專利名稱：分析微量液態(tài)樣品的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種分析方法，特別有關(guān)于一種微量液態(tài)樣品的分析方法。
背景技術(shù)：
TFT-LCD(Thin Film Transistor liquid crystal display)薄膜晶體管液晶顯示器由于其低輻射性的特性，已成為現(xiàn)今各種顯示器中的主流。而由于各種制造過程中的瑕疵，mura的現(xiàn)象常見于TFT液晶顯示器上，其判斷方法就是在暗室中，將TFT液晶顯示器切換到黑色畫面，或其它低灰階的畫面，然后，從各種不同的角度去檢視TFT液晶顯示器，如果有顯示器亮度不均勻而形成各種痕跡的現(xiàn)象，例如橫向條紋或四十五度角條紋，或是沒有規(guī)則可言的東一塊西一塊的痕跡，都是mura的現(xiàn)象。
mura不會對使用造成什么影響，但是，對原本就作為顯示用途的TFT液晶顯示器而言，mura現(xiàn)象會直接影響TFT液晶顯示器的視覺效果及其品質(zhì)，因此，業(yè)內(nèi)人士莫不致力于用各種辦法解決自身產(chǎn)品的mura現(xiàn)象，例如利用對比mura區(qū)的液晶與非mura區(qū)的液晶的差異，以檢驗mura區(qū)的液晶是否受到其它有機物的污染。
現(xiàn)有分析液晶的方法是利用溶劑先萃取面板中的液晶，再注入氣相層析的管柱中，分離液晶中的各種不同的成分，其結(jié)果如圖1所示，最后，再用質(zhì)譜儀進行各成分的鑒定。然而，利用溶劑萃取會稀釋被分析物，將使得mura區(qū)本來量就不多的液晶尤其其中的極少量有機污染物被大量地稀釋，而不易偵測出有機污染物，因而，增加產(chǎn)品的故障分析的困難度。如圖1中所顯示的，上圖與下圖分別是非mura區(qū)液晶與mura區(qū)液晶的氣相層析結(jié)果，而此兩結(jié)果并無任何差異，因而難以判斷mura形成的原因。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明提供一種增加分析靈敏度的方法。
首先，利用一耐高溫棉沾取一微量液態(tài)樣品；接著，固定耐高溫棉于一耐高溫載體上；然后，放置耐高溫載體于一加熱裝置中，氣化并熱裂解液態(tài)微量樣品；最后，輸送被氣化與被裂解的微量液態(tài)樣品至一氣相層析質(zhì)譜儀，以獲得微量液態(tài)樣品的質(zhì)譜圖。
其中，微量液態(tài)樣品的體積最少可為0.05uL，而耐高溫棉與耐高溫載體可分別應(yīng)用于溫度50℃至1000℃間與50℃至1000℃間，且耐高溫棉與耐高溫載體可分別是石英棉與石英棒。本發(fā)明的加熱裝置可以是一熱裂解裝置(pyroprobe)，且在50℃至1000℃間的溫度，進行氣化與熱裂解液態(tài)微量樣品。
為讓本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉一優(yōu)選實施例，并配合附圖，作詳細說明如下。


圖1顯示根據(jù)現(xiàn)有的分析方法，比較mura區(qū)液晶與非mura區(qū)液晶的氣相層析的結(jié)果。
圖2A～2E顯示本發(fā)明的分析方法的流程。
圖3顯示根據(jù)本發(fā)明的分析方法，比較mura區(qū)液晶與非mura區(qū)液晶的氣相層析的結(jié)果。
圖4顯示圖3的氣相層析結(jié)果經(jīng)質(zhì)譜儀鑒定其分子量的情形。
附圖標(biāo)記說明100 TFT液晶顯示器 101 mura區(qū)102 非mura區(qū)103 石英棉104 夾子105 石英棒106 加熱線圈107 氣相層析管柱具體實施方式
本發(fā)明提供一種分析極微量的液態(tài)樣品的方法，以解決其分析的困難度；其中，液態(tài)樣品的體積最少可以是0.05uL。本發(fā)明的方法可應(yīng)用于各種領(lǐng)域，例如液晶的故障分析。
當(dāng)TFT液晶顯示器100被檢驗出有mura的異?，F(xiàn)象時，為了確定其產(chǎn)生的原因，必須先拆卸TFT液晶顯示器，以進行液晶的取樣，做進一步的故障分析。
分布于TFT液晶顯示器內(nèi)的液晶量并不多，以15吋的TFT液晶顯示器為例，其所使用的總液晶量約為3～4uL，若以一半徑約2cm的mura區(qū)而言，該mura區(qū)中的液晶量約為0.06uL。如此少量的液晶，幾乎只是一層厚度約為4.5um的液晶薄膜，覆蓋于基板上，即使用吸管都很難汲取。但是，如果用溶劑先萃取出來，再于氣相層析質(zhì)譜儀中進行，將很難偵測出污染物的存在。
本發(fā)明分析樣品的方法，請參考圖2A至圖2E。首先，在圖2A中，直接用一石英棉103沾取mura區(qū)101的液晶，如此，不但可以免除液晶濃度被稀釋的現(xiàn)象，還可以減少萃取的步驟?？衫靡粖A子104夾取石英棉，以利沾取的操作，而且沾取液晶的材料，并不限定為石英棉，任何一耐高溫且可吸附液晶的材質(zhì)，均可應(yīng)用于本發(fā)明中，該材質(zhì)需在溫度約為50℃至1000℃的范圍內(nèi)，仍呈穩(wěn)定的狀態(tài)。而同樣的，沾取非mura區(qū)102的液晶，也使用相同的方法。
接著，請參考圖2B，圖中顯示將沾有mura區(qū)的石英棉103裝入一中空的石英棒105中，本發(fā)明用來承載石英棉的組件，并不限定為石英棒，任何一可承載石英棉，且可置入于后續(xù)使用的熱裂解裝置(pyroprobe)中的耐高溫物體，均可作為石英棒的取代組件，而其所承受的溫度約為50℃至1000℃。
然后，在圖2C中，將石英棒置入于一熱裂解裝置的加熱線圈106中，當(dāng)熱裂解裝置以50℃至1000℃之間的溫度加熱該石英棒105時，石英棉103上的液晶樣品將氣化，并進行熱裂解，而形成許多分子量較小的分子碎裂物。
在圖2D中，分子碎裂物接著被輸送至氣相層析裝置中的氣相層析管柱107里，利用分子碎裂物與氣相層析管柱107之間不同的吸附力，不同分子碎裂物，例如分子碎裂物A與分子碎裂物B，將隨著進入管柱時間的增加，而漸漸被分離開來。
經(jīng)過氣相層析管柱107分離的樣品，接著，由質(zhì)譜儀鑒定其分子量，其結(jié)果，如圖2E所示。
請參考圖3，其顯示應(yīng)用本發(fā)明的方法，對非mura區(qū)與mura區(qū)液晶的氣相層析的分析結(jié)果，經(jīng)過對比，mura區(qū)液晶于14.57分鐘附近流出氣相層析管柱的分子碎裂物，顯然是污染物。經(jīng)質(zhì)譜儀鑒定其分子量的結(jié)果，如圖4所示，并查詢數(shù)據(jù)庫，發(fā)現(xiàn)該污染物來自黏著上下基板的框膠。
因此，本發(fā)明藉由不稀釋液態(tài)樣品濃度的方式，輕易地鑒定出污染物的來源，且本發(fā)明所提供的分析微量液態(tài)樣品的方法，具有下列優(yōu)點
1.可省去現(xiàn)有的萃取步驟。
2.以直接沾取方式置備樣品，使得微量液態(tài)樣品的濃度不至于被稀釋，而能夠增加分析的靈敏度。
3.熱裂解裝置與氣相層析質(zhì)譜儀的組合，一般只被用于分析固態(tài)的樣品，而本發(fā)明所提供的方法，使液態(tài)的樣品也可應(yīng)用于該種組合中。
綜上所述，雖然本發(fā)明已結(jié)合一優(yōu)選實施例披露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，可作各種的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍以權(quán)利要求所界定的為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種分析微量液態(tài)樣品的方法，該方法至少包括沾取該微量液態(tài)樣品，其利用一耐高溫棉完成；配置該耐高溫棉于一耐高溫載體上；放置該耐高溫載體于一加熱裝置中，氣化并熱裂解該液態(tài)微量樣品；以及輸送該被氣化與被裂解的該微量液態(tài)樣品至一氣相層析質(zhì)譜儀，以獲得該微量液態(tài)樣品的質(zhì)譜圖。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中該耐高溫棉被應(yīng)用于50℃至1000℃之間的溫度。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中該耐高溫載體被應(yīng)用于50℃至1000℃之間的溫度。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中該耐高溫棉是石英棉。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中該耐高溫載體是一石英棒。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中該微量液態(tài)樣品的體積最少為0.05uL。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，其中該加熱裝置是一熱裂解裝置。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，其中該加熱裝置以50℃至1000℃間的溫度，進行氣化與熱裂解該液態(tài)微量樣品。
全文摘要
一種分析微量液態(tài)樣品的方法，可增加分析的靈敏度。首先，用一耐高溫棉沾取一微量液態(tài)樣品；接著，固定耐高溫棉于一耐高溫載體上；然后，放置耐高溫載體于一加熱裝置中，氣化并熱裂解液態(tài)微量樣品；最后，輸送被氣化與被裂解的微量液態(tài)樣品至一氣相層析質(zhì)譜儀，以獲得微量液態(tài)樣品的質(zhì)譜圖。
文檔編號G01N30/00GK1548955SQ0313670
公開日2004年11月24日 申請日期2003年5月21日 優(yōu)先權(quán)日2003年5月21日
發(fā)明者張瑞玫, 黃瓊儀 申請人:友達光電股份有限公司