jù)從探測器觸點同時產(chǎn)生的感測參數(shù)子集估計第一和第二物體之間的間隙以及從來自探測器觸點的感測參數(shù)子集中分析所估計的間隙以檢測異常探測器觸點。


當參照附圖閱讀以下詳細描述時將會更清楚地地了解到本發(fā)明的這些和其他特征、方面以及優(yōu)點，在所述附圖中相同的附圖標記表示同一部件，其中圖1是表示具有根據(jù)本發(fā)明實施方式的多觸點間隙測量系統(tǒng)的汽輪機的示意性透視圖；圖2表示圖1所示的汽輪機的透視圖，其具有根據(jù)本發(fā)明實施方式的用于測量旋轉(zhuǎn)葉片和支架之間間隙的多觸點間隙測量系統(tǒng)；圖3是圖2所示汽輪機的一部分的橫截面圖，其中可以根據(jù)本發(fā)明的實施方式采用本發(fā)明的間隙控制技術(shù)；圖4是根據(jù)本發(fā)明實施方式的圖3所示的詳細橫截面圖；圖5表示根據(jù)本發(fā)明實施方式用于圖1所示多觸點間隙測量系統(tǒng)的傳感器的示例性構(gòu)造；以及圖6是表示根據(jù)本發(fā)明實施方式操作圖1所示多觸點間隙測量系統(tǒng)的方法的流程圖。
具體實施例方式
如下文詳細所述，本發(fā)明的實施方式用于提供對多種系統(tǒng)例如汽輪機、發(fā)電機、渦輪發(fā)動機(例如飛機渦輪發(fā)動機)、具有旋轉(zhuǎn)部件的機器等中的兩物體之間的間隙進行精確測量。特別地，本發(fā)明在徑向和軸向間隙測量系統(tǒng)采用信號對比方法進行增益誤差修正以檢測并修正探測器觸點誤差和偏差?，F(xiàn)在參照附圖，圖1表示汽輪機10，其具有用于測量汽輪機10中的兩物體之間間隙的多觸點間隙測量系統(tǒng)12。在所示實施方式中，該間隙測量系統(tǒng)12包括具有多個探測器觸點的傳感器，該傳感器被構(gòu)造成用于測量汽輪機10中旋轉(zhuǎn)部件14和固定部件16之間的間隙，這將在下文進行詳細描述。
圖2表示旋轉(zhuǎn)機械，例如在圖1中所示的汽輪機20，其中可以包含本發(fā)明的特征以測量旋轉(zhuǎn)和固定部件之間的間隙。汽輪機20包括布置在固定殼體24內(nèi)的轉(zhuǎn)子22。多個渦輪葉片26-還可以被稱為葉片(bucket)固定在轉(zhuǎn)子22上。在操作中，葉片26遭受高溫和高壓蒸汽，從而促使葉片26繞軸線旋轉(zhuǎn)。葉片26在固定殼體或罩24內(nèi)旋轉(zhuǎn)，所述罩24在徑向和周向上繞葉片26定位。在葉片26和罩24之間存在相對較小的間隙以便于葉片26在罩24內(nèi)旋轉(zhuǎn)，同時還防止工作流體也就是蒸汽在葉片26和罩24之間過度泄漏。根據(jù)本發(fā)明，例如由附圖標記28，30和32表示的一個或多個間隙傳感器在周向上繞固定罩24布置。在所示實施方式中，每個間隙傳感器28，30和32包括被構(gòu)造成產(chǎn)生信號的多個探測器觸點，所述信號代表與葉片26相對應(yīng)的感測參數(shù)。此外，葉片26和罩24之間的間隙作為來自所有探測器觸點的信號增益的函數(shù)得到估計。
在示例性實施方式中，間隙傳感器28，30和32包括電容探測器并且感測參數(shù)包括電容。在備選實施方式中，間隙傳感器28，30和32包括渦流傳感器并且感測參數(shù)包括感應(yīng)電流。將在下文詳細描述的是，傳感器28，30和32各自被構(gòu)造成產(chǎn)生指示葉片26在它們各自的周向位置相對于罩24的徑向和軸線位置的信號。
在圖2所示的實施方式中，通過傳感器28，30和32檢測代表感測參數(shù)的信號，這些信號隨后被傳送到處理單元34以對信號進行處理。特別地，估算從探測器觸點同時產(chǎn)生的的感測參數(shù)子集以檢測異常探測器觸點，從而估計葉片26和罩24之間的間隙。而且，調(diào)節(jié)相應(yīng)異常探測器觸點的偏差或增益以與其它子集相一致，并估計葉片26和罩24之間的間隙。此外，通過傳感器28，30和32的間隙測量被用于通過間隙控制系統(tǒng)36控制罩24和渦輪葉片26之間的間隙。下文將參照圖5-6更詳細地描述傳感器28，30和32各自檢測異常探測器觸點的技術(shù)。
現(xiàn)在參照圖3，示出了圖1所示汽輪機10的底部或下部40的橫截面圖，表示可以由本發(fā)明測量的示例性徑向和軸向間隙。在所示實施方式中，葉片26的頂端包括與設(shè)置在罩24的內(nèi)圓周上的凹槽44嚙合的填裝齒或密封齒42。在本實施方式中，間隙測量系統(tǒng)12(參見圖1)可以與罩24相連以測量葉片26的頂端與罩24之間的徑向和軸向間隙。
圖4是圖3所示汽輪機的罩和葉片的一部分46的詳細橫截面圖。如圖所示，密封齒42和罩24之間的徑向間隙由附圖標記48表示并且齒42和罩24之間的軸向間隙由附圖標記50表示。在本實施方式中，徑向和軸向間隙48和50表示中心齒和罩之間的間隙。本領(lǐng)域技術(shù)人員將會認識到，類似地可以通過本發(fā)明估計其它密封齒和罩24之間的間隙。
在某些實施方式中，由于罩24和轉(zhuǎn)子26的熱膨脹率的差異，有可能存在徑向間隙48降為零，導(dǎo)致在密封齒42和凹槽44之間發(fā)生干涉。此外，由于這種膨脹率的差異，轉(zhuǎn)子26會相對于罩24軸向增長，導(dǎo)致齒42在凹槽44內(nèi)軸向摩擦，從而增加對部件的磨損率。這些不合乎要求的干涉還會導(dǎo)致部件的損壞。本發(fā)明提供對徑向和軸向間隙48和50的在線測量，這種測量可以結(jié)合在閉環(huán)控制策略內(nèi)以保持所述間隙處于容許極限值。該控制策略可以包括例如罩24的熱致動，從而促使其在罩24和密封齒42之間的間隙減小時適當?shù)嘏蛎洝Ｔ诒緦嵤┓绞街?，熱致動器利用熱膨脹特性使?4移動。在某些其它實施方式中，可以采用機械致動器補償葉片26在罩24內(nèi)的軸向增長。
本領(lǐng)域技術(shù)人員將會認識到，兩物體之間的電容是這兩個物體之間的重疊表面面積和間距的函數(shù)。在本實施方式中，轉(zhuǎn)子26和罩24之間的電容是徑向間隙48和重疊面積的函數(shù)，又直接與密封齒42相對于罩24的軸向間隙50成比例。當轉(zhuǎn)子26徑向膨脹時，密封齒42和罩24之間的徑向間隙48改變。類似地，當密封齒42沿軸向移動經(jīng)過凹槽44時，傳感器頭部由密封齒42封蓋的面積將改變。這些變化將導(dǎo)致測得的電容改變。根據(jù)以下所述的本發(fā)明的特征，電容變化與軸向和徑向位移相關(guān)聯(lián)并由此可以獲得合成的間隙測量結(jié)果。下文將參照圖5-6進一步描述通過多觸點間隙測量系統(tǒng)12進行的徑向和軸向間隙48和50的測量。
如上所述，多觸點間隙測量系統(tǒng)12包括具有多個探測器觸點的傳感器，所述傳感器被構(gòu)造成產(chǎn)生代表感測參數(shù)的信號。另外，來自探測器觸點子集的信號通過處理單元34(參見圖2)得到估算，從而可以估計兩物體之間的間隙。特別地，來自多個探測器觸點的信號互相相對進行估算以檢測異常探測器觸點并調(diào)節(jié)相應(yīng)異常探測器觸點的增益或偏差，使其與其它觸點同線，從而可以估計兩物體間的間隙。在示例性實施方式中，傳感器包括至少三個探測器觸點。在另一實施方式中，傳感器包括至少四個探測器觸點，它們被構(gòu)造成如下文參照圖5所述的測量固定和旋轉(zhuǎn)部件24和26之間的徑向和軸向間隙48和50。
圖5表示用于圖1所示多觸點間隙測量系統(tǒng)12的傳感器26，28和30的示例性構(gòu)造60的平面圖。在所示實施方式中，傳感器60包括多個電容探測器觸點62，64，66和68，它們可以包括例如導(dǎo)電軸。所示的探測器62，64，66和68的幾何形狀和相對位置便于進行例如超過0.5英寸的較大徑向位移范圍的測量，同時為徑向測量提供所需的分辨率，例如用于測量具有0.01英寸的量級的位移。以上特征在旋轉(zhuǎn)部件14(參見圖1)的軸向位移實質(zhì)上比相對于罩16(參見圖1)的徑向位移更大的場合下是有利的。在徑向位移比軸向位移更大的某些其它場合下，需要更大的探測器。此外，這種結(jié)構(gòu)需要相對較大的軸向間距以獲得所需的軸向分辨率。在一種實施方式中，傳感器60可以包括橢圓形構(gòu)件。在備選實施方式中，傳感器60可以包括重疊的三角形構(gòu)件。
在所示實施方式中，探測器62，64，66和68以交錯方式定位在傳感器頭部，具有菱形構(gòu)造，以對重疊區(qū)域的變化表現(xiàn)出最大的靈敏度?？梢栽诰哂懈嗷蚋贁?shù)量的探測器的實施方式中構(gòu)想出其它交錯構(gòu)造。探測器62，64，66和68在頭部或頂端的直徑適當?shù)刈銐虼螅栽谒鼈兣c葉片14的頂端之間提供足量的重疊表面面積。在所示實施方式中，也就是對于汽輪機應(yīng)用來說，可以由包括鎳、鋁、鈷或它們的組合例如Kovar(鐵鎳鈷合金)的材料支承探測器62，64，66和68。然而，在涉及更高溫度(例如超過1000攝氏度的溫度)的應(yīng)用中，探測器62，64，66和68可以采用包括鉑、銠、或者它們的組合的材料。
探測器觸點62，64，66和68被構(gòu)造成產(chǎn)生代表固定和旋轉(zhuǎn)部件16和14(參見圖1)之間電容的信號。此外，從探測器觸點62，64，66和68同時產(chǎn)生的感應(yīng)電容子集估計固定和旋轉(zhuǎn)部件16和14之間的間隙。在所示實施方式中，每個子集包括來自至少兩個探測器觸點的感應(yīng)電容。本領(lǐng)域技術(shù)人員將會認識到根據(jù)傳感器構(gòu)造可以構(gòu)想出用于更多數(shù)量的探測器觸點的感測參數(shù)子集。在示例性實施方式中，對于以上所述的探測器觸點構(gòu)造60來說，為進行間隙估計可以分析六個感應(yīng)電容子集。例如，在所示實施方式中，第一子集包括來自探測器觸點62和64的感應(yīng)電容并且第二子集包括來自探測器觸點62和66的感應(yīng)電容。類似地，第三子集包括來自探測器觸點62和68的感應(yīng)電容并且第四子集包括來自探測器觸點64和66的感應(yīng)電容。此外，第五子集包括來自探測器觸點64和68的感應(yīng)電容并且第六子集包括來自探測器觸點66和68的感應(yīng)電容。還可以分析三個觸點各自的另外三個子集。
在操作中，通過處理單元34(參見圖2)對如上所述的每個子集執(zhí)行間隙查詢。處理單元34可以采用查詢表、或校正曲線、或解析表、或計算、或它們的組合，以根據(jù)感測參數(shù)估計間隙。在某些實施方式中，一些子集因誤差或偏差可以具有較大的間隙并因此可以從估計結(jié)果中被刪除。根據(jù)軸向位置，一些子集在物理結(jié)構(gòu)上遠離葉片，這樣出現(xiàn)非常小的信號。通常，小信號更有可能受噪聲或其它那樣的誤差源控制。這樣的子集不會得到考慮，或者可以比其它子集具有更小的權(quán)重。如果來自其余同時產(chǎn)生的子集的估計間隙相一致，則這些信號被認為是正常的并根據(jù)來自這些子集的信號完成間隙估計。備選地，如果來自所有同時產(chǎn)生的子集的估計間隙不相一致，則分析這些信號以檢測多個探測器觸點62，64，66和68重的異常觸點。
例如，如果來自包括探測器觸點62，64和64，66的第一和第四子集的感應(yīng)電容對來自這些子集的估計間隙表現(xiàn)出較大的誤差，則檢測到探測器觸點64是異常觸點。在一種實施方式中，可以通過來自異常觸點之外的觸點的信號估計間隙。例如，在本實施方式中，可以通過處理來自探測器觸點62，66和68的信號而估計間隙。在備選實施方式中，可以調(diào)節(jié)異常觸點的增益或偏差以使其與其它探測器觸點相一致，由此對經(jīng)過一段時間發(fā)生的性能偏差進行修正。因而，在以上示例性實施方式中，通過探測器觸點62，66，68與具有調(diào)節(jié)增益的探測器觸點64一起估計間隙。
圖6是表示操作圖1所示多觸點間隙測量系統(tǒng)12的過程70的流程圖。該過程包括接收來自具有多個探測器觸點的傳感器的多個信號，如步驟72所示。所述多個信號代表第一和第二物體之間的感測參數(shù)。在一種實施方式中，傳感器包括電容探測器并且感測參數(shù)包括電容。備選地，傳感器包括渦流傳感器并且感測參數(shù)包括感應(yīng)電流。在步驟74，形成多個同時產(chǎn)生的感測參數(shù)子集。在一種實施方式中，每個同時產(chǎn)生的子集包括來自至少兩個探測器觸點的感測參數(shù)。此外，如步驟76所示，通過處理單元根據(jù)來自探測器觸點的同時產(chǎn)生的感測參數(shù)子集中的每一個估計第一和第二物體之間的間隙。在某些實施方式中，可以采用查詢表、或校正曲線、或解析表、或計算、或它們的組合，以根據(jù)感測參數(shù)估計間隙。
在步驟78，處理單元確定通過同時產(chǎn)生的感測參數(shù)子集得到的估計間隙對所有子集來說是否都一致。如果所有子集的估計間隙都相一致，則完成間隙處理并根據(jù)來自所有所述子集的信號估計第一和第二物體之間的間隙(步驟80)。備選地，如果來自子集的估計間隙對所有子集來說不相一致，則處理單元確定導(dǎo)致增益誤差的異常探測器觸點(步驟82)。應(yīng)該指出術(shù)語“增益”指的是整個間隙測量系統(tǒng)12包括電路的增益。例如，在一種實施方式中，如果探測器觸點腐蝕并且尺寸變得更小，則系統(tǒng)中的電路增益不會變化但總信號將會變得更小，由此有助于降低系統(tǒng)的增益。
在一種實施方式中，調(diào)節(jié)異常觸點的增益或偏差以使其與其余探測器觸點相一致，這由步驟84表示。此外，如步驟86所示，根據(jù)來自所有探測器觸點包括具有調(diào)節(jié)增益或偏差的異常探測器觸點的信號估計間隙。在備選實施方式中，從間隙估計中刪除來自異常探測器觸點的信號并根據(jù)來自異常觸點之外的探測器觸點的信號估計間隙(步驟88和86)。應(yīng)該指出在多觸點間隙系統(tǒng)的多個探測器觸點中檢測異常觸點便于監(jiān)控間隙測量系統(tǒng)的正常運行。在一種實施方式中，可以由通過間隙測量系統(tǒng)對間隙的精確估計替換異常觸點。備選地，來自異常探測器觸點的信號可以從間隙估計中被刪除，或者可以調(diào)節(jié)異常探測器觸點的增益以修正相應(yīng)探測器觸點產(chǎn)生的誤差或偏差。
以上描述的方法的各個方面可以應(yīng)用在不同的場合。例如，以上所示的技術(shù)可以用于測量汽輪機旋轉(zhuǎn)和靜止部件之間的間隙。該技術(shù)還可以用在某些其它場合，例如用于測量發(fā)電機固定和旋轉(zhuǎn)部件之間的間隙。如上所述，更通常地，在此所述的方法可以有利地用于通過多觸點間隙測量系統(tǒng)、采用傳感器構(gòu)件的誤差檢測以及偏差跟蹤提供對物體間的間隙的精確測量，由此降低所需的信號處理等級。此外，所述技術(shù)尤其有利地是即使在操作中以及經(jīng)過延長的時間周期也可以提供精確測量部件間隙的自校正傳感器系統(tǒng)，從而能夠在操作的同時更好地對部件進行間隙控制。
盡管在此已經(jīng)示出并描述了本發(fā)明的僅僅某些特征，但本領(lǐng)域技術(shù)人員將會做出多種修改和變化。因此可以認識到附加權(quán)利要求用于覆蓋落入本發(fā)明真正精神范圍內(nèi)的所有這些修改和變化。
部件清單10汽輪機12多觸點間隙測量系統(tǒng)14旋轉(zhuǎn)部件16固定部件20渦輪22轉(zhuǎn)子24外殼26葉片28傳感器30傳感器32傳感器34處理單元36間隙控制系統(tǒng)40汽輪機—定子/轉(zhuǎn)子構(gòu)造42密封齒44定子凹槽46詳細視圖48徑向間隙50軸向間隙60傳感器構(gòu)造62探測器觸點64探測器觸點66探測器觸點68探測器觸點70多觸點間隙系統(tǒng)的操作過程72-86加工步驟
權(quán)利要求
1.一種多觸點間隙測量系統(tǒng)(12)，包括布置在第一物體(24)上的傳感器(28)，其中所述傳感器包括被構(gòu)造成產(chǎn)生信號的多個探測器觸點(62，64，66，68)，所述信號代表與第二物體(26)相對應(yīng)的感測參數(shù)；以及處理單元(34)，其被構(gòu)造成估算來自探測器觸點(62，64，66，68)的感測參數(shù)子集的信號，以檢測異常探測器觸點并調(diào)節(jié)相應(yīng)異常探測器觸點的增益或偏差，從而根據(jù)所述信號估計第一和第二物體(24，26)之間的間隙。
2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，傳感器(28)包括至少三個探測器觸點。
3.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，處理單元(34)被構(gòu)造成通過處理與異常探測器觸點之外的探測器觸點相對應(yīng)的信號來估計第一和第二物體(24，26)之間的間隙。
4.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，傳感器(28)包括電容傳感器并且所述感測參數(shù)包括電容。
5.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，傳感器(28)包括渦流傳感器并且所述感測參數(shù)包括感應(yīng)電流。
6.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，處理單元(34)包括查詢表、或校正曲線、或解析表、或計算、或它們的組合以估計間隙并根據(jù)來自探測器觸點(62，64，66，68)的感測參數(shù)子集的信號檢測異常探測器觸點。
7.一種用于測量第一和第二物體之間間隙的方法，包括通過具有多個探測器觸點的傳感器接收代表了與第一或第二物體相對應(yīng)的感測參數(shù)的多個信號；根據(jù)從探測器觸點同時產(chǎn)生的感測參數(shù)子集估計第一和第二物體之間的間隙；分析來自探測器觸點的感測參數(shù)子集的估計間隙以確定異常探測器觸點；以及調(diào)節(jié)異常探測器子集的增益或偏差以根據(jù)多個信號估計間隙。
8.一種測量第一和第二物體之間間隙的方法，包括通過具有多個探測器觸點的傳感器接收代表了與第一或第二物體相對應(yīng)的感測參數(shù)的多個信號；根據(jù)從探測器觸點同時產(chǎn)生的感測參數(shù)子集估計第一和第二物體之間的間隙；分析來自探測器觸點的感測參數(shù)子集的估計間隙以確定異常探測器觸點；以及根據(jù)來自異常探測器觸點之外的探測器觸點的信號估計間隙。
9.一種旋轉(zhuǎn)機械(20)，包括與固定部件(24)間隔的旋轉(zhuǎn)部件(22)；布置在固定部件(24)上的傳感器(28)，其中傳感器(28)包括被構(gòu)造成產(chǎn)生信號的多個探測器觸點(62，64，66，68)，所述信號代表與旋轉(zhuǎn)部件(22)相對應(yīng)的感測參數(shù)；以及處理單元(34)，其被構(gòu)造成估算來自探測器觸點(62，64，66，68)的感測參數(shù)子集的信號，以檢測異常探測器觸點并調(diào)節(jié)相應(yīng)異常探測器觸點的增益或偏差，從而根據(jù)所述信號估計固定和旋轉(zhuǎn)部件(22，24)之間的間隙。
10.一種監(jiān)控多觸點間隙測量系統(tǒng)正常運行的方法，包括通過具有多個探測器觸點的傳感器接收代表了與第一或第二物體相對應(yīng)的感測參數(shù)的多個信號；存儲從多個探測器觸點接收的多個信號；根據(jù)從探測器觸點同時產(chǎn)生的感測參數(shù)子集估計第一和第二物體之間的間隙；以及從來自探測器觸點的感測參數(shù)子集中分析所估計的間隙以檢測異常探測器觸點。
全文摘要
提供一種多觸點間隙測量系統(tǒng)(12)。該間隙測量系統(tǒng)(12)包括布置在第一物體(24)上的傳感器(28)，其中所述傳感器包括被構(gòu)造成產(chǎn)生信號的多個探測器觸點(62，64，66，68)，所述信號代表與第二物體(26)相對應(yīng)的感測參數(shù)，所述間隙測量系統(tǒng)還包括處理單元(34)，其被構(gòu)造成估算來自探測器觸點(62，64，66，68)的感測參數(shù)子集的信號，以檢測異常探測器觸點并調(diào)節(jié)相應(yīng)異常探測器觸點的增益或偏差，從而根據(jù)所述信號估計第一和第二物體(24，26)之間的間隙。
文檔編號G01B7/14GK101046367SQ20071009218
公開日2007年10月3日 申請日期2007年3月30日 優(yōu)先權(quán)日2006年3月30日
發(fā)明者E·A·安達拉維斯, S·達斯古普塔, S·馬尼, 陳為國 申請人:通用電氣公司