專利名稱：X射線照相檢驗(yàn)用疊厚承載試塊組的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于X射線探測(cè)設(shè)備附件制造領(lǐng)域。
在X射線探測(cè)廣泛應(yīng)用于工業(yè)和其它領(lǐng)域，根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，在對(duì)工件實(shí)施射線透射的同時(shí)，亦需在底片上留下該工件的各種數(shù)據(jù)及參數(shù)以方便存檔，這就需要一種與工件厚度相同、材料相同的試塊作為產(chǎn)生字符的鉛字(或像質(zhì)器)的承載體并與工件同時(shí)透照。這樣在被照射過(guò)的底片上就會(huì)留下與工件的影像密度相同的區(qū)域，并且在該區(qū)域內(nèi)包含所放鉛字的清晰影像。但目前在該領(lǐng)域所使用的承載墊塊一般采用自制的墊片臨時(shí)組合，這類承載試塊厚度的分布既隨意又不合理，往往將同厚度的試塊用上多塊，疊了一大堆還達(dá)不到所需的厚度要求，給檢測(cè)人員的工作造成很大的麻煩。
本實(shí)用新型的目的是設(shè)計(jì)一種X射線照相檢驗(yàn)用疊厚承載試塊組，使之具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，方便使用的特點(diǎn)。
本實(shí)用新型的目的是通過(guò)如下的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的。
用于在X射線探測(cè)時(shí)組成適合高度的字符鉛字的承載墊層X(jué)射線照相檢驗(yàn)用疊厚承載試塊組，至少有一塊基本厚度d的試塊，其余n個(gè)試塊的厚度依次以該基本厚度d的2K倍依次遞增，K＝1，2，3.....n－1，n。
采用如上的手段后，本實(shí)用新型使用簡(jiǎn)單，標(biāo)識(shí)明確，可在一定的范圍內(nèi)方便地用最少的試塊數(shù)量取得最多的厚度組合，從而方便地組合出各種厚度的承載墊層。


如下。
圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例之一片試塊的外觀圖。
以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)作進(jìn)一步的詳述由圖1可看出本實(shí)用新型的基本結(jié)構(gòu)，本實(shí)用新型由多塊這樣的試塊組成，呈十定規(guī)律的厚度組合分布，至少有一塊基本厚度d的試塊，其余n個(gè)試塊的厚度依次以該基本厚度d的2K倍依次遞增，K＝1，2，3.....n－1，n?；竞穸萪的選擇有一定的任意性，一般情況下，選取d＝1毫米有獨(dú)到的方便之處。
權(quán)利要求1.X射線照相檢驗(yàn)用疊厚承載試塊組，用于在X射線探測(cè)時(shí)組成適合高度的字符鉛字的承載墊層，由呈一定厚度分布的多個(gè)金屬塊狀物組成，其特征在于，至少有一塊基本厚度d的試塊，其余n個(gè)試塊的厚度依次以該基本厚度d的2K倍依次遞增，K＝1，2，3.....n－1，n。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述X射線照相檢驗(yàn)用疊厚承載試塊組，其特征在于，所述基本厚度d為1毫米。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種X射線照相檢驗(yàn)用疊厚承載試塊組,用于在X射線探測(cè)時(shí)組成適合高度的字符鉛字的承載墊層,至少有一塊基本厚度d的試塊,其余n個(gè)試塊的厚度依次以該基本厚度d的文檔編號(hào)G01N23/04GK2480836SQ01206539
公開(kāi)日2002年3月6日 申請(qǐng)日期2001年6月13日 優(yōu)先權(quán)日2001年6月13日
發(fā)明者李國(guó)勝 申請(qǐng)人:李國(guó)勝