專利名稱：能夠測(cè)試出差分串行電路單端故障的功能測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及差分串口電路的功能測(cè)試技術(shù)，具體是一種能夠測(cè)試出差分串行電路單端故障的功能測(cè)試方法。
差分串口的電路形式一般如

圖1所示。對(duì)它的功能測(cè)試方式，一般會(huì)設(shè)計(jì)另外一個(gè)測(cè)試電路與之對(duì)接，測(cè)試電路的CPU會(huì)采用約定的串口通訊協(xié)議與被測(cè)測(cè)試電路進(jìn)行通訊，如果通訊正常，則認(rèn)為被測(cè)電路功能正常；反之，則認(rèn)為被測(cè)電路故障。所采用的測(cè)試電路的形式一般是與被測(cè)電路相近，甚至完全相同，即用接收電路來與被測(cè)串口電路中的發(fā)送部分相接，用發(fā)送電路來與被測(cè)串口電路的接收相接。
如圖1所示，如果被測(cè)電路是“發(fā)送電路”，功能測(cè)試時(shí)的測(cè)試電路將采用接收電路，將接收電路中的“RXD+”、“RXD-”分別接到被測(cè)電路的“TXD+”、“TXD-”上。
使用上述常規(guī)的測(cè)試電路，無法測(cè)試出一對(duì)差分信號(hào)的單端出現(xiàn)的短路、斷線等故障。假設(shè)在圖一中，U1的Pin2出現(xiàn)對(duì)地短路，測(cè)試電路采用的是圖1中的接收電路。那么，在測(cè)試電路的收端，盡管差分接收出現(xiàn)了單端故障，但由于這一對(duì)差分線的相對(duì)電平關(guān)系沒有改變，U2仍會(huì)產(chǎn)生變換出正常的TTL信號(hào)“RXD”，不會(huì)影響通訊，出現(xiàn)故障產(chǎn)品漏檢，使故障品流入下一生產(chǎn)工序。
本發(fā)明提出的能夠測(cè)試出差分串行電路單端故障的功能測(cè)試方法，其特征在于包括如下步驟a、通過接口電路分別接入信號(hào)；b、分別測(cè)試、判斷被測(cè)差分電路相應(yīng)的單端輸出信號(hào)，當(dāng)兩端的信號(hào)均正常時(shí)，被測(cè)差分電路功能正常，否則不正常。
本發(fā)明測(cè)試時(shí)每次僅測(cè)試一對(duì)差分信號(hào)的一端，然后通過分別判斷所測(cè)的兩端信號(hào)確定被測(cè)電路正常與否，從而避免了常規(guī)的測(cè)試方法帶來的漏測(cè)問題，能夠可靠測(cè)試出差分信號(hào)單端出現(xiàn)的短路、斷線等故障，較好地滿足功能測(cè)試的要求，保證產(chǎn)品的質(zhì)量。并且測(cè)試電路簡(jiǎn)單，器件成本低，占用的PCB體積小。
圖3為本發(fā)明的差分發(fā)送電路的測(cè)試電路；圖4為本發(fā)明的差分發(fā)送電路的另一種測(cè)試電路；圖5為本發(fā)明的差分接收電路的另一種測(cè)試電路。
其中電阻R9及R10的作用是使RXD+在高阻態(tài)輸出時(shí)為固定電平。當(dāng)被測(cè)電路中有可選部分(圖2的被測(cè)電路中，虛線框內(nèi)的電路)時(shí)，應(yīng)相應(yīng)改變上、下拉電阻R9、R10的阻值，使RXD+的固定電平為2.5V左右。對(duì)于RXD-也需作類似的處理。
當(dāng)被測(cè)電路為差分發(fā)送電路時(shí)，采用的測(cè)試電路如圖3所示。圖3中將被測(cè)差分發(fā)送電路的一對(duì)被測(cè)差分信號(hào)(TXD+、TXD-)通過接口電路(U3)轉(zhuǎn)換成兩路獨(dú)立的TTL信號(hào)(TEST1、TEST2)；然后分別測(cè)試、判斷兩路TTL信號(hào)，當(dāng)兩路TTL信號(hào)均正常時(shí)，被測(cè)差分信號(hào)(TXD+、TXD-)正常，否則被測(cè)差分信號(hào)不正常。
圖2、3所示測(cè)試電路可以測(cè)試出差分信號(hào)單端出現(xiàn)的短路、斷線等故障，電路中的接口芯片(U3～U5)為26C31、26C32，屬RS422接口規(guī)范；也可以選用RS485接口芯片，如74172、74173、74185等。圖3電容C1的作用是濾除干擾，使信號(hào)轉(zhuǎn)換更穩(wěn)定。電阻R7、R8將電平嵌位在2.5V。
另外，可在測(cè)試電路中，在常規(guī)電路的基礎(chǔ)上，增加一級(jí)繼電器，測(cè)試時(shí)用繼電器分別將差分信號(hào)中的一端接通來進(jìn)行。如圖4、5所示，將繼電器的控制端分別置高、置低進(jìn)行兩次通訊測(cè)試，當(dāng)且僅當(dāng)兩次測(cè)試均正常時(shí)，判斷測(cè)試通過，被測(cè)電路功能正常。
權(quán)利要求
1.一種能夠測(cè)試出差分串行電路單端故障的功能測(cè)試方法，其特征在于包括如下步驟a、通過接口電路分別接入信號(hào)；b、分別測(cè)試、判斷被測(cè)差分電路相應(yīng)的單端輸出信號(hào)，當(dāng)兩端的信號(hào)均正常時(shí)，被測(cè)差分電路功能正常，否則不正常。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述能夠測(cè)試出差分串行電路單端故障的功能測(cè)試方法，其特征在于當(dāng)測(cè)試差分接收電路時(shí)，在步驟a中差分發(fā)送電路的發(fā)送信號(hào)(TEST)分別經(jīng)兩個(gè)接口電路交替轉(zhuǎn)換成兩路TTL信號(hào)，作為一對(duì)差分信號(hào)輸入被測(cè)差分接收電路。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述能夠測(cè)試出差分串行電路單端故障的功能測(cè)試方法，其特征在于當(dāng)測(cè)試差分發(fā)送電路時(shí)，在步驟a中被測(cè)差分發(fā)送電路的一對(duì)被測(cè)差分信號(hào)(TXD+、TXD-)通過接口電路轉(zhuǎn)換成兩路獨(dú)立的TTL信號(hào)(TEST1、TEST2)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述能夠測(cè)試出差分串行電路單端故障的功能測(cè)試方法，其特征在于所述的接口電路采用26C31、或26C32、或74172、或74173、或74185芯片。
全文摘要
一種能夠測(cè)試出差分串行電路單端故障的功能測(cè)試方法，其特征在于包括如下步驟a、通過接口電路分別接入信號(hào)；b、分別測(cè)試、判斷被測(cè)差分電路相應(yīng)的單端輸出信號(hào)，當(dāng)兩端的信號(hào)均正常時(shí)，被測(cè)差分電路功能正常，否則不正常。本發(fā)明測(cè)試時(shí)每次僅測(cè)試一對(duì)差分信號(hào)的一端，然后通過分別判斷所測(cè)的兩端信號(hào)確定被測(cè)電路正常與否，從而避免了常規(guī)的測(cè)試方法帶來的漏測(cè)問題，能夠可靠測(cè)試出差分信號(hào)單端出現(xiàn)的短路、斷線等故障，較好地滿足功能測(cè)試的要求，保證產(chǎn)品的質(zhì)量。并且測(cè)試電路簡(jiǎn)單，器件成本低，占用的PCB體積小。
文檔編號(hào)G01R31/02GK1415971SQ01140538
公開日2003年5月7日 申請(qǐng)日期2001年11月3日 優(yōu)先權(quán)日2001年11月3日
發(fā)明者段海峰 申請(qǐng)人:華為技術(shù)有限公司