本發(fā)明涉及軸類零件的檢測方法，尤其涉及一種軸的檢測方法、系統(tǒng)、設備及存儲介質。

背景技術：

1、隨著數控技術的應用逐漸成熟，以數控機床為代表的先進制造系統(tǒng)已成為提高制造業(yè)質量、效率和降低成本的有效途徑，尤其是在加工軸類、回轉體類和盤類等復雜型面零件上體現出巨大的優(yōu)越性。數控機床以其高度自動化和精密控制的特點，在現代制造業(yè)中占據著重要地位。它不僅極大地提高了生產效率，減少了人為錯誤，還能夠實現復雜幾何形狀零件的精準加工。這些特點使得數控機床成為航空航天、汽車制造、精密儀器等多個領域的首選加工設備。在傳統(tǒng)制造工藝中，手動操作機床不僅耗時且容易產生誤差，而數控機床通過預編程的指令自動執(zhí)行加工任務，大大減少了操作人員的工作強度，并且顯著提高了生產速度和產品一致性。特別是在軸類零件（如發(fā)動機主軸、傳動軸等）、回轉體類零件（如齒輪、渦輪葉片等）和盤類零件（如飛輪、剎車盤等）的加工過程中，數控機床的優(yōu)勢尤為明顯。這些零件往往具有較高的精度要求和復雜的幾何結構，傳統(tǒng)的加工手段難以滿足現代工業(yè)的要求。

2、車削加工零件時常用的檢測方法有三坐標測量機檢測。該方法對被測零件無接觸，測量精度很高，能反映零件整體誤差，為目前最普遍的檢測手段。但該方法測量效率低，無法進行在線檢測。另外，針對圓周對稱或有回轉軸線的部件，該方法需分不同截面進行檢測，測量過程繁瑣，檢測效率不高。

技術實現思路

1、本發(fā)明提供了一種軸的檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質，以實現通過設定明確的校核步驟，避免復雜的計算和多次重復測量，提高檢測工作的效率。

2、第一方面，為了解決上述技術問題，本發(fā)明提供了一種軸的檢測方法，包括：

3、獲取被測軸端面上的被測點坐標和被測軸端面上的基準點坐標；

4、根據所述被測點坐標和所述基準點坐標，計算被測軸的跳動值；

5、根據所述基準點坐標，通過求導法計算，得到測量位點坐標；

6、根據所述測量位點坐標，通過坐標校核模型，得到修正測量位點坐標；

7、根據所述修正測量位點坐標和所述跳動值，計算得到被測軸的同軸誤差值；

8、根據所述同軸誤差值進行判斷，若所述同軸誤差值小于預設誤差參考值，則判定軸合格。

9、優(yōu)選地，所述獲取被測軸端面上的被測點坐標和被測軸端面上的基準點坐標，包括：

10、獲取被測軸端面上的第一被測點坐標和第二被測點坐標；

11、獲取所述第一被測點坐標與所述第二被測點坐標連線外的第三被測點坐標；其中，所述被測點坐標包括第一被測點坐標、第二被測點坐標和第三被測點坐標；

12、獲取被測軸中心線與端面的交點的坐標，作為基準點坐標。

13、在一種可選的實施方式中，所述根據所述被測點坐標和所述基準點坐標，計算被測軸的跳動值，包括：

14、基于所述被測點坐標和所述基準點坐標，根據距離公式計算偏差距離，并將所述偏差距離組成偏差距離集合；

15、從所述偏差距離集合中選取最大偏差距離作為被測軸的跳動值；

16、其中為第一被測點坐標的偏差距離，為第二被測點坐標的偏差距離，為第三被測點坐標的偏差距離。

17、在一種可選的實施方式中，所述根據所述基準點坐標，通過求導法計算，得到測量位點坐標，包括：

18、根據所述基準點坐標計算得到圓周面方程：

19、

20、其中，為所述基準點坐標， r為預先獲取的被測軸半徑，為預設參數；

21、根據最小化誤差函數計算：

22、

23、

24、

25、得到測量位點坐標：

26、

27、其中，為所述測量位點坐標，為所述最小化誤差函數，為待測點坐標， n為待測點數量。

28、在一種可選的實施方式中，所述根據所述測量位點坐標，通過坐標校核模型，得到修正測量位點坐標，包括：

29、將所述測量位點坐標作為第一測量位點坐標；

30、將所述第一測量位點坐標與第一被測點坐標的距離作為第一距離；

31、以所述第一距離為半徑作為測量基準圓；

32、將所述第一測量位點坐標向測量基準圓移動，得到第二測量位點坐標；

33、計算所述第二測量位點坐標與所述第一被測點坐標的距離，記為第二距離；

34、若所述第二距離小于所述第一距離，則將所述第二測量位點坐標作為所述修正測量位點坐標。

35、在一種可選的實施方式中，所述根據所述修正測量位點坐標和所述跳動值，計算得到被測軸的同軸誤差值，包括：

36、通過以下公式計算同軸誤差值：

37、

38、其中，為所述跳動值， i為修正測量位點編號， j為被測點編號，為 i號修正測量位點與 j號被測點的夾角；

39、

40、其中，為 j號被測點坐標，為 i號修正測量位點坐標。

41、在一種可選的實施方式中，所述將所述第一測量位點坐標向測量基準圓移動，得到第二測量位點坐標，包括：

42、所述測量基準圓圓心的坐標為基準點坐標；

43、計算所述第一測量位點坐標到所述基準點坐標的單位向量；

44、根據所述單位向量，將所述第一測量位點坐標移動到所述測量基準圓上；

45、所述第二測量位點坐標就位于所述測量基準圓上。

46、第二方面，本發(fā)明提供了一種軸的檢測系統(tǒng)，包括：

47、數據獲取模塊，用于獲取被測軸端面上的被測點坐標和被測軸端面上的基準點坐標；

48、跳動值模塊，用于根據所述被測點坐標和所述基準點坐標，計算被測軸的跳動值；

49、測量位點模塊，用于根據所述基準點坐標，通過求導法計算，得到測量位點坐標;

50、坐標校核模塊，用于根據所述測量位點坐標，通過坐標校核模型，得到修正測量位點坐標；

51、同軸誤差模塊，用于根據所述修正測量位點坐標和所述跳動值，計算得到被測軸的同軸誤差值；

52、合格判斷模塊，用于根據所述同軸誤差值，若所述同軸誤差值小于預設誤差參考值，則判定軸合格。

53、第三方面，本發(fā)明還提供了一種電子設備，包括處理器、存儲器以及存儲在所述存儲器中且被配置為由所述處理器執(zhí)行的計算機程序，所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現上述中任意一項所述的軸的檢測方法。

54、第四方面，本發(fā)明還提供了一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質包括存儲的計算機程序，其中，在所述計算機程序運行時控制所述計算機可讀存儲介質所在設備執(zhí)行上述中任意一項所述的軸的檢測方法。

55、相比于現有技術，本發(fā)明具有如下有益效果：本發(fā)明公開了一種軸的檢測方法，所述方法包括獲取被測軸端面上的被測點坐標和被測軸端面上的基準點坐標；根據所述被測點坐標和所述基準點坐標，計算被測軸的跳動值；根據所述基準點坐標，通過求導法計算，得到測量位點坐標；根據所述測量位點坐標，通過坐標校核模型，得到修正測量位點坐標；根據所述修正測量位點坐標和所述跳動值，計算得到被測軸的同軸誤差值；根據所述同軸誤差值進行判斷，若所述同軸誤差值小于預設誤差參考值，則判定軸合格。本方法提供了一種系統(tǒng)化的坐標校核方式，通過設定明確的校核步驟，避免了復雜的計算和多次重復測量，不僅提高了測量的精度和一致性，還簡化了檢測流程，提升了工作效率。