專利名稱：電路板測試點異同查找系統(tǒng)及其方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試點異同査找技術(shù)，詳言之，涉及一種應(yīng)用于 不同設(shè)計版本的印刷電路板的電路板測試點異同查找系統(tǒng)及其方法。
背景技術(shù)：
印刷電路板(Printed Circuit Board; PCB)在大批量出貨前，均需 要進行例如短路或斷路等指標測試，以確保該印刷電路板的出貨品質(zhì)， 為確認該電路板的品質(zhì)，通常于該印刷電路板上布設(shè)有多個測試點， 同時還需提供具有對應(yīng)各該測試點的接觸點的測試夾具，以進行上述 指標測試作業(yè)。實際作業(yè)過程中，測試夾具是依據(jù)布線人員所提供的 該印刷電路板的測試點報表進行開模而制成的。
在電路板研發(fā)過程中，通常會產(chǎn)生不同時期的設(shè)計版本，對于一 個印刷電路板不同時期的設(shè)計版本，其機械結(jié)構(gòu)、硬件架構(gòu)基本相同， 所變動的通常只是走線路徑、測試點等。因此，電路板版本升級之后， 測試點會發(fā)生相應(yīng)變化，測試夾具上的接觸點也需作相應(yīng)修改，方能 滿足對新版電路板進行測試的需求，此時，最直接的做法是針對該新 版電路板的測試點，重新開模制作新的測試夾具，這樣，電路板的版 本就會不斷更新，但這種做法耗時且耗成本。
為克服測試夾具重新開模所帶來的弊端，目前，業(yè)界通常的做法 是通過在數(shù)據(jù)處理裝置上所執(zhí)行的用以產(chǎn)生電路板測試點信息的電路 板測試點比對應(yīng)用程式，分別找出新版印刷電路板的測試點與舊版印 刷電路板的測試點，再與后續(xù)利用人力進行測試點差異之處比對，以 做為測試夾具修改的依據(jù)。
但此種依據(jù)人為比對査找新舊版印刷電路板的測試點差異的方 式，既耗精力又花費時間，且極易產(chǎn)生錯誤與疏漏，進而給后續(xù)生產(chǎn) 造成損失。
綜上所述，如何提出一種可解決現(xiàn)有技術(shù)的種種缺陷的電路板測 試點異同査找系統(tǒng)及其方法，實為目前亟欲解決的技術(shù)問題。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點，本發(fā)明提供一種電路板測試點異同查 找系統(tǒng)及其方法，以實現(xiàn)對不同設(shè)計版本的印刷電路板的測試點異同 比對與査找功能，從而在后續(xù)將舊的測試夾具修改為新的夾具時，能 節(jié)省時間、精力與夾具開模費用并降低人為失誤的情況發(fā)生。
本發(fā)明的電路板測試點異同查找系統(tǒng)，其應(yīng)用于通過數(shù)據(jù)處理裝 置執(zhí)行用以產(chǎn)生電路板測試點信息的電路板測試點比對應(yīng)用程式中， 用以查找目標電路板相對于原電路板上的測試點的異同，本發(fā)明的電 路板測試點異同查找系統(tǒng)包括提取模塊，其用以提取該電路板測試 點比對應(yīng)用程式針對該目標電路板以及該原電路板所產(chǎn)生的測試點信 息；以及比對模塊，其用以接收該提取模塊所提取的測試點信息，對 該目標電路板以及原電路板相應(yīng)的測試點信息進行比對，并依據(jù)該比 對結(jié)果，生成該目標電路板相對于該原電路板的測試點新增列表以及 測試點刪除列表。
在本發(fā)明的 一 種實施例中，該測試點信息為該測試點所在網(wǎng)絡(luò)
(net)信息數(shù)據(jù)、層面信息數(shù)據(jù)、座標信息數(shù)據(jù)、尺寸信息數(shù)據(jù)以及 類型信息數(shù)據(jù)。
在本發(fā)明的一種實施例中，本發(fā)明的電路板測試點異同査找系統(tǒng) 還包括處理模塊，其用以依據(jù)該比對模塊所生成的該測試點新增列 表以及該測試點刪除列表，査找該測試點新增列表以及該測試點刪除 列表的各測試點信息，當該二列表中查找到有測試點信息僅為座標信 息數(shù)據(jù)不相同的測試點存在時，生成一測試點移位列表，以將該測試 點信息自該二列表中轉(zhuǎn)移至該測試點移位列表中；以及標示模塊，其 用以依據(jù)該處理模塊所生成的測試點移位列表，計算該列表中的測試 點信息僅為座標信息數(shù)據(jù)不相同的二個測試點的距離，并當判斷所計 算得到的距離小于一個預(yù)設(shè)的安全距離時，在該測試點移位列表中標 示出該兩個測試點。
在本發(fā)明的一種實施例中，該測試點移位列表中的測試點的標示 是以高亮(highlight)方式或者著色(color)方式進行標示。
通過前述本發(fā)明的電路板測試點異同査找系統(tǒng)，執(zhí)行本發(fā)明的電 路板測試點異同査找方法，其包括以下步驟首先，提取該電路板測試點比對應(yīng)用程式針對該目標電路板以及該原電路板所產(chǎn)生的測試點 信息；接收針對該目標電路板以及該原電路板所提取的測試點信息， 并比對該目標電路板以及原電路板相應(yīng)的測試點信息；以及依據(jù)該比 對結(jié)果，生成該目標電路板相對于該原電路板的測試點新增列表與測 試點刪除列表。
此外，本發(fā)明的電路板測試點異同査找方法還包括依據(jù)所生成 的該測試點新增列表以及該測試點刪除列表，查找該測試點新增列表 以及該測試點刪除列表的各測試點信息，當從該二列表中查找到有測 試點信息僅為座標信息數(shù)據(jù)不相同的測試點存在時，生成一個測試點 移位列表，以將該測試點信息自該二列表中轉(zhuǎn)移至該測試點移位列表 中-，依據(jù)該測試點移位列表的測試點信息，計算該列表中的測試點信 息僅為座標信息數(shù)據(jù)不相同的二測試點的距離；以及判斷所計算得到 的距離是否小于一個預(yù)設(shè)的安全距離，若是，則于該測試點移位列表 中標示出該兩個測試點，若否，則結(jié)束流程步驟。
相比于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明的電路板測試點異同查找系統(tǒng)及其方法 通過提取模塊、比對模塊、處理模塊以及標示模塊等的相互作用，以 將目標電路板的測試點與原電路板的所有測試點進行比對，進而得到 目標電路板相對于原電路板所增加、刪減或移位的測試點異同列表， 同時標示出測試點移位列表中落入安全距離范圍內(nèi)的移動測試點信 息，供以后依據(jù)該測試點異同列表以及重點標示的測試點；將舊的測 試夾具修改為新的夾具，以節(jié)省夾具開模費用。同時，亦可避免現(xiàn)有 技術(shù)中，通過人為方式查找新舊版電路板的測試點異同，造成費時費 精力的弊端、以及容易產(chǎn)生錯誤與疏漏，進而給后續(xù)生產(chǎn)帶來損失的 情況發(fā)生。


圖1是本發(fā)明的電路板測試點異同査找系統(tǒng)的基本架構(gòu)示意圖； 圖2A與圖2B是本發(fā)明的電路板測試點異同查找系統(tǒng)的數(shù)據(jù)庫中 的各列表生成示意圖3是本發(fā)明的電路板測試點異同查找方法的流程示意圖。
符號說明
I 電路板測試點異同査找系統(tǒng)
II 提取模塊 13 比對模塊 15 處理模塊
17 標示模塊
19 數(shù)據(jù)庫
191 測試點新增列表
193 測試點刪除列表
195 測試點移位列表
A、 A，、 B、 C，、 E，、 F、 H、 H， 測試點
S100 S160 步驟
具體實施例方式
以下通過特定的具體實例說明本發(fā)明的實施方式，本領(lǐng)域中的技 術(shù)人員可由本說明書所揭示的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點與功 效。本發(fā)明也可通過其他不同的具體實例加以施行或應(yīng)用，本說明書 中的各項細節(jié)亦可基于不同觀點與應(yīng)用，在不背離本發(fā)明的精神下進 行各種修飾與變更。
請參閱圖1,其表示本發(fā)明的電路板測試點異同査找系統(tǒng)1的基本 架構(gòu)示意圖。如圖所示，本發(fā)明的電路板測試點異同査找系統(tǒng)1應(yīng)用 于通過數(shù)據(jù)處理裝置執(zhí)行用以產(chǎn)生電路板測試點信息的電路板測試點 比對應(yīng)用程式中，用以査找目標電路板相對于原電路板上的測試點的 異同。其中，該目標電路板與該原電路板為不同時期的設(shè)計版本，且 該目標電路板的設(shè)計版本為該原電路板的更新版本。
如圖1所示，本發(fā)明的電路板測試點異同査找系統(tǒng)1包括提取模 塊ll、比對模塊13、處理模塊15、標示模塊17以及數(shù)據(jù)庫19。以下 將配合圖2A以及圖2B對本發(fā)明的上述各構(gòu)件進行詳細說明。
該提取模塊11用以提取該電路板測試點比對應(yīng)用程式針對該目標 電路板以及該原電路板所產(chǎn)生的測試點信息。其中，該測試點信息為 該測試點所在網(wǎng)絡(luò)(net)信息數(shù)據(jù)、層面信息數(shù)據(jù)、座標信息數(shù)據(jù)、尺寸信息數(shù)據(jù)以及類型信息數(shù)據(jù)。
該比對模塊13用以接收該提取模塊11所提取的測試點信息，對
該目標電路板以及原電路板相應(yīng)的測試點信息進行比對，并依據(jù)該比
對結(jié)果，生成該目標電路板相對于該原電路板的測試點新增列表191 以及測試點刪除列表193。
詳言之，即依據(jù)該提取模塊ll所提取的測試點信息，首先，逐一 將該目標電路板的測試點與該原電路板的所有測試點進行比對，當該 目標電路板中具有不同于該原電路板的測試點存在(即該目標電路板 測試點相對原電路板為新增加的測試點)時，生成如圖2A所示的該目 標電路板相對于該原電路板的測試點新增列表191 (如測試點A'、 C'、 E'、 H'等)；然后，逐一將該原電路板的測試點與該目標電路板的所有 測試點進行比對，當該原電路板中具有不同于該目標電路板的測試點 存在(即該原電路板測試點對于目標電路板為該目標電路板不需要的 測試點，是后續(xù)測試夾具修改時需予以刪除的)時，生成如圖2A所示 的該目標電路板相對于該原電路板的測試點刪除列表193 (如測試點 A、 B、 F、 H等)。
如前述，該測試點新增列表191中的測試點A'(或H')所具有的 測試點信息與該測試點刪除列表193中的測試點A (或H)所具有的 測試點信息(在本實施例中，之間所表示的符號基本相同，僅以單引 號加以區(qū)別)，二測試點信息相區(qū)別的地方僅在于座標信息數(shù)據(jù)不同， 而其他例如所在網(wǎng)絡(luò)(net)信息數(shù)據(jù)、層面信息數(shù)據(jù)、尺寸信息數(shù)據(jù) 以及類型信息數(shù)據(jù)等均相同。當然，比對次序并非如以上所述為限， 也可先將原電路板與目標電路板進行比對，在生成測試點刪除列表193 后，再將目標電路板與原電路板進行比對，以生成測試點新增列表191。
該處理模塊15用以依據(jù)該比對模塊13所生成的該測試點新增列 表191以及該測試點刪除列表193，查找該測試點新增列表191以及該 測試點刪除列表193的各測試點信息，從該二列表191、 193中査找到 測試點信息僅為座標信息數(shù)據(jù)不相同的測試點(如圖2A所示的該測試 點新增列表191與該測試點刪除列表193中的測試點A'與A、以及H' 與H)存在時，生成一個如圖2B所示的測試點移位列表195，并將該 測試點信息從該二列表191、 193中轉(zhuǎn)移至該測試點移位列表195中。
此時，該測試點新增列表191中所包含的測試點變?yōu)辄cC'、 E'等(如
圖2B的測試點新增列表191所示)，點A'及H'己被轉(zhuǎn)移至該測試點移 位列表195中；該測試點刪除列表193中所包含的測試點變?yōu)辄cB、 F 等(如圖2B的測試點刪除列表193所示)，點A及H己被轉(zhuǎn)移至該測 試點移位列表195中。其中，該測試點移位列表195中的測試點從原 先該測試點刪除列表中的測試點(如圖2A所示的測試點A)轉(zhuǎn)移至原 先該測試點新增列表中的對應(yīng)測試點(如圖2A所示的測試點A')的 形式予以顯示，即""表現(xiàn)形式(如圖2B所示的測試點移位列表195 中的測試點)。
該標示模塊17依據(jù)該處理模塊15所生成的測試點移位列表195， 計算該列表195中的測試點信息中僅為座標信息數(shù)據(jù)不相同的二測試 點(如測試點A'與A、以及H，與H)的距離，并當判斷所計算得到的 距離小于一個預(yù)設(shè)的安全距離時，在該測試點移位列表195中標示出 該二測試點，在本實施例中，以測試點A'與A的距離小于一個預(yù)設(shè)的 安全距離為例進行說明。其中，該測試點移位列表195中的測試點的 標示以高亮方式或者著色方式進行標示，如圖2B所示，是以著色方式 標示出該測試點A，與A ()，用以提示在后續(xù)測試夾具修改作業(yè)中， 是否將新測試點A'的座標位置移回舊測試點A座標位置，從而滿足修 改夾具兩測試點間需具備最小安全距離的必要條件。此處需予以說明 的是，該安全距離為測試夾具修改過程中新舊點所允許變動的最小范 圍，即若新增測試點在落入距離原測試點該安全距離范圍以內(nèi)時，無 法實現(xiàn)對該測試夾具中該新增測試點所對應(yīng)的點的移動修改作業(yè)。
在本發(fā)明的電路板測試點異同查找系統(tǒng)中，還包括數(shù)據(jù)庫19，該 數(shù)據(jù)庫19用以儲存該測試點新增列表191、測試點刪除列表193以及 測試點移位列表195，通過該數(shù)據(jù)庫19所提供的各列表191、 193、 195 (如圖2B所示)，進行后續(xù)電路板測試夾具的調(diào)整修改作業(yè)。
通過上述電路板測試點異同查找系統(tǒng)，執(zhí)行本發(fā)明的電路板測試 點異同査找方法如圖3所示。以下將配合圖1詳細說明本發(fā)明的電路 板測試點異同查找方法的具體操作步驟。
如圖3所示，本發(fā)明的電路板測試點異同査找方法，首先執(zhí)行步 驟S100，令該提取模塊11提取該電路板測試點比對應(yīng)用程式針對該目
標電路板以及該原電路板所產(chǎn)生的測試點信息。其中，該測試點信息
為該測試點所在網(wǎng)絡(luò)(net)信息數(shù)據(jù)、層面信息數(shù)據(jù)、座標信息數(shù)據(jù)、 尺寸信息數(shù)據(jù)以及類型信息數(shù)據(jù)。接著進行步驟SllO。
在步驟S110中，令該比對模塊13接收針對該目標電路板以及該 原電路板所提取的測試點信息，并比對該目標電路板以及原電路板相 應(yīng)的測試點信息。詳言之，是將目標電路板與原電路板進行比對，此 外，還需進行原電路板與目標電路板的比對作業(yè)，當然，比對次序并 不受以上所述的限制，也可先將原電路板與目標電路板進行比對，然 后再將目標電路板與原電路板進行比對。接著進行步驟S120。
在步驟S120中，令該比對模塊13依據(jù)該比對結(jié)果，生成該目標 電路板相對于該原電路板的測試點新增列表以及測試點刪除列表。接 著進行步驟S130。
在步驟S130中，令該處理模塊15依據(jù)所生成的測試點新增列表 以及測試點刪除列表，査找該測試點新增列表以及測試點刪除列表的 各測試點信息，當從該二列表中查找到有測試點信息僅為座標信息數(shù) 據(jù)不相同的測試點存在時，生成一個測試點移位列表，并將該測試點 信息從該二列表中轉(zhuǎn)移至該測試點移位列表中。接著進行步驟S140。
在步驟S140中，依據(jù)該測試點移位列表的測試點信息，計算該列 表中的測試點信息僅為座標信息數(shù)據(jù)不相同的二測試點的距離。接著 進行步驟S150。
在步驟S150中，判斷所計算得到的距離是否小于一個預(yù)設(shè)的安全 距離，若是，則進至步驟S160，若否，則結(jié)束此次電路板測試點異同 査找操作流程。其中，該安全距離為測試夾具修改過程中新舊點所允 許變動的最小范圍，即若新增測試點落入距離原測試點該安全距離范 圍以內(nèi)時，則無法實現(xiàn)對該測試夾具中該新增測試點所對應(yīng)的點的移
在步驟S160中，在該測試點移位列表中標示出該二測試點。其中， 該測試點移位列表中的測試點的標示以高亮方式或者著色方式進行標示。
因此，通過上述電路板測試點異同查找方法，即可得到如圖2B所 示的測試點新增列表191、測試點刪除列表193、以及測試點移位列表195，用以后續(xù)電路板測試夾具的調(diào)整修改作業(yè)，進而無需如現(xiàn)有技術(shù) 通過夾具重新開模，即可實現(xiàn)對該目標電路板(即由原電路板進行版 本更新后的電路板)進行測試作業(yè)。
如上所述，本發(fā)明的電路板測試點異同査找系統(tǒng)及其方法通過提 取模塊、比對模塊、處理模塊以及標示模塊等的相互作用，將目標電 路板的測試點與原電路板的所有測試點進行比對，進而得到目標電路 板相對于原電路板所增加、刪減或移位的測試點異同列表，同時標示 出測試點移位列表中落入安全距離范圍內(nèi)的移動測試點信息，以供后 續(xù)依據(jù)該測試點異同列表以及重點標示的測試點，將舊的測試夾具修 改為新的夾具，從而節(jié)省夾具開模費用。同時，也可避免現(xiàn)有技術(shù)中， 通過人為方式查找新舊版電路板的測試點異同，造成費時費精力的弊 端、以及容易產(chǎn)生錯誤與疏漏，進而給后續(xù)生產(chǎn)帶來損失的情況發(fā)生。
上述實施例僅例示性說明本發(fā)明的原理及其功效，而非用于限制 本發(fā)明。任何本領(lǐng)域技術(shù)人員均可在不違背本發(fā)明的精神及范疇下， 對上述實施例進行修飾與改變。
權(quán)利要求
1.一種電路板測試點異同查找系統(tǒng)，其特征在于，其應(yīng)用于通過數(shù)據(jù)處理裝置執(zhí)行用以產(chǎn)生電路板測試點信息的電路板測試點比對應(yīng)用程式中，以查找目標電路板相對于原電路板上的測試點的異同，該電路板測試點異同查找系統(tǒng)包括提取模塊，其用以提取該電路板測試點比對應(yīng)用程式針對該目標電路板以及該原電路板所產(chǎn)生的測試點信息；比對模塊，其用以接收該提取模塊所提取的測試點信息，對該目標電路板以及原電路板相應(yīng)的測試點信息進行比對，并依據(jù)該比對結(jié)果，生成該目標電路板相對于該原電路板的測試點新增列表以及測試點刪除列表。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板測試點異同查找系統(tǒng)，其特征在 于，該測試點信息為該測試點所在網(wǎng)絡(luò)(net)信息數(shù)據(jù)、層面信息數(shù) 據(jù)、座標信息數(shù)據(jù)、尺寸信息數(shù)據(jù)以及類型信息數(shù)據(jù)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的電路板測試點異同查找系統(tǒng)，其特征在 于，還包括處理模塊，其用以依據(jù)該比對模塊所生成的該測試點新增 列表以及該測試點刪除列表，査找該測試點新增列表以及該測試點刪 除列表的各測試點信息，當該二列表中查找到有測試點信息僅為座標 信息數(shù)據(jù)不相同的測試點存在時，生成一測試點移位列表，并將該測 試點信息從該二列表中轉(zhuǎn)移至該測試點移位列表中。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的電路板測試點異同查找系統(tǒng)，其特征在 于，還包括標示模塊，其依據(jù)該處理模塊所生成的測試點移位列表， 計算該列表中的測試點信息僅為座標信息數(shù)據(jù)不相同的二測試點的距 離，并當判斷所計算得到的距離小于一個預(yù)設(shè)的安全距離時，在該測 試點移位列表中標示出該二測試點。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的電路板測試點異同査找系統(tǒng)，其特征在于，該測試點移位列表中的測試點的標示是用高亮(highlight)方式或著色(color)方式進行標示。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板測試點異同査找系統(tǒng)，其特征在于，還包括數(shù)據(jù)庫，其用以儲存該測試點新增列表、測試點刪除列表 以及測試點移位列表。
7. —種電路板測試點異同査找方法，其特征在于，其應(yīng)用于通過 數(shù)據(jù)處理裝置執(zhí)行用以產(chǎn)生電路板測試點信息的電路板測試點比對應(yīng) 用程式中，以查找目標電路板相對于原電路板上的測試點的異同，該 電路板測試點異同査找方法包括以下步驟-提取該電路板測試點比對應(yīng)用程式針對該目標電路板以及該原電 路板所產(chǎn)生的測試點信息；接收針對該目標電路板以及該原電路板所提取的測試點信息，并 比對該目標電路板以及原電路板相應(yīng)的測試點信息；依據(jù)該比對結(jié)果，生成該目標電路板相對于該原電路板的測試點 新增列表以及測試點刪除列表。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的電路板測試點異同查找方法，其特征在 于，該測試點信息為該測試點所在網(wǎng)絡(luò)(net)信息數(shù)據(jù)、層面信息數(shù) 據(jù)、座標信息數(shù)據(jù)、尺寸信息數(shù)據(jù)以及類型信息數(shù)據(jù)。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的電路板測試點異同査找方法，其特征在 于，還包括以下步驟依據(jù)所生成的該測試點新增列表以及該測試點刪除列表，查找該 測試點新增列表以及該測試點刪除列表的各測試點信息，當從該二列 表中查找到有測試點信息僅為座標信息數(shù)據(jù)不相同的測試點存在時， 生成一個測試點移位列表，以將該測試點信息從該二列表中轉(zhuǎn)移至該 測試點移位列表中；依據(jù)該測試點移位列表的測試點信息，計算該列表中的測試點信 息僅為座標信息數(shù)據(jù)不相同的二測試點的距離；判斷所計算得到的距離是否小于一個預(yù)設(shè)的安全距離，若是，則 從該測試點移位列表中標示出該二測試點，若否，則結(jié)束流程步驟。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電路板測試點異同查找方法，其特征在 于，該測試點移位列表中的測試點的標示以高亮(highlight)方式或著色(color)方式進行標示。
全文摘要
一種電路板測試點異同查找系統(tǒng)及其方法，其應(yīng)用于通過數(shù)據(jù)處理裝置執(zhí)行用以產(chǎn)生電路板測試點信息的電路板測試點比對應(yīng)用程式中，以查找目標電路板相對于原電路板上的測試點的異同，其主要包括提取該電路板測試點比對應(yīng)用程式針對該目標電路板以及該原電路板所產(chǎn)生的測試點信息；接收針對該目標電路板以及該原電路板所提取的測試點信息，并比對該目標電路板以及原電路板相應(yīng)的測試點信息；以及依據(jù)該比對結(jié)果，生成該目標電路板相對于該原電路板的測試點新增列表以及測試點刪除列表。因此，在后續(xù)電路板測試夾具制造方法中，即可依據(jù)該目標電路板相對于該原電路板的測試點新增列表以及測試點刪除列表進行后續(xù)調(diào)整修改作業(yè)。
文檔編號G01R31/00GK101191808SQ200610163348
公開日2008年6月4日 申請日期2006年12月1日 優(yōu)先權(quán)日2006年12月1日
發(fā)明者朱玉蘭, 范文綱 申請人:英業(yè)達股份有限公司