一種利用上下移方式查找紅外截止膜制作偏差原因的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及濾光片技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種利用上下移方式查找紅外截止膜制作偏差原因的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]對(duì)于具有攝像功能的手機(jī)而言，其鏡頭模組一般包括有支撐底座、紅外截止濾光片、透鏡以及攝像頭傳感器，其中，紅外截止濾光片、透鏡以及攝像頭傳感器粘合連接在支撐底座上。
[0003]對(duì)于紅外截止濾光片而言，其由藍(lán)玻璃以及鍍覆于藍(lán)玻璃表面的紅外截止膜組成；在紅外截止膜制作過程中，由于種種原因會(huì)造成制造誤差，進(jìn)而造成分光曲線變異并超出技術(shù)規(guī)格要求而成為不良品；其中，分光曲線變異一般是由膜系中的某些膜層的厚度或折射率偏差而造成的，所以，找到這些導(dǎo)致分光曲線變異的膜層就成為改善的關(guān)鍵。其中，當(dāng)特定的通帶出現(xiàn)曲線凹陷時(shí)，大都是由于某種膜料的膜層整體偏厚或者偏薄。
[0004]對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)而言，由于紅外截止膜層數(shù)較多，當(dāng)出現(xiàn)實(shí)鍍分光曲線與所設(shè)計(jì)的分光曲線不符時(shí)，難以很快找到原因，有時(shí)不得不考慮重新設(shè)計(jì)新的膜系，或者從設(shè)備參數(shù)、工藝參數(shù)等方面調(diào)整，相對(duì)把握不大，改善的周期延長(zhǎng)，不利于品質(zhì)改善。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0005]本發(fā)明的目的在于針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足而提供一種利用上下移方式查找紅外截止膜制作偏差原因的方法，當(dāng)通帶出現(xiàn)曲線凹陷時(shí)，該利用上下移方式查找紅外截止膜制作偏差原因的方法能夠方便且快速地判斷是哪種膜料的膜層整體偏厚或者偏薄，從而有利于確定生產(chǎn)加工改善的方向并糾正偏差。
[0006]為達(dá)到上述目的，本發(fā)明通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。
[0007]—種利用上下移方式查找紅外截止膜制作偏差原因的方法，包括有以下工藝步驟，具體為:
a、利用分光光度計(jì)實(shí)際測(cè)量紅外截止濾光片的分光曲線，并編號(hào)存盤；
b、利用TPC薄膜膜系設(shè)計(jì)軟件打開實(shí)際測(cè)量的分光曲線以及與實(shí)際測(cè)量的紅外截止濾光片相應(yīng)的原設(shè)計(jì)程序，通過比對(duì)原設(shè)計(jì)分光曲線與實(shí)際測(cè)量的分光曲線，判斷是否出現(xiàn)通帶有曲線凹陷；如果實(shí)際測(cè)量的分光曲線確實(shí)出現(xiàn)通帶有曲線凹陷，則將被測(cè)量的紅外截止濾光片冷卻2小時(shí)后再次測(cè)量分光曲線，或者將被測(cè)量的紅外截止濾光片轉(zhuǎn)角30度再次測(cè)量分光曲線；
C、利用TPC薄膜膜系設(shè)計(jì)軟件打開第二次實(shí)際測(cè)量的分光曲線，并將第一次實(shí)際測(cè)量的分光曲線與第二次實(shí)際測(cè)量的分光曲線進(jìn)行比較，并判斷曲線凹陷部分是上移還是下移；如果曲線凹陷部分上移，則確定紅外截止膜整體二氧化鈦鍍厚了或者整體二氧化硅鍍薄了 ；如果曲線凹陷部分下移，則確定紅外截止膜整體二氧化硅鍍厚了或者整體二氧化鈦鍍薄了。
[0008]本發(fā)明的有益效果為:本發(fā)明所述的一種利用上下移方式查找紅外截止膜制作偏差原因的方法，其包括以下工藝步驟:a、實(shí)測(cè)紅外截止濾光片分光曲線并編號(hào)存盤；b、利用TPC薄膜膜系設(shè)計(jì)軟件打開實(shí)測(cè)分光曲線及相應(yīng)的設(shè)計(jì)分光曲線，兩者對(duì)比并判斷是否出現(xiàn)通帶有曲線凹陷；如果有曲線凹陷，則將被測(cè)量的紅外截止濾光片冷卻2小時(shí)后再次測(cè)量分光曲線，或者將被測(cè)量的紅外截止濾光片轉(zhuǎn)角30度再次測(cè)量分光曲線；c、利用TPC薄膜膜系設(shè)計(jì)軟件打開第二次實(shí)際測(cè)量的分光曲線，并將兩次實(shí)際測(cè)量的分光曲線進(jìn)行比較，并判斷曲線凹陷部分是上移還是下移；如果曲線凹陷部分上移，則確定紅外截止膜整體二氧化鈦鍍厚了或者整體二氧化硅鍍薄了 ；如果曲線凹陷部分下移，則確定紅外截止膜整體二氧化硅鍍厚了或者整體二氧化鈦鍍薄了。通過上述工藝步驟設(shè)計(jì)，當(dāng)通帶出現(xiàn)曲線凹陷時(shí)，本發(fā)明所述的利用上下移方式查找紅外截止膜制作偏差原因的方法能夠方便且快速地判斷是哪種膜料的膜層整體偏厚或者偏薄，從而有利于確定生產(chǎn)加工改善的方向并糾正偏差。
【具體實(shí)施方式】
[0009]下面結(jié)合具體的實(shí)施方式來對(duì)本發(fā)明進(jìn)行說明。
[0010]一種利用上下移方式查找紅外截止膜制作偏差原因的方法，包括有以下工藝步驟，具體為:
a、利用分光光度計(jì)實(shí)際測(cè)量紅外截止濾光片的分光曲線，并編號(hào)存盤；
b、利用TPC薄膜膜系設(shè)計(jì)軟件打開實(shí)際測(cè)量的分光曲線以及與實(shí)際測(cè)量的紅外截止濾光片相應(yīng)的原設(shè)計(jì)程序，通過比對(duì)原設(shè)計(jì)分光曲線與實(shí)際測(cè)量的分光曲線，判斷是否出現(xiàn)通帶有曲線凹陷；如果實(shí)際測(cè)量的分光曲線確實(shí)出現(xiàn)通帶有曲線凹陷，則將被測(cè)量的紅外截止濾光片冷卻2小時(shí)后再次測(cè)量分光曲線，或者將被測(cè)量的紅外截止濾光片轉(zhuǎn)角30度再次測(cè)量分光曲線；
c、利用TPC薄膜膜系設(shè)計(jì)軟件打開第二次實(shí)際測(cè)量的分光曲線，并將第一次實(shí)際測(cè)量的分光曲線與第二次實(shí)際測(cè)量的分光曲線進(jìn)行比較，并判斷曲線凹陷部分是上移還是下移；如果曲線凹陷部分上移，則確定紅外截止膜整體二氧化鈦鍍厚了或者整體二氧化硅鍍薄了 ；如果曲線凹陷部分下移，則確定紅外截止膜整體二氧化硅鍍厚了或者整體二氧化鈦鍍薄了。
[0011 ] 綜合上述情況可知，通過上述工藝步驟設(shè)計(jì)，當(dāng)通帶出現(xiàn)曲線凹陷時(shí)，本發(fā)明所述的利用上下移方式查找紅外截止膜制作偏差原因的方法能夠方便且快速地判斷是哪種膜料的膜層整體偏厚或者偏薄，從而有利于確定生產(chǎn)加工改善的方向并糾正偏差。
[0012]以上內(nèi)容僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在【具體實(shí)施方式】及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明的限制。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種利用上下移方式查找紅外截止膜制作偏差原因的方法，其特征在于，包括有以下工藝步驟，具體為: a、利用分光光度計(jì)實(shí)際測(cè)量紅外截止濾光片的分光曲線，并編號(hào)存盤； b、利用TPC薄膜膜系設(shè)計(jì)軟件打開實(shí)際測(cè)量的分光曲線以及與實(shí)際測(cè)量的紅外截止濾光片相應(yīng)的原設(shè)計(jì)程序，通過比對(duì)原設(shè)計(jì)分光曲線與實(shí)際測(cè)量的分光曲線，判斷是否出現(xiàn)通帶有曲線凹陷；如果實(shí)際測(cè)量的分光曲線確實(shí)出現(xiàn)通帶有曲線凹陷，則將被測(cè)量的紅外截止濾光片冷卻2小時(shí)后再次測(cè)量分光曲線，或者將被測(cè)量的紅外截止濾光片轉(zhuǎn)角30度再次測(cè)量分光曲線； c、利用TPC薄膜膜系設(shè)計(jì)軟件打開第二次實(shí)際測(cè)量的分光曲線，并將第一次實(shí)際測(cè)量的分光曲線與第二次實(shí)際測(cè)量的分光曲線進(jìn)行比較，并判斷曲線凹陷部分是上移還是下移；如果曲線凹陷部分上移，則確定紅外截止膜整體二氧化鈦鍍厚了或者整體二氧化硅鍍薄了 ；如果曲線凹陷部分下移，則確定紅外截止膜整體二氧化硅鍍厚了或者整體二氧化鈦鍍薄了。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種利用上下移方式查找紅外截止膜制作偏差原因的方法，其包括以下步驟：a、實(shí)測(cè)紅外截止濾光片分光曲線并編號(hào)存盤；b、利用TPC薄膜膜系設(shè)計(jì)軟件打開實(shí)測(cè)分光曲線及相應(yīng)的設(shè)計(jì)分光曲線，兩者對(duì)比并判斷是否出現(xiàn)通帶有曲線凹陷；如果有曲線凹陷，則將紅外截止濾光片冷卻2小時(shí)后再次測(cè)量分光曲線，或者將紅外截止濾光片轉(zhuǎn)角30度再次測(cè)量分光曲線；c、將兩次實(shí)測(cè)分光曲線進(jìn)行比較，并判斷曲線凹陷是上移還是下移，上移則表示整體二氧化鈦鍍厚或整體二氧化硅鍍薄，下移則表示整體二氧化硅鍍厚或整體二氧化鈦鍍薄。本發(fā)明能夠方便且快速地判斷是哪種膜料的膜層整體偏厚或者偏薄，從而有利于確定生產(chǎn)加工改善的方向并糾正偏差。
【IPC分類】G02B5-20, G03B11-00
【公開號(hào)】CN104777541
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510197552
【發(fā)明人】邢德華, 趙才義
【申請(qǐng)人】東莞市微科光電科技有限公司
【公開日】2015年7月15日
【申請(qǐng)日】2015年4月24日