帶探頭測量的高光機(jī)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種雕刻機(jī)，特別是一種帶(XD定位裝置的雕刻機(jī)。
【背景技術(shù)】
[0002]數(shù)控高光機(jī)是根據(jù)其加工產(chǎn)品的特點(diǎn)而命名的，其外形類似雕刻機(jī)(或者是精雕機(jī))，主軸選用100000RPM的氣浮主軸，在加工產(chǎn)品時，達(dá)到鏡面效果，看不到刀紋。目前數(shù)控高光機(jī)的別名也比較多，例如倒邊機(jī)、亮邊機(jī)、數(shù)控倒角高光機(jī)等等，數(shù)控高光機(jī)對技術(shù)要求較高，配件的要求比普通的雕刻機(jī)的也要高很多。采用電腦控制，不用工作人員守在器械旁邊，方便快捷，可控性高，采用龍門結(jié)構(gòu)，提高機(jī)床穩(wěn)定性；整機(jī)采用花崗巖床身、提高機(jī)床的精密度，穩(wěn)定度；雙工作臺反復(fù)交替加工零件，廣泛適用于單件加工時間短、需頻繁裝卸工件的場合，大幅度提高機(jī)床的加工率和利用率；該款設(shè)備結(jié)構(gòu)穩(wěn)定，精密度高，加工產(chǎn)品的表面效果極佳。
[0003]中國專利CN 203527133公開了一種數(shù)控高光機(jī)，包括底座和設(shè)于底座上的床身，所述底座相對床身的一面設(shè)有工作臺，所述工作臺設(shè)有工件安裝座，所述床身設(shè)有加工刀具，所述工作臺由若干間隔設(shè)置的隔板構(gòu)成，所述隔板間設(shè)有用于水和廢肩落入的出料間隙，所述底座內(nèi)設(shè)有用于容納廢料的容腔，所述容腔內(nèi)設(shè)有廢肩托盤。
[0004]但是該裝置過于復(fù)雜，對產(chǎn)品形狀的測量準(zhǔn)確度不高，加工質(zhì)量達(dá)不到客戶要求。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0005]為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)的不足之處，本實(shí)用新型的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)簡單、自動化程度高的帶探頭測量的高光機(jī)，以克服現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷。
[0006]為此，本實(shí)用新型提供了一種帶探頭測量的高光機(jī)，所述高光機(jī)包括機(jī)架、工作空間、高光機(jī)構(gòu)和探頭測量機(jī)構(gòu)。機(jī)架為中空腔體，所述中空腔體內(nèi)的下方形成有一封閉的工作空間；工作空間的上方設(shè)置有一可左右、前后和上下方向運(yùn)動的高光機(jī)構(gòu)，高光機(jī)構(gòu)的水平一側(cè)設(shè)有探頭測量機(jī)構(gòu)；探頭測量機(jī)構(gòu)包括框架、探頭裝置)、測量頭；框架為探頭測量機(jī)構(gòu)的外殼，框架內(nèi)的底部容納有可上下自由運(yùn)動的帶有測量頭的探頭裝置，測量頭可自由伸出框架外并對工件進(jìn)行測量。
[0007]作為對本實(shí)用新型所述的帶探頭測量的高光機(jī)的進(jìn)一步說明，框架的內(nèi)側(cè)面設(shè)有垂直方向架設(shè)的導(dǎo)軌，探頭裝置)通過滑塊可自由滑動地安裝于導(dǎo)軌上。
[0008]作為對本實(shí)用新型所述的帶探頭測量的高光機(jī)的進(jìn)一步說明，框架內(nèi)設(shè)有一固定于框架內(nèi)側(cè)面上的探頭夾套，探頭裝置夾設(shè)于探頭夾套(46)內(nèi)可上下運(yùn)動。
[0009]作為對本實(shí)用新型所述的帶探頭測量的高光機(jī)的進(jìn)一步說明，正對于探頭裝置的位置的框架的底部開設(shè)有一開口，測量頭通過開口自由伸縮。
[0010]由此可見，本實(shí)用新型提供的一種帶探頭測量的高光機(jī)，其特征在于，所述帶探頭測量的高光機(jī)包括機(jī)架，機(jī)架的中空腔體內(nèi)形成有一封閉的工作空間；工作空間的上方設(shè)置有一可左右、前后和上下方向運(yùn)動的高光機(jī)構(gòu)，高光機(jī)構(gòu)的水平一側(cè)設(shè)有探頭測量機(jī)構(gòu)；探頭測量機(jī)構(gòu)包括一框架，框架內(nèi)容納設(shè)有可上下自由運(yùn)動的探頭裝置，使探頭裝置的測量頭可自由伸出框架外并對工件進(jìn)行測量。本實(shí)驗(yàn)新型結(jié)構(gòu)簡單、測量精度高，能大大提高帶探頭測量的高光機(jī)的工作質(zhì)量。
【附圖說明】
[0011]圖1是本實(shí)用新型的帶探頭測量的高光機(jī)的整機(jī)立體圖；
[0012]圖2是本實(shí)用新型的探頭測量機(jī)構(gòu)的外部結(jié)構(gòu)圖；
[0013]圖3是本實(shí)用新型的探頭測量機(jī)構(gòu)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖；
[0014]附圖標(biāo)記說明如下:
[0015]機(jī)架1、工作空間2、高光機(jī)構(gòu)3、探頭測量機(jī)構(gòu)4、框架41、探頭裝置42、測量頭43、導(dǎo)軌44、滑塊45、探頭夾套46。
【具體實(shí)施方式】
[0016]為了使審查員能夠進(jìn)一步了解本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)、特征及其他目的，現(xiàn)結(jié)合所附較佳實(shí)施例附以附圖詳細(xì)說明如下，本附圖所說明的實(shí)施例僅用于說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案，并非限定本實(shí)用新型。
[0017]首先，請參考圖1，圖1是本實(shí)用新型的一種帶探頭測量的高光機(jī)。如圖1所示，所述高光機(jī)包括機(jī)架1、工作空間2、高光機(jī)構(gòu)3和探頭測量機(jī)構(gòu)4。機(jī)架1為中空腔體，所述中空腔體內(nèi)的下方形成有一封閉的工作空間2 ;工作空間2的上方設(shè)置有一可左右、前后和上下方向運(yùn)動的高光機(jī)構(gòu)3，高光機(jī)構(gòu)3的水平一側(cè)設(shè)有探頭測量機(jī)構(gòu)4 ;探頭測量機(jī)構(gòu)4包括框架41、探頭裝置42、測量頭43 ;框架41為探頭測量機(jī)構(gòu)4的外殼，框架41內(nèi)的底部容納有可上下自由運(yùn)動的帶有測量頭43的探頭裝置42，測量頭43可自由伸出框架41外并對工件進(jìn)行測量，最好，正對于探頭裝置42的位置的框架41的底部開設(shè)有一開口，測量頭43通過開口 44自由伸縮。框架41的內(nèi)側(cè)面設(shè)有垂直方向架設(shè)的導(dǎo)軌44，探頭裝置42通過滑塊45可自由滑動地安裝于導(dǎo)軌44上。此外，框架41內(nèi)設(shè)有一固定于框架41內(nèi)側(cè)面上的探頭夾套46，探頭裝置42夾設(shè)于探頭夾套46內(nèi)可上下運(yùn)動。這樣，本實(shí)驗(yàn)新型結(jié)構(gòu)簡單、測量精度高，大大地提高帶探頭測量的高光機(jī)的工作質(zhì)量。
[0018]需要聲明的是，上述【實(shí)用新型內(nèi)容】及【具體實(shí)施方式】意在證明本實(shí)用新型所提供技術(shù)方案的實(shí)際應(yīng)用，不應(yīng)解釋為對本實(shí)用新型保護(hù)范圍的限定。本領(lǐng)域技術(shù)人員在本實(shí)用新型的精神和原理內(nèi)，當(dāng)可作各種修改、等同替換或改進(jìn)。本實(shí)用新型的保護(hù)范圍以所附權(quán)利要求書為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種帶探頭測量的高光機(jī)，所述高光機(jī)包括機(jī)架(1)、工作空間(2)、高光機(jī)構(gòu)(3)和探頭測量機(jī)構(gòu)(4);其特征在于， 機(jī)架(1)為中空腔體，所述中空腔體內(nèi)的下方形成有一封閉的工作空間(2); 工作空間(2)的上方設(shè)置有一可左右、前后和上下方向運(yùn)動的高光機(jī)構(gòu)(3)，高光機(jī)構(gòu)(3)的水平一側(cè)設(shè)有探頭測量機(jī)構(gòu)(4); 探頭測量機(jī)構(gòu)(4)包括框架(41)、探頭裝置(42)、測量頭(43);框架(41)為探頭測量機(jī)構(gòu)(4)的外殼，框架(41)內(nèi)的底部容納有可上下自由運(yùn)動的帶有測量頭(43)的探頭裝置(42)，測量頭(43)可自由伸出框架(41)外并對工件進(jìn)行測量。2.如權(quán)利要求1所述的高光機(jī)，其特征在于，框架(41)的內(nèi)側(cè)面設(shè)有垂直方向架設(shè)的導(dǎo)軌(44)，探頭裝置(42)通過滑塊(45)可自由滑動地安裝于導(dǎo)軌(44)上。3.如權(quán)利要求1所述的高光機(jī)，其特征在于，框架(41)內(nèi)設(shè)有一固定于框架(41)內(nèi)側(cè)面上的探頭夾套(46)，探頭裝置(42)夾設(shè)于探頭夾套(46)內(nèi)可上下運(yùn)動。4.如權(quán)利要求1所述的高光機(jī)，其特征在于，正對于探頭裝置(42)的位置的框架(41)的底部開設(shè)有一開口，測量頭(43)通過開口(44)自由伸縮。
【專利摘要】本實(shí)用新型提供的一種帶探頭測量的高光機(jī)，所述高光機(jī)包括機(jī)架、工作空間、高光機(jī)構(gòu)和探頭測量機(jī)構(gòu)。機(jī)架為中空腔體，所述中空腔體內(nèi)的下方形成有一封閉的工作空間；工作空間的上方設(shè)置有一可左右、前后和上下方向運(yùn)動的高光機(jī)構(gòu)，高光機(jī)構(gòu)的水平一側(cè)設(shè)有探頭測量機(jī)構(gòu)；探頭測量機(jī)構(gòu)包括框架、探頭裝置)、測量頭；框架為探頭測量機(jī)構(gòu)的外殼，框架內(nèi)的底部容納有可上下自由運(yùn)動的帶有測量頭的探頭裝置，測量頭可自由伸出框架外并對工件進(jìn)行測量。本實(shí)驗(yàn)新型結(jié)構(gòu)簡單、測量精度高，能大大提高帶探頭測量的高光機(jī)的工作質(zhì)量。
【IPC分類】B23K26/70, B23K26/36
【公開號】CN204975708
【申請?zhí)枴緾N201520733172
【發(fā)明人】葉賢松
【申請人】東莞市迪奧數(shù)控設(shè)備有限公司
【公開日】2016年1月20日
【申請日】2015年9月21日