專利名稱：取置機(jī)測試手臂的調(diào)整治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種取置機(jī)測試手臂的調(diào)整治具，特別指一種用于該測試手臂的水平校正及其對位的調(diào)整治具。
為便于該基座10a與取置頭11a的組裝，以及使組裝后的測試手臂1a更為穩(wěn)固，該測試手臂1a是在其基座10a與取置頭11a之間至少設(shè)有兩組凹、凸相配合的對位結(jié)構(gòu)13a，而每一組對位結(jié)構(gòu)13a則包含一凸設(shè)于基座10a底面的定位柱14a與一凹設(shè)于取置頭11a頂面的定位孔15a。如此，當(dāng)取置頭11a的扣具12a尚未與基座10a扣合時(shí)，是可先利用該基座10a的定位柱14a嵌入取置頭11a的定位孔15a中，以確認(rèn)兩者的相對位置后，再行扣合組裝。
上述公知的測試手臂1a在檢驗(yàn)集成電路(圖略)時(shí)，是須先與鎖設(shè)于平臺2a上的測試基板20a作對位工作。如圖2及圖3所示，該測試基板20a上具有一座體21a，座體21a上設(shè)有一可供集成電路(圖略)容置的方形置放空間22a，在接近該置放空間22a的兩相對的對角處上穿設(shè)有校正孔23a，又在兩校正孔23a內(nèi)分別固設(shè)有一塑性護(hù)套24a。另外，在該測試手臂1a的取置頭11a下方外圍嵌固一框體16a，并在該框體16a上分別穿設(shè)有與座體21a的兩校正孔23a相對應(yīng)的校正桿17a。如此，該測試手臂1a可通過操作者以手動方式，將兩校正桿17a調(diào)整至可穿入兩校正孔23a的護(hù)套24a中，再通過操控該測試手臂1a的控制系統(tǒng)(圖略)記錄此時(shí)的坐標(biāo)位置，以完成對位工作。
但是，由于該測試手臂1a在將集成電路(圖略)吸取至測試基板20a上作檢測工作時(shí)，是利用其取置頭11a的底面18a與集成電路(圖略)相貼附后吸取，再將該集成電路(圖略)移動至上述進(jìn)行對位工作時(shí)計(jì)算機(jī)所記錄的坐標(biāo)位置，并向下移動以將該集成電路(圖略)下壓至座體21a的置放空間22a內(nèi)，以進(jìn)行測試。然而，若該取置頭11a的底面18a未保持水平狀態(tài)時(shí)，則被測試手臂1a下壓的集成電路(圖略)即有可能因此而受損，故仍需調(diào)整該測試手臂1a的基座10a，使其能令取置頭11a的底面18a保持水平，以避免損壞受檢測的集成電路(圖略)。但是，公知的測試手臂1a在此調(diào)整上，僅依靠操作者以肉眼作判斷，而無利用其它客觀的量具或器具作為校正的依據(jù)，故以此種調(diào)整方式，該測試手臂1a仍有或多或少的誤差存在，對其是否能符合較高精確度的標(biāo)準(zhǔn)，仍有待商榷。
所以，由上可知，上述公知調(diào)整取置機(jī)測試手臂的方式，在實(shí)際使用上，顯然不能達(dá)到較高的精確度要求，而有待加以改善。
于是，本實(shí)用新型人有感上述缺陷的可改善性，特潛心研究并配合學(xué)理運(yùn)用，終于提出一種設(shè)計(jì)合理且有效改善上述缺陷的本實(shí)用新型。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的主要目的在于提供一種取置機(jī)測試手臂的調(diào)整治具，解決公知的測試手臂在吸取集成電路時(shí)無法確保其是否在水平狀態(tài)，因此在精確度不高的情況下，避免會損壞受檢測的集成電路。因此，須以更客觀的量具或器具作為校正依據(jù)，并同時(shí)完成該測試手臂的對位工作，以減輕操作者的負(fù)擔(dān)及繁復(fù)的程序。
為了實(shí)現(xiàn)上述的目的，本實(shí)用新型提供一種取置機(jī)測試手臂的調(diào)整治具，是用以校正測試手臂而使其得以保持水平狀態(tài)，并同時(shí)與鎖設(shè)于平臺上的測試基板作對位。該調(diào)整治具包括一本體及至少一第一對位結(jié)構(gòu)；其中，該本體的頂部呈一平整面，以作為水平校正，而該第一對位結(jié)構(gòu)則設(shè)于該平整面上，并與測試手臂基座的第二對位結(jié)構(gòu)相配合，以供該測試手臂對位，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)上述目的。


圖1是公知測試手臂的分解示意圖；圖2是公知測試手臂的使用狀態(tài)示意圖；圖3是公知測試基板的俯視圖；圖4是公知測試手臂的基座俯視圖；圖5是本實(shí)用新型調(diào)整治具的立體圖；圖6是本實(shí)用新型調(diào)整治具置于測試手臂與平臺之間的分解示意圖；圖7是本實(shí)用新型調(diào)整治具置于測試手臂與平臺之間的測量狀態(tài)示意圖；圖8是本實(shí)用新型調(diào)整治具置于測試手臂與平臺之間的組合示意圖；圖9是本實(shí)用新型調(diào)整治具另一實(shí)施例的立體圖；圖10是本實(shí)用新型調(diào)整治具另一實(shí)施例置于測試手臂與平臺之間的測量狀態(tài)示意圖。
圖中標(biāo)記分別為公知部分1a 測試手臂10a 基座11a 取置頭12a 扣具13a 對位結(jié)構(gòu)14a 定位柱 15a 定位孔16a 框體17a 校正桿18a 底面2a 平臺20a 測試基板21a 座體22a 置放空間23a 校正孔24a 護(hù)套本實(shí)用新型部分1測試手臂10 基座11 第二對位結(jié)構(gòu)12 定位柱 13 圓孔2平臺20 鎖設(shè)組件
3 調(diào)整治具30 本體31 第一對位結(jié)構(gòu)32 平整面 33 鎖設(shè)孔34 定位孔 35 圓形件36； 量規(guī)該第一對位結(jié)構(gòu)31至少包含兩定位孔34，并可在孔的外緣施以倒角，該兩定位孔34分別與基座10底面的兩定位柱12(即凸出的第二對位結(jié)構(gòu)11)相對且可供其嵌入，因而能作為該測試手臂1的對位基準(zhǔn)，且該第一對位結(jié)構(gòu)31還可增設(shè)為多數(shù)個(gè)。如此，即可供更多的測試手臂1一并作校正及對位，并得以在檢驗(yàn)集成電路(圖略)時(shí)，使該等測試手臂1同時(shí)作檢驗(yàn)，以提高工作效率。
可在該本體30的兩定位孔34之間的中央處增設(shè)一凸出的圓形件35。請一并參閱圖4所示，由于測試手臂1的基座10底面中心處凹設(shè)有一圓孔13，故可通過該圓孔13與圓形件35的配合作先行的定位，然后再調(diào)整該測試手臂1的基座10，以使其兩定位柱12可順利嵌入定位孔34中，以增加操作者作對位工作時(shí)的便利性。然而，若在該本體30的平整面32上凸起該圓形件35，則在制造上容易影響該平整面32的精密度而使其不易加工或精密度較差，故該圓形件35可以是一栓頭呈圓形的螺栓，以螺設(shè)于本體30上。
該兩定位孔34其中之一可呈橢圓形，如此，當(dāng)測試手臂1的基座10與該調(diào)整治具3作對位時(shí)，若定位孔34與定位柱12配合的裕度尺寸過小的情況下，則仍可通過該呈橢圓形的定位孔34使定位柱12較易于嵌入，故也可提供操作者在對位時(shí)的便利性。但另一定位孔34的精度須相當(dāng)精準(zhǔn)，以避免誤差過大而喪失對位效果。
所以，通過上述的構(gòu)造組成，即可得到本實(shí)用新型取置機(jī)測試手臂的調(diào)整治具。
請參閱圖6、圖7及圖8，分別是本實(shí)用新型置于測試手臂與平臺之間的分解示意圖、測量狀態(tài)示意圖及組合示意圖。該調(diào)整治具3是用以校正測試手臂1而使其得以保持水平狀態(tài)，并同時(shí)與鎖設(shè)于平臺2上的測試基板(圖略)作對位；其校正方法的步驟如下(a)將上述具有平整面32的調(diào)整治具3由平臺2的下方向上頂入，并使該調(diào)整治具3上的該等鎖設(shè)孔33與平臺2相配合。再通過該等鎖設(shè)組件20分別穿入鎖設(shè)孔33后穩(wěn)固鎖設(shè)，以使該調(diào)整治具3置于該測試手臂1的基座10與平臺2之間；
(b)利用手動的方式移動該測試手臂1，以使其基座10上的兩定位柱12分別嵌入該調(diào)整治具3的兩定位孔34內(nèi)，并使該測試手臂1的基座10與調(diào)整治具3的平整面32貼平；(c)一邊利用量規(guī)36來測量基座10與平整面32貼平時(shí)其外緣的密著度，一邊調(diào)整該測試手臂1的誤差量，直至基座10完全與平整面32密著為止，以完成水平校正工作；另外，該量規(guī)36是厚薄規(guī)，而上述該基座10與平整面32所謂的密著，以該厚薄規(guī)的測量端是否能插入基座10與平整面32之間的細(xì)縫來確認(rèn)其是否密著；舉例來說，若以測量端為0.1mm的厚薄規(guī)來測量，當(dāng)厚薄規(guī)可插入時(shí)，即表示此細(xì)縫仍大于0.1mm而未呈密著狀態(tài)，反之，當(dāng)厚薄規(guī)無法插入時(shí)，則表示基座10與平整面32的密著效果可達(dá)到0.1mm以下。此與公知僅可以肉眼判斷，并無法得知客觀的數(shù)據(jù)相比，顯然已具有較佳的可信度；(d)再通過操控該測試手臂1的控制系統(tǒng)(圖略)記錄此時(shí)的坐標(biāo)位置，也可同時(shí)完成對位工作。
因此，通過上述的步驟，即可利用該調(diào)整治具3來達(dá)到校正測試手臂1的目的，并可同時(shí)完成該測試手臂1與平臺2上的測試基板(圖略)的對位工作，以改善公知僅以肉眼判斷且無客觀標(biāo)準(zhǔn)等的缺陷，進(jìn)而符合較高的精度標(biāo)準(zhǔn)并減少被檢測的集成電路(圖略)的損壞。
再者，如圖9及圖10所示，分別是本實(shí)用新型調(diào)整治具另一實(shí)施例的立體圖及置于測試手臂與平臺之間的測量狀態(tài)示意圖。其中，該本體30也可呈一凸字型塊體，并使平整面32形成于該本體30呈凸字型的上方部位的頂部，而該等鎖設(shè)孔33則設(shè)于本體30呈凸字型的下方部位的邊緣處。如此的設(shè)計(jì)，可避免部分的平臺2因其檢驗(yàn)位置較低不利于操作者用量規(guī)36校正的情況發(fā)生，所以將該本體30呈一凸字型，以使其平整面32位于較高處，而可便于操作者進(jìn)行校正工作。
綜上所述，本實(shí)用新型的確可達(dá)到預(yù)期的使用目的，而解決公知的缺陷，極具新穎性及創(chuàng)造性，完全符合實(shí)用新型專利的申請要件，依法提出申請，敬請?jiān)敳椴⑴鷾?zhǔn)授予本案專利權(quán)，以保障實(shí)用新型人的權(quán)利。
但以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳可行實(shí)施例，非因此即拘限本實(shí)用新型的專利范圍，凡運(yùn)用本實(shí)用新型說明書及附圖內(nèi)容所作出的等效變化，均同理包含于本實(shí)用新型的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種取置機(jī)測試手臂的調(diào)整治具，用以置于測試手臂基座與平臺之間，其特征在于包括一本體，頂部呈平整面，以作為水平之校正；一第一對位結(jié)構(gòu)，設(shè)于該平整面上，并與測試手臂基座的第二對位結(jié)構(gòu)相配合，以供該測試手臂對位。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的取置機(jī)測試手臂的調(diào)整治具，其特征在于該本體呈一扁狀板體。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的取置機(jī)測試手臂的調(diào)整治具，其特征在于該本體上設(shè)有多數(shù)個(gè)鎖設(shè)孔。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的取置機(jī)測試手臂的調(diào)整治具，其特征在于該本體呈一凸字型塊體，且該平整面形成于該本體呈凸字型的上方部位的頂部。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的取置機(jī)測試手臂的調(diào)整治具，其特征在于該本體呈凸字型的下方部位的邊緣處設(shè)有多數(shù)個(gè)鎖設(shè)孔。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的取置機(jī)測試手臂的調(diào)整治具，其特征在于該第一對位結(jié)構(gòu)至少包含兩定位孔，且測試手臂基座的第二對位結(jié)構(gòu)亦至少為兩定位柱。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的取置機(jī)測試手臂的調(diào)整治具，其特征在于該兩定位孔其中之一呈橢圓形。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的取置機(jī)測試手臂的調(diào)整治具，其特征在于該兩定位孔之間的中央處增設(shè)有一凸出的圓形件。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的取置機(jī)測試手臂的調(diào)整治具，其特征在于該圓形件是一栓頭呈圓形的螺栓，以螺設(shè)于本體上。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的取置機(jī)測試手臂的調(diào)整治具，其特征在于該第一對位結(jié)構(gòu)增設(shè)為多數(shù)個(gè)。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種取置機(jī)測試手臂的調(diào)整治具，該調(diào)整治具包括一本體及至少一與測試手臂基座的第二對位結(jié)構(gòu)相配合的第一對位結(jié)構(gòu)，該本體的頂部呈一平整面，以作為水平的校正，并供第一對位結(jié)構(gòu)設(shè)于其上，以供測試手臂作對位。
文檔編號G01R31/28GK2525532SQ02204308
公開日2002年12月11日 申請日期2002年1月25日 優(yōu)先權(quán)日2002年1月25日
發(fā)明者王振芳, 葉時(shí)漢 申請人:威盛電子股份有限公司