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芯片型元件測試包裝機(jī)的芯片極性反轉(zhuǎn)裝置的制作方法

文檔序號:4330250閱讀:307來源:國知局
專利名稱:芯片型元件測試包裝機(jī)的芯片極性反轉(zhuǎn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及一種元件測試包裝機(jī)的機(jī)構(gòu),尤指一種芯片型元件測試包裝機(jī)的
芯片極性反轉(zhuǎn)裝置。
背景技術(shù)
電子產(chǎn)業(yè)所使用的芯片具有極性,當(dāng)包裝芯片時,必須先利用測試包裝機(jī)進(jìn)行芯 片極性的對齊整理,以便于后續(xù)包裝時,各芯片極性的排列能夠一致。 目前一般現(xiàn)有的芯片型元件測試包裝機(jī)的芯片極性反轉(zhuǎn),如TW證書號M350807號 專利案號專利案,如圖3、圖4所示,主要設(shè)有測盤81、進(jìn)料軌道82、包裝帶裝填區(qū)83、極性 檢測裝置84及反轉(zhuǎn)軌道85,測盤81沿著周緣間隔開設(shè)有復(fù)數(shù)個可置放芯片90的容槽811 , 并于各容槽811設(shè)置有一氣道812,各氣道812連接至一高壓空氣源或一真空源而達(dá)到吹送 或吸取芯片90的功能,且于測盤81的旁側(cè)裝設(shè)有該進(jìn)料軌道82與該包裝帶裝填區(qū)83,再 于進(jìn)料軌道82與包裝帶裝填區(qū)83之間沿著測盤81依序裝設(shè)有極性檢測裝置84與U形的 反轉(zhuǎn)軌道85,且反轉(zhuǎn)軌道85兩端的入口 851與出口 852恰可分別與測盤81上相鄰的兩容 槽811相對應(yīng);芯片90被氣道812吹送至反轉(zhuǎn)軌道85再回到相對應(yīng)的容槽811,借此可完 成芯片極性反轉(zhuǎn)。 然而,芯片材料稍大或具有毛邊且由于反轉(zhuǎn)軌道85呈U形而具有R角,芯片90在 通過反轉(zhuǎn)軌道85時容易卡住不順暢,便利性不佳;因此,現(xiàn)有的芯片極性反轉(zhuǎn)裝置存有芯 片無法順暢通過而卡住的問題,實有改善的必要。

發(fā)明內(nèi)容為解決現(xiàn)有的芯片型元件測試包裝機(jī)的芯片極性反轉(zhuǎn)裝置有關(guān)于芯片無法順暢
通過而卡住的缺點與限制,本實用新型的目的在于提供一種芯片型元件測試包裝機(jī)的芯片
極性反轉(zhuǎn)裝置,利用裝設(shè)于測盤旁的一對轉(zhuǎn)動盤及三個與測盤及轉(zhuǎn)動盤、轉(zhuǎn)動盤之間相連
接的直線軌道,使芯片透過該對轉(zhuǎn)動盤的運(yùn)送而回到測盤,借此完成芯片極性反轉(zhuǎn)。 本實用新型所運(yùn)用的技術(shù)手段在于提供一種芯片型元件測試包裝機(jī)的芯片極性
反轉(zhuǎn)裝置,包括 —測盤,其可轉(zhuǎn)動并設(shè)有復(fù)數(shù)個容槽;該復(fù)數(shù)個容槽間隔開設(shè)于該測盤的一周 緣; —第一轉(zhuǎn)動盤,其設(shè)于鄰近該測盤處,該第一轉(zhuǎn)動盤可轉(zhuǎn)動且設(shè)有復(fù)數(shù)個第一置 槽,該復(fù)數(shù)個第一置槽開設(shè)于該第一轉(zhuǎn)動盤的一周緣; —第二轉(zhuǎn)動盤,其設(shè)于鄰近該第一轉(zhuǎn)動盤及該測盤處,該第二轉(zhuǎn)動盤可轉(zhuǎn)動且設(shè) 有復(fù)數(shù)個第二置槽,該復(fù)數(shù)個第二置槽開設(shè)于該第二轉(zhuǎn)動盤的一周緣; —第一軌道,其設(shè)于該測盤與該第一轉(zhuǎn)動盤之間,該第一軌道呈直線且其兩端分 別對齊于相對應(yīng)的容槽與相對應(yīng)的第一置槽; —第二軌道,其設(shè)于該兩轉(zhuǎn)動盤之間,該第二軌道呈直線且其兩端分別對齊于相對應(yīng)的第一置槽與相對應(yīng)的第二置槽;以及 —第三軌道,其設(shè)于該測盤與該第二轉(zhuǎn)動盤之間,該第三軌道呈直線且其兩端分 別對齊于相對應(yīng)的容槽與相對應(yīng)的第二置槽。 本實用新型所提供的芯片型元件測試包裝機(jī)的芯片極性反轉(zhuǎn)裝置,可以獲得的具 體效益及功效增進(jìn)至少包括 1.芯片移動順暢本實用新型利用裝設(shè)于測盤旁的一對轉(zhuǎn)動盤及三個直線軌道, 使芯片經(jīng)過一對轉(zhuǎn)動盤的轉(zhuǎn)送而回到測盤,借此完成芯片極性反轉(zhuǎn);由于過程中芯片的移 動皆為直線動作,其移動較為順暢。

圖1為本實用新型較佳實施例的平面圖; 圖2為本實用新型較佳實施例的芯片反轉(zhuǎn)示意圖; 圖3為現(xiàn)有的芯片極性反轉(zhuǎn)裝置的平面圖;以及 圖4為現(xiàn)有的芯片極性反轉(zhuǎn)裝置的斷面圖。
具體實施方式為能詳細(xì)了解本實用新型的技術(shù)特征及實用功效,并可依照說明書的內(nèi)容來實 施,茲進(jìn)一步以如圖式所示的較佳實施例,詳細(xì)說明如后 本實用新型所提供的一種芯片型元件測試包裝機(jī)的芯片極性反轉(zhuǎn)裝置的較佳實 施例,如圖l所示,包括一運(yùn)送機(jī)構(gòu)10、一第一轉(zhuǎn)動盤20、一第二轉(zhuǎn)動盤30、一第一軌道 40、一第二軌道50及一第三軌道60等元件,其中 如圖1及圖2所示,該運(yùn)送機(jī)構(gòu)10包括一測盤11、一進(jìn)料軌道12、一包裝帶裝填 區(qū)13及一極性檢測裝置14 ;該測盤11呈圓形并可轉(zhuǎn)動并設(shè)有復(fù)數(shù)個容槽111及復(fù)數(shù)個測 盤氣道;該復(fù)數(shù)個容槽111間隔開設(shè)于該測盤11的一周緣,各容槽111可置放芯片A ;該復(fù) 數(shù)個測盤氣道分別相對應(yīng)設(shè)置于該復(fù)數(shù)個容槽111內(nèi),各測盤氣道連接至一高壓空氣源或
一真空源而達(dá)到吹送或吸取芯片A的功能;該進(jìn)料軌道12設(shè)于該測盤11的一側(cè);該包裝
帶裝填區(qū)13設(shè)于該測盤11異于該進(jìn)料軌道12的一側(cè)并可進(jìn)行芯片A后續(xù)輸送包裝作業(yè); 該極性檢測裝置14位于該進(jìn)料軌道12異于靠近該包裝帶裝填區(qū)13的一側(cè)并鄰近該測盤 11。 如圖1所示,該第一轉(zhuǎn)動盤20設(shè)于鄰近該極性檢測裝置14及該測盤11處;該第 一轉(zhuǎn)動盤20呈圓形且略小于該測盤11并可轉(zhuǎn)動,且設(shè)有復(fù)數(shù)個第一置槽21及復(fù)數(shù)個第一 氣道;該復(fù)數(shù)個第一置槽21間隔開設(shè)于該第一轉(zhuǎn)動盤20的一周緣,各第一置槽21可容置 芯片A ;該復(fù)數(shù)個第一氣道分別相對應(yīng)設(shè)置于該復(fù)數(shù)個第一置槽21內(nèi)且結(jié)構(gòu)與功能大致與 各測盤氣道相同。 如圖1所示,該第二轉(zhuǎn)動盤30設(shè)于鄰近該第一轉(zhuǎn)動盤20及該測盤11處且形狀與
構(gòu)造與該第一轉(zhuǎn)動盤20相同并設(shè)有復(fù)數(shù)個第二置槽31及復(fù)數(shù)個第二氣道。 如圖1所示,該第一軌道40設(shè)于該測盤11與該第一轉(zhuǎn)動盤20之間,該第一軌道
40呈直線且其兩端分別對齊于相對應(yīng)的容槽111與相對應(yīng)的第一置槽21。 如圖1所示,該第二軌道50設(shè)于該兩轉(zhuǎn)動盤20與30之間,該第二軌道50呈直線
4且其兩端分別對齊于相對應(yīng)的第一置槽21與相對應(yīng)的第二置槽31。 如圖1所示,該第三軌道60設(shè)于該測盤11與該第二轉(zhuǎn)動盤30之間,該第三軌道 60與該第一軌道40相同且其兩端分別對齊于相對應(yīng)的容槽111與相對應(yīng)的第二置槽31。 如圖1、圖2所示,本實用新型于實施使用時,芯片A經(jīng)由進(jìn)料軌道12依序輸送至 測盤11的容槽lll,若芯片A被極性檢測裝置14檢測出極性排列不正確時,測盤11的容槽 111會在與第一軌道40對齊時,測盤氣道將會把芯片A由容槽111吹送至第一軌道40而進(jìn) 入第一置槽21 ;第一轉(zhuǎn)動盤20旋轉(zhuǎn)而與第二軌道50對齊時,第一氣道將芯片A吹送至第 二置槽31 ;接下來,第二轉(zhuǎn)動盤30旋轉(zhuǎn)而與第三軌道60對齊時,第二氣道再將芯片A吹送 至容槽111 ;借此,可完成芯片A極性反轉(zhuǎn)的動作,由于本實用新型過程中芯片A的移動皆 為直線動作,移動順暢性較佳,明顯優(yōu)于現(xiàn)有技術(shù)。
權(quán)利要求一種芯片型元件測試包裝機(jī)的芯片極性反轉(zhuǎn)裝置,其特征在于,包括一測盤,其可轉(zhuǎn)動并設(shè)有復(fù)數(shù)個容槽;該復(fù)數(shù)個容槽間隔開設(shè)于該測盤的一周緣;一第一轉(zhuǎn)動盤,其設(shè)于鄰近該測盤處,該第一轉(zhuǎn)動盤可轉(zhuǎn)動且設(shè)有復(fù)數(shù)個第一置槽,該復(fù)數(shù)個第一置槽開設(shè)于該第一轉(zhuǎn)動盤的一周緣;一第二轉(zhuǎn)動盤,其設(shè)于鄰近該第一轉(zhuǎn)動盤及該測盤處,該第二轉(zhuǎn)動盤可轉(zhuǎn)動且設(shè)有復(fù)數(shù)個第二置槽,該復(fù)數(shù)個第二置槽開設(shè)于該第二轉(zhuǎn)動盤的一周緣;一第一軌道,其設(shè)于該測盤與該第一轉(zhuǎn)動盤之間,該第一軌道呈直線且其兩端分別對齊于相對應(yīng)的容槽與相對應(yīng)的第一置槽;一第二軌道,其設(shè)于該兩轉(zhuǎn)動盤之間,該第二軌道呈直線且其兩端分別對齊于相對應(yīng)的第一置槽與相對應(yīng)的第二置槽;以及一第三軌道,其設(shè)于該測盤與該第二轉(zhuǎn)動盤之間,該第三軌道呈直線且其兩端分別對齊于相對應(yīng)的容槽與相對應(yīng)的第二置槽。
專利摘要一種芯片型元件測試包裝機(jī)的芯片極性反轉(zhuǎn)裝置,包括一測盤、一裝設(shè)于該測盤旁的一對轉(zhuǎn)動盤及三個與該測盤及該對轉(zhuǎn)動盤、該對轉(zhuǎn)動盤之間相連接的直線軌道,在測盤上的芯片經(jīng)過該對轉(zhuǎn)動盤及軌道的運(yùn)送而回到測盤上,借此完成芯片極性反轉(zhuǎn)的動作;由于過程中芯片的移動皆為直線動作,其移動較為順暢。
文檔編號B65B35/56GK201484688SQ20092017415
公開日2010年5月26日 申請日期2009年8月21日 優(yōu)先權(quán)日2009年8月21日
發(fā)明者廖連亨 申請人:廖連亨
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