專利名稱：一種液晶盒測試設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及液晶顯示技術(shù)，尤其涉及一種液晶盒測試設(shè)備。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有液晶盒測試設(shè)備的結(jié)構(gòu)如圖I所示，主要包括基臺4和探頭I兩個部分，其中，探頭I與探桿連接，探桿可垂直上下擺動，從而控制探頭I抬起或落下，探桿與測試設(shè)備底座8相連，在水平方向位置固定，不能左右移動。探頭I上有多個金屬探針10，金屬探針10與放置于基臺4表面的液晶面板信號輸入端2進(jìn)行對位，從而測試經(jīng)對盒工藝后的液晶面板3是否存在不良因素，例如，可檢測出是否有灰塵、氣泡，信號線是否有問題等?；_4可通過控制旋鈕在水平方向上移動，以實現(xiàn)金屬探針10與液晶面板信號輸入端2的對位。由于金屬探針10和液晶面板信號輸入端2都比較小，金屬探針10很難與液晶面板信號輸入端2精準(zhǔn)對位，因此，現(xiàn)有液晶盒測試設(shè)備進(jìn)行對位精度調(diào)試比較困難。另外，即使對位精準(zhǔn)以后，基臺4只要稍微移動，金屬探針10與液晶面板信號輸入端2的對位精度就會被破壞，導(dǎo)致測試時液晶面板信號施加不正常，無法進(jìn)行正常測試。還有，現(xiàn)有液晶盒測試設(shè)備在進(jìn)行金屬探針10與液晶面板信號輸入端2的對位時，調(diào)節(jié)精度的控制比較困難，使得目前所使用設(shè)備的精度調(diào)節(jié)比較困難，測試精度難以控制。

實用新型內(nèi)容有鑒于此，本實用新型的主要目的在于提供一種液晶盒測試設(shè)備，能實現(xiàn)金屬探針與液晶面板信號輸入端的準(zhǔn)確對位。為達(dá)到上述目的，本實用新型的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的本實用新型提供一種液晶盒測試設(shè)備，包括探頭、基臺、底座；其中，在所述探頭上設(shè)置有輔助對位的上反光鏡；在所述基臺靠近所述探頭一側(cè)的上表面設(shè)置有輔助對位的下反光鏡，所述下反光鏡的鏡面與所述上反光鏡的鏡面相對。進(jìn)一步地，所述上反光鏡的面積大于所述探頭的面積，且鏡面朝下。進(jìn)一步地，所述基臺表面放置有液晶面板信號輸入端；所述下反光鏡的面積大于所述液晶面板信號輸入端所在區(qū)域的面積。較佳地，在所述底座遠(yuǎn)離所述探頭的一邊設(shè)置有第一底座刻度尺，在另外一個或另外兩個側(cè)邊設(shè)置有第二底座刻度尺。較佳地，在所述基臺上遠(yuǎn)離所述探頭的一邊設(shè)置有第一基臺刻度尺，在另外一個或另外兩個側(cè)邊設(shè)置有第二基臺刻度尺。本實用新型所提供的液晶盒測試設(shè)備，在現(xiàn)有液晶盒測試設(shè)備的探頭上和液晶面板信號輸入端所在的位置的基臺上設(shè)置輔助對位用的反光鏡，在測試設(shè)備承載基臺的底座上及在基臺上設(shè)置刻度尺，以輔助用戶在進(jìn)行對位時掌握移動距離。本實用新型加入了鏡子與刻度尺作為輔助對位部件，不僅能改善精度調(diào)節(jié)的方法，使測試精度調(diào)節(jié)更容易；而且使測試精度能更容易、更好地得到控制。顯然，本實用新型使測試時對位更加容易，精度更容易控制，從而使測試結(jié)果更準(zhǔn)確可靠。

圖I為現(xiàn)有液晶盒測試設(shè)備進(jìn)行對位時的不意圖；圖2為本實用新型提供的液晶盒測試設(shè)備及進(jìn)行對位的示意圖；I-探頭；2_液晶面板/[目號輸入端；3_液晶面板；4_基臺；4A_第一基臺刻度尺；4B-第二基臺刻度尺；5_上反光鏡；6_下反光鏡-Jk-第一底座刻度尺；7B-第二底座刻度尺；8_底座；10_金屬探針。
具體實施方式
為使本實用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚明白，以下舉實施例并參照附圖，對本實用新型進(jìn)一步詳細(xì)說明。圖2為本實用新型提供的液晶盒測試設(shè)備及進(jìn)行對位的示意圖，該新型液晶盒測試設(shè)備是對現(xiàn)有液晶盒測試設(shè)備的改進(jìn)。如圖2所示，本實用新型對現(xiàn)有液晶盒測試設(shè)備所做的第一點改進(jìn)是在探頭I上增加輔助對位用的上反光鏡5 ;在基臺4靠近探頭I 一側(cè)的上表面增加輔助對位用的下反光鏡6，下反光鏡6的鏡面與上反光鏡5的鏡面相對；較佳的，上反光鏡5的面積要大于探頭I的面積，且鏡面朝下；另外，較佳的，下反光鏡6的面積要大于液晶面板信號輸入端2所在區(qū)域的面積，從而使用戶能夠通過寬出的鏡面中看到金屬探針10 ；增加上反光鏡5和下反光鏡6后,上反光鏡5能夠?qū)⑻筋^I上的金屬探針10與液晶面板信號輸入端2對位情況反射到下反光鏡6中，通過下反光鏡6可以清楚地看到金屬探針10及金屬探針10與液晶面板信號輸入端2的對位情況，從而使得對位的精度更容易掌握，對位更加容易、快速、準(zhǔn)確。本實用新型對現(xiàn)有液晶盒測試設(shè)備所做的第二點改進(jìn)是在底座8上設(shè)置刻度尺,優(yōu)選地,在底座8的遠(yuǎn)離探頭I的一邊設(shè)置第一底座刻度尺7A，在另外兩個側(cè)邊中的一個或兩個設(shè)置第二底座刻度尺7B ；通過增加第一底座刻度尺7A和第二底座刻度尺7B可以精確讀出基臺4位于底座8的位置，從而在基臺4移動時，使用戶清楚知道基臺4的移動距離；本實用新型對現(xiàn)有液晶盒測試設(shè)備所做的第三點改進(jìn)是在基臺4上遠(yuǎn)離探頭I的一邊設(shè)置第一基臺刻度尺4A，在另兩個側(cè)邊中的一個或兩個設(shè)置第二基臺刻度尺4B ；通過增加的第一基臺刻度尺4A和第二基臺刻度尺4B可以精確的讀出液晶面板3位于基臺4的位置，從而在液晶面板3移動時，使用戶清楚液晶面板3的移動距離。通過增加上述幾個刻度尺，使得用戶可以通過刻度記錄比較方便快捷地重新調(diào)整基臺4和/或液晶面板3的位置，從而使金屬探針10與液晶面板信號輸入端2的對位更加容易和精確。[0032]以上所述，僅為本 實用新型的較佳實施例而已，并非用于限定本實用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種液晶盒測試設(shè)備，包括探頭、基臺、底座，其特征在于， 在所述探頭上設(shè)置有輔助對位的上反光鏡； 在所述基臺靠近所述探頭一側(cè)的上表面設(shè)置有輔助對位的下反光鏡，所述下反光鏡的鏡面與所述上反光鏡的鏡面相對。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的液晶盒測試設(shè)備，其特征在于，所述上反光鏡的面積大于所述探頭的面積，且鏡面朝下。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的液晶盒測試設(shè)備，其特征在于，所述基臺表面放置有液晶面板信號輸入端；所述下反光鏡的面積大于所述液晶面板信號輸入端所在區(qū)域的面積。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的液晶盒測試設(shè)備，其特征在于， 在所述底座遠(yuǎn)離所述探頭的一邊設(shè)置有第一底座刻度尺，在另外一個或另外兩個側(cè)邊設(shè)置有第二底座刻度尺。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的液晶盒測試設(shè)備，其特征在于， 在所述基臺上遠(yuǎn)離所述探頭的一邊設(shè)置有第一基臺刻度尺，在另外一個或另外兩個側(cè)邊設(shè)置有第二基臺刻度尺。
專利摘要本實用新型公開了一種液晶盒測試設(shè)備，在現(xiàn)有液晶盒測試設(shè)備的探頭和液晶面板信號輸入端所在的位置的基臺上設(shè)置輔助對位用的反光鏡，在測試設(shè)備承載基臺的底座上及在基臺上設(shè)置刻度尺，以輔助用戶在進(jìn)行對位時掌握移動距離。本實用新型使測試時對位更加容易，精度更容易控制，從而使測試結(jié)果更準(zhǔn)確可靠。
文檔編號G02F1/13GK202661749SQ20122022468
公開日2013年1月9日 申請日期2012年5月17日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月17日
發(fā)明者陳娟, 柳在健 申請人:京東方科技集團(tuán)股份有限公司