專利名稱：Tft-lcd功能缺陷自動檢查裝置的制作方法
技術(shù)領域：
本實用新型涉及TFT-1XD液晶屏測試技術(shù)領域，具體涉及一種TFT-1XD功能缺陷
自動檢查裝置。
背景技術(shù)：
TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display),即薄膜場效應晶體管-液晶顯示器。TFT-1XD產(chǎn)業(yè)是中國電子信息產(chǎn)業(yè)重要的核心基礎之一，在促進經(jīng)濟發(fā)展方式轉(zhuǎn)變、推動產(chǎn)業(yè)結(jié)構(gòu)優(yōu)化升級、帶動高新技術(shù)發(fā)展等方面發(fā)揮著重要的作用。TFT-LCD是有源矩陣類液晶顯示器(AM-LCD)中的一種，是目前唯一在亮度、對比度、功耗、壽命、體積和重量等綜合性能上全面趕上和超過CRT的顯示器件，它的性能優(yōu)良、大規(guī)模生產(chǎn)特性好，自動化程度高，原材料成本低廉，發(fā)展空間廣闊，將迅速成為新世紀的主流產(chǎn)品，是21世紀全球經(jīng)濟增長的一個亮點。然而，目前中國大陸市場TFT-1XD基板，大部分是在由國外廠商生產(chǎn)成TFT-1XD玻璃成品，運到國內(nèi)再切割進行組裝，所以先需要對TFT-LCD玻璃基板進行測試，檢測玻璃基板不良缺陷。目前一般采用國外的檢查裝置設備，成本比較昂貴而且使用非常復雜，費時費力，并對檢查人員技能和熟練度要求非常嚴苛，所以無論從技術(shù)角度還是經(jīng)濟角度上考量，現(xiàn)有的檢測裝置設備都嚴重影響了 TFT-1XD的推廣應用和普及。

實用新型內(nèi)容根據(jù)本實用新型的一個方面，提供了一種結(jié)構(gòu)簡單，操作方便的TFT-LCD功能缺陷自動檢查裝置，該TFT-LCD功能缺陷自動檢查裝置包括畫像數(shù)據(jù)采集單元、信號發(fā)生單元、中控機單元和輸料單元，畫像數(shù)據(jù)采集單元、信號發(fā)生單元和輸料單元分別與中控機單元電連為整體。由此，使TFT-LCD功能缺陷自動檢查裝置具有畫像信息自動采集、結(jié)果自動判斷、不良自動區(qū)分的效果。在一些實施方式中，畫像數(shù)據(jù)采集單元為高清攝像頭，該畫像數(shù)據(jù)采集單元通過第一 USB接口與中控機單元連接。由此，使TFT-1XD功能缺陷自動檢查裝置具有畫像信息自動采集的效果。在一些實施方式中，中控機單元包括光學系統(tǒng)、線陣CXD驅(qū)動電路及檢測處理模塊，光學體統(tǒng)與第一 USB接口相連，陣線CCD驅(qū)動電路與光學系統(tǒng)相連，檢測處理模塊與陣線C⑶驅(qū)動電路相連。由此，使中控機單元具有接收和處理畫像數(shù)據(jù)采集單元101的畫像數(shù)據(jù)的效果。在一些實施方式中，信號發(fā)生單元包括BL(Back Light unit)電源信號VBL端口和TFT-1XD信號LVDS端口。由此，使TFT-1XD功能缺陷自動檢查裝置BL電源信號和TFT-1XD驅(qū)動分離，避免信號干擾。在一些實施方式中，信號發(fā)生單元通過PCI連接線與中控機單元連接。由此，使TFT-LCD功能缺陷自動檢查裝置具有信號快速無損耗傳輸?shù)男Ч?。[0009]在一些實施方式中，輸料單元通過第二 USB接口與所述中控機單元連接。由此，使TFT-LCD功能缺陷自動檢查裝置具有自動上料自動下料的效果。在一些實施方式中，中控機單元通過一 VGA接口連接顯示器，所述中控機單元通過一第四USB接口連接鼠標，所述中控機單元通過一第五USB接口連接鍵盤。

圖1為本實用新型一實施方式的TFT-LCD功能缺陷自動檢查裝置的功能模塊示意圖；圖2為圖1所示TFT-1XD功能缺陷自動檢查裝置中中控機單元的模塊示意圖；圖3為圖1所示TFT-1XD功能缺陷自動檢查裝置背光升壓電路圖；圖4為圖1所示TFT-1XD功能缺陷自動檢查裝置TFT-1XD接口圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖對本實用新型作進一步詳細的說明。圖1至圖4示意性地顯示了根據(jù)本實用新型的一種實施方式的TFT-1XD功能缺陷自動檢查裝置。如圖1所示，該TFT-1XD功能缺陷自動檢查裝置包括畫像數(shù)據(jù)采集單元101、信號發(fā)生單元102、中控機單元103和輸料單元104。其中，畫像數(shù)據(jù)采集單元101為一高清攝像頭，該畫像數(shù)據(jù)采集單元101通過一第
一USB接口 1011與中控機單元103連接。畫像數(shù)據(jù)采集單元101其將采集到的畫像數(shù)據(jù)通過第一 USB接口 1011傳輸給中控機單元103進行處理。信號發(fā)生單元102包括BL電源信號VBL端口 1021和TFT-LCD信號LVDS端口 1022。信號發(fā)生單元102利用現(xiàn)有技術(shù)，用于提供測試燈箱BL的LED-Bar的BL電源信號VBL端口 1021，BL電源信號VBL端口 1021與測試燈箱電源端口相連，用于點亮測試燈箱中的BL。測試燈源集成在信號發(fā)生單元102中；信號發(fā)生單元102還提供TFT-1XD信號LVDS端口1022，TFT-LCD信號LVDS端口 1022與TFT-LCD液晶屏信號輸入端口相連，用于TFT-LCD液晶屏的點亮測試。如圖3為背光升壓電路圖，圖4為TFT-LCD接口圖。輸料單元104用于進行TFT-1XD的上料和下料。如圖2所示，中控機單元103包括光學系統(tǒng)1031、線陣CXD驅(qū)動電路1032及檢測處理模塊1033。其中，光學體統(tǒng)1031與第一 USB接口相連，陣線CXD驅(qū)動電路與光學系統(tǒng)1031相連，檢測處理模塊1032與陣線CXD驅(qū)動電路1032相連。中控機單元103用于控制信號發(fā)生單元101、接收和處理畫像數(shù)據(jù)采集單元101的畫像數(shù)據(jù)以及控制輸料單元104中TFT-1XD的上料和下料。如圖1所示，畫像數(shù)據(jù)采集單元101通過一第一 USB接口 1011與中控機單元103連接。中央控制單元103接收和處理畫像數(shù)據(jù)采集單元101的畫像數(shù)據(jù)，中控機單元103接收到畫像數(shù)據(jù)采集單元101拍攝的畫像后，通過光學系統(tǒng)1031將畫像轉(zhuǎn)化為光學影像，在通過線陣CCD驅(qū)動電路1032將光學影像轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號，數(shù)字信號傳輸給檢測處理模塊進行處理、檢測和分析。信號發(fā)生單元102通過PCI連接線1021與中央控制單元103連接。中央控制單元103通過PCI連接線102傳輸控制信號給信號發(fā)生單元102，控制其信號發(fā)生和終止。輸料單元104通過一第二 USB接口 1041與中控機單元103連接。中控機單元103傳輸控制信號給輸料單元104，控制輸料單元104中TFT-LCD上料和下料。中控機單元103通過一 VGA接口 1051連接顯示器105。中控機單元103通過一第四USB接口 1061連接鼠標106。中控機單元103通過一第五USB接口 1071連接鍵盤107。本實用新型提供的TFT-1XD功能缺陷自動檢查裝置具有可實現(xiàn)TFT-1XD液晶屏功能缺陷的自動檢查，自動判定，以至判定后自動區(qū)分良品和不良品的效果，而且該TFT-LCD功能缺陷自動檢查裝置結(jié)構(gòu)簡單，操作維修方便，成本低廉，節(jié)約人力，對操作人員技能要求有很大降低。以上所述的僅是本實用新型的一些實施方式。對于本領域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型創(chuàng)造構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本實用新型的保護范圍。
權(quán)利要求1.TFT-1XD功能缺陷自動檢查裝置，其特征在于，包括畫像數(shù)據(jù)采集單元(101)、信號發(fā)生單元(102)、中控機單元(103)和輸料單元(104)，所述畫像數(shù)據(jù)采集単元(101)、信號發(fā)生單元(102)和輸料單元(104)分別與所述中控機単元(103)電連為整體。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的TFT-1XD功能缺陷自動檢查裝置，其特征在于，所述畫像數(shù)據(jù)采集單元(101)為高清攝像頭，所述畫像數(shù)據(jù)采集単元(101)通過ー第一 USB接ロ(1011)與所述中控機單元(1041)連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的TFT-LCD功能缺陷自動檢查裝置，其特征在于，所述中控機單元(103)包括光學系統(tǒng)(1031)、線陣C⑶驅(qū)動電路(1032)及檢測處理模塊(1033)，所述光學體統(tǒng)(1031)與所述第一 USB接ロ(1011)相連，所述陣線CCD驅(qū)動電路(1032)與所述光學系統(tǒng)(1031)相連，所述檢測處理模塊(1033)與所述陣線C⑶驅(qū)動電路(1032)相連。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的TFT-LCD功能缺陷自動檢查裝置，其特征在于，所述信號發(fā)生單元(102)包括BL電源信號VBL端ロ (1021)和TFT-LCD信號LVDS端ロ (1022)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的TFT-LCD功能缺陷自動檢查裝置，其特征在于，信號發(fā)生單元(102)通過PCI連接線(1023)與中控機單元(103)連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任意一項所述的TFT-LCD功能缺陷自動檢查裝置，其特征在于，輸料單元(104)通過ー第二 USB接ロ(1041)與所述中控機單元(103)連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的TFT-LCD功能缺陷自動檢查裝置，其特征在于，所述中控機單元(103)通過ー VGA接ロ(1051)連接顯示器(105)，所述中控機單元(103)通過ー第四USB接ロ(1061)連接鼠標(106)，所述中控機單元(103)通過ー第五USB接ロ(1071)連接鍵盤(107)。
專利摘要本實用新型公開了TFT-LCD功能缺陷自動檢查裝置。該TFT-LCD功能缺陷自動檢查裝置，包含畫像數(shù)據(jù)采集單元、信號發(fā)生單元、中控機單元和輸料單元，其中，畫像數(shù)據(jù)采集單元、信號發(fā)生單元和輸料單元分別與所述中控機單元電連為整體。本實用新型的TFT-LCD功能缺陷自動檢查裝置各個模塊單元密切配合，實現(xiàn)了TFT-LCD液晶屏功能缺陷的自動檢查，自動判定及自動區(qū)分良品和不良品，從而達到節(jié)約人力，提高效率的目的。
文檔編號G02F1/13GK202871255SQ20122042596
公開日2013年4月10日 申請日期2012年8月27日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月27日
發(fā)明者潘昌雷, 李熙新 申請人:無錫世成晶電柔性線路板有限公司