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發(fā)光設(shè)備和照明方法與流程

文檔序號(hào):11805593閱讀:288來(lái)源:國(guó)知局
發(fā)光設(shè)備和照明方法與流程

本發(fā)明涉及一種發(fā)光設(shè)備和照明方法,發(fā)光設(shè)備具有:用于發(fā)射至少一個(gè)初級(jí)光射束的至少一個(gè)半導(dǎo)體光源,用于使至少一個(gè)初級(jí)光射束偏轉(zhuǎn)到發(fā)光材料體上的各個(gè)所屬的不同的位置上的偏轉(zhuǎn)裝置,和用于探測(cè)由發(fā)光材料體發(fā)射的光的至少一個(gè)光探測(cè)器。本發(fā)明能特別用于投射設(shè)備、如車(chē)輛前大燈、舞臺(tái)聚光燈等。



背景技術(shù):

穩(wěn)定的LARP(“Laser Activated Remote Phosphor,激光激活遠(yuǎn)程熒光粉”)系統(tǒng)是已知的,其中,波長(zhǎng)轉(zhuǎn)變的發(fā)光材料大規(guī)模地被穩(wěn)定的藍(lán)色激光束(“初級(jí)光”)照射,并且在此過(guò)程中該激光束部分地轉(zhuǎn)變?yōu)辄S色的光(“次級(jí)光”)。未轉(zhuǎn)變的藍(lán)色初級(jí)光和轉(zhuǎn)變的黃色次級(jí)光一起得出白色的混合光。如果發(fā)光材料損壞或者甚至是完全從光路中移除,那么初級(jí)光就會(huì)有很大部分地并且此外相關(guān)地(kohaerent)從LARP系統(tǒng)中溢出。為了阻止這樣的事情已知的是,安裝兩個(gè)光探測(cè)器,它們對(duì)于初級(jí)光或者次級(jí)光敏感,并且能夠從其測(cè)量信號(hào)的強(qiáng)度的關(guān)系中指示發(fā)光材料的失效。如果確定了失效,那么就能夠關(guān)斷LARP系統(tǒng)(“安全關(guān)斷”),或者減小初級(jí)光的光通量,以維持安全規(guī)定(“緊急光運(yùn)行”)。然而,該方法具有的缺點(diǎn)在于,小的損壞是會(huì)很難探測(cè)到的,并且對(duì)損壞的反應(yīng)實(shí)際上導(dǎo)致了LARP系統(tǒng)的功能性中斷。

WO 2015/000006A1公開(kāi)了一種具有至少一個(gè)激光源的車(chē)輛前大燈,其激光束經(jīng)由能繞著至少一個(gè)軸偏轉(zhuǎn)的微型反射鏡偏轉(zhuǎn)到具有光轉(zhuǎn)換熒光粉的發(fā)光面,以便在其上掃描地生成發(fā)光圖像,該發(fā)光圖像能經(jīng)由光學(xué)系統(tǒng)投射到車(chē)道上。在該前大燈中,至少一個(gè)圖像傳感器關(guān)于具有光轉(zhuǎn)換熒光粉的發(fā)光面如此定位,即,其在微型反射鏡的預(yù)先確定的偏轉(zhuǎn)位置中檢測(cè)從發(fā)光面出發(fā)的次級(jí)激光束,并且設(shè)置用于發(fā)出信號(hào)。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明的目的在于,至少部分地克服現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn),并且特別地提供具有至少一個(gè)半導(dǎo)體光源和發(fā)光材料體的發(fā)光設(shè)備,其能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)發(fā)光材料體的損壞的更好反應(yīng)。

該目的通過(guò)一種發(fā)光設(shè)備實(shí)現(xiàn),其具有:用于發(fā)射至少一個(gè)初級(jí)光射束的至少一個(gè)半導(dǎo)體光源,用于使至少一個(gè)初級(jí)光射束偏轉(zhuǎn)到發(fā)光材料體上的各個(gè)所屬的不同的位置上的偏轉(zhuǎn)裝置,用于探測(cè)由發(fā)光材料體發(fā)射的光的至少一個(gè)光探測(cè)器,和評(píng)估裝置,其設(shè)置用于:(a)根據(jù)由至少一個(gè)光探測(cè)器生成的至少一個(gè)測(cè)量信號(hào)識(shí)別發(fā)光材料體的損壞;并且(b)使至少一個(gè)測(cè)量信號(hào)與偏轉(zhuǎn)裝置上的至少一個(gè)位置相關(guān)聯(lián)。

該發(fā)光設(shè)備具有的優(yōu)點(diǎn)在于,其能夠以簡(jiǎn)單的方式定位發(fā)光材料體上的損壞的位置(即能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)發(fā)光材料體上的缺陷區(qū)域的更好的位置解析),并且例如取決于損壞的類(lèi)型和/或大小地激活合適的行為。特別地,有可能是成本有利的,這是因?yàn)閷?shí)際上未位置解析的光探測(cè)以簡(jiǎn)單的方式與位置信息相關(guān)聯(lián),以便能夠以較高的精度確定發(fā)光材料體的損壞的位置。

優(yōu)選地,至少一個(gè)半導(dǎo)體光源包括至少一個(gè)激光器。該激光器能夠是二極管激光器。至少一個(gè)半導(dǎo)體光源也能夠具有至少一個(gè)發(fā)光二極管。特別地,半導(dǎo)體光源發(fā)送藍(lán)色的初級(jí)光,特別是具有例如440nm的波長(zhǎng)。

初級(jí)光射束的直徑通常明顯小于發(fā)光材料體的能被其照亮的面積。

偏轉(zhuǎn)裝置能夠具有至少一個(gè)能運(yùn)動(dòng)的鏡子。至少一個(gè)能運(yùn)動(dòng)的鏡子能夠具有至少一個(gè)能轉(zhuǎn)動(dòng)或者能擺動(dòng)的鏡子,然而附加地或者可替換地也能是能移動(dòng)的。能轉(zhuǎn)動(dòng)的鏡子能夠占據(jù)多個(gè)角度位置形式的位置。至少一個(gè)鏡子能夠?yàn)榱似溥\(yùn)動(dòng)而步進(jìn)地或者連續(xù)地運(yùn)動(dòng)。特別地,至少一個(gè)鏡子能夠是共振運(yùn)行或運(yùn)動(dòng)的鏡子,例如MEMS(“Mikro-Elektro-Mechanisches System,微電子機(jī)械系統(tǒng)”)或者DMD(“Digital Mirror Device”,數(shù)字鏡裝置)。偏轉(zhuǎn)裝置除了至少一個(gè)能運(yùn)動(dòng)的鏡子之外還能夠具有另外的光學(xué)元件,比如至少一個(gè)透鏡。

一個(gè)改進(jìn)方案在于,至少一個(gè)能運(yùn)動(dòng)的鏡子正好是一個(gè)鏡子,這能夠?qū)崿F(xiàn)特別簡(jiǎn)單的結(jié)構(gòu)。特別地,這樣的鏡子能繞著兩個(gè)相互垂直的旋轉(zhuǎn)軸偏轉(zhuǎn)或轉(zhuǎn)動(dòng),例如繞著x軸和y軸。

還有一個(gè)改進(jìn)方案在于,至少一個(gè)能運(yùn)動(dòng)的鏡子包括多個(gè)能運(yùn)動(dòng)的鏡子。它們能夠?qū)⒊跫?jí)光射束例如沿各個(gè)不同的空間方向偏轉(zhuǎn),例如用于光發(fā)射模型的行或縱型結(jié)構(gòu)。因此能夠存在每旋轉(zhuǎn)軸各一個(gè)能轉(zhuǎn)動(dòng)的鏡子,例如用于x軸的能轉(zhuǎn)動(dòng)的鏡子和下游的用于y軸的能轉(zhuǎn)動(dòng)的鏡子,或者反之亦然。這樣的鏡子是能特別簡(jiǎn)單實(shí)施的。

通過(guò)偏轉(zhuǎn)裝置,至少一個(gè)初級(jí)光射束也能夠軌跡式地掃過(guò)發(fā)光材料體,或者在發(fā)光材料體上通過(guò)初級(jí)光射束生成的光斑能夠在發(fā)光材料體上拉劃出一個(gè)軌跡。這也能夠被稱(chēng)為“掃描的”布置。該軌跡能夠例如對(duì)應(yīng)于行或縱型照明或者利薩佐斯圖形(Lissajousfigur)。然而在此,初級(jí)光射束并不能夠持續(xù)地接通,而是能夠?yàn)榱松蓤D像模型也在照明和不照明階段之間交替。然而,至少一個(gè)初級(jí)光射束或者至少一個(gè)所屬的半導(dǎo)體光源也能夠接通,以得到發(fā)光材料體的均勻照亮。例如,初級(jí)光射束能夠在照亮發(fā)光材料體時(shí)借助于閉合的圖形(例如利薩佐斯圖形)持續(xù)地接通。其能夠在行或縱型照明中也持續(xù)接通直至返回到行或縱開(kāi)端。與發(fā)光材料體的穩(wěn)定的大規(guī)模的照明相比,發(fā)光材料體通過(guò)至少一個(gè)初級(jí)光射束的軌跡式的照明能夠以簡(jiǎn)單的方式實(shí)現(xiàn)對(duì)局部損壞的探測(cè)。為了顯示所期望的圖像模型、即強(qiáng)度模型,在發(fā)光材料體上能夠特別調(diào)制地運(yùn)行初級(jí)光源。

一個(gè)改進(jìn)方案在于,發(fā)光設(shè)備是所謂的“飛點(diǎn)(Fly-Spot)”設(shè)備,其使用掃描的方法,并且在此能夠通過(guò)改變、例如接通和關(guān)斷和/或強(qiáng)度調(diào)制發(fā)光材料體上的至少一個(gè)初級(jí)光射束生成圖像模型。

一個(gè)改進(jìn)方案在于,發(fā)光材料體借助于正好一個(gè)初級(jí)光射束能照亮或者照亮,這能夠?qū)崿F(xiàn)特別簡(jiǎn)單的結(jié)構(gòu)。

還有一個(gè)改進(jìn)方案在于,發(fā)光材料體借助于多個(gè)不相交(disjunkt)的初級(jí)光射束能照亮或者照亮,這能夠?qū)崿F(xiàn)特別高的光通量。特別地,多個(gè)光射束是這樣“不相交的”,即它們并不或并不總是在相同的位置射到發(fā)光材料體上。多個(gè)不相交的初級(jí)光射束也能夠經(jīng)由共同的偏轉(zhuǎn)裝置或者經(jīng)由多個(gè)偏轉(zhuǎn)裝置引導(dǎo)。在此,初級(jí)光射束相互平行和/或不平行地取向。

發(fā)光材料體的能由多個(gè)不相交的初級(jí)光射束分別照亮的“照明區(qū)域”能夠是相同的。例如,發(fā)光材料體的確定的子區(qū)域能夠通過(guò)多個(gè)初級(jí)光射束依次地、通常以一定的時(shí)間間隔地照亮。

還有一個(gè)改進(jìn)方案在于,屬于多個(gè)不相交的初級(jí)光射束的照明區(qū)域是不同的。其能夠重疊或者不重疊或者本身在局部是不相交的。

在要整個(gè)面地顯示的圖像信息的意義上一次性完全照亮發(fā)光材料體所需要的持續(xù)時(shí)間能夠被稱(chēng)為“圖像建立持續(xù)時(shí)間”。其能夠具有幾百赫茲、例如250Hz的重復(fù)頻率。在行式掃描發(fā)光材料體時(shí),行的數(shù)量特別地能夠到幾百、例如300。利用250Hz的圖像建立頻率在行數(shù)為300時(shí)得到例如13微秒的每行圖像建立時(shí)間。

發(fā)光材料體具有至少一種發(fā)光材料,其對(duì)此適用于將投射的初級(jí)光至少部分地轉(zhuǎn)變或轉(zhuǎn)換為不同波長(zhǎng)的次級(jí)光。在存在多種發(fā)光材料時(shí)能夠生成波長(zhǎng)相互不同的次級(jí)光和/或通過(guò)不同波長(zhǎng)的初級(jí)光生成次級(jí)光。次級(jí)光的波長(zhǎng)能夠比初級(jí)光的波長(zhǎng)長(zhǎng)(所謂的“下轉(zhuǎn)換”)或者短(所謂的“上轉(zhuǎn)換”)。例如,藍(lán)色的初級(jí)光能夠借助于發(fā)光材料轉(zhuǎn)變?yōu)榫G色、黃色、橙色或者紅色的次級(jí)光。在僅部分的波長(zhǎng)轉(zhuǎn)變或波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換中由發(fā)光材料體發(fā)射由次級(jí)光(例如黃色)和未轉(zhuǎn)變的初級(jí)光(例如藍(lán)色)的混合物,其能夠用作為有效光(例如白色)。

發(fā)光材料體能夠是(平的)發(fā)光材料片,例如陶瓷形式、例如由摻鈰釔鋁石榴石(Cer-dotiertem Yttrium-Aluminium-Granat)(Ce:YAG)制成。發(fā)光材料體也能夠是被發(fā)光材料層覆蓋的載體-例如由藍(lán)寶石制成-。發(fā)光材料體能夠至少在能通過(guò)初級(jí)光射束照射的表面上是平坦的。發(fā)光材料片能夠具有恒定的或變化的厚度。其能夠例如具有圓形或四邊形的邊緣輪廓。

可替換地或者附加地,發(fā)光材料片能夠至少在能通過(guò)初級(jí)光射束照射的表面上也不是平坦的,例如是拱形或者波動(dòng)的。

發(fā)光材料體能夠是單獨(dú)的、連續(xù)制造的發(fā)光材料體,這也能夠被稱(chēng)為整體的發(fā)光材料體??商鎿Q地,發(fā)光材料體能夠由分開(kāi)制造的子區(qū)段組合在一起,其相互偏移和/或扭轉(zhuǎn)和/或傾斜和/或翻轉(zhuǎn),其中,子區(qū)段能夠設(shè)置在共同的平面上,然而這并不需要。

這些子區(qū)段或者子發(fā)光材料體能夠具有相同的或者不同的轉(zhuǎn)變特性(例如有關(guān)轉(zhuǎn)變度、應(yīng)用的發(fā)光材料等方面)。這些子區(qū)段能夠直接地相互鄰接和/或相互間隔開(kāi)。

發(fā)光材料體能夠存在于或使用在反射布置和/或透射布置中。在反射布置中,這樣的由發(fā)光材料體發(fā)射的光用作為有效光,其由發(fā)光材料體的初級(jí)光射束射入的那側(cè)發(fā)射。在透射布置中,這樣的由發(fā)光材料體發(fā)射的光用作為有效光,其由發(fā)光材料體的關(guān)于入射的初級(jí)光射束背離的那側(cè)發(fā)射。特別地不僅能采用反射布置,也能采用透射的布置。在透射布置中最重要的是能實(shí)現(xiàn)另外的光學(xué)元件、例如分色鏡,以用于提高效率。

“初級(jí)光學(xué)系統(tǒng)”形式的第一光學(xué)系統(tǒng)能夠連接在至少一個(gè)半導(dǎo)體光源的下游,其使得這些或這個(gè)由至少一個(gè)半導(dǎo)體光源發(fā)出的初級(jí)光射束單獨(dú)地光束成型、例如校準(zhǔn)。

在至少一個(gè)半導(dǎo)體光源或-如果存在-第一初級(jí)光學(xué)系統(tǒng)和偏轉(zhuǎn)裝置之間的光路中能夠布置具有至少一個(gè)光學(xué)元件的第二光學(xué)系統(tǒng)。在偏轉(zhuǎn)裝置和發(fā)光材料體之間的光路中能夠布置具有至少一個(gè)光學(xué)元件的第三光學(xué)系統(tǒng)。具有至少一個(gè)光學(xué)元件的第四光學(xué)系統(tǒng)能夠光學(xué)地連接在發(fā)光材料體的下游以用于使得有效光光束成型。第三光學(xué)系統(tǒng)和第四光學(xué)系統(tǒng)能夠具有至少一個(gè)共同的光學(xué)元件,例如用于將初級(jí)光射束對(duì)焦到發(fā)光體上和用于使從發(fā)光材料體發(fā)射的有效光輸出的至少一個(gè)光學(xué)元件。

也還能夠存在有另外的光學(xué)系統(tǒng)或光學(xué)元件。

一個(gè)改進(jìn)方案在于,至少一個(gè)圖像或光探測(cè)器設(shè)置用于,僅識(shí)別初級(jí)光-即不識(shí)別次級(jí)光-。因此,能夠例如根據(jù)初級(jí)光的強(qiáng)度的明顯過(guò)小或明顯過(guò)高而識(shí)別發(fā)光材料體的損壞。光探測(cè)器能夠例如具有或者就是光電二極管。

還有一個(gè)改進(jìn)方案在于,至少一個(gè)光探測(cè)器設(shè)置用于,僅識(shí)別次級(jí)光-即不識(shí)別初級(jí)光-。因此,能夠例如根據(jù)次級(jí)光的強(qiáng)度的明顯過(guò)小或明顯過(guò)高而識(shí)別發(fā)光材料體的損壞。

還有一個(gè)改進(jìn)方案在于,至少一個(gè)光探測(cè)器設(shè)置用于,不僅識(shí)別初級(jí)光、還識(shí)別次級(jí)光。因此,能夠例如根據(jù)混合光的強(qiáng)度的明顯過(guò)小或明顯過(guò)高而識(shí)別發(fā)光材料體的損壞。至少一個(gè)光探測(cè)器也能夠設(shè)置用于,通過(guò)(特別是標(biāo)準(zhǔn)化的)初級(jí)光強(qiáng)度與轉(zhuǎn)換光的強(qiáng)度的改變的關(guān)系、例如藍(lán)/黃比識(shí)別發(fā)光材料體的損壞。

還有一個(gè)改進(jìn)方案在于,至少一個(gè)光探測(cè)器正好是一個(gè)光探測(cè)器,其視域特別包括發(fā)光材料體的總體能照亮的面積。這能夠?qū)崿F(xiàn)特別簡(jiǎn)單和物美價(jià)廉的結(jié)構(gòu)。因此,通過(guò)正好一個(gè)光探測(cè)器能監(jiān)視發(fā)光材料體的總體的通過(guò)初級(jí)光射束能照亮或能照射的區(qū)域。

此外的一個(gè)改進(jìn)方案在于,至少一個(gè)光探測(cè)器包括多個(gè)光探測(cè)器,它們的視域分別包括發(fā)光材料體的總體能照亮的面積,并且它們對(duì)于不同的波長(zhǎng)范圍來(lái)說(shuō)是敏感的,特別是識(shí)別或者探測(cè)要么初級(jí)光要么次級(jí)光。因此特別地,發(fā)光材料體的損壞能夠可靠地確定。因此,通過(guò)多個(gè)不同的光探測(cè)器能分別監(jiān)視發(fā)光材料體的總體能照射的面積。

還有一個(gè)改進(jìn)方案在于,至少一個(gè)光探測(cè)器具有多個(gè)光探測(cè)器,其視域包括發(fā)光材料體的不同的能照亮的面積(“照明區(qū)域”)。特別地,這些光探測(cè)器能夠?qū)τ谙嗤牟ㄩL(zhǎng)范圍來(lái)說(shuō)是敏感的,特別是對(duì)初級(jí)光和/或次級(jí)光。特別地,通過(guò)該改進(jìn)方案能夠高解析度進(jìn)而快速和可靠地確定發(fā)光材料體的損壞。多個(gè)光探測(cè)器在發(fā)光材料體上的視域能夠是重疊或不重疊或者“不相交”的。重疊的布置具有的優(yōu)點(diǎn)在于,能夠可靠地排除發(fā)光材料體的能照亮的區(qū)域的不能探測(cè)的區(qū)域或“盲”區(qū)。視域的不相交的布置的優(yōu)點(diǎn)在于,損壞能明確地對(duì)應(yīng)于某個(gè)探測(cè)器,并且因此簡(jiǎn)化了損壞的位置確定。特別地,當(dāng)其相應(yīng)于不相交的照明區(qū)域的相應(yīng)布置的時(shí)候,能有利地應(yīng)用視域的不相交的布置。

相關(guān)聯(lián)能夠是時(shí)間上的相關(guān)聯(lián),特別是對(duì)應(yīng)于損壞的測(cè)量信號(hào)的時(shí)間點(diǎn)或時(shí)間段和至少一個(gè)初級(jí)光射束在發(fā)光材料體上的相應(yīng)于時(shí)間點(diǎn)或時(shí)間段的位置之間的相關(guān)聯(lián)。因?yàn)槌跫?jí)光射束的該位置相應(yīng)于損害的位置,因此能夠?qū)崿F(xiàn)損害的精確的位置確定。

在此不必要(但可能)的是,清楚地確定或計(jì)算發(fā)光材料體上的至少一個(gè)初級(jí)光射束的位置。相反地,測(cè)量信號(hào)與發(fā)光設(shè)備的至少一個(gè)參數(shù)相關(guān)聯(lián),由此能夠明確地推導(dǎo)出發(fā)光材料體上的至少一個(gè)初級(jí)光射束的位置。這樣的參數(shù)能夠例如是從開(kāi)始圖像建立起的時(shí)間、偏轉(zhuǎn)裝置的驅(qū)控電壓、偏轉(zhuǎn)裝置的位置、從開(kāi)始圖像建立起啟程的發(fā)光材料體上的至少一個(gè)初級(jí)光射束的軌跡的長(zhǎng)度等。

一個(gè)設(shè)計(jì)方案在于,步驟(a)和/或步驟(b)之后接著至少一個(gè)行為的激活,因?yàn)樘貏e地能通過(guò)發(fā)光設(shè)備實(shí)施安全功能。

該行為能夠在最簡(jiǎn)單的情況下包括安全關(guān)斷或者為緊急運(yùn)行使得半導(dǎo)體光源變暗。

還有一個(gè)設(shè)計(jì)方案在于,至少一個(gè)行為包括執(zhí)行至少一個(gè)發(fā)光材料體的至少一次-特別是掃描總體的發(fā)光材料面的-測(cè)試照明。通過(guò)測(cè)試照明或者測(cè)試照明流程能夠檢查或者確定發(fā)光材料體的損壞和/或精確地定位損壞。這特別合理的是,至少一個(gè)發(fā)光體由多個(gè)初級(jí)光射束照射。

此外的一個(gè)設(shè)計(jì)方案在于,測(cè)試照明或者測(cè)試照明流程能與損壞無(wú)關(guān)地執(zhí)行。因此能夠?qū)崿F(xiàn)的優(yōu)點(diǎn)在于,發(fā)光材料體能夠預(yù)防性地檢查損壞。由此,在發(fā)光材料體強(qiáng)力照明以用于生成有效光之前,又能夠例如對(duì)識(shí)別的損壞起反應(yīng)。

在此,測(cè)試照明能夠取決于事件地觸發(fā)或者執(zhí)行。

因此一個(gè)改進(jìn)方案在于,測(cè)試照明在接通或者激活發(fā)光設(shè)備之前執(zhí)行,因?yàn)樵诎l(fā)送有效光射束之前,能夠針對(duì)損壞預(yù)防性地檢查發(fā)光材料體。

可替換地或者附加地,測(cè)試照明能夠在轉(zhuǎn)換運(yùn)行類(lèi)型(例如在遠(yuǎn)光和霧光之間)之前執(zhí)行,因?yàn)槟軌蜥槍?duì)發(fā)光材料體的在之前使用的運(yùn)行類(lèi)型中不被照亮的范圍中的損壞預(yù)防性地檢查發(fā)光材料體。

還有一個(gè)改進(jìn)方案在于,測(cè)試照明以時(shí)間上預(yù)設(shè)的間距執(zhí)行或者在預(yù)設(shè)的時(shí)間點(diǎn)執(zhí)行,因?yàn)樵诎l(fā)送有效光射束之前,針對(duì)損壞能夠預(yù)防性地檢查發(fā)光材料體。

此外的一個(gè)設(shè)計(jì)方案在于,測(cè)試照明在識(shí)別損壞之后能執(zhí)行或執(zhí)行。因此,能夠例如在250Hz的圖像重復(fù)頻率時(shí)總是為測(cè)試照明方法應(yīng)用每秒一次圖像建立。因此特別地,能夠同時(shí)刻地識(shí)別發(fā)光材料的可能出現(xiàn)的損壞。

測(cè)試照明的不同的類(lèi)型能夠相互組合。

還有一個(gè)設(shè)計(jì)方案在于,至少一個(gè)發(fā)光體能通過(guò)至少兩個(gè)不相交的初級(jí)光射束照射,并且至少一個(gè)行為包括為每個(gè)單獨(dú)的初級(jí)光射束和/或?yàn)槊總€(gè)單獨(dú)的照明范圍執(zhí)行至少一個(gè)發(fā)光體的至少一次測(cè)試照明。這允許準(zhǔn)確定位發(fā)光材料體上的損壞也用于這樣的情況,即在至少一個(gè)光探測(cè)器識(shí)別損壞的時(shí)間點(diǎn),多個(gè)不相交的初級(jí)光射束照明相同的光探測(cè)器的視域中的發(fā)光材料體。

另一個(gè)設(shè)計(jì)方案在于,至少一個(gè)行為包括如下驅(qū)控至少一個(gè)半導(dǎo)體光源和/或偏轉(zhuǎn)裝置,即不照亮發(fā)光材料體上的屬于識(shí)別的損壞的區(qū)域(“損壞區(qū)域”)。由此,損壞區(qū)域不在照明范圍內(nèi),從而在這樣的發(fā)光設(shè)備中一方面保障的是,初級(jí)光不能以有害的程度射出,并且另一方面能夠盡可能地維持照明功能。在僅存在小損壞時(shí)能夠?qū)嵱眯缘貎H不知不覺(jué)地限制照明功能。在車(chē)輛情況下因此顯著提高行駛安全性。

損壞區(qū)域能夠是受損的區(qū)域,即在其處識(shí)別損壞。損壞區(qū)域能夠附加地包括圍繞著損壞的未損壞的區(qū)域,這提高了安全性,即不會(huì)無(wú)意地照明損壞。因此在該情況下,損壞區(qū)域能夠具有“安全區(qū)域”或者被稱(chēng)為圍繞著損壞的安全區(qū)域。

構(gòu)造為安全區(qū)域的損壞區(qū)域周?chē)耆鼑鷵p壞。特別地,其側(cè)面的尺寸能夠大于損壞的相應(yīng)的側(cè)面的尺寸,例如大了固定的(“安全”)系數(shù)倍數(shù),例如1.5或2。安全系數(shù)能夠?yàn)楦鱾€(gè)側(cè)面的方向個(gè)別地確定,并且在可能的情況下也進(jìn)行改變。因此,能夠根據(jù)發(fā)光設(shè)備的運(yùn)行持續(xù)時(shí)間改變側(cè)面的安全系數(shù),例如隨增大的運(yùn)行持續(xù)時(shí)間增大安全系數(shù)。也能夠取決于損壞的位置、即例如在發(fā)光材料體或發(fā)光設(shè)備的中心之中或者在邊緣更大或更小地選擇安全系數(shù)。損壞區(qū)域的形狀能夠任意選擇,例如圓形、橢圓形、矩形、正方形、多邊形、任意形狀。

還有另一個(gè)設(shè)計(jì)方案在于,至少一個(gè)行為包括關(guān)斷至少這種半導(dǎo)體光源,借助于這種半導(dǎo)體光源能照亮發(fā)光材料體上的屬于識(shí)別的損壞的區(qū)域。這能夠?qū)崿F(xiàn)特別安全地防止初級(jí)光以有害的程度溢出。如果能生成多個(gè)不相交的初級(jí)光射束,那么就照亮的不同的照明區(qū)域,能夠?qū)崿F(xiàn)的是,僅關(guān)斷或去除激活其初級(jí)光射束照亮損壞區(qū)域的這些或這個(gè)半導(dǎo)體光源。反之,能夠接通或者激活其它的半導(dǎo)體光源,從而使其初級(jí)光射束繼續(xù)照亮發(fā)光材料體-損壞區(qū)域之外-。

此外的一個(gè)設(shè)計(jì)方案在于,根據(jù)由至少一個(gè)光探測(cè)器生成的至少一個(gè)測(cè)量信號(hào)與相應(yīng)的參考信號(hào)的比較執(zhí)行識(shí)別發(fā)光材料體的損壞。因此,能夠以相對(duì)簡(jiǎn)單的方式識(shí)別或確定損壞。參考信號(hào)能夠計(jì)算或測(cè)量得出。

特別地,參考信號(hào)是與發(fā)光材料體上的至少一個(gè)初級(jí)光射束的位置相關(guān)的信號(hào)。因此,能夠考慮到幾何效果、如發(fā)光設(shè)備中部件的取向或間距(例如從光探測(cè)器到發(fā)光材料體)和/或有關(guān)發(fā)光材料體的設(shè)計(jì)方案的效果。

此外的一個(gè)設(shè)計(jì)方案在于,測(cè)量信號(hào)或者參考信號(hào)利用當(dāng)前施加的至少一個(gè)半導(dǎo)體光源或者至少一個(gè)初級(jí)光射束的光功率(例如通過(guò)當(dāng)前的光源激勵(lì)表示)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化。因此,能夠例如一并考慮到初級(jí)光射束的變暗和/或初級(jí)光源的脈沖調(diào)制和/或發(fā)光材料的飽和、例如通過(guò)熱冷卻觸發(fā)。初級(jí)光輻射的調(diào)制能夠有利地提高測(cè)量傳感器對(duì)抗外部干擾參量的信噪比,例如在陽(yáng)光從外面輻射到發(fā)光設(shè)備中的情況下。

參考信號(hào)能夠空間解析地-例如圖像點(diǎn)方式-進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化,即例如對(duì)于每個(gè)通過(guò)發(fā)光材料體上的初級(jí)光射束生成的圖像點(diǎn)來(lái)說(shuō)都存在或應(yīng)用個(gè)別的標(biāo)準(zhǔn)化,或者存在或應(yīng)用至少一個(gè)個(gè)別的標(biāo)準(zhǔn)化值。因此,參考信號(hào)能夠例如為發(fā)光材料上的空間解析的點(diǎn)而存在。然而,也能夠位置平均地執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)化,例如局部或按行平均等等地執(zhí)行。

參考信號(hào)能夠例如從當(dāng)前的測(cè)試照明的標(biāo)準(zhǔn)化的空間解析的黃/藍(lán)強(qiáng)度比中、和/或從初級(jí)光強(qiáng)度和/或轉(zhuǎn)換光強(qiáng)度或者其強(qiáng)度比的更早空間解析的測(cè)量中推導(dǎo)出。

評(píng)估裝置能夠是專(zhuān)用的單元或者分布的系統(tǒng)。評(píng)估裝置也能夠?qū)嵤┝硗獾墓δ埽珧?qū)控半導(dǎo)體光源和/或偏轉(zhuǎn)裝置。因此,評(píng)估裝置能夠是發(fā)光設(shè)備的控制裝置,其具有相應(yīng)的評(píng)估功能。

還有一個(gè)設(shè)計(jì)方案在于,發(fā)光設(shè)備是照明設(shè)備、特別是投射設(shè)備或者投射設(shè)備的一部分。特別地,本發(fā)明能用于投射設(shè)備、如車(chē)輛前大燈、舞臺(tái)聚光燈等。

該目的還通過(guò)相應(yīng)的方法實(shí)現(xiàn)。該方法能夠例如包括:借助于由至少一個(gè)光探測(cè)器生成的至少一個(gè)測(cè)量信號(hào)識(shí)別發(fā)光材料體的損壞;并且使至少一個(gè)測(cè)量信號(hào)與偏轉(zhuǎn)裝置的至少一個(gè)所屬的位置相關(guān)聯(lián)。

特別地,該方法能夠是照明方法,其中,借助于至少一個(gè)初級(jí)光射束掃描地照亮發(fā)光材料體,探測(cè)由發(fā)光材料體發(fā)射的光,根據(jù)探測(cè)識(shí)別發(fā)光材料體的損壞,并且將損壞的識(shí)別與發(fā)光材料體上的至少一個(gè)位置相關(guān)聯(lián)。

附圖說(shuō)明

本發(fā)明的上述特性、特征和優(yōu)點(diǎn)以及實(shí)現(xiàn)的方式和方法更加清楚和明確地結(jié)合以下聯(lián)系附圖詳細(xì)闡述的實(shí)施例的示意性說(shuō)明來(lái)理解。在此為了清楚起見(jiàn),相同或作用相同的元件帶有相同的參考標(biāo)號(hào)。

圖1示出根據(jù)第一實(shí)施例的發(fā)光設(shè)備的草圖;并且

圖2示出根據(jù)第二實(shí)施例的發(fā)光設(shè)備的草圖。

具體實(shí)施方式

圖1示出了根據(jù)第一實(shí)施例的發(fā)光設(shè)備1的草圖。發(fā)光設(shè)備1具有發(fā)射或發(fā)出藍(lán)色初級(jí)光射束P的激光二極管2形式的半導(dǎo)體光源。激光二極管2能夠例如是單獨(dú)的激光二極管或多個(gè)二極管的組,其單個(gè)初級(jí)光射束聚集成唯一的初級(jí)光射束P。

初級(jí)光射束P由具有至少一個(gè)能轉(zhuǎn)動(dòng)的鏡子3的偏轉(zhuǎn)裝置偏轉(zhuǎn)到-例如陶瓷的-片狀的發(fā)光材料體4上。至少一個(gè)鏡子3能如此轉(zhuǎn)動(dòng),即初級(jí)光射束P能夠在發(fā)光材料體4上畫(huà)出軌跡B。該軌跡能夠如所示那樣按行地照明或者“掃描”發(fā)光材料體4。至少一個(gè)鏡子3能夠?qū)Υ顺掷m(xù)地(特別是無(wú)級(jí)地)占據(jù)多個(gè)或者不同的角度位置,以便將初級(jí)光射束P偏轉(zhuǎn)到發(fā)光材料體4上的屬于軌跡B的不同的位置上。

在初級(jí)光射束P入射并在該處生成光斑的位置上將初級(jí)光射束P的一部分轉(zhuǎn)變?yōu)辄S色的次級(jí)光S,并且使初級(jí)光射束P散射,從而總共由發(fā)光材料體4在光斑的位置發(fā)出或者發(fā)射作為有效光的黃藍(lán)或者白色的混合光P,S。

此外,發(fā)光設(shè)備1具有帶有例如光電二極管的光探測(cè)器6,其敏感地對(duì)混合光P,S起反應(yīng),并且不僅能夠探測(cè)初級(jí)光P、還能探測(cè)次級(jí)光S。光探測(cè)器6的視域包括發(fā)光材料體4的能總共通過(guò)初級(jí)光射束P照亮的區(qū)域。因此,光探測(cè)器6設(shè)計(jì)用于探測(cè)混合光P,S,其由發(fā)光材料體4發(fā)射。光探測(cè)器6有利地布置在作為有效光發(fā)射的混合光P,S的區(qū)域中。其在反射的布置中著眼于發(fā)光材料體4的初級(jí)光射束P射入的那側(cè)。在透射布置中,光探測(cè)器6著眼于發(fā)光材料體4的與此背離的那側(cè)。

此外,發(fā)光設(shè)備1具有評(píng)估裝置7,其設(shè)置用于(a)根據(jù)由光探測(cè)器6生成的至少一個(gè)測(cè)量信號(hào)M識(shí)別發(fā)光材料體4的損壞C和用于(b)使至少一個(gè)測(cè)量信號(hào)M與發(fā)光材料體4上的初級(jí)光射束P的至少一個(gè)位置相關(guān)聯(lián)。這根據(jù)下面的圖在評(píng)估裝置7中示出,而上面的圖示出了參考信號(hào)R。評(píng)估裝置7能夠是獨(dú)立的單元并且例如與用于驅(qū)動(dòng)發(fā)光設(shè)備的控制裝置(未示出)耦聯(lián)。可替換地,評(píng)估裝置7能夠集成到控制裝置中,例如作為控制裝置的功能。

在兩幅圖中,y軸能夠描繪光探測(cè)器6的信號(hào)參數(shù)、如測(cè)量電壓等。X軸有利地描繪了與發(fā)光材料體4上的初級(jí)光射束P的位置相關(guān)聯(lián)的參數(shù),例如從開(kāi)始圖像建立起的時(shí)間、至少一個(gè)鏡子3的驅(qū)控電壓、至少一個(gè)鏡子3的角度位置、從開(kāi)始圖像建立起啟程的軌跡B的長(zhǎng)度等。在x軸上描繪的參數(shù)特別能夠?qū)崿F(xiàn)的是,指示發(fā)光材料體4上的初級(jí)光射束P的位置。

特別地,對(duì)于圖像建立的持續(xù)時(shí)間而存在參考信號(hào)R。其能夠預(yù)設(shè)用于發(fā)光設(shè)備1的確定的類(lèi)型或者對(duì)于每個(gè)發(fā)光設(shè)備1個(gè)別地確定、特別是測(cè)定。

評(píng)估裝置7對(duì)于連續(xù)的測(cè)量點(diǎn)或測(cè)量部段Δx將測(cè)量信號(hào)M與參考信號(hào)R的相應(yīng)的點(diǎn)或部段進(jìn)行比較。如果兩個(gè)信號(hào)M和R超過(guò)預(yù)設(shè)的精度,那么由此得出的是,對(duì)于該測(cè)量點(diǎn)或測(cè)量部段Δx(以及在發(fā)光材料體4上的所屬的位置處)不存在發(fā)光材料體4的損壞。其不觸發(fā)行為。

該比較能夠包括測(cè)量信號(hào)M和/或參考信號(hào)R到激光二極管2的當(dāng)前的電功率和/或光功率的標(biāo)準(zhǔn)化或匹配,以便因此也能夠考慮到所要求的功率改變(例如由于使激光二極管2變暗)或者無(wú)意的功率改變(例如由于溫度效應(yīng)和/或老化效應(yīng))。對(duì)此能夠例如測(cè)量激光二極管2的電功率。

然而,如果如所示的那樣(可能標(biāo)準(zhǔn)化的)測(cè)量信號(hào)M與參考信號(hào)R明顯不同,那么這意味著在相應(yīng)的地點(diǎn)或位置上有發(fā)光材料體4的損壞C。損壞C能夠例如是裂縫、脫落、熱冷卻等。評(píng)估裝置7能夠根據(jù)識(shí)別損壞C觸發(fā)至少一個(gè)行為,其能夠取決于損壞C的大小和/或類(lèi)型。

該行為能夠在最簡(jiǎn)單的情況下包括關(guān)斷激光二極管2或使其變暗。

更好地維持發(fā)光設(shè)備的功能的行為能夠?yàn)椋u(píng)估裝置7要么確定損壞C的位置、要么確定損壞C周?chē)膶儆谧R(shí)別的損壞C的損壞區(qū)域A。損壞區(qū)域A在后一種情況中也能夠被稱(chēng)為“安全區(qū)域”。該損壞區(qū)域的確定能夠包括計(jì)算發(fā)光材料體4上的損壞C或所屬的損壞區(qū)域A的位置,然而并不需要這樣。能夠足夠的是,確定相應(yīng)的能明確地與位置相關(guān)聯(lián)的其它的參數(shù),例如從開(kāi)始圖像建立起的時(shí)間、至少一個(gè)鏡子3的驅(qū)控電壓、至少一個(gè)鏡子3的角度位置、從開(kāi)始圖像建立起啟程的軌跡B的長(zhǎng)度等。

接下來(lái)當(dāng)初級(jí)光射束照亮損壞C或所屬的損壞區(qū)域A的時(shí)候,驅(qū)動(dòng)發(fā)光設(shè)備1,以使得激光二極管2至少總是隨后不發(fā)送初級(jí)光射束P。因此,在不再照亮損壞C或所屬的損壞區(qū)域A的期間,能夠正常照亮發(fā)光材料體4的剩余的部分。這能夠顯著提高發(fā)光設(shè)備1的功能性,特別是在損壞C僅是很小的情況下。

構(gòu)造為安全區(qū)域的損壞區(qū)域A周?chē)耆鼑鷵p壞C。特別地,其側(cè)面的尺寸能夠大于損壞的相應(yīng)的側(cè)面的尺寸,例如大了固定的(“安全”)系數(shù)倍數(shù),例如1.5或2。安全系數(shù)能夠?yàn)楦鱾€(gè)側(cè)面的方向個(gè)別地確定,并且在可能的情況下也進(jìn)行改變。因此,能夠根據(jù)發(fā)光設(shè)備1的運(yùn)行持續(xù)時(shí)間改變側(cè)面的安全系數(shù),例如隨增大的運(yùn)行持續(xù)時(shí)間增大安全系數(shù)。也能夠取決于損壞C的位置、即例如在發(fā)光材料體4或發(fā)光設(shè)備1的中心之中或者在邊緣更大或更小地選擇安全系數(shù)。在此,損壞區(qū)域A的形狀能夠任意選擇,例如圓形、橢圓形、矩形、正方形、多邊形、任意形狀。

作為另外的行為能夠例如將消息發(fā)送到監(jiān)視裝置。

發(fā)光設(shè)備1也能夠擴(kuò)展,例如其具有多個(gè)在圖1中示出的部件組。在此能夠應(yīng)用共同的發(fā)光材料體4。在此,能由相應(yīng)的初級(jí)光射束P照亮的照明區(qū)域能夠是重疊的或不相交的。照明區(qū)域中的每個(gè)都能夠通過(guò)至少一個(gè)相應(yīng)的光探測(cè)器6能進(jìn)行監(jiān)視。

發(fā)光設(shè)備1能夠是投射設(shè)備或者投射設(shè)備、例如車(chē)輛前大燈、效果或舞臺(tái)聚光燈的一部分。

圖2示出了根據(jù)第二實(shí)施例的發(fā)光設(shè)備11的草圖。發(fā)光設(shè)備11與發(fā)光設(shè)備1不同的是,發(fā)光材料體4現(xiàn)在能通過(guò)多個(gè)(在此僅示例性地為兩個(gè))不相交的初級(jí)光射束P1和P2照亮。不相交的初級(jí)光射束P1和P2在此照亮兩個(gè)實(shí)際不相干的照明區(qū)域I1和I2,由此能夠分別應(yīng)用類(lèi)似于發(fā)光設(shè)備1的設(shè)置。所所屬的軌跡B1或者B2能夠是相同或者不同的。

替代關(guān)于發(fā)光設(shè)備1純并行的運(yùn)行,發(fā)光設(shè)備11僅具有至少一個(gè)光探測(cè)器6,其監(jiān)視兩個(gè)照明區(qū)域I1和I2,這能特別簡(jiǎn)單和物美價(jià)廉地實(shí)施。因此,光探測(cè)器6的可視區(qū)域包括兩個(gè)照明區(qū)域I1和I2以及發(fā)光材料體4的能共同照射的區(qū)域。也僅給定了一個(gè)評(píng)估裝置7。

評(píng)估裝置7如在發(fā)光設(shè)備1中那樣工作。然而現(xiàn)在,在識(shí)別損壞C時(shí)首先不明確的是,其存在于照明區(qū)域I1和I2中的哪個(gè)中。因此,利用識(shí)別損壞C執(zhí)行測(cè)試照明,其中,兩個(gè)照明區(qū)域I1和I2在時(shí)間上連續(xù)地被其相應(yīng)的初級(jí)光射束P1或者P2照明,特別是完全地照明。因此,評(píng)估裝置7能夠單獨(dú)針對(duì)損壞C檢查照明區(qū)域I1和I2中的每個(gè)。在此,在所示的情況中損壞C能夠明確地對(duì)應(yīng)于照明區(qū)域I2,并且能夠?qū)τ谠撜彰鲄^(qū)域I2執(zhí)行向在發(fā)光設(shè)備1中那樣的類(lèi)似地行為。照明區(qū)域I1能夠與此無(wú)關(guān)地照亮。

盡管通過(guò)優(yōu)選的實(shí)施例在細(xì)節(jié)上詳細(xì)地闡述并描述了本發(fā)明,但本發(fā)明并不局限于所公開(kāi)的實(shí)例,并且其他的變體能夠由專(zhuān)業(yè)人員推導(dǎo)出,這并不脫離本發(fā)明的保護(hù)范圍。

一般地,能夠?qū)ⅰ耙粋€(gè)”理解為單個(gè)或者多個(gè),特別地,在“至少一個(gè)”或者“一個(gè)或者多個(gè)”等的意義上理解“一個(gè)”,只要其沒(méi)有被明確地排除,例如通過(guò)“正好一個(gè)”等的表達(dá)。

數(shù)量說(shuō)明也能夠精確地包括也作為習(xí)慣上的公差范圍的所給出的數(shù)量,只要其沒(méi)有被明確地排除。

附圖標(biāo)記列表

1 發(fā)光設(shè)備

2 激光二極管

3 鏡子

4 發(fā)光材料體

6 光探測(cè)器

7 評(píng)估裝置

11 發(fā)光設(shè)備

A 損壞區(qū)域

B 發(fā)光材料體上的軌跡

B1 發(fā)光材料體上的軌跡

B2 發(fā)光材料體上的軌跡

C 損壞

Δx 測(cè)量信號(hào)的測(cè)量點(diǎn)或測(cè)量部段

I1 照明區(qū)域

I2 照明區(qū)域

M 測(cè)量信號(hào)

P 初級(jí)光射束

P1 初級(jí)光射束

P2 初級(jí)光射束

R 參考信號(hào)

S 次級(jí)光。

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