本發(fā)明涉及指紋芯片分選技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種指紋分選機的控制系統(tǒng)及控制方法。

背景技術(shù)：

指紋分選機主要為指紋芯片測試提供服務(wù)，實現(xiàn)指紋芯片STRIP 方式的自動化測試，并將測試機測試電性參數(shù)后的結(jié)果保存下來，并在芯片上標(biāo)示，保存下來的自動化設(shè)備。

現(xiàn)行技術(shù)中，通常采用PLC控制器+觸摸屏的方式實現(xiàn)，此方式編程不靈活、成本高，且響應(yīng)速度慢。

現(xiàn)有技術(shù)的指紋分選機的流程主要如下：

（1）現(xiàn)行技術(shù)需要先將基板固定到假片上，通過12寸探針臺將基板載入。這種方法效率低，成本高；

（2）現(xiàn)行技術(shù)通過真空設(shè)備將基板吸平，這種方法很難將基板吸的完全平整，有可能導(dǎo)致測試良率低。本技術(shù)采用壓板壓基板，可以將基板壓得很平；

（3）現(xiàn)行技術(shù)托盤是平整的，無法加假手指或機械手測試。導(dǎo)致測試可靠性低。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

針對上述技術(shù)中存在的不足之處，本發(fā)明提供一種能夠有效分選指紋芯片的指紋分選機的控制系統(tǒng)及控制方法。

為了達到上述目的，本發(fā)明一種指紋分選機的控制系統(tǒng)，包括上位機和下位機，所述下位機包括FPGA控制器、輸入控制電路、輸出控制電路、通信控制電路和伺服電機控制器，所述上位機的輸入端連接有用于測試指紋芯片電性參數(shù)的測試機，且所述指紋芯片上設(shè)有傳感器，所述上位機的通訊端與通信控制電路交互連接，且所述通信控制電路與FPGA控制器交互連接；所述輸入控制電路與上位機的按鍵相連，且所述輸入控制電路與FPGA控制器的輸入端電連接；所述FPGA控制器的第一輸出端與輸出控制電路的輸入端電連接，所述輸出控制電路的輸出端連接有多個機械手，且所述FPGA控制器通過輸出控制電路控制多個機械手下壓或上移；所述FPGA控制器的第二輸出端與伺服電機控制器相連，所述伺服電機控制器連接有伺服電機，且所述伺服電機驅(qū)動與指紋芯片驅(qū)動連接；

所述指紋芯片安置在分選機的托盤上，所述FPGA控制器通過伺服電機控制器驅(qū)動伺服電機帶動指紋芯片移動到機械手的測試座下，所述FPGA控制器控制機械手下壓后，機械手的測試座接觸到指紋芯片的感應(yīng)區(qū)后，測試機對指紋芯片進行測試，且測試機測試到的數(shù)據(jù)通過上位機輸出。

其中，所述上位機為PC，所述PC內(nèi)安裝有開發(fā)平臺，所述開發(fā)平臺上設(shè)有用戶界面、后臺測試機通信界面和下位機通信界面，所述用戶界面用于處理用戶消息，所述用戶界面將用戶消息指令發(fā)送到后臺測試機通信界面和下位機通信界面，所述后臺測試機通信界面接收用戶界面消息指令，且將消息指令發(fā)送給測試機；所述下位機通信界面接收用戶界面消息指令，且控制下位機執(zhí)行指令動作。

其中，所述下位機還包括電源模塊，系統(tǒng)電源與電源模塊的輸入端電連接，所述電源模塊的輸出端與傳感器的電源端電連接；所述電源模塊將系統(tǒng)電源的5V轉(zhuǎn)換為3.3V后，所述電源模塊給傳感器供電，且系統(tǒng)電源與FPGA控制器的電源端電連接。

其中，所述輸入控制電路包括多個輸入控制單元，每個輸入控制單元均包括第一電阻、光耦、第二電阻和第三電阻，所述第一電阻的一端與光耦的第一端口連接，所述第一電阻的另一端連接有24V電壓；所述光耦的第二端口與對應(yīng)的傳感器連接，所述光耦的第三端口通過第二電阻接地，所述光耦的第三端口通過第三電阻與FPGA控制器的輸入端連接，且所述光耦的第四端口連接有3V電壓。

其中，所述輸出控制電路包括多個輸出控制單元，每個輸出控制單元均包括達林頓管、第四電阻、第五電阻和第六電阻，所述FPGA控制器的第一輸出端通過第四電阻與達林頓管的第二端口相連，且所述達林頓管的第一端口連接達林頓管的第二端口與第四電阻之間；所述FPGA控制器的第二輸出端通過第五電阻與達林頓管的第四端口相連，且所述達林頓管的第三端口連接在達林頓管的第四端口與第五電阻之間；所述FPGA控制器的第三輸出端通過第六電阻與達林頓管的第六端口相連，且所述達林頓管的第五端口連接在達林頓管的第六端口與第六電阻之間；所述達林頓管的第八端口接地，所述達林頓管的第九端口連接有24V電壓；所述達林頓管的第十二端口、第十四端口和第十六端口分別連接有電磁閥，所述電磁閥與機械手電連接，且所述達林頓管的第十一端口連接在其第十二端口上，所述達林頓管的第十三端口連接在其第十四端口上，所述達林頓管的第十五端口連接在其第十六端口上，且所述達林頓管的第七端口和第十端口均懸空。

其中，所述通信控制電路包括接口轉(zhuǎn)換芯片、第七電阻、第八電阻、第九電阻、第十電阻、第一電容、第二電容、第三電容、第四電容、第一二極管和USB接口，所述接口轉(zhuǎn)換芯片的第一端口和第五端口均與FPGA控制器相連；所述接口轉(zhuǎn)換芯片的第四端口通過第一電容接地，且所述接口轉(zhuǎn)換芯片的第十七端口連接在其第四端口與第一電容之間；所述接口轉(zhuǎn)換芯片的第十三端口通過第九電阻接地，且所述接口轉(zhuǎn)換芯片的第十四端口通過第十電阻接地；所述接口轉(zhuǎn)換芯片的第二十端口通過第二電容接地，且所述接口轉(zhuǎn)換芯片的第二十端口與第二電容之間連接有5V電壓；所述第八電阻和第四電容串聯(lián)后形成第一公共端和第二公共端，所述第一公共端與接口轉(zhuǎn)換芯片的第十五端口相連，且所述第二公共端接地；所述第七電阻和第三電容串聯(lián)后形成第三公共端和第四公共端，所述第三公共端與接口轉(zhuǎn)換芯片的第十六端口相連，且所述第四公共端接地；所述USB接口的正極連接在第八電阻與第四電容之間，且所述USB接口的負極連接在第七電阻與第三電容之間，所述USB接口的電源端通過第一二極管連接有5V電壓，且所述USB接口的接地端接地；所述接口轉(zhuǎn)換芯片的第二十五端口、第七端口、第十八端口、第二十一端口和第二十六端口連接后接地，且所述接口轉(zhuǎn)換芯片的第二端口、第三端口、第六端口、第八端口、第九端口、第十端口、第十一端口、第十二端口、第十九端口、第二十二端口、第二十三端口、第二十四端口、第二十七端口和第二十八端口均端口懸空。

其中，所述FPGA控制器的型號為EP4CE15F17C8N，所述光耦的型號為TLP627，所述達林頓管的型號為ULN2003，且所述接口轉(zhuǎn)換芯片的型號為FT232R。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供一種指紋分選機的控制方法，包括以下具體步驟：

步驟1，準(zhǔn)備好分選機、測試機和多個機械手，分選機上設(shè)有托盤和壓板，壓板上設(shè)有與指紋芯片相適配的壓孔，且每個機械手上均設(shè)有測試座；

步驟2，將帶有多個指紋芯片的指紋基板放置到托盤上，每個指紋芯片的指紋感應(yīng)區(qū)開設(shè)有一個通孔，且通過用戶界面輸入相應(yīng)的指紋基板編號；

步驟3，壓板下壓，將彎曲的指紋基板壓平，且指紋芯片的通孔從壓孔中露出；

步驟4，通過用戶界面給下位機通信界面移動指紋基板上第一列指紋芯片的控制指令；

步驟5，下位機通信界面將移動指紋基板上第一列指紋芯片的控制指令發(fā)送給FPGA控制器處理，且FPGA控制器通過伺服電機控制器控制伺服電機，伺服電機將第一列指紋芯片移動到測試座下方；

步驟6，F(xiàn)PGA控制器通過輸出控制電路控制多個機械手下壓，帶動測試座對第一列指紋芯片下壓后，每個指紋芯片的焊盤連接到測試機上，測試機將測試信號加入第一列指紋芯片內(nèi)，且測試機對第一列指紋芯片進行測試；

步驟7，測試機將測試數(shù)據(jù)發(fā)送給分選機，分選機收到測試結(jié)果后保存下來，并顯示在后臺測試機通信界面上；

步驟8，F(xiàn)PGA控制器通過伺服電機控制器控制伺服電機，伺服電機將下一列指紋芯片移動到測試座下方，并重復(fù)執(zhí)行步驟6-7，直至將指紋基板上所有的指紋芯片測試完成；

步驟9，后臺測試機通信界面輸出Map圖，通過查看Map圖確認是否需要自動反檢，如果需要自動反檢，則執(zhí)行步驟10；如果不需要自動反檢，則執(zhí)行步驟12；

步驟10，通過用戶界面點擊開始自動反檢按鍵，機械手移動到失效芯片上，對失效芯片再次測試；重復(fù)測試失效芯片，直到所有失效芯片都重復(fù)測試完成；

步驟11，輸出自動反檢后的Map圖，且機械手對壞的指紋芯片進行標(biāo)記；

步驟12，將指紋基板退出到換板位置；

步驟13，將壓板抬起；

步驟14，更換新的指紋基板，并執(zhí)行步驟1-13，循環(huán)直至測試完畢所有的待測指紋基板。

其中，每個指紋芯片上均設(shè)有傳感器，每次測試座對指紋芯片下壓時，傳感器將測試座下壓指紋芯片的信號發(fā)送給輸入控制電路，且輸入控制電路將該信號發(fā)送給FPGA控制器。

本發(fā)明的有益效果是：

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的指紋分選機的控制系統(tǒng)及控制方法，通過上位機和下位機的配合，實現(xiàn)對指紋芯片的移動，當(dāng)FPGA控制器控制帶有測試座的機械手對指紋芯片下壓時，實現(xiàn)與測試機相連，感應(yīng)器感應(yīng)到機械手下壓，并將感應(yīng)信息發(fā)送給FPGA控制器，使得測試機能夠?qū)χ讣y芯片進行測試，且測試機測試到的數(shù)據(jù)通過上位機輸出Map圖，測試機通過查看Map圖得知指紋芯片的好壞，也可進行自動反檢，直至將所有的指紋芯片區(qū)分好壞，且機械手對壞的指紋芯片進行標(biāo)記，實現(xiàn)對指紋芯片好壞的分選。本發(fā)明采用的FPGA控制器具有響應(yīng)速度快、實時性高、編程靈活的特點，有效提高指紋芯片的分選效率。

附圖說明

圖1為本發(fā)明指紋分選機的控制系統(tǒng)的方框圖；

圖2為本發(fā)明輸入控制電路的電路原理圖；

圖3為本發(fā)明輸出控制電路的電路原理圖；

圖4為本發(fā)明通信控制電路的電路原理圖；

圖5為本發(fā)明通信控制電路中USB接口的電路原理圖；

圖6為本發(fā)明指紋分選機的控制方法的方框流程圖。

主要元件符號說明如下：

1、上位機 2、下位機

3、測試機 4、電磁閥

5、機械手 6、伺服電機

7、指紋芯片 8、感應(yīng)器

21、FPGA控制器 22、輸入控制電路

23、輸出控制電路 24、通信控制電路

25、伺服電機控制器。

具體實施方式

為了更清楚地表述本發(fā)明，下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進一步地描述。

參閱圖1，本發(fā)明指紋分選機的控制系統(tǒng)，包括上位機1和下位機2，下位機2包括FPGA控制器21、輸入控制電路22、輸出控制電路23、通信控制電路24和伺服電機控制器25，上位機1的輸入端連接有用于測試指紋芯片7電性參數(shù)的測試機3，且指紋芯片7上設(shè)有傳感器8，上位機1的通訊端與通信控制電路24交互連接，且通信控制電路24與FPGA控制器21交互連接；輸入控制電路22與上位機1的按鍵相連，且輸入控制電路22與FPGA控制器21的輸入端電連接；FPGA控制器21的第一輸出端與輸出控制電路23的輸入端電連接，輸出控制電路23的輸出端連接有多個機械手5，且FPGA控制器21通過輸出控制電路23控制多個機械手5下壓或上移；FPGA控制器21的第二輸出端與伺服電機控制器25相連，伺服電機控制器25連接有伺服電機6，且伺服電機6驅(qū)動與指紋芯片7驅(qū)動連接；

指紋芯片7安置在分選機的托盤上，F(xiàn)PGA控制器21通過伺服電機控制器25驅(qū)動伺服電機6帶動指紋芯片7移動到機械手5的測試座下，F(xiàn)PGA控制器21控制機械手5下壓后，機械手5的測試座接觸到指紋芯片7的感應(yīng)區(qū)后，測試機3對指紋芯片7進行測試，且測試機3測試到的數(shù)據(jù)通過上位機1輸出。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的指紋分選機的控制系統(tǒng)，通過上位機1和下位機2的配合，實現(xiàn)對指紋芯片7的移動，當(dāng)FPGA控制器21控制帶有測試座的機械手5對指紋芯片7下壓時，實現(xiàn)與測試機3相連，感應(yīng)器8感應(yīng)到機械手7下壓，并將感應(yīng)信息發(fā)送給FPGA控制器21，使得測試機3能夠?qū)χ讣y芯片7進行測試，且測試機3測試到的數(shù)據(jù)通過上位機1輸出Map圖，測試機通過查看Map圖得知指紋芯片7的好壞，也可進行自動反檢，直至將所有的指紋芯片7區(qū)分好壞，且機械手5對壞的指紋芯片7進行標(biāo)記，實現(xiàn)對指紋芯片7好壞的分選。本發(fā)明采用的FPGA控制器21具有響應(yīng)速度快、實時性高、編程靈活的特點，有效提高指紋芯片7的分選效率。

本實施例中，上位機1為PC，PC內(nèi)安裝有開發(fā)平臺，開發(fā)平臺上設(shè)有用戶界面、后臺測試機通信界面和下位機通信界面，用戶界面用于處理用戶消息，用戶界面將用戶消息指令發(fā)送到后臺測試機通信界面和下位機通信界面，后臺測試機通信界面接收用戶界面消息指令，且將消息指令發(fā)送給測試機3；下位機通信界面接收用戶界面消息指令，且控制下位機2執(zhí)行指令動作。本案中的開發(fā)平臺為Microsoft Visual Studio 2010，上位機1軟件分為用戶界面、后臺測試機通信界面和下位機通信界面，即UI界面、后臺測試機通信、下位機通信幾個模塊。UI界面用于處理用戶消息，包括產(chǎn)品信息輸入，測試指令等，然后將消息發(fā)往后臺測試通信和下位機通信等模塊；后臺測試機通信處理用于接收UI指令，發(fā)送相關(guān)信息給測試機，進行測試，接收測試機的測試結(jié)果，返回給UI；下位機通信用于接收UI指令，控制下位機執(zhí)行相關(guān)動作。

本實施例中，下位機2還包括電源模塊（圖未示），系統(tǒng)電源與電源模塊的輸入端電連接，電源模塊的輸出端與傳感器8的電源端電連接，電源模塊將系統(tǒng)電源的5V轉(zhuǎn)換為3.3V后，電源模塊給傳感器8供電，且系統(tǒng)電源與FPGA控制器21的電源端電連接。電源模塊為現(xiàn)有技術(shù)中常用的電源轉(zhuǎn)換電路，傳感器8的工作電壓為3.3V，而傳感器8內(nèi)部沒有電源轉(zhuǎn)換電路，因此需要把系統(tǒng)電源的5V電壓轉(zhuǎn)換成3.3V電壓，就能夠給傳感器8供電；FPGA控制器21內(nèi)部含有電源轉(zhuǎn)換電路，可將系統(tǒng)電源的5V電壓直接轉(zhuǎn)換成3.3V電壓使用，因此系統(tǒng)電源可以直接給FPGA控制器21供電。

請參閱圖2，輸入控制電路22包括多個輸入控制單元，每個輸入控制單元均包括第一電阻R1、光耦U1、第二電阻R2和第三電阻R3，第一電阻R1的一端與光耦U1的第一端口連接，第一電阻R1的另一端連接有24V電壓；光耦U1的第二端口與對應(yīng)的傳感器8連接，光耦U1的第三端口通過第二電阻R2接地，光耦U1的第三端口通過第三電阻R3與FPGA控制器21的輸入端連接，且光耦U1的第四端口連接有3V電壓。

本案中輸入控制電路22外部接傳感器8或開關(guān)。當(dāng)傳感器8有感應(yīng)或開關(guān)閉合時，會有電流流過TLP627光耦，第一電阻R1用于限制流過光耦U1的電流，此時光耦U1輸出導(dǎo)通，F(xiàn)PGA控制器21為高電平；當(dāng)傳感器8沒有感應(yīng)且開關(guān)斷開，沒有電流流過光耦U1，光耦U1輸出不導(dǎo)通，且FPGA控制器21為低電平。

請參閱圖3，輸出控制電路23包括多個輸出控制單元，每個輸出控制單元均包括達林頓管U2、第四電阻R4、第五電阻R5和第六電阻R6，F(xiàn)PGA控制器21的第一輸出端通過第四電阻R4與達林頓管U2的第二端口相連，且達林頓管U2的第一端口連接達林頓管U2的第二端口與第四電阻R4之間；FPGA控制器21的第二輸出端通過第五電阻R5與達林頓管U2的第四端口相連，且達林頓管U2的第三端口連接在達林頓管U2的第四端口與第五電阻R5之間；FPGA控制器21的第三輸出端通過第六電阻R6與達林頓管U2的第六端口相連，且達林頓管U2的第五端口連接在達林頓管U2的第六端口與第六電阻R6之間；達林頓管U2的第八端口接地，達林頓管U2的第九端口連接有24V電壓；達林頓管U2的第十二端口、第十四端口和第十六端口分別連接有電磁閥4，電磁閥4與機械手5電連接，且達林頓管U2的第十一端口連接在其第十二端口上，達林頓管U2的第十三端口連接在其第十四端口上，達林頓管U2的第十五端口連接在其第十六端口上，且達林頓管U2的第七端口和第十端口均懸空。

請參閱圖4-5，通信控制電路24包括接口轉(zhuǎn)換芯片U3、第七電阻R7、第八電阻R8、第九電阻R9、第十電阻R10、第一電容C1、第二電容C2、第三電容C3、第四電容C4、第一二極管D1和USB接口J1，接口轉(zhuǎn)換芯片U3的第一端口和第五端口均與FPGA控制器21相連；接口轉(zhuǎn)換芯片U3的第四端口通過第一電容C1接地，且接口轉(zhuǎn)換芯片U3的第十七端口連接在其第四端口與第一電容C1之間；接口轉(zhuǎn)換芯片U3的第十三端口通過第九電阻R9接地，且接口轉(zhuǎn)換芯片U3的第十四端口通過第十電阻R10接地；接口轉(zhuǎn)換芯片U3的第二十端口通過第二電容C2接地，且接口轉(zhuǎn)換芯片U3的第二十端口與第二電容C2之間連接有5V電壓；第八電阻R8和第四電容C4串聯(lián)后形成第一公共端和第二公共端，第一公共端與接口轉(zhuǎn)換芯片U3的第十五端口相連，且第二公共端接地；第七電阻R7和第三電容C3串聯(lián)后形成第三公共端和第四公共端，第三公共端與接口轉(zhuǎn)換芯片U3的第十六端口相連，且第四公共端接地；USB接口J1的正極連接在第八電阻R8與第四電容C4之間，且USB接口J1的負極連接在第七電阻R7與第三電容C3之間，USB接口J1的電源端通過第一二極管D1連接有5V電壓，且USB接口J1的接地端接地；接口轉(zhuǎn)換芯片U3的第二十五端口、第七端口、第十八端口、第二十一端口和第二十六端口連接后接地，且接口轉(zhuǎn)換芯片U3的第二端口、第三端口、第六端口、第八端口、第九端口、第十端口、第十一端口、第十二端口、第十九端口、第二十二端口、第二十三端口、第二十四端口、第二十七端口和第二十八端口均端口懸空。

本實施例中，F(xiàn)PGA控制器21的型號為EP4CE15F17C8N，光耦的型號為TLP627，達林頓管U2的型號為ULN2003，且接口轉(zhuǎn)換芯片U3的型號為FT232R。

輸出控制電路23，采用ULN2003的達林頓管，每路驅(qū)動電流可達500mA。ULN2003是一個單片高電壓、高電流的達林頓晶體管陣列集成電路，它是由 7 對NPN達林頓管組成的，它的高電壓輸出特性和陰極箝位二極管可以轉(zhuǎn)換感應(yīng)負載。單個達林頓對的集電極電流是500mA，而達林頓管并聯(lián)可以承受更大的電流。

請參閱圖6，為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供一種指紋分選機的控制方法，包括以下具體步驟：

步驟S1，準(zhǔn)備好分選機、測試機和多個機械手，分選機上設(shè)有托盤和壓板，壓板上設(shè)有與指紋芯片相適配的壓孔，且每個機械手上均設(shè)有測試座；

步驟S2，將帶有多個指紋芯片的指紋基板放置到托盤上，每個指紋芯片的指紋感應(yīng)區(qū)開設(shè)有一個通孔，且通過用戶界面輸入相應(yīng)的指紋基板編號；

步驟S3，壓板下壓，將彎曲的指紋基板壓平，且指紋芯片的通孔從壓孔中露出；

步驟S4，通過用戶界面給下位機通信界面移動指紋基板上第一列指紋芯片的控制指令；

步驟S5，下位機通信界面將移動指紋基板上第一列指紋芯片的控制指令發(fā)送給FPGA控制器處理，且FPGA控制器通過伺服電機控制器控制伺服電機，伺服電機將第一列指紋芯片移動到測試座下方；

步驟S6，F(xiàn)PGA控制器通過輸出控制電路控制多個機械手下壓，帶動測試座對第一列指紋芯片下壓后，每個指紋芯片的焊盤連接到測試機上，測試機將測試信號加入第一列指紋芯片內(nèi)，且測試機對第一列指紋芯片進行測試；

步驟S7，測試機將測試數(shù)據(jù)發(fā)送給分選機，分選機收到測試結(jié)果后保存下來，并顯示在后臺測試機通信界面上；

步驟S8，F(xiàn)PGA控制器通過伺服電機控制器控制伺服電機，伺服電機將下一列指紋芯片移動到測試座下方，并重復(fù)執(zhí)行步驟S6-S7，直至將指紋基板上所有的指紋芯片測試完成；

步驟S9，后臺測試機通信界面輸出Map圖，通過查看Map圖確認是否需要自動反檢，如果需要自動反檢，則執(zhí)行步驟S10；如果不需要自動反檢，則執(zhí)行步驟S12；

步驟S10，通過用戶界面點擊開始自動反檢按鍵，機械手移動到失效芯片上，對失效芯片再次測試；重復(fù)測試失效芯片，直到所有失效芯片都重復(fù)測試完成；

步驟S11，輸出自動反檢后的Map圖，且機械手對失效芯片進行標(biāo)記；

步驟S12，將指紋基板退出到換板位置；

步驟S13，將壓板抬起；

步驟S14，更換新的指紋基板，并執(zhí)行步驟S1-S13，循環(huán)直至測試完畢所有的待測指紋基板。

本方案靈活編程，控制伺服電機響應(yīng)速度高，上位機采用PC編程UI界面，界面識別度高，用戶不易按錯，方便閱讀和使用，F(xiàn)PGA控制器速度高，響應(yīng)速度快。編程靈活。使用成本低，且擴展成本低。

本實施例中，每個指紋芯片上均設(shè)有傳感器，每次測試座對指紋芯片下壓時，傳感器將測試座下壓指紋芯片的信號發(fā)送給輸入控制電路，且輸入控制電路將該信號發(fā)送給FPGA控制器。

本發(fā)明的優(yōu)勢在于：

本發(fā)明的指紋分選機的控制方法，與現(xiàn)有技術(shù)相比，通過上位機和下位機的配合，實現(xiàn)對指紋芯片的移動，當(dāng)FPGA控制器控制帶有測試座的機械手對指紋芯片下壓時，實現(xiàn)與測試機相連，感應(yīng)器感應(yīng)到機械手下壓，并將感應(yīng)信息發(fā)送給FPGA控制器，使得測試機能夠?qū)χ讣y芯片進行測試，且測試機測試到的數(shù)據(jù)通過上位機輸出Map圖，測試機通過查看Map圖得知指紋芯片的好壞，也可進行自動反檢，直至將所有的指紋芯片區(qū)分好壞，且機械手對壞的指紋芯片進行標(biāo)記，實現(xiàn)對指紋芯片好壞的分選；本技術(shù)采用FPGA為控制器，上位機為PC電腦。本發(fā)明采用的FPGA控制器具有響應(yīng)速度快、實時性高、編程靈活的特點，有效提高指紋芯片的分選效率。

以上公開的僅為本發(fā)明的幾個具體實施例，但是本發(fā)明并非局限于此，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員能思之的變化都應(yīng)落入本發(fā)明的保護范圍。